PL201025B1 - Sposób bezkontaktowego pomiaru temperatury - Google Patents
Sposób bezkontaktowego pomiaru temperaturyInfo
- Publication number
- PL201025B1 PL201025B1 PL360065A PL36006503A PL201025B1 PL 201025 B1 PL201025 B1 PL 201025B1 PL 360065 A PL360065 A PL 360065A PL 36006503 A PL36006503 A PL 36006503A PL 201025 B1 PL201025 B1 PL 201025B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- temperature
- calculated
- measuring device
- calibration
- relationship
- Prior art date
Links
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
Sposób bezkontaktowego pomiaru temperatury polegający na tym, że najpierw wyznacza się krzywą kalibracyjną przyrządu pomiarowego, a następnie promieniowanie cieplne emitowane przez badany obiekt dzieli się w ukł adzie optycznym urządzenia pomiarowego na trzy pasma i kieruje się na detektory, a sygnał z wyjścia detektorów przekształca się na postać cyfrową, znamienny tym, że na wstępie ciało doskonale czarne podgrzewa się kolejno do temperatur Tc z zakresu pomiarowego urządzenia do pomiaru, a sygnał cieplny emitowany przez podgrzane ciało czarne kieruje się na optyczny układ odbiorczy urządzenia pomiarowego i wylicza się wartość mierzonej temperatury kalibracyjnej Tk zaś wartość ustawionych oraz wyliczonych temperatur zapamiętuje się w komputerze i na ich podstawie wyznacza się wartość współczynników w wielomianu kalibracyjnego stopnia n tak by była spełniona zależność: n Tc = wo + W1 · Tk + W2 · Tk2 + ... + Wn · Tk" = Σ Wi · Tk' i wartości współczynników rejestruje się w pamięci urządzenia pomiarowego, a następnie podczas rzeczywistego pomiaru temperatury Wyznacza się, znanym sposobem i rejestruje temperatury luminancyjne T1, T2 i T3 dla każdego kanału pomiaroWego oraz temperaturę startoWą Ts z zależności: PL 201025 B1 C · " ln(A2) - in ^ ) f 1 - 1 J- 1 - 1 J1 2 ^(λι ) - ln(A2) f λι λ2 JJ L λ2 λ3 J Ύ Ιη(λ2 ) - Ιη(λ3 ) Ύ s j L S3 J Ιη(λι ) - Ιη(λ2 ) L S2 J Ts po tym z wielomianu kalibracyjnego: n Tp = W0+W1 · Ts + W2 · Tk2 + ... + Wn · Tsn = Σ Wi · Ts'
Description
Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest sposób bezkontaktowego pomiaru temperatury stosowany do pomiaru temperatury obiektów za pomocą urządzeń wykorzystujących promieniowanie podczerwone, a zwłaszcza w pirometrach wielobarwowych.
Znany jest sposób pomiaru temperatury polegający na tym, że promieniowanie termiczne emitowane przez badany obiekt i odbierane przez układ odbiorczy jest kierowane na detektory w trzech kanałach optycznych. Sygnały elektryczne z detektorów przetwarza się na postać cyfrową, a następnie wyznacza się temperaturę na podstawie ilorazu kwadratu wartości napięcia sygnału z kanału drugiego do iloczynu wartości napięcia sygnałów z pozostałych kanałów.
Znany jest również sposób przedstawiony w opisie patentowym USA nr 5,125,739, w którym promieniowanie od obiektu dzieli się na trzy różne pasma optyczne. Sygnał optyczny z każdego pasma kieruje się na detektory przetwarzające sygnały optyczne na elektryczne. Następnie sygnały z detektorów zamienia się na postać cyfrową i na podstawie wartości napięcia sygnałów wylicza się wartość napięcia sygnału odpowiadającą całkowitemu promieniowaniu od obiektu jako funkcje napięcia sygnałów dla pierwszego i drugiego pasma optycznego oraz dla trzeciego i drugiego. Po tym wylicza się dwie wartości temperatury i jeżeli ich różnica jest niniejsza niż założona, zakłada się, że wyliczona temperatura jest końcową. Jeśli różnica jest większa dokonuje się korekcji wartości napięcia sygnałów proporcjonalnej do ilorazu wartości napięć tych sygnałów. Jest to sposób iteracyjnego wyznaczenia temperatury z uwzględnieniem promieniowania odbitego od obiektu.
