PL223872B1 - Sposób wytwarzania nanokrystalicznych proszków azotku galu GaN - Google Patents
Sposób wytwarzania nanokrystalicznych proszków azotku galu GaNInfo
- Publication number
- PL223872B1 PL223872B1 PL399900A PL39990012A PL223872B1 PL 223872 B1 PL223872 B1 PL 223872B1 PL 399900 A PL399900 A PL 399900A PL 39990012 A PL39990012 A PL 39990012A PL 223872 B1 PL223872 B1 PL 223872B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- ammonia
- nitrogen
- reactor
- flow
- reaction
- Prior art date
Links
- 239000000843 powder Substances 0.000 title claims abstract description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 title abstract description 41
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 title abstract description 13
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 57
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 31
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 claims abstract description 28
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 25
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 21
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 19
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 claims abstract description 8
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 8
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims abstract description 8
- 238000005121 nitriding Methods 0.000 claims abstract description 6
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 150000002259 gallium compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 5
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 150000001540 azides Chemical class 0.000 claims abstract description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 4
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 claims abstract description 4
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 3
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 3
- 150000002429 hydrazines Chemical class 0.000 claims abstract description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims abstract description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 9
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 abstract description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 2
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 11
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000000047 product Substances 0.000 description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 7
- 238000000634 powder X-ray diffraction Methods 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 230000012010 growth Effects 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- -1 gallium halide Chemical class 0.000 description 4
- 239000011858 nanopowder Substances 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 4
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- ROSDSFDQCJNGOL-UHFFFAOYSA-N Dimethylamine Chemical compound CNC ROSDSFDQCJNGOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910005542 GaSb Inorganic materials 0.000 description 2
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NQRYJNQNLNOLGT-UHFFFAOYSA-N Piperidine Chemical compound C1CCNCC1 NQRYJNQNLNOLGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005915 ammonolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 2
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920001184 polypeptide Polymers 0.000 description 2
- 102000004196 processed proteins & peptides Human genes 0.000 description 2
- 108090000765 processed proteins & peptides Proteins 0.000 description 2
- 238000006970 Finegan synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-N Hydrogen bromide Chemical compound Br CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003463 adsorbent Substances 0.000 description 1
- 150000001343 alkyl silanes Chemical class 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- WEHWNAOGRSTTBQ-UHFFFAOYSA-N dipropylamine Chemical compound CCCNCCC WEHWNAOGRSTTBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- IDBFBDSKYCUNPW-UHFFFAOYSA-N lithium nitride Chemical compound [Li]N([Li])[Li] IDBFBDSKYCUNPW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000000877 morphologic effect Effects 0.000 description 1
- 239000007777 multifunctional material Substances 0.000 description 1
- ZRXBTFLOBMVHAY-UHFFFAOYSA-N n-[bis(dimethylamino)gallanyl]-n-methylmethanamine Chemical compound [Ga+3].C[N-]C.C[N-]C.C[N-]C ZRXBTFLOBMVHAY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 1
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 1
- 239000012429 reaction media Substances 0.000 description 1
- 230000035040 seed growth Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- WGPCGCOKHWGKJJ-UHFFFAOYSA-N sulfanylidenezinc Chemical group [Zn]=S WGPCGCOKHWGKJJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Catalysts (AREA)
Abstract
Wynalazek rozwiązuje problem otrzymywania materiału nowej generacji, obecnie decydującym o rozwoju optoelektroniki. Sposób polega na tym, że beztlenowe związki galu w postaci połączeń typu GaE w formie mikrokrystalicznych proszków lub monokryształów, gdzie E to atomy z V grupy układu okresowego takie jak arsen As, fosfor P lub antymon Sb, umieszczone w łódeczce reakcyjnej dwustronnie bądź jednostronnie otwartej lub też dwustronnie zamkniętej, poddaje się w jednoetapowym procesie prowadzonym w reaktorze przepływowym: przelotowym bądź z zaślepionym jednym końcem, działaniu reaktywnego prekursora azotkującego użytego w nadmiarze, najkorzystniej amoniaku albo związku lub związków z grupy połączeń obejmującej hydrazyny, aminy, azotki, azydki, cyjanki lub gazowy azot w warunkach wzbudzenia i innych, zawierających azot, reakcję prowadzi się w temperaturze z zakresu 600-1300°C i w czasie od kilku minut do ponad stu godzin, przy czym rozgrzewanie reaktora odbywa się w warunkach przepływu azotu lub amoniaku, zaś po uzyskaniu zadanej temperatury proces prowadzi się w przepływie amoniaku lub w atmosferze par prekursora azotowego, przy czym prędkość przepływu mediów gazowych nie przekracza 20 l/min., w wyniku tak prowadzonego procesu otrzymuje się nanokrystaliczny proszek azotku galu GaN w postaci mieszaniny fazy regularnej i heksagonalnej lub wyłącznie heksagonalnej.
