PL222990B1 - Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów - Google Patents

Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów

Info

Publication number
PL222990B1
PL222990B1 PL399763A PL39976312A PL222990B1 PL 222990 B1 PL222990 B1 PL 222990B1 PL 399763 A PL399763 A PL 399763A PL 39976312 A PL39976312 A PL 39976312A PL 222990 B1 PL222990 B1 PL 222990B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
light
mirrors
holes
mirror
wave front
Prior art date
Application number
PL399763A
Other languages
English (en)
Other versions
PL399763A1 (pl
Inventor
Wojciech Cieszyński
Jacek Reiner
Original Assignee
Politechnika Wroclawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroclawska
Priority to PL399763A priority Critical patent/PL222990B1/pl
Publication of PL399763A1 publication Critical patent/PL399763A1/pl
Publication of PL222990B1 publication Critical patent/PL222990B1/pl

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości równoległych otworów, znajdujący zastosowanie w pomiarach elementów mechanicznych i optycznych, zwłaszcza w urządzeniach mechaniki i optyki precyzyjnej, umożliwiający wysoce precyzyjne ich dopasowanie lub inspekcję wykonania.
Przyrząd do sprawdzania mimośrodowości otworów znany z polskiego zgłoszenia patentowego nr 271290, zawiera trzpień pomiarowy zamocowany razem z dwoma centrownikami, przy czym jeden z centrowników połączony jest z trzpieniem nieprzesuwnie, a drugi osadzony jest z luzem. Trzpień osadza się w otworach, przy czym za pomocą jednego z centrowników ustawia się trzpień w osi jednego z otworów, natomiast drugim centrownikiem mierzy się mimośrodowość trzpienia względem otworu drugiego.
Urządzenie do pomiaru współosiowości otworów znane z polskiego zgłoszenia patentowego nr 277546, zawiera trzpień pomiarowy wkładany do mierzonego otworu, którym mierzy się średnicę i kształt geometryczny otworu obracając elementem pomiarowym, po czym przesuwa się element pomiarowy wzdłuż wspomnianego trzpienia i dokonuje się pomiaru otworu w innym jego miejscu.
Sposób wyznaczania położenia osi długich nieprzelotowych otworów znany z polskiego zgłoszenia patentowego nr 386718, zawiera trzpień pomiarowy z dwoma bazami usytuowanymi na końcach trzpienia wkładany do mierzonego otworu, na którym dokonuje się pomiaru wystającej z otworu części trzpienia w dwóch płaszczyznach.
Sposób i urządzenie do współosiowego ustawiania tulei cylindrycznych, zwłaszcza tulei zestawu sterowego znany jest z polskiego opisu patentowego nr 173060. Sposób, polega na tym, że tuleje lokuje się z luzem w otworach sztywnego korpusu wspornika steru, następnie łączy się regulowanymi uchwytami z tym korpusem, po czym regulatorami położenia przemieszcza się tuleje i ustawia się ich osie w linii wyznaczonej przez rozciągniętą i napiętą strunę. Urządzenie utworzone jest z zestawu uchwytów, które uformowane są w postaci prętów płaskich wygiętych w kształcie litery L i zaopatrzonych w element dociskowy oraz regulator położenia o prostopadłych względem siebie osiach. Drugie inne uchwyty uformowane są w postaci prostopadłościennego pręta płaskiego wyposażonego w regulator położenia i przytwierdzonego trwale do pierścienia podtrzymującego.
Istota układu, według wynalazku polega na tym, że w badanych otworach wykonanych w elementach mechanicznych umieszczone są zwierciadła w obudowach dopasowanych do otworów. Pomiędzy otworami umieszczony jest układ zwierciadeł, którego dwa lustra ustawione są pod kątem do zwierciadeł i jednocześnie pod kątem do dwóch elementów światłodzielących, z których każdy umieszczony jest pomiędzy czujnikiem frontu falowego oraz źródłem światła. Wzdłuż wiązek światła emitowanych ze źródeł światła zestawione są elementy światłodzielące, układ zwierciadeł, zwierciadła i czujniki frontu falowego, przy czym czujniki frontu falowego wyposażone są w matryce mikrosoczewek, za którymi umieszczone są matryce CCD/CMOS podłączone do komputera. Ponadto tory optyczne źródeł światła i tory optyczne czujników frontu falowego za elementami światłodzielącymi są współbieżne.
