PL184786B1

PL184786B1 - Interferometr do spektroskopii Fourier'a

Info

Publication number: PL184786B1
Application number: PL97331097A
Authority: PL
Inventors: Hans Larsen
Original assignee: Foss Electric As
Priority date: 1996-07-12
Filing date: 1997-07-04
Publication date: 2002-12-31
Also published as: CA2260076A1; US6229614B1; AU3539397A; WO1998002720A1; EP0910786A1; PL331097A1; BR9710275A; AU714286B2; JP2000514556A; KR20000023721A; NZ333658A; DK78096A

Abstract

1. Interferometr do spektroskopii Fouriera, który jest zaopatrzony w zródlo swiatla, plytke swiatlodzie- laca i dwa retroreflektory, zródlo swiatla i pierwszy retroreflektor sa usytu- owane przeciwlegle wzgledem siebie dla wyznaczenia pierwszej linii celowania prze- chodzacej przez pierwszy retroreflektor i zródlo swiat- la, a drugi retroreflektor jest usytuowany w odleglosci 1 prostopadle wzgledem kierunku pierwszej linii celo- wania dla wyznaczenia drugiej linii celowania, która jest prostopadla do pierwszej linii celowania i prze- chodzi przez drugi retroreflektor, przy czym plytka swiatlodzielaca jest usytuowana tak, ze przecina pierwsza i druga linie celowania, a elementy skladowe sa rozmieszczone tak, ze tworza spektrometr trans- formacji Fouriera lub interferometr, znamienny tym, ze plytka swiatlodzielaca (14) jest zamocowana rucho- mo, przy czym punkt(y) przeciecia plytki swiatlo- dzielacej (14) oraz pierwszej i drugiej linii celowania ma(ja) zmienne polozenie, a dwa retroreflektory (20,26 ) sa nieruchome. Fig. 1 PL PL PL PL PL PL PL

Description

Przedmiotem wynalazku jest interferometr do spektroskopii Fouriera, w którym wiązkę promieniowania rozdziela się za pomocą płytki światłodzielącej na dwie wiązki spójne interferujące ze sobą.

Interferometr jest zwykle stosowany do wykonywania pomiarów w środkowym zakresie fal podczerwieni i/lub w zakresie zbliżonym do podczerwieni, dla wyznaczenia zawartości

184 786 określonego składnika w innej substancji, takiej jak roztwór np. roztwór wodny, zwłaszcza będący produktem spożywczym, na przykład takim jak mleko.

Powszechnie stosowane interferometry wyposażone są w dwa zwierciadła odbiciowe, w niektórych modelach zespolone w tzw. retroreflektory. Zwykle jedno ze zwierciadeł jest ruchome w płaszczyźnie poziomej, tj. wzdłuz linii wyznaczanej przez wiązkę promieniowania. Teoria i zastosowanie interferometrów została szczegółowo opisana w publikacji Petera'a R Griffith i James'a A de Haseth pt. Fourier transform infrared spectrometry wol. 83 Chemical Analysis. W publikacji tej termin retroreflektor objaśniony jestjako urządzenie optyczne takie jak reflektor kątowy lub tzw··. kocie oko (cat eye), które odbija padający promień w kierunku do niego równoległym, co uwidocznione jest na rysunku 4.17 na str. 144 wspomnianej publikacji.

Konstrukcja mechanizmu ruchomego zwierciadła lub reflektora wymaga zapewnienia precyzyjnego sterowania jego przemieszczeniem. Niezawodny interferometr powinien być nieczuły na zewnętrzne wibracje, chyba że sąto wibracje w kierunku zgodnym z kierunkiemjego ruchomej części.

W opisie patentowym US nr 4 383 762 przedstawiono dwuwiązkowy interferometr do spektroskopii Fourier’a, przeznaczony do pracy na pokładzie statku kosmicznego. Interferometr cechuje sztywna konstrukcja wahadłowa, w której przynajmniej jeden z dwóch retroreflektorów stanowi w pełni kompensowalny system optyczny odporny na drgania i zakłócenia w trakcie przemieszczania. W tej konstrukcji liniowe przemieszczenie części ruchomej zastąpiono instalując jeden lub oba retroreflektory na specjalnej osi. Podobnie w opisie patentowym EP nr 369 054 przedstawiono wahadłowy system reflektorów do interferometru Michelson'a. Na fig. 1 opisu patentowego EP 369 054 dwa retroreflektory zainstalowano na wzajemnie prostopadłych ramionach zamocowanych na wspólnej osi. Wspólną zaletą obu intereferometrów jest fakt, że są wrażliwe jedynie na wibracje zgodne z kierunkiem obrotu części ruchomych. Ponadto, ciężar ruchomych części jest równoważony przez odpowiednie obciążenie. Mechanizm napędowy projektuje się tak, aby tłumić wibracje pochodzące z zewnątrz.