Description
Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania nanokrystalicznych proszków azotku galu GaN, znajdujących zastosowanie w elektronice, optoelektronice i technice.
Azotek galu GaN należy do półprzewodników nowej generacji, obecnie decydującym o rozwoju optoelektroniki. Chociaż główne obszary jego wykorzystania związane są z formami monokrystalic znymi i cienkimi warstwami („niebieska” emisja światła), to nanokrystaliczne proszki GaN mogą znaleźć wiele innych ważnych zastosowań. Szczególnie, gdyby były łatwo dostępne i odpowiednio tanie. Mogłyby wtedy być rozważane, na przykład, do wytwarzania wytrzymałych mechanicznie kształtek azotku galu w procesie wysokotemperaturowego i wysokociśnieniowego spiekania, jako nanopodłoża dla wielofunkcyjnych materiałów poprzez modyfikację powierzchni nanoziaren, jako substrat dla ablacji laserowej, jako wysoce specyficzny adsorbent przy magazynowaniu bądź rozdziale gazów czy jako materiał do zarodkowego wzrostu większych kryształów.
Z europejskiego zgłoszenia EP1838615(A1) znana jest metoda wytwarzania mikrokrystaliczn ego azotku galu o wysokiej czystości na drodze reakcji między metalicznym galem i przepływającym gazowym amoniakiem. Reakcja przebiega przy ciśnieniu atmosferycznym w temperaturach z zakresu 950-12OO°C. Po godzinie prowadzenia procesu otrzymuje się azotek galu w dwóch formach morfologicznych o rozmiarach w zakresie mikrometrowym: mniejszych cząstek o rozmiarze 0,5-2 gm oraz większych cząstek w postaci igieł o średnicy 1-7 gm i długości 10-30 gm. Nie są to więc formy nanometrowe.
Z opisu patentowego US7641880 znany jest sposób syntezy azotku galu, który opiera się na anaerobowej reakcji wymiany między azotkiem litu Li3N a halogenkowymi pochodnymi galu (chlorkiem, bromkiem, jodkiem). Reakcja przebiega w temperaturze pokojowej w roztworze eteru dietylowego, który znacznie przyspiesza reakcję i zwiększa uzysk produktu. Otrzymuje się nanoproszek azotku galu, który dodatkowo poddawany jest ogrzewaniu w zakresie temperatur 250-1000°C, co pozwala zmienić jego strukturę krystalograficzną ze struktury blendy cynkowej w strukturę wurcytu.
Również z amerykańskiego opisu patentowego US 7488384 znana jest metoda syntezy, która dotyczy otrzymywania izolowanych cząstek GaN o rozmiarach rzędu 2-3 nm, tzw. kropek kwantowych. Prekursor galu w postaci dimetyloamidku galu jest umieszczany w reaktorze wraz z odpowiednią aminą (tzw. amina funkcjonalna np. dimetylamina, dipropylamina, piperydyna) i ogrzewany w obojętnej atmosferze gazowej do temperatury z zakresu 250-350°C. W wyniku rozkładu prekursora otrzymuje się koloidalną zawiesinę azotku galu o rozmiarach pojedynczych nanometrów.