W innym znanym sposobie pomiaru temperatury promieniowanie własne od obiektu przetwarza się przez detektory w trzech różnych zakresach widmowych. Sygnały z wyjścia poszczególnych detektorów wykorzystuje się do wyznaczenia ilorazów wartości napięcia sygnału dla drugiego kanału do wartości napięcia sygnału z kanału pierwszego oraz ilorazu wartości napięcia sygnałów z trzeciego kanału do wartości napięcia sygnału dla kanału drugiego. Po tym na podstawie wartości tych ilorazów i wyznaczonej wcześniej krzywej kalibracyjnej oblicza się dwie temperatury pomocnicze. Ostatecznie temperaturę obiektu wylicza się jako średnią arytmetyczną z wartości temperatur pomocniczych.
Pierwszy ze znanych sposobów nie wnosi błędu pomiarowego jeśli emisyjność spektralna obiektu dla środkowej długości fali jest równa średniej geometrycznej emisyjności dla skrajnych długości fal, drugi nie uwzględnia emisyjności spektralnej obiektu.
Istota rozwiązania według wynalazku polega na tym, że na wstępie wykonuje się kalibrację urządzenia pomiarowego (np. pirometru). W tym celu ciało doskonale czarne podgrzewa się kolejno do temperatur Tc z zakresu pomiarowego pirometru. Natomiast promieniowanie cieplne emitowane przez podgrzane ciało czarne kieruje się na optyczny układ odbiorczy urządzenia pomiarowego i wylicza się wartość mierzonej temperatury kalibracyjnej Tk. Wszystkie ustawione i odpowiadające im wyliczone wartości temperatur kalibracyjnych zapamiętuje się w komputerze. Zapamiętane wartości temperatur wykorzystuje się do wyznaczenia współczynników w wielomianu kalibracyjnego stopnia n tak by była spełniona zależność:
n
Tc = w0 + w-i · Tk + w2 · T^ + ... + wn · Tkn = Σ w, · Tk i wartości tych współczynników rejestruje się w pamięci urządzenia pomiarowego. Po tym podczas rzeczywistego pomiaru temperatury wyznacza się, znanym sposobem i zapamiętuje temperatury luminancyjne T1, T2 i T3 dla każdego kanału pomiarowego oraz wylicza się temperaturę startową Ts z zależności:
Ίη(λ2)-Ιη(λ3) f_1_±Ί_ίO
Ιη^) - Ιη^) \λ1 λ2 J Iλ 2 λ3^ fS2_Ί_ Ιη(λ 2) - Ιη(λ 3) |ηΓδι_Ί tS3 ) Ιη(λ-) - Ιη(λ 2) ^S2j a z wielomianu kalibracyjnego:
n
Tp = w0+ wl · Ts + w2 · Ts2+ ... + wn · Ts n = Σ w, · Ts' wyznacza się temperaturę przybliżoną Tp. Następnie wylicza się zmienną pomocniczą q z zależności:
PL 201 025 Bi
Ιη(-ι) - Ιη(λ2)
i jeżeli -0,1<q<0,1 oblicza się temperaturę pomocniczą To z zależności:
To lub gdy T1<T2<T3 albo Ti>T2>T3 oblicza się temperaturę pomocniczą To z zależności:
T° S2 S1
| C2 · | 'ln(A2)-ln(A3) f 1 1 Ί | 1 _ 1 Ί1 |
| C2 | ln(A1)- InA2) -1 λ2 J | 1 - 2 - (J |
lnf®2_ - |η<λ2) ~|η(λ3) ts3 J Ιη(Μ - Ιη(λ2)
lub gdy Ti<T2 i T2>T3 albo Ti>T2 i T2<T3 to oblicza się temperaturę pomocniczą To z zależności:
C2 -[λ, ·<λ2 - /)3)·(λ ι-λ23-λ3 -(λ,-λ 2 )·(λ2-λ3)]
| 0 -1 · -2 -( · | (-1 --2)· | Xił $ | +(-2 --(> +5 n —i2 | > |
i na podstawie wyliczonej temperatury To wyznacza się z wielomianu kalibracyjnego temperaturę badanego obiektu T zgodnie z zależnością:
n
T = w0+ wi · To + w2 · To2 + ... + wn · Ton = Σ w, · To'
W sposobie według wynalazku automatycznie wybiera się funkcję opisującą emisyjność spektralną obiektu, od której zależy wybór odpowiedniej zależności na temperaturę pomocniczą i końcową. Dzięki temu wartość emisyjności badanego obiektu nie ma wpływu na dokładność pomiaru temperatury. Zastosowana w sposobie metoda kalibracji przyrządu pozwala wyeliminować wszystkie stałe związane z konstrukcją pirometru, jak również uwzględnić położenie pasm pochłaniania atmosfery względem położenia i szerokości optycznych pasm roboczych przyrządu pomiarowego.