Ponadto, z publikacji WO 95/24619 znany jest interferometr zaopatrzony w płytkę światłodzielącą i dwa zwierciadła skanujące, które są równoległe i umieszczone na wspólnym członie ślizgowym, który jest liniowo ruchomy. Interferometr jest dodatkowo zaopatrzony w dwa zwierciadła kompensacyjne, które są rozmieszczone pomiędzy płytką światłodzielącą i zwierciadłami skanującymi. Płytka światłodzieląca i każde ze zwierciadeł kompensacyjnych są ortogonalne.

Z opisu patentowego US 4 320 973 znane jest urządzenie do spektrometrii interferencyjnej, w którym płytka światłodzieląca jest utworzona z dwóch pryzmatów Wollaston’a, zaopatrzonych w środki zapewniające zmienny podział wiązki światła przez ruch postępowy jednego z pryzmatów wzdłuż osi układu.

Z publikacji WO 9611387 znany jest interferometr zawierający płytkę światłodzielącą, zwierciadło do zwrotnego odbijania wiązek i przynajmniej jednąparę zwierciadeł utworzonych z dwóch płaskich zwierciadeł, dla odbijania wiązek. Para zwierciadeł jest zamocowana w sztywnej konstrukcji, która jest obrotowa wokół osi. Charakterystycznym jest, że płytka światłodzieląca jest zamocowana do korpusu podpartego na podstawie, a oś przechodzi przez korpus.

Ponadto, w opisie patentowym US 5 457 529 przedstawiono interferometr Michelson'a, w którym dwa zwierciadła płaskie zespołu zwierciadeł są wbudowane jako dwa płaskie zwierciadła o różnych wymiarach, przy czym sąone ekscentryczne i równolegle względem siebie. Ponadto urządzenie to zawiera drążony wał, podparty obrotowo w łożysku dzielonym i połączony z zespołem napędowym. Jest on umieszczony pomiędzy płytką światłodzielącą i zespołem zwierciadeł, a oś obrotu tego wału pokrywa się z osią obrotu zespołu zwierciadeł.

Interferometr do spektroskopii z transformacją Fouriefa, który jest zaopatrzony w źródło światła, płytkę światłodzielącą i dwa retroreflektory, a źródło światła i pierwszy retroreflektor są usytuowane przeciwległe względem siebie dla wyznaczenia pierwszej linii celowania przechodzącej przez pierwszy retroreflektor i źródło światła, a drugi retroreflektor jest usytuowany w odległości i prostopadle względem kierunku pierwszej linii celowania dla wyznaczenia drugiej

184 786 linii celowania, która jest prostopadła do pierwszej linii celowania i przechodzi przez drugi retroreflektor, przy czym płytka światłodzieląca jest usytuowana tak, że przecina pierwszą i drugą linię celowania, a elementy składowe sąrozmieszczone tak, że tworzą spektrometr transformacji Fouriera lub interferometr, według wynalazku charakteryzuje się tym, że płytka światłodzieląca jest zamontowana ruchomo, przy czym punkt(y) przecięcia płytki światłodzielącej oraz pierwszej i drugiej linii celowania ma(ją) zmienne położenie, a dwa retroreflektory sąnieruchome.

Korzystnym jest, że płytka światłodzieląca jest zamontowana w płaszczyźnie symetrii dwóch retroreflektorów.

Korzystnym jest, że płytka światłodzieląca jest zamocowana obrotowo na osi obrotu.

Korzystnym jest, że płytka światłodzieląca jest zamocowana przesuwnie liniowo.

Korzystnym jest, że płytka światłodzieląca jest zamocowana obrotowo wokół swej osi obrotu w zakresie kątowym 2,0°, korzystnie w zakresie kątowym 0,5°, a zwłaszcza 0,3°.

Korzystnym jest, że retroreflektory są zestrojone i ustawione przed unieruchomieniem.