Z opisu patentowego US6911083 znany jest sposób wytwarzania proszkowego azotku galu w dwuetapowym procesie. Pierwszy etap to tworzenie małych krystalitów GaN w wyniku reakcji par metalicznego galu z amoniakiem w temperaturze 1100°C. Krystality są następnie transportowane do drugiej strefy reaktora (temperatury w zakresie 900-1100°C), gdzie następuje ich wzrost na skutek osadzania się kolejnych warstw azotkowych, powstających w reakcji halogenku galu z amoniakiem. Odpowiedni halogenek jest wytwarzany w reaktorze wstępnym w reakcji metalicznego galu z HCI, HBr, itd. Zastosowanie wysokich temperatur reakcji j/w powoduje uzyskaniem głównie proszków m ikrokrystalicznych.
Z polskiego zgłoszenia P-390321 znany jest sposób wytwarzania proszkowego azotku galu i jego kompozytów. Sposób wykorzystuje do syntezy beztlenowe związki galowe, w postaci połączeń typu GaX3, gdzie X to ligand typu NR2 (R = grupa organiczna, np. metylowa, etylowa, arylowa, alkilosilanowa, itp.) lub ligand halogenkowy (fluorkowy, chlorkowy, bromkowy, jodkowy), które poddaje się najpierw reakcjom w środowisku ciekłego lub gazowego amoniaku w temperaturach z zakresu 78-200°C, a następnie ogrzewaniu w atmosferze amoniaku lub par amin albo gazu obojętnego lub w próżni, w temperaturach od 200°C do 1100°C. W wyniku kolejnych etapów reakcji chemicznych, determinowanych dla danego połączenia głównie temperaturą i rodzajem atmosfery gazowej bądź użyciem próżni powstaje najpierw: albo prekursor - polimerowy imidek galu [Ga(NH)3/2]n (dla X = NR2 - w temperaturach z zakresu 78-200°C, a dla X = halogenek - w temperaturach z zakresu 25-200°C albo prekursor - addukt z amoniakiem typu GaX3 · mNH3 lub też, po amonolizie adduktu, jego polimerowe pochodne typu [Ga(NH)yXz]n (X = halogenek, 0<y<3/2, 0<z<3, temperatury od -78°C do ok. 200°C). W przypadku otrzymania najpierw stałego prekursora typu imidku galu [Ga(NH)3/2]n albo typu adduktu GaX3 · mNh3 bądź jego polimerowej pochodnej, tworzącej się w wyniku amonolizy [Ga(NH)yXz]n, półprodukt taki jest następnie poddawany końcowemu wygrzewaniu w reaktorze rurowym w temperaturach z zakresu 200-1100°C, najkorzystniej w przepływie amoniaku albo par amin
PL 223 872 B1 lub gazu obojętnego (np. azotu czy argonu) lub też pod próżnią, w czasie od 1 minuty do 100 godzin, optymalnie od 1 minuty do 4 godzin.
Sposób według wynalazku polega na tym, że beztlenowe związki galu w postaci połączeń typu GaE w formie mikrokrystalicznych proszków lub monokryształów, gdzie E to atomy z V (15) gr upy układu okresowego takie jak arsen As, fosfor P lub antymon Sb, poddaje się, w jednoetapowym procesie, działaniu reaktywnego prekursora azotkującego użytego w nadmiarze - najkorzystniej amoniaku i wówczas reakcja przebiega jak poniżej („EH3” - oznacza skrótowo, produkty uboczne):
0 0- 1 3 0 0°C:
GaE + NH3-> GaN + „EH3”
Jako prekursor azotkujący zamiast amoniaku stosuje się również związek lub związki wybrane z grupy połączeń obejmującej hydrazyny, aminy, azotki, azydki, cyjanki lub gazowy azot w warunkach wzbudzenia i wiele innych, zawierających azot. W uproszczeniu reakcję można wtedy zapisać następująco:
GaE + „N
0 0- 1 3 0 0° C :
'-> GaN + „E” gdzie „N” - oznacza skrótowo, prekursor azotkujący; „E” - oznacza skrótowo, produkty uboczne.