Podczas realizacji sposobu według wynalazku najpierw wyznacza się współczynniki w wielomianu stopnia n opisującego krzywą kalibracyjną urządzenia pomiarowego. W tym celu techniczne ciało doskonale czarne podgrzewa się kolejno do temperatur Tc z zakresu pomiarowego pirometru. Wartości tych temperatur rejestruje się w komputerze. Jednocześnie promieniowanie cieplne emitowane przez podgrzane ciało czarne kieruje się na pirometr, w którym wylicza się znanym sposobem temperaturę Tk odpowiadającą kolejnej temperaturze rzeczywistej Tc. Obliczone temperatury Tk również rejestruje się w komputerze. Po wykonaniu pomiarów oblicza się współczynniki w wielomianu opisującego krzywą kalibracyjną, tak aby była spełniona zależność:
n
Tc = wo + wi · Tk + w2 · Tk2 + . .. + wn · T^= Σ w, · Tk'
Przyjmuje się, że stopień wielomianu n jest nie większy niż 10. Po wyliczeniu wartości współczynników w wielomianu, wartości te wpisuje się do pamięci urządzenia pomiarowego.
Jednym z parametrów opisujących promieniowanie cieplne emitowane przez obiekty o określonej temperaturze jest emisyjność spektralna ε zależna od długości fali emitowanego promieniowania. W sposobie według wynalazku przyjęto, że emisyjność spektralna obiektu może być opisana funkcją potęgową e(X)=a · Xb, wykładniczą e(X)=ea+bx2 lub stałą e(X)=a względem długości fali. Dla przyrządu trzybarwowego funkcje te zwierają nie więcej niż dwa parametry a i b.
Podczas rzeczywistego pomiaru pirometrem trzybarwowym cały spektralny zakres pomiarowy pirometru dzieli się na trzy podzakresy, których środkowe długości fal wynoszą: λι, λ,2, λ3. Promieniowanie emitowane przez badany obiekt i odebrane przez optyczny układ odbiorczy pirometru kieruje się na trzy detektory promieniowania. Elektryczny sygnał z wyjścia detektorów przetwarza się na sygnał cyfrowy. Na wyjściu przetworników analogowo-cyfrowych otrzymuje się liczby Si, S2, S3 odpowiadające wartości napięcia z detektorów dla poszczególnych kanałów pirometru. Dla każdego pomia4
PL 201 025 Bi ru określa się najpierw metodą stosowaną w pirometrach jednobarwowych temperatury luminancyjne Ti, T2, T3 odpowiadające każdemu z kanałów widmowych oraz wylicza się temperaturę startową Ts z zależności:
C2 ’ Ts =ln(A2)-ln(A3) Q _ ΖΠΖ' ln(A) - ln(A2) I© A2J ^λ2 A3 J JsJ ln(Az) - ln(A3) JsJ
K J ln(A)-ln(A2) (sj gdzie C2 =1,4387752(25)-10_ mK i jest to druga stała promieniowania
Następnie wyliczana się temperaturę przybliżoną Tp z wielomianu kalibracyjnego oraz zmienną pomocniczą q z zależności:
ln
λ2 ln(Ai) - ln(A 2) gdy zmienna q przyjmuje wartości z przedziału -0,1<q<0,1 zakłada się, że emisyjność spektralna jest aproksymowana funkcją stałą i wlicza się temperaturę To z zależności:
To S2 Si gdy z obliczonych wartości temperatur luminanacyjnych wynika, że Ti< T2< T3 lub Ti> T2> T3 to zakłada się że emisyjność jest aproksymowana funkcją potęgową i temperaturę To wylicza się z zależności:
ln(A2) -ln(A3) ί 1 _£ ln(A.,)-ln(A2) A2 _i___i_ A2 A3 ln ln(A2) -ln(A3) .JSi ln(Ai)-ln(A2) ' l S natomiast gdy Ti < T2 i T2 > T3 lub Ti > T2 i T2 < T3 to zakłada się, że emisyjność aproksymowana jest funkcją wykładniczą, a temperaturę To wlicza się z zależności:
C2 - [A1 - (A2 - A3) - (A1- A2) - A3- (A1- A2) - (A2 - A3)]
