PL210425B1 - Cylindryczny rezonator mikrofalowy z rozkładem pola TE011 - Google Patents

Cylindryczny rezonator mikrofalowy z rozkładem pola TE011

Info

Publication number
PL210425B1
PL210425B1 PL371636A PL37163604A PL210425B1 PL 210425 B1 PL210425 B1 PL 210425B1 PL 371636 A PL371636 A PL 371636A PL 37163604 A PL37163604 A PL 37163604A PL 210425 B1 PL210425 B1 PL 210425B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
resonator
resonator according
slot
feeder
plate
Prior art date
Application number
PL371636A
Other languages
English (en)
Other versions
PL371636A1 (pl
Inventor
Jerzy Galica
Henryk Gierszal
Jan Grembowski
Ewa Miś-Kuźmińska
Original Assignee
Inst Fizyki Molekularnej Pan
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Fizyki Molekularnej Pan filed Critical Inst Fizyki Molekularnej Pan
Priority to PL371636A priority Critical patent/PL210425B1/pl
Publication of PL371636A1 publication Critical patent/PL371636A1/pl
Publication of PL210425B1 publication Critical patent/PL210425B1/pl

Links

Landscapes

  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest cylindryczny rezonator mikrofalowy z rozkładem pola TE011, przeznaczony głównie do pomiaru przewodnictwa materiałów półprzewodnikowych.
Znane sposoby pomiaru przewodnictwa w pasmach mikrofalowych polegają na pomiarze w wolnej przestrzeni, w prowadnicach falowych oraz wn ękach rezonansowych. Badania materiał ów w swobodnej przestrzeni obarczone są szeregiem niedogodności, z których najuciążliwszą jest konieczność stosowania próbek o dużych wymiarach. Duże próbki trzeba również stosować w metodach badania materiałów w prowadnicach falowych. W tych ostatnich metodach należy dodatkowo spełnić warunek dobrego, bezszczelinowego dopasowania wymiarów próbki do wymiarów stosowanego falowodu. W metodach rezonatorowych możliwy jest bezkontaktowy pomiar przewodnictwa próbki, w szczególnoś ci, gdy korzystamy z rezonatorów cylindrycznych z rozk ładami TE0mn. Du ż a czuł ość metod rezonatorowych predysponuje je do badania małych próbek, w tym próbek z materiałów półprzewodnikowych stosowanych w elektronice.
Istota rezonatora według wynalazku polega na tym, że ma poziomą szczelinę, wyciętą w ściance swego cylindrycznego korpusu, w połowie jego wysokości oraz wydrążone w tej ściance pionowe gniazdo, w którym jest usytuowana, prostopadle do płaszczyzny szczeliny, oś obrotowa z osadzonym na niej płaskim podajnikiem, który jest obrotowo usytuowany w tej szczelinie.
Korzystnym jest, gdy rezonator ma także płytkę pośredniczącą, usytuowaną współśrodkowo pomiędzy pokrywą górną a obrzeżem korpusu, przy czym w płytce tej są nawiercone dwa otwory sprzęgające, wejściowy i wyjściowy.
Korzystnym jest także, gdy dla częstotliwości rezonansowej 22,0 GHz podajnik ma kształt prostokątnej płytki.
Dodatkowo korzystnym jest także, gdy rezonator jest wyposażony w osadzone na osi obrotowej pokrętło ze skalą kątową.
Ponadto korzystnym jest, gdy rezonator jest wyposażony w pierścień z materiału dielektrycznego, usytuowany koncentrycznie na pokrywie dolnej, od strony wnęki rezonansowej.
Bezpośrednim skutkiem wynalazku jest nowa, uproszczona i łatwa w realizacji konstrukcja rezonatora, która umożliwia bezkontaktowy pomiar przewodnictwa próbek o małych wymiarach i wysokich parametrach własnych.
