PL153959B1 - UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER - Google Patents

UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER

Info

Publication number
PL153959B1
PL153959B1 PL26251286A PL26251286A PL153959B1 PL 153959 B1 PL153959 B1 PL 153959B1 PL 26251286 A PL26251286 A PL 26251286A PL 26251286 A PL26251286 A PL 26251286A PL 153959 B1 PL153959 B1 PL 153959B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
transistor
base
emitter
current
input
Prior art date
Application number
PL26251286A
Other languages
English (en)
Other versions
PL262512A1 (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL26251286A priority Critical patent/PL153959B1/pl
Publication of PL262512A1 publication Critical patent/PL262512A1/xx
Publication of PL153959B1 publication Critical patent/PL153959B1/pl

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

RZECZPOSPOLITA POLSKA OPIS PATENTOWY 153 959
Patent dodatkowy do patentu nr —--- Int Cl 5 G01R 31/26
Zgłoszono 86 11 21 /P · 262512/
Pierwszeństwo ---- «UftS/3 i i 44
URZĄD PATENTOWY Zgłoszenie ogłoszono. 88 08 04
RP Opis patentowy opublikowano 1991 11 29
Twórca wynalazku: Maciej Feszczuk
Uprawniony z patentu: Naukowo Produkcyjne Centrum Półprzewodników “CEMI Zakład Doświadczalny Urządzeń Technologicznych, Warszawa /Polska/
UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCCNENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21£ ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER
Przedmiotem wynalazku jest układ do wyznaczania współczynnika wzmocnienia prądowego tranzystora h2iE oraz naPięcia baza-emiter, przy pomiarach automatycznych tranzysoorów i w miernikach laboratoryjnych.
Znany dotychczas i najczęściej stosowany układ do poi^aru parametrów tranzystorów, zwłaszcza współczynnika wz^ιmccieπla prądowego i napięcia baza-emiter UBE polega na umieszczeniu badanego tranzystora w konfiguracji ze wspólną bazą. W układzie tym źródło prądowe wymmszające prąd emitera umieszczone jest nędzy emiterem badanego tranzystora, a masą układu pomiarowego, zaś źródło napięciowe wymossaJące napięcie kolektor baza umieszczone jest między kolektom badanego tranzystora a mmsą układu pomiarowego. Między bazą badanego tranzystora, a mesą układu pomiarowego umieszczony jest amperomierz do pomiaru prądu bazy potrzebnego do obliczania wrtości *21E' który w swooej budowie zawiera pamięć analogową oraz przetwornik analogowo-cyfrowy, natomiast między bazą a emiterem badanego tranzystora umiesaczo ny jest woltomierz do pomiaru napięcia baza-emiter U^.
Znany jest również z polskiego opisu patenoowego nr 139 282 układ, w którym umieszczony jest rezystor służący do kontroli prądu kolektora w obwodzie kolektora badanego tranzystora, objęty pętlą ujemnego sprzężenia zwrotnego źródła prądowego umezanaciegc w obwodzie emitera badanego tranzystora oraz pętlą ujemnego sprzężenia zwrotnego źródła napięcoowego umieszczonego w obwodzie kolektora badanego tranzystora. Emiter tranzystora mierzonego jest połączony z wyjściem układu suoacyJnegc źródła prądowego, a rezystor do kontroli prądu kolekto ra badanego tranzystora jest załączony między rezystory wejściowe wzmoaciacaa różnicowego źródła prądowego, którego wyjście jest połączone z wejściem układu suK^^^jnego, na które podan Jest również napięcie ρrcgraousęce.
153 959
153 959