Korzystnym jest, że oś obrotu znajduje się w wierzchołku narożnika kwadratu zawierającego dwa wierzchołki narożników retroreflektorów i środek interferometru w obszarze płytki światłodzielącej, przy czym odległość pomiędzy osią obrotu i środkiem interferometrujest równa w przybliżeniu iloczynowi kwadratowego pierwiastka z dwóch i odległości pomiędzy wierzchołkiem retroreflektora i środkiem interferometru.

Korzystnym jest, że odległość od osi obrotu do środka interferometru jest równa iloczynowi kwadratowego pierwiastka z dwóch i odległości pomiędzy wierzchołkiem retroreflektora i środkiem interferometru z dokładnością 10%, korzystnie z dokładnością 1%.

Korzystnym jest, że interferometr jest zaopatrzony w detektor miseczkowy usytuowany w niewielkiej odległości od płytki światłodzielącej, zwłaszcza w małej odległości od środka interferometru.

Korzystnym jest, że interferometr jest zaopatrzony w detektor miseczkowy usytuowany w przybliżeniu w tej samej odległości od środka interferometru co wierzchołki narożników retroreflektorów.

Zgodnie z wynalazkiem opracowano prostą konstrukcję interferometru, która jest tańsza w produkcji niż znane dotychczas rozwiązania, przy zachowaniu właściwości niezbędnych do otrzymania dokładnych i niezawodnych pomiarów. Płytka światłodzieląca jest zainstalowana w ruchomym układzie, korzystnie przegubowo lub obrotowo, zaś oba retroreflektory pozostają nieruchome. Taka konstrukcja jest realizowana w bardzo prosty sposób. Zaletą tego interferometru jest jego niewrażliwość na drgania. Własność tę uzyskano dzięki temu, że masa ruchomej płytki światłodzielącej jest znacząco mniejsza niż masa retroreflektorów. Dlatego inercja obracającej się płytki światłodzielącej jest mniejsza w porównaniu z inercją układu retroreflektorów. Zaprojektowanie mechanizmu tłumiącego drganiajest w związku z tym o wiele łatwiejsze. Niekorzystny wpływ drgań jest zwykle największym problemem przy projektowaniu interferometrów, szczególnie przeznaczonych do analizy mleka. Dzieje się tak, gdyż interferometry instaluje się w pobliżu urządzeń do homogenizowania mleka oraz wysokociśnieniowych pomp generujących znaczne wibracje.

Interferometr w opisanej konfiguracji jest korzystnie stosowany do wyznaczania zawartości określonego składnika w innej substancji, a w szczególności w płynnych środkach spożywczych takich jak mleko. Interferometr według wynalazku cechuje dobra rozdzielczość spektralna w środkowym zakresie fal podczerwieni, a nawet w zakresie fal krótkich, tj. w pobliżu zakresu podczerwieni. Konstrukcja interferometru według wynalazku jest prosta, łatwa w produkcji oraz mechanicznie stabilna.

Przedmiot wynalazku jest objaśniony w przykładach wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat pierwszego przykładu wykonania interferometru według wynalazku, fig. 2 - schemat interferometru, podobnie jak na fig. 1, z płytką światłodzielącą w innym położeniu, fig. 3 - schemat drugiego przykładu wykonania interferometru według wynalazku, fig. 4 - fragment schematu pierwszego przykładu wykonania z fig. 1 w powiększeniu, a fig. 5 przedstawia ogólny widok interferometru.

184 786

Jak przedstawiono na fig. 1, źródło światła 10 emituje wiązki promieni, z których, dla zachowania przejrzystości rysunku, zaznaczono jedynie centralną wiązkę 11 oraz skrajną wiązkę 12. Skrajna wiązka 12 światła trafia na płytkę światłodzielącą 14, która rozdziela wiązkę 12 na transmitowaną wiązkę 16 oraz odbitą wiązkę 18. 'Transmitowana wiązka 16 pada na retroreflektor 20 i zostaje odbita jako wiązka 17 w kierunku płytki światłodzielącej 14. Jej część zostaje odbita przez płytkę światłodzielącą 14. Dla zachowania przejrzystości rysunku retroreflektory 20 i 26 zostały przedstawione jako dwa płaskie lustra tworzące kąt prosty. W rzeczywistości każdy z retroreflektorów 20, 26 składa się trzech wzajemnie prostopadłych płaskich powierzchni odbijających.