Rezonator według wynalazku został uwidoczniony w przykładowym wykonaniu pokazanym na rysunku, którego poszczególne figury obrazują:
fig. 1 - rezonator w przekroju pionowym, fig. 2 - przekrój poprzeczny rezonatora w płaszczyźnie szczeliny, fig. 3 - przekrój pionowy rezonatora w płaszczyźnie równoległej do szerszych ścianek falowodów oraz fig. 4 - przekrój poprzeczny wzdłuż cięcia A-A.
W przykładzie zastosowano rezonator o częstotliwości: 21980700 kHz i dobroci: 4000, pracujący na modzie TE011.
Cylindryczny korpus 1 rezonatora, obustronnie zamknięty za pomocą dwóch mosiężnych pokryw, dolnej 4 i górnej 13 oraz usytuowanej pod płytą 13 miedzianej płytki pośredniczącej 3, zawiera wnękę rezonansową 2 o średnicy 17,9 mm i objętości 4549,9 mm3. Pokrywa górna 13 wraz z płytką pośredniczącą 3 ma pięć otworów 9 na śruby dociskowe 21 oraz otwór wprowadzający 11 gniazda 17 na oś obrotową 12 podajnika 18. Ponadto, płytka pośrednicząca 3 ma usytuowane symetrycznie względem środka dwa otwory sprzęgające, wejściowy 5 falowodu wejściowego 7 i wyjściowy 6 oraz falowodu wyjściowego 8, przy czym rozstęp pomiędzy otworami 5 i 6 wynosi 8,5 mm.
Prostokątne falowody 7 i 8, o przekroju poprzecznym określonym symbolem R 220 (PN-66/T-80300), są w taki sposób wlutowane w pokrywę górną 13, wzdłuż jej średnicy, by ich osie symetrii pokrywały się z osiami otworów 5 i 6 w płytce pośredniczącej 3.
Z kolei pokrywa dolna 4 ma sześć otworów mocujących 14 na śruby dociskowe 21 oraz pierścień 15 z materiału dielektrycznego, przyklejony koncentrycznie od strony wnęki rezonansowej 2 w celu wytłumienia wzbudzającego się drgania rodzaju TE011.
W cylindrycznej ściance korpusu 1 jest nawierconych jedenaście gwintowanych gniazd 16 dla śrub dociskowych 21, mocujących pokrywy 4 i 13 wraz z płytką pośredniczącą 3 do krawędzi korpusu 1. Oś obrotowa 12 jest wyposażona w napędzające pokrętło 10 z precyzyjną skalą kątową. Osadzony na osi obrotowej 12 podajnik 18 z materiału nisko stratnego ma postać prostokątnej płytki o grubości
PL 210 425 B1
0,1 mm i długości przekraczającej wielkość promienia cylindra 2. W połowie wysokości korpusu 1, w płaszczyźnie prostopadłej do osi cylindra 2, wycięta jest pozioma szczelina 19, w której przemieszcza się podajnik 18 z próbką materiału półprzewodnikowego. Podajnik transportuje obrotowo próbkę z miejsca na zewnątrz rezonatora do punktu 20 w wewnątrz wnęki rezonansowej 2, w którym występuje maksimum natężenia pola elektrycznego wysokiej częstotliwości, przy czym za pomocą pokrętła 10 z precyzyjną skalą kątową wyznacza się pozycję ramienia z dokładnością ± 3,6°.
Metoda pomiaru przewodnictwa w materiałach półprzewodnikowych, w której wykorzystano przedmiotowy rezonator, polega na pomiarze adiabatycznej zmiany charakterystyki rezonatora po wprowadzeniu do niego obcego ciała (badanej próbki). Próbka musi być mała w porównaniu z przestrzenną zmianą pola. W przykładzie wykonania wymiary próbki wynosiły 1 x 1 x 3 mm. Istotą pomiaru tą metodą jest wykonanie oddzielnie charakterystyki rezonatora przed i po włożeniu próbki. Różnice w charakterystykach transmisyjnych rezonatora informują o zmianie zespolonej wartości przenikalności elektrycznej, a w szczególności jej części urojonej - związanej z przewodnictwem próbki.