W innym znanym polskim opisie patentowym nr 125 773, układ złożony Jest z miernika magnetoelaktrycznego włączonego o obwód bazy badanego tranzystora zasilany z ^^yiścia komparatora, którego wejście nieodoracające fazę Jest zasilane napięciem odniesienia o postaci impulsów prostokątnych o określonej amplitudzie, czasie trwania i okresie powtarzania, natomiast wejście odwracające fazą tego ^ιπρ^βΐο^ jest połączone z emiterem badanego tranzystora i przez rezystor z mmsą układu· Kolektor badanego tranzystora jest zasilany napięciem stałym·
Istota układu według wynalazku polega na załączeniu w obwodzie emitera badanego tranzystora generatora przebiegu piłoksztaittni^go połączonego z Jednym wejściem wzmmgneaczg różnicowego, którego wyście połączone jest z wejściem kommlgagore· Na drugie wejście komparatora podane Jest napięcie odniesienia· W obwodzie kolektora badanego tranzystora załączone jest programowane źródło prądowe oraz drugie wj iście wzmmgceacza różnicowego. Nappęcie kolektor emiter kontrolowane jest przez kommlgagor·
Zaletą układu będącego przedmiotem wynalazku Jest obecność generatora, który umożioia zmianę punktu pracy tranzystora przy zaprogramowanej wartości prądu kolektora. Ponadto zostają zlitwidooane sprzężenia zwrotne powodujące podatność układu pomiarowego na wzbudzzona. Brak wzbudzeń podczas wyznaczania współczynnika oztflmonecnlg prądowego tranzystora upraszcza uruchamianie układu.
Przedmiot wynalazku Jest przedstawiony w przykładzie w^^^i^n^r^:Lg na rysunku, który jest schematem blokowym układu do wyznnczania parametrów tranzystora.
Do emitera E mierzonego tranzystora T załączony jest generator przebiegu piłokształtnego GPP oraz jedno wejście ozmρgntaczg różnicowego W^ i zestyk 2 przełącznika. W obwód kolektora C mierzonego tranzystora T załączone jest drugie wjiścij ozmρgceaczg różnicowego oraz wyście źródła prądowego Ię. Do bazy B mierzonego tranzystora T dołączony jest rezystor pomiarowy Rg oraz Jedno ^^Jiścij wzmρgceaczg różnicowego W2, drugie zaś oyprowtazenie rezystora Rg dołączone jest do zestyku 1 przełącznika oraz do mmsy układu. Wyście ozmρgneacza różnicowego dołączone jest do jednego z oeeść kommpgatlrg K, zaś na drugie ojścij komparatora K podane Jest napięcie UREF proporcjonalne do żądanego napięcia mierzonego tranzystora T przy któi^ym ma być mierzony współczynnik hg^. WyJŚcie komρpgatlrg K dołączone jest do układu sterOwania US, którego wyście połączone są z generatorem przebiegu piłokształt nego GPP, źródłem prądowym oraz układem pamięci analogowej SHL, który to układ połączony jest z wyjściem wzmρanlgcza różnicowego W2. Napięcie wyjściowe z układu pamięci analogowej SHL podawane Jest na tBeście przetwornika analogowo-cytlOwego ADC. Waatością mierzoną Jest prąd bazy badanego elementu. Pomiar ten dokonywany jest pośrednio przez pomiar spadku napięcia na rezystorze Rg w momρneie zrównania się napięcia kolektor-emiter mierzonego tranzystora T z wartością zadaną UrEF. Porównania obu napięć dokonuje k^mpas^r K wysyłając o zrównania sygnał zamykający pamięć analogową SHL.
Przy pomiarze współczynnika ozιnmlceenla prądowego tranzystora hg^ tor pomiarowy z układem pamięci analogowej SHL dołączony Jest do rezystora Rg umieszczonego w obwodzie bazy mierzonego tranzystora T.
Znajomość trzech wielkości I_, In oraz U.c pozwala na wyznaczenie współczynnika u o f ia prądowego hg^ na podstawie zależności: ' j— Uę constans.
B 1
Podczas pomiaru napięcia baz^-emter w warunkach przewodzenia tranzystora U.,
BEON cykl pomiarowy jest identyczny, Jedynie tor pomiarowy przyłączany jest między wyprowadzenia bazy i emitera.