Odbita wiązka 22 kierowanajest do detektora miseczkowego 24, zawierającego substancję poddawaną analizie, np. ciekły produkt spożywczy. Transmitowane światło pąda na czujnik umieszczony na tylnej ściance detektora, zwykle po przejściu przez układ ogniskujący, korzystnie zwierciadło wklęsłe. Układy ogniskowania są znane i nie zostały opisane, ani przedstawione na rysunku.

Wiązka 18, odbita od płytki światłodzielącej 14, pada na drugi retroreflektor 26, który odbija wiązkę 19 z powrotem w kierunku płytki światłodzielącej 14. Część wiązki jest transmitowana przez płytkę światłodzielącą 14, pokrywając się i interferując ze wspomnianą wiązką 22, a następnie trafia na detektor miseczkowy 24.

Płytka światłodzieląca 14 jest zamocowana obrotowo na osi obrotu O w dowolny sposób, np. poprzez zastosowanie zawiasy, lub innego rodzaju przegubu. Zamiast poruszającego się zwierciadła - jak w dotychczas znanych interferometrach Michelson'a - płytka światłodzieląca w przedstawionym urządzeniu jest ruchoma w kierunku do przodu i do tyłu, np. do położenia przesunięcia 14a oznaczonego przerywaną linią na fig. 1 i 14b na fig. 2.

Korzystne położenie osi obrotu O, jest pokazane na fig. 1 i fig. 2. Charakteryzuje się ono tym, że oś obrotu O pokrywa się z jednym z wierzchołków kwadratu wyznaczonego przez wierzchołki narożników retroreflektorów A i B oraz środek C interferometru. Inne położenia osi obrotu O sądopuszczalne, jednak korzystnymjest,jeśli punkt przecięcia znajduje się w płaszczyźnie symetrii obu retroreflektorów.

Dla zachowania przejrzystości kąt przemieszczenia płytki światłodzielącej 14 zaznaczony na rysunku, wynosi około 1,5°. W praktyce wielkość kąta maksymalnego przemieszczenia płytki światłodzielącej 14 zależy od charakteru pomiaru.

W korzystnym przykładzie wykonania interferometru, który jest przeznaczony do wyznaczania zawartości określonego (znanego) składnika w ciekłym produkcie spozywczym, wielkość omawianego kąta mieści się w granicach 0,3-0,5°.

Jeśli płytka światłodzieląca 14 znajduje się w położeniu przesunięcia 14a, odległość jaką pokonuje wiązka 16,17 jest krótsza o odcinek A w porównaniu z odległościąpokonywanąprzez tę samą wiązkę w położeniu neutralnym płytki światłodzielącej 14.

Analogicznie, odległość jakąpokonuje wiązka 18a, 19a jest wydłużona o odcinek A w porównaniu z odległością pokonywaną przez tę samą wiązkę w położeniu neutralnym płytki światłodzielącej 14.

Wynikiem przemieszczenia płytki światłodzielącej 14 z położenia neutralnego do położenia przesunięcia 14ajest skrócenie pierwszej wiązku 16,17 i wydłużenie drugiej wiązki 18,19. Kiedy płytka światłodzieląca 14 zostanie przemieszczona w przeciwnym kierunku, długość wiązki 16,17 ulegnie wydłużeniu, a wiązki 18, 19 skróceniu. Przemieszczanie płytki światłodzielącej 14 dało porównywalne rezultaty, jak w przypadku przemieszczania jednego z retroreflektorów. Talk więc układ przedstawiony na fig. 1 może funkcjonować jako interferometr, to znaczy wiązka 22 trafiająca na detektor miseczkowy 24 jest superpozycją, dwóch interferujących wiązek. Interferencja zmienia się w zależności od położenia płytki światłodzielącej, dzięki czemu możliwe jest zastosowanie zjawiska spektroskopii transformat Fouriera Jednocześnie opisane rozwiązanie jest o wiele łatwiejsze do zrealizowania niż dotychczas znane inteferometry.

Jak wynika ze schematów z fig. 1 i fig. 4, wiązka 22a jest przemieszczona o pewną odległość i odwrócona w stosunku do wiązki 22. Przeprowadzone obliczenia przy załozonych

184 786 najkorzystniejszych parametrach wykazały, że przemieszczenie to jest znikomo małe, tj. mniejsze niż 0,038 mm, podczas gdy maksymalna rozbieżność skolimowanej wiązki ze źródła światła wynosi 3,6°.

