PL153959B1 - UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER - Google Patents
UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITERInfo
- Publication number
- PL153959B1 PL153959B1 PL26251286A PL26251286A PL153959B1 PL 153959 B1 PL153959 B1 PL 153959B1 PL 26251286 A PL26251286 A PL 26251286A PL 26251286 A PL26251286 A PL 26251286A PL 153959 B1 PL153959 B1 PL 153959B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- transistor
- base
- emitter
- current
- input
- Prior art date
Links
- GVVPGTZRZFNKDS-JXMROGBWSA-N geranyl diphosphate Chemical compound CC(C)=CCC\C(C)=C\CO[P@](O)(=O)OP(O)(O)=O GVVPGTZRZFNKDS-JXMROGBWSA-N 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 235000000536 Brassica rapa subsp pekinensis Nutrition 0.000 description 1
- 241000499436 Brassica rapa subsp. pekinensis Species 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
| RZECZPOSPOLITA POLSKA | OPIS PATENTOWY | 153 959 | |
| Patent dodatkowy do patentu nr —--- | Int Cl 5 G01R 31/26 | ||
| Zgłoszono 86 11 21 /P · 262512/ | |||
| Pierwszeństwo ---- | «UftS/3 i i 44 | ||
| URZĄD PATENTOWY | Zgłoszenie ogłoszono. 88 08 04 | ||
| RP | Opis patentowy opublikowano 1991 11 29 |
Twórca wynalazku: Maciej Feszczuk
Uprawniony z patentu: Naukowo Produkcyjne Centrum Półprzewodników “CEMI Zakład Doświadczalny Urządzeń Technologicznych, Warszawa /Polska/
UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCCNENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21£ ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER
Przedmiotem wynalazku jest układ do wyznaczania współczynnika wzmocnienia prądowego tranzystora h2iE oraz naPięcia baza-emiter, przy pomiarach automatycznych tranzysoorów i w miernikach laboratoryjnych.
Znany dotychczas i najczęściej stosowany układ do poi^aru parametrów tranzystorów, zwłaszcza współczynnika wz^ιmccieπla prądowego i napięcia baza-emiter UBE polega na umieszczeniu badanego tranzystora w konfiguracji ze wspólną bazą. W układzie tym źródło prądowe wymmszające prąd emitera umieszczone jest nędzy emiterem badanego tranzystora, a masą układu pomiarowego, zaś źródło napięciowe wymossaJące napięcie kolektor baza umieszczone jest między kolektom badanego tranzystora a mmsą układu pomiarowego. Między bazą badanego tranzystora, a mesą układu pomiarowego umieszczony jest amperomierz do pomiaru prądu bazy potrzebnego do obliczania wrtości *21E' który w swooej budowie zawiera pamięć analogową oraz przetwornik analogowo-cyfrowy, natomiast między bazą a emiterem badanego tranzystora umiesaczo ny jest woltomierz do pomiaru napięcia baza-emiter U^.
Znany jest również z polskiego opisu patenoowego nr 139 282 układ, w którym umieszczony jest rezystor służący do kontroli prądu kolektora w obwodzie kolektora badanego tranzystora, objęty pętlą ujemnego sprzężenia zwrotnego źródła prądowego umezanaciegc w obwodzie emitera badanego tranzystora oraz pętlą ujemnego sprzężenia zwrotnego źródła napięcoowego umieszczonego w obwodzie kolektora badanego tranzystora. Emiter tranzystora mierzonego jest połączony z wyjściem układu suoacyJnegc źródła prądowego, a rezystor do kontroli prądu kolekto ra badanego tranzystora jest załączony między rezystory wejściowe wzmoaciacaa różnicowego źródła prądowego, którego wyjście jest połączone z wejściem układu suK^^^jnego, na które podan Jest również napięcie ρrcgraousęce.