Claims (1)

  1. Zastrzeżenie patenoowe
    Układ do wyznaczania współczynnika ozmmlneenιa prądowego tranzystora hgśE oraz napięcia baza-emiter, złożony z badanego tranzystora, ozmρgneacza różnicowego, pamięci i przetwornika analogowo-cyfrowego, znamienny tym, ze o obwodzie kolektora mierzonego tranzystora /T/ podłączone jest programowane źródło prądowe /1 / oraz jedno weescie wzmmaceaczg różnicowego /W^/, zaś z emiterem badanego tranzystora /T/ połączony
    153 555
    Jest generator przebiegu piłoksztaHnago /GPP/ oraz, drugie wejście wzmacniacza różnicowego /W /, natomiast wyjścia tego wzmacniacza połęczone Jest z Jednym z wejść komppaatora /Kf na którego drugie wejście podane Jest napięcie odniesienia /UREp/, β z bazę badanego tranzystora /T/ połęczony Jest rezystor wzorcowy /Rg/ oraz jedno z wejść wzmaaciacza różnicowego /Wg/, zaś drugie wejście tego wzmacniacza połęczone jest z drugim wyprowadzeniem rezystora /Rg/ lub z emiterem badanego tranzystora /T/ w przypadku pomiaru napięcia baza-emiter w warunkach przewodzenia tranzystora /UgE0N
    53 S55
    Zakład Wydawnictw UP RP Nakład 100 egz
    Cena 3000 zł
PL26251286A 1986-11-21 1986-11-21 UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER PL153959B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL26251286A PL153959B1 (pl) 1986-11-21 1986-11-21 UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL26251286A PL153959B1 (pl) 1986-11-21 1986-11-21 UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL262512A1 PL262512A1 (en) 1988-08-04
PL153959B1 true PL153959B1 (pl) 1991-06-28

Family

ID=20033611

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL26251286A PL153959B1 (pl) 1986-11-21 1986-11-21 UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL153959B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL262512A1 (en) 1988-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5773978A (en) Battery impedance monitor
PL153959B1 (pl) UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER
US3350635A (en) Solar cell and test circuit
US3070746A (en) Ohmmeter circuit for moisture testing
US3273060A (en) Expanded scale ammeter including a bridge biased transistor differential amplifier
US3331020A (en) Moisture detecting apparatus including a bias control for separately controlling the bias applied to the bases of at least one transistor relative to another
SU151723A1 (ru) Широкодиапазонный универсальный прибор посто нного тока
SU1170376A1 (ru) Устройство дл измерени нестабильности сопротивлени электрических контактов
SU673939A1 (ru) Устройство дл измерени обратных токов полупроводниковых приборов
JPS60253883A (ja) 定電流負荷兼定電圧印加電流測定器
SU150552A1 (ru) Способ измерени крутизны преобразовани электронных ламп
SU943612A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента усилени по току транзисторов
SU537385A1 (ru) Устройство дл измерени параметров цифровой магнитной записи
SU868600A1 (ru) Уравновешенный измарительный мост посто нного тока
SU113029A1 (ru) Устройство дл измерени и регистрации статических деформаций при стендовых испытани х изделий и деталей на механическую прочность
US3659198A (en) Means for checking the relative noise levels of transistors
SU796775A1 (ru) Устройство дл автоматическогоизМЕРЕНи КОэффициЕНТА шуМА
SU879487A1 (ru) Устройство дл измерени инфранизких напр жений
SU855554A1 (ru) Устройство дл измерени параметров интегральных стабилизаторов напр жени
US3538438A (en) Transistor beta test and display circuit
SU746304A1 (ru) Устройство индикации электрических величин
SU550602A1 (ru) Устройство дл измерени статического коэффициента передачи тока транзисторов
SU901957A1 (ru) Устройство дл измерени динамических магнитных характеристик ферромагнитных материалов
SU405075A1 (ru) УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ СИГНАЛОВ С ПАРАМЕТРИЧЕСКИХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ
SU130119A1 (ru) Способ измерени высокочастотных параметров полупроводниковых триодов