Beztlenowy prekursor GaE, zawarty w łódeczce reakcyjnej dwustronnie bądź jednostronnie otwartej lub też dwustronnie zamkniętej, umieszcza się w reaktorze przepływowym: przelotowym bądź z zaślepionym jednym końcem i poddaje reakcji w temperaturze z zakresu 600-1300°C i w czasie od kilku minut do ponad stu godzin, przy czym rozgrzewanie reaktora odbywa się w warunkach przepływu azotu lub amoniaku, zaś po uzyskaniu zadanej temperatury proces prowadzi się w przepływie amoniaku lub w atmosferze par prekursora azotowego, przy czym prędkość przepływu mediów gazowych nie przekracza 20 l/min.
W wyniku tak prowadzonego procesu otrzymuje się nanokrystaliczny proszek azotku galu GaN w postaci mieszaniny fazy regularnej i heksagonalnej lub wyłącznie heksagonalnej.
Zaletą sposobu jest to, że produkt uboczny, a więc albo związek EH3 lub produkty jego termochemicznego rozpadu, oznaczane powyżej symbolicznie jako „EH3” lub „E”, jest całkowicie usuwany ze środowiska reakcji w atmosferze przepływającego reaktywnego medium gazowego, co zależy w indywidualnym przypadku od doboru warunków syntezy, prowadząc do chemicznie czystego produktu w fazie stałej - azotku galu GaN.
Ponadto, powyższe reakcje zachodzą zarówno dla łatwo dostępnych i tanich monokrystalic znych kształtek prekursora GaE jak i dla mikrokrystalicznych proszków, uzyskanych np. ze zmielenia monokryształów GaE, w obydwu przypadkach dając proszki GaN w nanometrowym zakresie rozmiarów krystalitów (nanoproszki GaN). Świadczy to o samoistnym, wielomiejscowym zarodkowaniu fazy azotku galu na dużym krysztale/ziarnie wyjściowego GaE w określonych warunkach eksperymentalnych.
Do zalet należy zaliczyć również to, że struktura krystaliczna nanoproszkowego GaN (polityp) zależy od rodzaju substratów - konkretnego prekursora galowego GaE i wybranego prekursora azotowego: amoniak, hydrazyny, aminy, azotki, azydki, cyjanki, lub gazowy azot w warunkach wzbudzenia oraz od doboru warunków eksperymentalnych, decydujących o kinetyce i termodynamice przemian (rodzaj atmosfery gazowej na etapie rozgrzewania i na etapie stabilnej temperatury, prędkość przepływu mediów gazowych, reaktor przelotowy bądź z zaślepionym jednym końcem, łódeczka dwustronna bądź z obciętym jednym lub dwoma końcami). I tak, dla GaAs otrzymuje się zwykle mieszan iny fazy regularnej (metastabilnej) i heksagonalnej (trwałej). W zadanych ściśle określonych warunkach można jednak otrzymać wyłącznie fazę heksagonalną GaN. Dla obydwu pozostałych substratów, tj. GaP i GaSb, dla szerokiego zakresu warunków otrzymuje się zwykle czystą fazę heksagonalną GaN, czasem w charakterystyczny sposób zdefektowaną dla najmniejszych nanoziaren, który to efekt zanika ze wzrostem rozmiarów krystalitów, będących wciąż w zakresie nanometrowym.
Ostatecznie więc otrzymuje się tym sposobem czyste nanoproszki GaN o średnich rozmiarach krystalitów w zakresie od kilku do kilkudziesięciu nanometrów lub większych, bez potrzeby separacji produktów ubocznych, z handlowo dostępnych i względnie tanich prekursorów beztlenowych GaE (E = P, As, Sb) na drodze jednoetapowej reakcji z prekursorem azotkującym w podwyższonych temperaturach. Proces można ukierunkować na otrzymanie ze wszystkich prekursorów GaE czystej fazy heksagonalnej nanokrystalicznego GaN (h-GaN).