Ai · A2 -A3 (A1- A2) ln + 5 -lnl + (λ2-λ3)·Ιη|-^| + 5·Ιη|
A1
Po tym na podstawie obliczonej wartości temperatury To wylicza się z wielomianu kalibracyjnego rzeczywistą wartość temperatury T badanego obiektu:
n
T = w0+ w1 - To + w2 - Tq2 + ... + wn - Ton = Σ w, - To'
Claims (1)
- Sposób bezkontaktowego pomiaru temperatury polegający na tym, że najpierw wyznacza się krzywą kalibracyjną przyrządu pomiarowego, a następnie promieniowanie cieplne emitowane przez badany obiekt dzieli się w układzie optycznym urządzenia pomiarowego na trzy pasma i kieruje się na detektory, a sygnał z wyjścia detektorów przekształca się na postać cyfrową, znamienny tym, że na wstępie ciało doskonale czarne podgrzewa się kolejno do temperatur Tc z zakresu pomiarowego urządzenia do pomiaru, a sygnał cieplny emitowany przez podgrzane ciało czarne kieruje się na optyczny układ odbiorczy urządzenia pomiarowego i wylicza się wartość mierzonej temperatury kalibracyjnej Tk zaś wartość ustawionych oraz wyliczonych temperatur zapamiętuje się w komputerze i naPL 201 025 Bi ich podstawie wyznacza się wartość współczynników w wielomianu kalibracyjnego stopnia n tak by była spełniona zależność:nTc = w0 + w- · Tk + w2 · Tk2 + ... + wn · Tkn = Σ w, · Tk i wartości współczynników rejestruje się w pamięci urządzenia pomiarowego, a następnie podczas rzeczywistego pomiaru temperatury wyznacza się, znanym sposobem i rejestruje temperatury luminancyjne Ti, T2 i T3 dla każdego kanału pomiarowego oraz temperaturę startową Ts z zależności:C2 · Γη(λ2)-Ιη(λ3) Γ 1 1 I t 1 - 1 Ϊ] Lm^1)-Ιη(^2) tλ1 λ2 J l λ 2 λ3^JSłΊΙη(λ2) - Ιη(λβ) |ηΓ_δι_Ί ts3 J Ιη(λ-) - Ιη(λ 2) |^S2J po tym z wielomianu kalibracyjnego:nTp = ao+a! · Ts + a2 · Tk2 + ... + a.. · Ts n = Σ ai · T^ wylicza się temperaturę przybliżoną Tp oraz zmienną pomocniczą q z ζβΙβΖηοέαί:Ιη|> T λι λ2Ιη(λ1) -Ιη(λ2) i jeżeli -0,1 <q<0,1 oblicza się temperaturę pomocniczą T„ z zależności:To lub gdy Ti<T2<T3 aioo Ti>T2>T3 oblicza się temperaturę pomocniczą To z zależności:ToΊη(λ2)-Ιη(λ3) 11 f1Λ Ιηίλ,,)-Ιη(λ2) \λ1 λ2 J λ 2 λ 3 J ln| $2 Ϊ _ Ιη(^2)_Ιη(^3) · ΙηίS3 J Ιηίλ!) - Ιη(λ2) lub gdy Ti<T2 i T2>Ts atoo Ti>T2 i T2<Ts to oblicza się temperaturę pomocniczą To z zależności: C2 · [λ1 · (λ2 - λ3) ·ίλ. - λ2) - λ3 ·ίλ. - λ2) · (λ2 - λ^] (λ1 - λ2) ·Ιη| — I + s ·Ιη — S3 J U + (λ2 -λ3)·1η| J + s zaś na podstawie wyliczonej temperatury To wyznacza się z wielomianu kalibracyjnego temperaturę badanego obiektu T zgodnie z zależnością:nT = w0 + w1 · To + w2 · Tq2 + ... + Wn · To Π = Σ W , · To'
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL360065A PL201025B1 (pl) | 2003-05-12 | 2003-05-12 | Sposób bezkontaktowego pomiaru temperatury |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL360065A PL201025B1 (pl) | 2003-05-12 | 2003-05-12 | Sposób bezkontaktowego pomiaru temperatury |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL360065A1 PL360065A1 (pl) | 2004-11-15 |
| PL201025B1 true PL201025B1 (pl) | 2009-02-27 |
Family