153 959
153 959
W innym znanym polskim opisie patentowym nr 125 773, układ złożony Jest z miernika magnetoelaktrycznego włączonego o obwód bazy badanego tranzystora zasilany z ^^yiścia komparatora, którego wejście nieodoracające fazę Jest zasilane napięciem odniesienia o postaci impulsów prostokątnych o określonej amplitudzie, czasie trwania i okresie powtarzania, natomiast wejście odwracające fazą tego ^ιπρ^βΐο^ jest połączone z emiterem badanego tranzystora i przez rezystor z mmsą układu· Kolektor badanego tranzystora jest zasilany napięciem stałym·
Istota układu według wynalazku polega na załączeniu w obwodzie emitera badanego tranzystora generatora przebiegu piłoksztaittni^go połączonego z Jednym wejściem wzmmgneaczg różnicowego, którego wyście połączone jest z wejściem kommlgagore· Na drugie wejście komparatora podane Jest napięcie odniesienia· W obwodzie kolektora badanego tranzystora załączone jest programowane źródło prądowe oraz drugie wj iście wzmmgceacza różnicowego. Nappęcie kolektor emiter kontrolowane jest przez kommlgagor·
Zaletą układu będącego przedmiotem wynalazku Jest obecność generatora, który umożioia zmianę punktu pracy tranzystora przy zaprogramowanej wartości prądu kolektora. Ponadto zostają zlitwidooane sprzężenia zwrotne powodujące podatność układu pomiarowego na wzbudzzona. Brak wzbudzeń podczas wyznaczania współczynnika oztflmonecnlg prądowego tranzystora upraszcza uruchamianie układu.
Przedmiot wynalazku Jest przedstawiony w przykładzie w^^^i^n^r^:Lg na rysunku, który jest schematem blokowym układu do wyznnczania parametrów tranzystora.
Do emitera E mierzonego tranzystora T załączony jest generator przebiegu piłokształtnego GPP oraz jedno wejście ozmρgntaczg różnicowego W^ i zestyk 2 przełącznika. W obwód kolektora C mierzonego tranzystora T załączone jest drugie wjiścij ozmρgceaczg różnicowego oraz wyście źródła prądowego Ię. Do bazy B mierzonego tranzystora T dołączony jest rezystor pomiarowy Rg oraz Jedno ^^Jiścij wzmρgceaczg różnicowego W2, drugie zaś oyprowtazenie rezystora Rg dołączone jest do zestyku 1 przełącznika oraz do mmsy układu. Wyście ozmρgneacza różnicowego dołączone jest do jednego z oeeść kommpgatlrg K, zaś na drugie ojścij komparatora K podane Jest napięcie UREF proporcjonalne do żądanego napięcia mierzonego tranzystora T przy któi^ym ma być mierzony współczynnik hg^. WyJŚcie komρpgatlrg K dołączone jest do układu sterOwania US, którego wyście połączone są z generatorem przebiegu piłokształt nego GPP, źródłem prądowym oraz układem pamięci analogowej SHL, który to układ połączony jest z wyjściem wzmρanlgcza różnicowego W2. Napięcie wyjściowe z układu pamięci analogowej SHL podawane Jest na tBeście przetwornika analogowo-cytlOwego ADC. Waatością mierzoną Jest prąd bazy badanego elementu. Pomiar ten dokonywany jest pośrednio przez pomiar spadku napięcia na rezystorze Rg w momρneie zrównania się napięcia kolektor-emiter mierzonego tranzystora T z wartością zadaną UrEF. Porównania obu napięć dokonuje k^mpas^r K wysyłając o zrównania sygnał zamykający pamięć analogową SHL.
Przy pomiarze współczynnika ozιnmlceenla prądowego tranzystora hg^ tor pomiarowy z układem pamięci analogowej SHL dołączony Jest do rezystora Rg umieszczonego w obwodzie bazy mierzonego tranzystora T.
Znajomość trzech wielkości I_, In oraz U.c pozwala na wyznaczenie współczynnika u o f ia prądowego hg^ na podstawie zależności: ' j— Uę constans.
B 1
Podczas pomiaru napięcia baz^-emter w warunkach przewodzenia tranzystora U.,
BEON cykl pomiarowy jest identyczny, Jedynie tor pomiarowy przyłączany jest między wyprowadzenia bazy i emitera.