PL 223 872 B1
P r z y k ł a d 1
Monokrystaliczne płytki fosforku galu GaP (rozmiar ok. 5 x 5 mm, grubość ok. 0,5 mm) wycięte z dużego kryształu prostopadle do osi wzrostu a utarto w ciągu 10 minut w moździerzu agatowym, uzyskując mikrokrystaliczny proszek substratu. Proszek, zawarty w łódeczce alundowej, wsunięto do ceramicznego reaktora, umieszczonego w piecu rurowym. Przez reaktor przepuszczano najpierw przez 30 minut amoniak z prędkością 0,2 L/min, a potem rozpoczęto etap grzania układu z szybkością 10°C/min do zadanej temperatury końcowej reakcji 1000°C. Reaktor wytrzymywano w temperaturze 1000°C przez 36 godzin w warunkach przepływu amoniaku, po czym studzono wolno w ciągu kilku godzin do temperatury otoczenia. Otrzymano jasny, szaro-żółtawy proszek, będący czystym fazowo, heksagonalnym GaN o parametrach struktury krystalicznej: a = 3,19 A; c = 5,18 A oraz o średnim rozmiarze ziarna rzędu 25 nm, tj. D(101) = 26,5 nm; D(002) = 25,4 nm; D(011) = 24,2 nm (obliczenia z danych XRD, wykorzystując równanie Scherrera). Na fig. 1 zamieszczono dyfraktogram proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej XRD dla tego proszku. Fig. 2 natomiast przedstawia zdjęcia produktu, otrzymane za pomocą skaningowego mikroskopu elektronowego SEM, obrazujące sferoidalną morfologię większych ziaren, które same składają się z drobnych nanokrystalitów GaN.
P r z y k ł a d 2
Reakcję przeprowadza się w układzie jak w przykładzie 1, lecz w temperaturze 1150°C przez 6 godzin, otrzymując podobnej barwy proszkowy, czysty fazowo, heksagonalny GaN o parametrach struktury krystalicznej: a = 3,19 A; c = 5,19 A oraz o średnim rozmiarze ziarna rzędu 40 nm, tj. D(101) = 40 nm; D(002) = 40 nm; D(011) = 40 nm (obliczenia z danych XRD, wykorzystując równanie Scherrera).
Na fig. 3 zamieszczono dyfraktogram proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej XRD dla tego proszku.
P r z y k ł a d 3
Monokrystaliczne płytki arsenku galu GaAs (rozmiar ok. 5 x 5 mm, grubość ok. 0,5 mm) wycięte z dużego kryształu prostopadle do osi wzrostu a ułożono w otwartym z obu stron podłużnym tyglu alundowym i całość wsunięto do ceramicznego reaktora, umieszczonego w piecu rurowym. Przez reaktor przepuszczano w ciągu 30 minut wysokiej czystości azot z prędkością 0,2 L/min, a następnie w warunkach przepływu azotu rozpoczynał się etap grzania układu z szybkością 10°C/min do zadanej temperatury końcowej reakcji 800°C. Po osiągnięciu tej temperatury, zamykano przepływ azotu a otwierano przepływ amoniaku z prędkością 0,5 L/min. Tygiel wytrzymywano w temperaturze 800°C przez 90 godzin w warunkach przepływu amoniaku, po czym piec studzono wolno w ciągu kilku godzin do temperatury otoczenia. Otrzymano szaro-żółtawy, kruchy, czysty fazowo, heksagonalny GaN o parametrach struktury krystalicznej: a = 3,18 A; c = 5,19 A oraz o średnim rozmiarze ziarna rzędu 10 nm, tj. D(101) = 13,7 nm; D(002) = 7,9 nm: D(011) = 8,5 nm (obliczenia z danych XRD, wykorzystując równanie Scherrera), który łatwo dał się utrzeć do postaci proszkowej, użytej do dalszych b adań. Fig. 4 przedstawia dyfraktogram proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej XRD dla tego proszku, natomiast fig. 5 zawiera zdjęcia tego proszku ze skaningowego mikroskopu elektronowego SEM. Widoczna jest sferyczna morfologia dużych cząstek, które po powiększeniu okazują się być agregatami nanokrystalitów GaN.
