PL226191B1 - Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych - Google Patents

Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych

Info

Publication number
PL226191B1
PL226191B1 PL406344A PL40634413A PL226191B1 PL 226191 B1 PL226191 B1 PL 226191B1 PL 406344 A PL406344 A PL 406344A PL 40634413 A PL40634413 A PL 40634413A PL 226191 B1 PL226191 B1 PL 226191B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
positioner
pattern
destruction
goniometer
fatigue tests
Prior art date
Application number
PL406344A
Other languages
English (en)
Other versions
PL406344A1 (pl
Inventor
Wojciech Mizak
Piotr Garbacz
Original Assignee
Inst Tech Eksploatacji Państwowy Inst Badawczy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Tech Eksploatacji Państwowy Inst Badawczy filed Critical Inst Tech Eksploatacji Państwowy Inst Badawczy
Priority to PL406344A priority Critical patent/PL226191B1/pl
Publication of PL406344A1 publication Critical patent/PL406344A1/pl
Publication of PL226191B1 publication Critical patent/PL226191B1/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest pozycjoner wzorców kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesów destrukcji, zwłaszcza w badaniach zmęczeniowych.
Znane jest z opisu patentowego PL 205368 urządzenie do pozycjonowania głowicy pomiarowej zwłaszcza w urządzeniu do monitorowania pękania, które zawiera wysięgnik teleskopowy zamocowany do mobilnej platformy, przy czym wysięgnik teleskopowy zaopatrzony jest w obrotową gwintowaną końcówkę, do której przykręcana jest głowica pomiarowa, a ponadto wysięgnik osadzony jest w gnieździe pionowego słupa, który wyposażony jest w dwa uchwyty. Mobilna platforma zaopatrzona jest w zestaw czterech kół skrętnych oraz w cztery przegubowe nóżki wykręcane z płyty platformy poprzez pokrętła, a ponadto na platformie umieszczony jest zestaw ciężarków do poziomowania urządzenia po zamocowaniu głowicy pomiarowej
Z opisu patentowego WO 00/17674 znany jest system mocowania kamery przeznaczony do minimalizacji błędów obserwacyjnych. System składa się z dwóch członów - obrotowego względem podstawy i regulowanego umożliwiającego właściwą regulacje ustawienia zespołu obserwacyjnego.
Znane jest także z opisu patentowego EP 0480232 urządzenie w którym kamera zamieszczona jest na wysięgniku za pomocą którego określa się wysokość jej pracy, a kąt obrotu kamery realizowany jest za pomocą obrotowej połączonej z wysięgnikiem platformy.
Wraz z rozwojem technologii optoelektronicznych, bezkontaktowe metody wizyjne do obserwacji procesów zmęczeniowych materiałów są coraz szerzej stosowane w badaniach eksperymentalnych. Jedną z metod należącą do tej grupy, wykorzystującą dwukamerowy system wizyjny, umożliwiający pomiary 3D jest stereowizja. Charakteryzuje się ona dużą szybkością działania, a także możliwością zastosowań zarówno w skali mikro, jak i makro. W wyniku tego konieczne było opracowanie metody kalibracji, która spełniałaby warunek wielkoskalowości. Warunkiem do stosowania tej metody w badaniach zmęczeniowych jest prawidłowe wykonanie procesu kalibracji parametrów zewnętrznych i wewnętrznych kamer, który ma bezpośredni wpływ na niepewność przeprowadzonych pomiarów. Proces kalibracji polega na odnalezieniu parametrów projekcji łączących ze sobą położenie znanych punktów w przestrzeni 3D i ich obrazów na płaszczyznach ogniskowania kamer. Z uwagi na możliwe błędy spowodowane czynnikiem ludzkim celowym jest wyeliminowanie tego czynnika z procesu kalibracji.
Pozycjoner wzorców kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesów destrukcji zwłaszcza w badaniach zmęczeniowych według wynalazku umożliwia precyzyjne pozycjonowanie wzorca w dwóch płaszczyznach XY oraz XZ i zawiera wspornik łączący pozycjoner z maszyną wytrzymałościową, jaki stanowi podstawę dla precyzyjnego stolika obrotowego, przemieszczającego wzorzec w płaszczyźnie XY w zakresie od 0° do 360°. Obrót wzorca w płaszczyźnie XZ, w zakresie ± 5°, realizowany jest przez goniometr, który za pomocą adaptera osadzony jest na stoliku obrotowym. Stolik obrotowy i goniometr, wyposażone są w ultra-wysokiej rozdzielczości piezonapędy. Z goniometrem połączony jest adapter wzorca jaki umożliwia mocowanie wzorca o wymiarach 54 x 50 mm, gdzie maksymalne pole obserwacji wynosi 50 x 50 mm.
Pozycjoner umożliwia kalibrację systemu stereowizyjnego dedykowanego do monitorowania procesów destrukcji materiałów na maszynie wytrzymałościowej. Dzięki wykorzystaniu precyzyjnych napędów służących do zmiany orientacji wzorca względem kamer, możliwe jest zautomatyzowanie procesu kalibracji. Gwarantuje to powtarzalność oraz uzyskanie określonego poziomu dokładności wyznaczonych parametrów kamer. Opracowane rozwiązanie umożliwia przeprowadzenie badań w wyniku, których możliwe jest określenie optymalnego rozmiaru wzorca, kształtu i rozmieszczenia jego elementów, dla danej konfiguracji systemu stereowizyjnego. Rozwiązanie takie daje możliwość zastosowania całego typoszeregu wzorców, o różnych zakresach pola obserwacji oraz różnych wymiarach i geometrii elementów bazujących.
Pozycjoner wzorców kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesów destrukcji zwłaszcza w badaniach zmęczeniowych przedstawiono na rysunku na którym fig. 1 prezentuje pozycjoner według wynalazku.
Pozycjoner wzorców kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesów destrukcji zwłaszcza w badaniach zmęczeniowych według wynalazku umożliwia precyzyjne pozycjonowanie wzorca 1 w dwóch płaszczyznach XY oraz XZ i zawiera wspornik 2 łączący pozycjoner z maszyną wytrzymałościową, jaki stanowi podstawę dla precyzyjnego stolika obrotowego 3, przemieszczającego wzorzec 1 w płaszczyźnie XY w zakresie od 0° do 360°. Obrót wzorca 1 w płaszPL 226 191 B1 czyźnie XZ, w zakresie ± 5°, realizowany jest przez goniometr 4, który za pomocą adaptera 5 osadzony jest na stoliku obrotowym 3. Stolik 3 oraz goniometr 4, wyposażone są w ultra-wysokiej rozdzielczości piezo-napędy 6. Z goniometrem 4 połączony jest adapter wzorca 7, jaki umożliwia mocowanie wzorca 1 o wymiarach 54 x 50 mm, gdzie maksymalne pole obserwacji wynosi 50 x 50 mm.
Pozycjoner umożliwia kalibrację systemu stereowizyjnego dedykowanego do monitorowania procesów destrukcji materiałów na maszynie wytrzymałościowej. Dzięki wykorzystaniu precyzyjnych napędów służących do zmiany orientacji wzorca względem kamer, możliwe jest zautomatyzowanie procesu kalibracji. Gwarantuje to powtarzalność oraz uzyskanie określonego poziomu dokładności wyznaczonych parametrów kamer. Opracowane rozwiązanie umożliwia przeprowadzenie badań w wyniku, których możliwe jest określenie optymalnego rozmiaru wzorca, kształtu i rozmieszczenia jego elementów, dla danej konfiguracji systemu stereowizyjnego. Rozwiązanie takie daje możliwość zastosowania całego typoszeregu wzorców, o różnych zakresach pola obserwacji oraz różnych wymiarach i geometrii elementów bazujących.