Obecnie objaśnione zostanie wyznaczenie przemieszczeń przy obrocie płytki światłodzielącej o mały kąt 0 = 0,3°. Jako 1 oznaczono odległość pomiędzy oknem płytki światłodzielącej i osią obrotu O, odległość pomiędzy początkiem E wiązki 18 oraz początkiem F wiązki 18a oznaczono jako Al. Odległość pomiędzy początkiem G wiązki 22 i początkiem H wiązki 22a oznaczono jako Δ 2, zaś odpowiedniąodległość mierzoną wzdłuż centralnej wiązki 11 oznaczono jako Δ.. Z prostych trygonometrycznych zależności otrzymano:

Δ = T2*/*sin(0) = 1/2* (Δ1 + Δ2)

Całkowite przemieszczenie wiązki po dotarciu do detektora miseczkowego 24 przedstawione na fig. 1 z pominięciem układu ogniskowania, wynosi:

2Δ = 2* 1*1*sin(0) = 1,1mm dla 1 = 75mm i Θ = 0,3°

Przemieszczenie takie może być jednak skompensowane przez układ ogniskowania. Jeśli detektor miseczkowy jest mały, korzystnym jest, jeśli znajduje się on blisko ogniska układu ogniskowania.

Alternatywny układ przedstawiono na fig. 3, gdzie oś obrotu O umieszczonajest pomiędzy źródłem światła 10 i detektorem miseczkowym 24. Jak wynika z rysunku, wiązki 22c i 22c’ są od siebie wzajemnie oddalone. Odległość pomiędzy nimi jest tym większa, im większe jest odchylenie danej wiązki od centralnej wiązki 11 ze źródła światła. Przemieszczenie takie może zostać skompensowane przez układ ogniskowania, który ogniskuje obie wiązki padające na powierzchnię detektora.

Jako retroreflektory stosuje się korzystnie sześcienne reflektory kątowe, tj. składające się ztrzech wzajemnie prostopadłych odbijających powierzchni wewntrznych. W związku z charakterystykami polaryzacji takiego układu zwierciadeł korzystnym jest, aby oba retroreflektory były spolaryzowane jednakowo. Powinna istnieć możliwość dokładnego ustawienia retroreflektorów, pozwalająca na dokładne dopasowanie rozdzielonych wiązek światła po odbiciu od retroreflektoiOw; przy zachowaniu jednakowej polaryzacji w czasie przechodzenia przez płytkę światłodzielącą. Taki sposób instalacji retroreflektorów jest znany i nie jest opisany, ani przedstawiony na rysunku.

W trzecim przykładzie wykonania interferometru według wynalazku oś obrotu O jest umieszczona nieskończenie daleko. Płytka światłodzieląca jest korzystnie zainstalowana na łożyskach ślizgowych lub parze sprężyn umożliwiających jej ruch translacyjny.

Najważniejsze elementy opisanego przykładu wykonania iterferometru według wynalazku, przedstawiono na fig. 5. Interferometr powinien być umieszczony w hermetycznie zamkniętej obudowie. Z oczywistych względów obudowa ta została pominięta na rysunku. Dla przejrzystości rysunku, źródło światła 10 z fig. 1 oraz detektor miseczkowy 24 z fig. 1, nie zostały przedstawione na fig. 5. Jako te elementy są stosowane powszechnie znane urządzenia. Wszystkie części urządzenia zainstalowano na płycie podstawy 30. Ruchome ramię 31 połączone jest z łożyskiem 34 i podtrzymuje płytkę światłodzielącą 32, która korzystnie ma postać okrągłej płytki zamocowanej za pomocą sprężyn 33 we wnętrzu okrągłego otworu. Obciążnik 38 służy do równoważenia masy ramienia 31. Silnik 39 służy do przemieszczania ramienia 31 wraz z płytką światlod zie Iąccą tj. j ego obracania o małe kąty, zwykle mniej szeniz 1 °, na przykład 0,3°. W korzystnym przykładzie wykonania silnik przesuwa przedłużenie ramienia 31, tzn. obciążnik 38. Zazwyczaj maksymalny dystans o jaki przesuwane jest ramię z płytką światłodzielącą wynosi kilka milimetrów. Silnik może być sterowany poprzez sprzęzenie zwrotne pochodzące z czujnika prędkości 40. Można zastosować czujnik typu elektrodynamicznego bądź oparty o interferogram laserowy.