P r z y k ł a d 4
Monokrystaliczne płytki arsenku galu GaAs (rozmiar ok. 5 x 5 mm, grubość ok. 0,5 mm), wycięte z dużego kryształu prostopadle do osi wzrostu a, umieszczono w łódeczce kwarcowej, całość wsunięto do kwarcowego reaktora ze ślepym końcem, a ten ułożono w piecu rurowym tak, że łódeczka znajdowała się w środku pieca. Przez reaktor przepuszczano najpierw przez 30 minut amoniak z prędkością 0,2 L/min, a następnie rozpoczęto etap grzania układu z szybkością 10°C/min do zadanej temperatury końcowej reakcji 800°C. Reaktor wytrzymywano w temperaturze 800°C przez 90 godzin w warunkach przepływu amoniaku, po czym studzono wolno w ciągu kilku godzin do temperatury otoczenia. Otrzymano, jak wykazały badania, szaro-żółtawy, kruchy, czysty fazowo, heksagonalny GaN o parametrach struktury krystalicznej: a = 3,17 A; c = 5,21 A oraz o średnim rozmiarze ziarna rzędu 14 nm, tj. D(101) = 13,1 nm; D(002) = 16,5 nm; D(011) = 10,8 nm (obliczenia z danych XRD, wykorzystując równanie Scherrera). Na fig. 6 zamieszczono dyfraktogram proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej XRD dla tego proszku.
P r z y k ł a d 5
Monokrystaliczne płytki arsenku galu GaAs (rozmiar ok. 5 x 5 mm, grubość ok. 0,5 mm) wycięte z dużego kryształu prostopadle do osi wzrostu a utarto w ciągu 10 minut w moździerzu agatowym, uzyskując mikrokrystaliczny proszek substratu. Proszek ten umieszczono w łódeczce kwarcowej, całość wsunięto do kwarcowego reaktora ze ślepym końcem, a ten ułożono w piecu rurowym tak, że
PL 223 872 B1 łódeczka znajdowała się w środku pieca. Przez reaktor przepuszczano wpierw przez 30 minut am oniak z prędkością 0,2 L/min, a potem rozpoczęto etap grzania układu z szybkością 10°C/min do zadanej temperatury końcowej reakcji 800°C. Reaktor wytrzymywano w temperaturze 800°C przez 90 godzin w warunkach przepływu amoniaku, po czym studzono wolno w ciągu kilku godzin do temperatur y otoczenia. Otrzymano szaro-żółtawy, kruchy produkt, który łatwo utarto do postaci proszkowej, użytej do dalszych badań. Na fig. 7 zamieszczono dyfraktogram proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej XRD dla tego proszku.
Potwierdza on występowanie czystego fazowo, heksagonalnego GaN o parametrach struktury krystalicznej: a = 3,19 A; c = 5,20 A oraz o średnim rozmiarze ziarna rzędu 26 nm, tj. D(101) = 23,6 nm; D(002) = 31,5 nm; D(011) = 22,3 nm (obliczenia z danych XRD, wykorzystując równanie Scherrera).