Claims (2)

1. Pozycjoner wzorców kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesów destrukcji zwłaszcza w badaniach zmęczeniowych według wynalazku umożliwiający precyzyjne pozycjonowanie wzorca w dwóch płaszczyznach XY oraz XZ, zawierający wspornik (2) łączący pozycjoner z maszyną wytrzymałościową, znamienny tym, że wspornik (2) stanowi podstawę dla precyzyjnego stolika obrotowego (3), przemieszczającego wzorzec (1) w płaszczyźnie XY w zakresie od 0° do 360°, z jakim połączony jest goniometr (4), który za pomocą adaptera (5) osadzony jest na stoliku obrotowym (3), a stolik (3) oraz goniometr (4), wyposażone są w ultra-wysokiej rozdzielczości piezo-napędy (6), a z goniometrem (4) połączony jest adapter (7) wzorca.
2. Pozycjoner według zastrz. 1, znamienny tym, że adapter (7) wzorca umożliwia mocowanie wzorca (1) o wymiarach 54 x 50 mm, gdzie maksymalne pole obserwacji wynosi 50 x 50 mm.
PL406344A 2013-12-03 2013-12-03 Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych PL226191B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL406344A PL226191B1 (pl) 2013-12-03 2013-12-03 Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL406344A PL226191B1 (pl) 2013-12-03 2013-12-03 Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL406344A1 PL406344A1 (pl) 2015-06-08
PL226191B1 true PL226191B1 (pl) 2017-06-30

Family

ID=53269152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL406344A PL226191B1 (pl) 2013-12-03 2013-12-03 Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL226191B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL406344A1 (pl) 2015-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101900744B (zh) 一种用于粒子图像测速仪的三维激光测准定位仪
CN104567690B (zh) 一种激光束现场标定方法及装置
CN108007400B (zh) 用于坐标测量装置和测量x射线ct设备的坐标对准工具
JP2006231509A (ja) プログラム制御の工作機械を測定する方法
CN103424088B (zh) 一种倒角测量仪
CN104807476A (zh) 一种基于位姿估计的测棒快速标定装置和方法
CN104154885B (zh) 一种小圆环零件微翘曲检测方法
CN105444673A (zh) 旋转平移绝对检测法中确定光学元件中心的装置及方法
CN101441106A (zh) 激光测振仪四自由度夹持装置
JP5270138B2 (ja) 校正用治具及び校正方法
JP2020020647A (ja) 形状測定方法および形状測定装置
US20160195383A1 (en) Probe alignment fixture and method
CN100588918C (zh) 基于高速面阵摄像机轴系横振测量装置的横振测量方法
US20120055912A1 (en) Micro spherical stylus manufacturing machine
PL226191B1 (pl) Pozycjoner wzorcow kalibracyjnych w dwukamerowym systemie wizyjnym do monitorowania procesow destrukcji zwlaszcza w badaniach zmeczeniowych
CN103149088A (zh) 布氏硬度压痕直径测量装置
CN104020044B (zh) 数码显微镜磨斑测量装置
Mainaud Durand et al. PACMAN project: a new solution for the high-accuracy alignment of accelerator components
JP2018506022A (ja) 光学測定システムのための展開機構
CN202599381U (zh) 带有影像处理系统的三坐标测量仪
CN104502064A (zh) 一种内窥镜光学参数的检测装置
CN102147248B (zh) 适用于动态推扫及静态成像相机的无穷远目标景物模拟器及其方法
RU2456539C1 (ru) Способ измерения отклонений расположения плоскостей относительно центра наружной сферической поверхности
US8572857B2 (en) Apparatus for measuring objects
CN104777234A (zh) 利用摄像头进行超声探头定位的装置和方法