Korzystnie, elementem światłodzielącym jest płytka światłodzieląca lub kostka światłodzieląca.
Korzystnie, zwierciadło jest zwierciadłem sferycznym, lub zwierciadłem asferycznym, lub zwierciadłem płaskim.
Korzystnie, źródłem światła jest laser lub dioda laserowa.
Otwory elementów konstrukcyjnych lub elementów pozycjonujących wytwarzane są z dokładnością uzależnioną od narzędzia obróbkowego. W zastosowaniach mechaniki precyzyjnej lub medycznych otwory te powinny być pozycjonowane z bardzo dużą dokładnością. Osie otworów powinny się pokrywać. Układ, według wynalazku pozwala na zautomatyzowanie pomiaru współosiowości otworów a także skrócić znacznie czas pomiaru, jednocześnie charakteryzuje się wysoką rozdzielczością w ustalaniu ich położenia i współosiowości. Układ wyposażony w czujnik frontu falowego HarmannShack'a składający się z matrycy mikrosoczewek umieszczonej przed matrycą CCD oraz źródła promieniowania laserowego generującego światło monochromatyczne, co zapewnia wysoką czułość pomiarów przestrzennych i kątowych. Produkcja układu jest nieskomplikowana technologicznie oraz charakteryzuje się wysoką adaptacyjnością w zależności od kształtów i rozmiarów badanych otworów. Stosowanie wynalazku zwłaszcza w zastosowaniach medycznych oraz mechaniki precyzyjnej zapobiega błędom montażowym oraz konstrukcyjnym, jak również ogranicza liczbę błędnie wytwarzanych elementów produkcyjnych.
PL 222 990 B1
Przedmiot wynalazku w przykładach wykonania jest uwidoczniony na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat blokowy układu pomiarowego, a fig. 2 - usytuowanie elementów układu pomiarowego względem badanych otworów.
P r z y k ł a d 1
Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów ma w badanych otworach 1,2 wykonanych w elementach mechanicznych EP, ED umieszczone zwierciadła 9 sferyczne w obudowach 10 dopasowanych do otworów 1,2. Pomiędzy otworami 1, 2 umieszczony jest układ zwierciadeł 12, którego dwa lustra ustawione są pod kątem do zwierciadeł 9 i jednocześnie pod kątem do dwóch el ementów światłodzielących 7, z których każdy umieszczony jest pomiędzy czujnikiem frontu falowego CF oraz laserowym źródłem światła 3. Elementami światłodzielącymi 7 są płytki światłodzielące. Wzdłuż wiązek światła emitowanych ze źródeł światła 3 zestawione są elementy światłodzielące 7, układ zwierciadeł 12, zwierciadła 9 i czujniki frontu falowego CF. Czujniki frontu falowego CF wyposażone są w matryce mikrosoczewek 5, za którymi umieszczone są matryce CCD/CMOS 6 podłączone do komputera KO. Ponadto tory optyczne źródeł światła 3 i tory optyczne czujników frontu falowego CF za elementami światłodzielącymi 7 są współbieżne.
P r z y k ł a d 2
Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów wykonany jak w przykładzie pierwszym z tą różnicą, że elementem światłodzielącym 7 jest kostka światłodzieląca, zwierciadło 9 jest zwierciadłem asferycznym, natomiast źródłem światła 3 jest dioda laserowa.
Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów znajduje zastosowanie w pomiarach elementów mechanicznych i optycznych, zwłaszcza w urządzeniach mechaniki i optyki precyzyjnej. Możliwym jest także stosowanie wynalazku do inspekcji elementów produkcji, zwłaszcza w urządzeniach i produktach medycznych.