Claims (5)

1. Rezonator mikrofalowy z rozkładem pola TE011, którego cylindryczny korpus jest obustronnie ograniczony dwiema pokrywami zewnętrznymi oraz płytą pośredniczącą, przy czym parametry utworzonej wnęki odpowiadają wymaganej częstotliwości rezonansowej, znamienny tym, że ma poziomą szczelinę (19), wyciętą w ściance korpusu (1), w połowie jego wysokości oraz wydrążone w tej ściance pionowe gniazdo (17), w którym jest usytuowana, prostopadle do płaszczyzny szczeliny (19), oś obrotowa (12) z osadzonym na niej płaskim podajnikiem (18), który jest obrotowo usytuowany w szczelinie (19).
2. Rezonator według zastrzeżenia 1, znamienny tym, że ma w płytkę pośredniczącą (3), usytuowaną współśrodkowo pomiędzy pokrywą górną (13) a obrzeżem korpusu (1) przy czym w płycie tej są nawiercone dwa otwory sprzęgające, wejściowy (5) falowodu wejściowego (7) oraz wyjściowy (6) falowodu wyjściowego (8).
3. Rezonator według zastrzeżenia 1 albo 2, znamienny tym, że dla częstotliwości rezonansowej 22,0 GHz podajnik (18) ma kształt prostokątnej płytki.
4. Rezonator według zastrzeżenia 1 albo 2, znamienny tym, że jest wyposażony w osadzone na osi obrotowej (12) pokrętło (10) ze skalą kątową.
5. Rezonator według zastrzeżenia 1 albo 2, znamienny tym, że jest wyposażony w pierścień (15) z materiału dielektrycznego, usytuowany koncentrycznie na pokrywie dolnej (4), od strony wnęki rezonansowej (2).
PL371636A 2004-12-08 2004-12-08 Cylindryczny rezonator mikrofalowy z rozkładem pola TE011 PL210425B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL371636A PL210425B1 (pl) 2004-12-08 2004-12-08 Cylindryczny rezonator mikrofalowy z rozkładem pola TE011

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL371636A PL210425B1 (pl) 2004-12-08 2004-12-08 Cylindryczny rezonator mikrofalowy z rozkładem pola TE011

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL371636A1 PL371636A1 (pl) 2006-06-12
PL210425B1 true PL210425B1 (pl) 2012-01-31

Family

ID=38739566

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL371636A PL210425B1 (pl) 2004-12-08 2004-12-08 Cylindryczny rezonator mikrofalowy z rozkładem pola TE011

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL210425B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL371636A1 (pl) 2006-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108594023B (zh) 基于渐变型同轴谐振腔的材料复介电常数测试系统及方法
CN110389259B (zh) 一种基于siw-csrr结构的固体材料介电常数传感器
JP4072601B2 (ja) 空洞共振器を用いて複素誘電率を測定する装置
Haddadi et al. Microwave liquid sensing based on interferometry and microscopy techniques
CN217361877U (zh) 谐振装置
US12153000B2 (en) Microstrip-type microwave sensor
CN100373689C (zh) 一种带状线谐振器及微波薄膜材料电磁参数测试装置
Dube et al. Dielectric Measurements on High‐Q Ceramics in the Microwave Region
PL210425B1 (pl) Cylindryczny rezonator mikrofalowy z rozkładem pola TE011
US10900919B2 (en) Microwave cavity for permittivity measurements
JP2004294124A (ja) 電気的物性値測定法及び測定用冶具
Martinic et al. One-port CSRR structure for dielectric characterization of lossy materials
Lin et al. Precision measurement of complex permittivity and permeability by microwave cavity perturbation technique
JP3511715B2 (ja) 表面抵抗および複素誘電率測定用治具ならびにその測定系構成方法
JPH06331670A (ja) 誘電体板の比誘電率測定方法および測定器具
Orlob et al. Characterization of electromagnetic properties of molded interconnect device materials
US12265109B2 (en) Device and method for measuring microwave surface resistance of dielectric conductor deposition interface
CN217655156U (zh) 谐振装置实验工装
RU2848993C1 (ru) Устройство для измерения электродинамических характеристик материалов на СВЧ
CN112083233B (zh) 一种测量微小材料样本多频点介电常数的装置与方法
JP4485985B2 (ja) 誘電特性測定方法および導電率測定方法
US20220334081A1 (en) Apparatus for measuring at least one electromagnetic property of a sample of material
CN104698231B (zh) 基于微波介质谐振器的乳腺组织特性探针
JP3511714B2 (ja) 表面抵抗測定用治具およびその測定系構成方法
CN113655287A (zh) 平面介质介电常数宽频带测试结构及其测试方法