ID=34271156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL360065A PL201025B1 (pl) | 2003-05-12 | 2003-05-12 | Sposób bezkontaktowego pomiaru temperatury |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL201025B1 (pl) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL422734A1 (pl) * | 2017-09-04 | 2019-03-11 | Politechnika Śląska | Sposób bezdotykowego pomiaru temperatury będącej poza zakresem pomiarowym przyrządu, zwłaszcza kamery termowizyjnej |
-
2003
- 2003-05-12 PL PL360065A patent/PL201025B1/pl not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL422734A1 (pl) * | 2017-09-04 | 2019-03-11 | Politechnika Śląska | Sposób bezdotykowego pomiaru temperatury będącej poza zakresem pomiarowym przyrządu, zwłaszcza kamery termowizyjnej |
| PL232921B1 (pl) * | 2017-09-04 | 2019-08-30 | Politechnika Slaska Im Wincent | Sposób bezdotykowego pomiaru temperatury będącej poza zakresem pomiarowym przyrządu, zwłaszcza kamery termowizyjnej |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL360065A1 (pl) | 2004-11-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Fröhlich et al. | In-flight performance of the VIRGO solar irradiance instruments on SOHO | |
| US4979133A (en) | Pyrometer | |
| US4880314A (en) | Pyrometric measurement procedure and multi-channel pyrometer | |
| MacArthur et al. | A dual-field-of-view spectrometer system for reflectance and fluorescence measurements (Piccolo Doppio) and correction of etaloning | |
| Friedrich et al. | New spectral radiance scale from 220 nm to 2500 nm | |
| JP2002500349A (ja) | 幅射温度計における温度の計算方法 | |
| PL201025B1 (pl) | Sposób bezkontaktowego pomiaru temperatury | |
| Sakuma et al. | Onboard calibration of the ASTER instrument | |
| Harrison et al. | International comparison of radiation-temperature measurements with filtered detectors over the temperature range 1380 K to 3100 K | |
| JP7834330B2 (ja) | 放射輝度算出方法、及び校正情報取得装置 | |
| Lawrence et al. | Calibration of the total irradiance monitor | |
| Hahn et al. | Interpolation equation for the calibration of infrared pyrometers | |
| TWI418770B (zh) | Room temperature compensation method of infrared thermometer | |
| Campos et al. | Spectral responsivity uncertainty of silicon photodiodes due to calibration spectral bandwidth | |
| Allen et al. | The development and characterization of an absolute pyrometer calibrated for radiance responsivity | |
| Cezairliyan et al. | High‐speed spatial scanning pyrometer | |
| Yoon et al. | Spectral Radiance Comparisons of Two Blackbodies with Temperatures Determined Using Absolute Detectors and ITS‐90 Techniques | |
| Ono et al. | ASTER calibration concept | |
| CN114088238A (zh) | 基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量系统及方法 | |
| Tsai | Developments for a new spectral irradiance scale at the National Institute of Standards and Technology | |
| Sakuma et al. | ASTER round-robin radiometers for the preflight cross-calibration of EOS AM-1 instruments | |
| Yoon et al. | The realization and the dissemination of the detector-based kelvin | |
| JPS6019446B2 (ja) | 放射温度計 | |
| Boivin et al. | Analysis of the uncertainties involved in the realization of a spectral irradiance scale in the infrared at the NRC | |
| Tsai et al. | Evaluation of uncertainties in fundamental radiometric measurements |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Decisions on the lapse of the protection rights |
Effective date: 20120512 |