Claims (8)

  1. Zastrzeżenia patentowe
    1. Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów, znamienny tym, że w badanych otworach (1, 2) wykonanych w elementach mechanicznych (EP, ED) umieszczone są zwierciadła (9) w obudowach (10) dopasowanych do otworów (1, 2), a pomiędzy otworami (1, 2) umieszczony jest układ zwierciadeł (12), którego dwa lustra ustawione są pod kątem do zwierciadeł (9) i jednocześnie pod kątem do dwóch elementów światłodzielących (7), z których każdy umieszczony jest pomiędzy czujnikiem frontu falowego (CF) oraz źródłem światła (3), przy czym wzdłuż wiązek światła emitowanych ze źródeł światła (3) zestawione są elementy światłodzielące (7), układ zwierciadeł (12), zwierciadła (9) i czujniki frontu falowego (CF), przy czym czujniki frontu falowego (CF) wyp osażone są w matryce mikrosoczewek (5), za którymi umieszczone są matryce CCD/CMOS (6) podłączone do komputera (KO), ponadto tory optyczne źródeł światła (3) i tory optyczne czujników frontu falowego (CF) za elementami światłodzielącymi (7) są współbieżne.
  2. 2. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że elementem światłodzielącym (7) jest płytka światłodzieląca.
  3. 3. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że elementem światłodzielącym (7) jest kostka światłodzieląca.
  4. 4. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że zwierciadło (9) jest zwierciadłem sferycznym.
  5. 5. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że zwierciadło (9) jest zwierciadłem asferycznym.
  6. 6. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że zwierciadło (9) jest zwierciadłem płaskim.
  7. 7. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że źródłem światła (3) jest laser.
  8. 8. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że źródłem światła (3) jest dioda laserowa.
PL399763A 2012-07-03 2012-07-03 Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów PL222990B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL399763A PL222990B1 (pl) 2012-07-03 2012-07-03 Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL399763A PL222990B1 (pl) 2012-07-03 2012-07-03 Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL399763A1 PL399763A1 (pl) 2012-12-03
PL222990B1 true PL222990B1 (pl) 2016-09-30

Family

ID=47264255

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL399763A PL222990B1 (pl) 2012-07-03 2012-07-03 Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL222990B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL399763A1 (pl) 2012-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106461376B (zh) 用于物体的几何测量的装置和方法
US20180202796A1 (en) Measuring device and method for measuring at least one length measurand
JP5784150B2 (ja) 表面を高精度で測定する方法及び装置
CN104391366B (zh) 一种太赫兹波段离轴三反射镜系统及其装调方法
CN107250714B (zh) 用于干涉检测的方法和设备
JP6553967B2 (ja) 瞬時位相シフト干渉計
US9551571B2 (en) Method and device for measuring a decentration and tilt of faces of an optical element
CN103998893A (zh) 规准制品以及用于检查坐标定位机器的方法
CN108351198B (zh) 检测圆柱形中空壳体的表面的传感器装置和方法
US7197834B2 (en) Variable test object and holder for variable test objects
KR100997763B1 (ko) 위치보정 지지대 및 이를 구비한 측정 장치
PL222989B1 (pl) Układ do pomiaru względnego położenia i współosiowości otworów
PL223500B1 (pl) Sposób pomiaru położenia i współosiowości otworów
CN205482840U (zh) 一种基于Mach-Zehnder的双光束元件表面粗糙度测量装置
PL224199B1 (pl) Układ do pomiaru położenia i współosiowości równoległych otworów
PL224200B1 (pl) Układ do pomiaru położenia i współosiowości otworów
TW201413217A (zh) 多軸微分干涉儀
CN201945437U (zh) 透镜面形偏差检测装置
JP7361166B2 (ja) 多軸レーザ干渉測長器、及び、変位検出方法
KR101007383B1 (ko) 정렬 기준 미러 및 그를 이용한 레이저 거리 측정기 정렬 방법
Pruss et al. Flexibility and rapid measurement: asphere and freeform metrology with tilted wave interferometry
JP2013160742A (ja) 回折格子を用いた3次元干渉計参照面の校正方法、および3次元干渉計
ES2621209T3 (es) Dispositivo optoelectrónico de medida con una pluralidad de perfiles, y método para alinear dichos perfiles
WO2015125165A1 (en) Modular positioning device
PL222342B1 (pl) Dalmierz laserowy