P r z y k ł a d 6
Monokrystaliczne płytki arsenku galu GaAs (rozmiar ok. 5 x 5 mm, grubość ok. 0,5 mm) wycięte z dużego kryształu prostopadle do osi wzrostu a ułożono w podłużnym tyglu alundowym i całość wsunięto do ceramicznego reaktora, umieszczonego w piecu rurowym. Przez reaktor przepuszczano w temperaturze pokojowej amoniak z prędkością 0,5 L/min. przez 30 minut, a następnie rozpoczynał się etap grzania układu z szybkością 10°C/min. do zadanej temperatury końcowej reakcji 900°C. Tygiel wytrzymywano w temperaturze 900°C przez jedną godzinę w warunkach przepływu amoniaku j/w, po czym piec studzono wolno w ciągu kilku godzin do temperatury otoczenia. Otrzymano szaro- żółtawy, kruchy produkt, który łatwo dał się utrzeć do postaci proszkowej, użytej do dalszych badań. Na fig. 8 zamieszczony jest dyfraktogram proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej XRD dla tego proszku. Potwierdza on występowanie dwóch faz GaN, w tym (i) politypu heksagonalnego (68,5%) o parametrach struktury krystalicznej: a = 3,19 A; c = 5,19 A oraz o średnim rozmiarze ziarna rzędu 28 nm, tj. D(101) = 38,0 nm; D(011) = 18,5 nm oraz (ii) politypu regularnego (31,5%) o parametrze struktury krystalicznej a = 4,51 A oraz o średnim rozmiarze ziarna rzędu 40 nm, tj. D(002) = 39.9 nm (obliczenia z danych XRD, wykorzystując równanie Scherrera).
P r z y k ł a d 7
Monokrystaliczne płytki antymonku galu GaSb (rozmiar ok. 5 x 5 mm, grubość ok. 0,5 mm) wycięte z dużego kryształu prostopadle do osi wzrostu a utarto w ciągu 10 minut w moździerzu agatowym, uzyskując polikrystaliczny/mikrokrystaliczny proszek substratu. Proszek ten, zawarty w otwartym z obu stron podłużnym tyglu alundowym, wsunięto do ceramicznego reaktora, umieszczonego w piecu rurowym. Przez reaktor przepuszczano wpierw przez 30 minut amoniak z prędkością 0,2 L/min, a potem rozpoczęto etap grzania układu z szybkością 10°C/min do zadanej temperatury końcowej reakcji 900°C. Reaktor wytrzymywano w temperaturze 900 dC przez 150 godzin w warunkach przepływu amoniaku, po czym studzono wolno w ciągu kilku godzin do temperatury otoczenia. Otrzymano jasny, szaro-żółtawy proszkowy Produkt G, który użyto do dalszych badań. Na fig. 9 zamieszczono dyfraktogram proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej XRD dla tego proszku. Potwierdza on występowanie czystego fazowo, heksagonalnego GaN o parametrach struktury krystalicznej: a = 3,19 A; c = 5,18 A oraz o średnim rozmiarze ziarna rzędu 39 nm, tj. D(101) = 47,0 nm; D(002) = 41,1 nm; D(011) = 28,6 nm (obliczenia z danych XRD, wykorzystując równanie Scherrera). Na fig. 10 pokazano typową morfologię Produktu G, wskazującą na względnie dobrze wykształcone krystality GaN bez widocznych śladów cech sferoidalnych dla większych agregatów cząstek.