Claims (1)
- Zastrzeżenie patenooweUkład do wyznaczania współczynnika ozmmlneenιa prądowego tranzystora hgśE oraz napięcia baza-emiter, złożony z badanego tranzystora, ozmρgneacza różnicowego, pamięci i przetwornika analogowo-cyfrowego, znamienny tym, ze o obwodzie kolektora mierzonego tranzystora /T/ podłączone jest programowane źródło prądowe /1 / oraz jedno weescie wzmmaceaczg różnicowego /W^/, zaś z emiterem badanego tranzystora /T/ połączony153 555Jest generator przebiegu piłoksztaHnago /GPP/ oraz, drugie wejście wzmacniacza różnicowego /W /, natomiast wyjścia tego wzmacniacza połęczone Jest z Jednym z wejść komppaatora /Kf na którego drugie wejście podane Jest napięcie odniesienia /UREp/, β z bazę badanego tranzystora /T/ połęczony Jest rezystor wzorcowy /Rg/ oraz jedno z wejść wzmaaciacza różnicowego /Wg/, zaś drugie wejście tego wzmacniacza połęczone jest z drugim wyprowadzeniem rezystora /Rg/ lub z emiterem badanego tranzystora /T/ w przypadku pomiaru napięcia baza-emiter w warunkach przewodzenia tranzystora /UgE0N/·53 S55Zakład Wydawnictw UP RP Nakład 100 egzCena 3000 zł
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL26251286A PL153959B1 (pl) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL26251286A PL153959B1 (pl) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL262512A1 PL262512A1 (en) | 1988-08-04 |
| PL153959B1 true PL153959B1 (pl) | 1991-06-28 |
Family
ID=20033611
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL26251286A PL153959B1 (pl) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL153959B1 (pl) |
-
1986
- 1986-11-21 PL PL26251286A patent/PL153959B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL262512A1 (en) | 1988-08-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5773978A (en) | Battery impedance monitor | |
| PL153959B1 (pl) | UKŁAD DO WYZNACZANIA WSPÓŁCZYNNIKA WZMOCNIENIA PRĄDOWEGO TRANZYSTORA h21E ORAZ NAPIĘCIA BAZA-EMITER | |
| US3350635A (en) | Solar cell and test circuit | |
| US3070746A (en) | Ohmmeter circuit for moisture testing | |
| US3273060A (en) | Expanded scale ammeter including a bridge biased transistor differential amplifier | |
| US3331020A (en) | Moisture detecting apparatus including a bias control for separately controlling the bias applied to the bases of at least one transistor relative to another | |
| SU151723A1 (ru) | Широкодиапазонный универсальный прибор посто нного тока | |
| SU1170376A1 (ru) | Устройство дл измерени нестабильности сопротивлени электрических контактов | |
| SU673939A1 (ru) | Устройство дл измерени обратных токов полупроводниковых приборов | |
| JPS60253883A (ja) | 定電流負荷兼定電圧印加電流測定器 | |
| SU150552A1 (ru) | Способ измерени крутизны преобразовани электронных ламп | |
| SU943612A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента усилени по току транзисторов | |
| SU537385A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров цифровой магнитной записи | |
| SU868600A1 (ru) | Уравновешенный измарительный мост посто нного тока | |
| SU113029A1 (ru) | Устройство дл измерени и регистрации статических деформаций при стендовых испытани х изделий и деталей на механическую прочность | |
| US3659198A (en) | Means for checking the relative noise levels of transistors | |
| SU796775A1 (ru) | Устройство дл автоматическогоизМЕРЕНи КОэффициЕНТА шуМА | |
| SU879487A1 (ru) | Устройство дл измерени инфранизких напр жений | |
| SU855554A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров интегральных стабилизаторов напр жени | |
| US3538438A (en) | Transistor beta test and display circuit | |
| SU746304A1 (ru) | Устройство индикации электрических величин | |
| SU550602A1 (ru) | Устройство дл измерени статического коэффициента передачи тока транзисторов | |
| SU901957A1 (ru) | Устройство дл измерени динамических магнитных характеристик ферромагнитных материалов | |
| SU405075A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ СИГНАЛОВ С ПАРАМЕТРИЧЕСКИХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ | |
| SU130119A1 (ru) | Способ измерени высокочастотных параметров полупроводниковых триодов |