W cylindrach 36 znajdują się reflektory kątowe. Każdy z reflektorów jest umieszczony w taki sposób, że jego oś symetrii pokrywa się z osią cylindra 36. Cylinder jest zamontowany obrotowo względem własnej osi, co pozwala na zmianę polaryzacji reflektora kątowego.

184 786

Cylindry 36 są przymocowane do regulowanych uchwytów 37 przytwierdzonych do płyty podstawy 30. Konstrukcja ma niewielkie wymiary. Wszystkie elementy składowe interferometru znajdują się blisko siebie. Zagłębienia i otwory znajdujące się w ramieniu 31 płytki światłodzielącej pozwalająna dokładniejsze pozycjonowanie reflektorów umieszczonych w cylindrach 36. Kompaktowa konstrukcja interferometru jest korzystna ze względu na fakt, iż droga pokonywana przez wiązkę światła powinna być jak najkrótsza.

F/g. 2

184 786

Fig. 3

¹⁸⁴ 786

184 786

Fig. 1

Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 50 egz.

Cena 2,00 zł.

Claims

Zastrzeżenia patentowe

1. Interferometr do spektroskopii Fouriera, który jest zaopatrzony w źródło światła, płytkę światłodzielącą i dwa retroreflektory, źródło światła i pierwszy retroreflektor są usytuowane przeciwległe względem siebie dla wyznaczenia pierwszej linii celowania przechodzącej przez pierwszy retroreflektor i źródło światła, a drugi retroreflektorjest usytuowany w odległości i prostopadle względem kierunku pierwszej linii celowania dla wyznaczenia drugiej linii celowania, która jest prostopadła do pierwszej linii celowania i przechodzi przez drugi retroreflektor, przy czym płytka światłodzieląca jest usytuowana tak, że przecina pierwszą i drugą linię celowania, a elementy składowe są rozmieszczone tak, że tworzą spektrometr transformacji Fourieha lub interferometr, znamienny tym, że płytka światłodzieląca (14) jest zamocowana ruchomo, przy czym punkt(y) przecięcia płytki światłodzielącej (14) oraz pierwszej i drugiej linii celowania ma(ją) zmienne położenie, a dwa retroreflektory (20, 26) są nieruchome.
2. Interferometr według zastrz. 1, znamienny tym, że płytka światłodzieląca (14) jest zamontowana w płaszczyźnie symetrii dwóch retroreflektorów (20, 26).
3. Interferometr według zastrz. 2, znamienny tym, że płytka światłodzieląca (14) jest zamocowana obrotowo na osi obrotu (O).
4. Interferometr według zastrz. 3, znamienny tym, że płytka światłodzieląca (14) jest zamocowana przesuwnie liniowo.
5. Interferometr według zastrz. 3, znamienny tym, że płytka światłodzieląca (14) jest zamocowana obrotowo wokół swej osi obrotu (O) w zakresie kątowym 2,0°, korzystnie w zakresie kątowym 0,5°, a zwłaszcza 0,3°.
6. Interferometr według zastrz. 1, znamienny tym, że retroreflektory (20, 26) są zestrojone i ustawione przed unieruchomieniem.
7. Interferometr według zastrz. 3, znamienny tym, że oś obrotu O znajduje się w wierzchołku narożnika kwadratu zawierająego dwa wierzchołki (A, B) narożników retroreflektorów (20,26) i środek (C) interferometru w obszarze płytki światłodzielącej (14), przy czym odległość pomiędzy osią obrotu (O) i środkiem (C) interferometru jest równa iloczynowi kwadratowego pierwiastka z dwóch i odległości (AC) pomiędzy wierzchołkiem (A) retroreflektora i środkiem (C) interferometru.
8. Interferometr według zastrz. 7, znamienny tym, że odległość od osi obrotu (O) do środka (C) interferometrujest równa iloczynowi kwadratowego pierwiastka z dwóch i odległości (AC) pomiędzy wierzchołkiem (A) retroreflektora i środkiem (C) interferometru z dokładnością 10%, korzystnie z dokładnością 1%.
9. Interferometr według zastrz. 7, znamienny tym, że jest zaopatrzony w detektor miseczkowy (24) usytuowany w niewielkiej odległości od płytki światłodzielącej (14), zwłaszcza w małej odległości od środka (C) interferometru.
10. Interferometr według zastrz. 7, znamienny tym, że jest zaopatrzony w detektor miseczkowy (24) usytuowany w przybliżeniu w tej samej odległości od środka (C) interferometru co wierzchołki (A, B) narożników retroreflektorów (20, 26).