Claims (1)
- Zastrzeżenie patentoweSposób wytwarzania nanokrystalicznych proszków azotku galu GaN, z użyciem beztlenowych związków galu, znamienny tym, że beztlenowe związki galu w postaci połączeń typu GaE w formie mikrokrystalicznych proszków lub monokryształów, gdzie E to atomy z V (15) grupy układu okresowego takie jak arsen As, fosfor P lub antymon Sb, umieszczone w łódeczce reakcyjnej dwustronnie bądź jednostronnie otwartej lub też dwustronnie zamkniętej, poddaje się w jednoetapowym procesie prow adzonym w reaktorze przepływowym: przelotowym bądź z zaślepionym jednym końcem, działaniu reaktywnego prekursora azotkującego użytego w nadmiarze, najkorzystniej amoniaku albo związku lub związków z grupy połączeń obejmującej hydrazyny, aminy, azotki, azydki, cyjanki lub gazowy azot w warunkach wzbudzenia i innych, zawierających azot, reakcję prowadzi się w temperaturze z zakresu 600-1300°C i w czasie od kilku minut do ponad stu godzin, przy czym rozgrzewanie reaktora odbywa się w warunkach przepływu azotu lub amoniaku, zaś po uzyskaniu zadanej temperatury, procesPL 223 872 B1 prowadzi się w przepływie amoniaku lub w atmosferze par prekursora azotowego, przy czym prędkość przepływu mediów gazowych nie przekracza 20 l/min., w wyniku tak prowadzonego procesu otrzymuje się nanokrystaliczny proszek azotku galu GaN w postaci mieszaniny fazy regularnej i heksagonalnej lub wyłącznie heksagonalnej.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL399900A PL223872B1 (pl) | 2012-07-11 | 2012-07-11 | Sposób wytwarzania nanokrystalicznych proszków azotku galu GaN |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL399900A PL223872B1 (pl) | 2012-07-11 | 2012-07-11 | Sposób wytwarzania nanokrystalicznych proszków azotku galu GaN |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL399900A1 PL399900A1 (pl) | 2012-12-03 |
| PL223872B1 true PL223872B1 (pl) | 2016-10-31 |
Family
ID=47264265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL399900A PL223872B1 (pl) | 2012-07-11 | 2012-07-11 | Sposób wytwarzania nanokrystalicznych proszków azotku galu GaN |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL223872B1 (pl) |
-
2012
- 2012-07-11 PL PL399900A patent/PL223872B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL399900A1 (pl) | 2012-12-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Mazumder et al. | Synthesis and applications of nanocrystalline nitride materials | |
| Liu et al. | Low-temperature and catalyst-free synthesis of well-aligned ZnO nanorods on Si (100) | |
| Zhang et al. | Synthesis of thin Si whiskers (nanowires) using SiCl4 | |
| US20130251615A1 (en) | Polycrystalline group iii metal nitride with getter and method of making | |
| Yarema et al. | Precision synthesis of colloidal inorganic nanocrystals using metal and metalloid amides | |
| Yue et al. | Hydrothermal synthesis of single-crystal ZnS nanowires | |
| Tamang et al. | Synthesis of colloidal InSb nanocrystals via in situ activation of InCl 3 | |
| US20160222506A1 (en) | Method and system for preparing polycrystalline group iii metal nitride | |
| JP2008230895A (ja) | ZnOウィスカー、ZnOウィスカー膜及びそれらの作製方法 | |
| USRE47114E1 (en) | Polycrystalline group III metal nitride with getter and method of making | |
| WO2013062042A1 (ja) | 窒化物結晶の製造方法および窒化物結晶 | |
| Parvizian et al. | Precursor chemistry of metal nitride nanocrystals | |
| Umar et al. | Non-catalytic growth of high aspect-ratio ZnO nanowires by thermal evaporation | |
| Qi et al. | Hierarchical-like multipod γ-MnS microcrystals: solvothermal synthesis, characterization and growth mechanism | |
| Wang et al. | Synthesis of PbS microcrystals via a hydrothermal process | |
| Chaurasia et al. | Preparation and properties of AlN (aluminum nitride) powder/thin films by single source precursor | |
| Scott et al. | Versatile method for template-free synthesis of single crystalline metal and metal alloy nanowires | |
| Wallace et al. | Rapid synthesis of crystalline gallium nitride from solid precursors at atmospheric pressure | |
| CN111206283A (zh) | 一种二硒化铬二维材料的制备和应用 | |
| Seo et al. | Synthesis of gallium phosphide nanowires via sublimation method | |
| Wu et al. | Growth and Characterization of Well‐Aligned nc‐Si/SiOx Composite Nanowires | |
| Wood et al. | Aerosol-assisted vapor phase synthesis of gallium nitride powder | |
| PL223872B1 (pl) | Sposób wytwarzania nanokrystalicznych proszków azotku galu GaN | |
| Goel et al. | Copper (I) oxide micro-cubical structures formation by metal organic chemical vapor deposition from copper (II) acetylacetonate | |
| KR100596676B1 (ko) | 기상합성법에 의한 단일벽 탄소 나노튜브의 대량 합성 방법 |