PL136293B1 - Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices - Google Patents
Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices Download PDFInfo
- Publication number
- PL136293B1 PL136293B1 PL23493182A PL23493182A PL136293B1 PL 136293 B1 PL136293 B1 PL 136293B1 PL 23493182 A PL23493182 A PL 23493182A PL 23493182 A PL23493182 A PL 23493182A PL 136293 B1 PL136293 B1 PL 136293B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- cathode
- magnetic field
- change
- angle
- testing
- Prior art date
Links
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims description 3
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 3
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 241001026509 Kata Species 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób badania-jednorodnosci katod przyrzadów elektronopro¬ mieniowych* Znane sa sposoby badania jednorodnosci katod polegajace na pomiarze podstawowych para¬ metrów katody jak: prad emisyjny, temperatura katody, wspólczynnik odbicia elektronów uwz¬ gledniajacy nierównomiernosoi katody, niezalezna od temperatury ozesó potencjalu wyjscia i nachylenie charakterystyki potencjalu katody od temperatury* Parametry te wyznaoza sie badajac strumien elektronów emitowany przez elementarna powierzchnie katody* W ten sposób bada sie kolejno sasiednie elementarne powierzchnie katody* Aby strumien elektronów ogra¬ niczyc jedynie do wycinka powierzohni, badana katode umieszcza sie w przyrzadzie zawiera- jaoym przeslone maskujaca cala pozostala czesc katody* Przemieszczanie wzajemne przeslony i katody pozwala na badanie kolejnych elementarnych powierzchni katody* Istota sposobu wedlug wynalazku polega na tym, ze wytwarza sie nachylone pod katem do osi przyrzadu pole magnetyczne ogniskujace wiazke elektronów przechodzaca przez otwór w oylindrze Wehnelta wyrzutni elektronowej gotowego przyrzadu* Wartosc indukóji magnetycznej tego pola jest korzystnie wieksza od indukcji pola magnetycznego, powyzej którego prad ano¬ dowy nie zwieksza sie pomimo wzrostu pola magnetycznego* W trakcie pomiaru zmienia sie kat naohylenia pola magnetycznego i kat obrotu szyjki przyrzadu, w celu kolejnej zmiany elemen¬ tarnej powierzohni katody* Najwazniejsza zaleta wynalazku jest mozliwosc wykonania pomiaru gotowych, wyprodukowa¬ nych juz przyrzadów elektronowych, nie powodujac pogorszenia ich wlasciwosci* Poza tym umo¬ zliwia on proste i szybkie wykonanie pomiarów* Sposób wedlug wynalazku jest objasniony na podstawie rysunku na którym fig* 1 przedsta¬ wia przekrój podluzny kineskopu w plaszczyznie osi otworów w jej elektrodach, a fig* 2 uklad do badania jednorodnosci katod sposobem wedlug wynalazku*n 2 136 293 Cylinder Wehnelta W w postaoi kubka koncentrycznie otaczajacego katode K, posrednio za¬ rzona napieciem Uz, posiada w swej czolowej czesci otwór. Przez otwór przechodzi strumien elektronów emitowany z elementarnej powierzchni So katody, naohylony pod katem /9 do osi przyrzadu, zgodny z kierunkiem pola magnetycznego o indukcji B. Elektrony z innych powierz¬ chni katody K nie dojda do dalszych elektrod B wyrzutni* Kierunek pola magnetyoznego regu¬ lowany jest przez zmiane kata kachylenia (i cewki indukcyjnej C zasilanej z zasilacza cew¬ ki ZC i mierzony w ukladzie pomiaru nachylenia cewki. Szyjka kineskopu Sz jest obracana, a kat obrotu 8 jest mierzony w ukladzie pomiarowym. Zmieniajac oba te katy /3 , Q powoduje sie ze prad docierajacy do dalszych elektrod E czerpany jest z róznych czesci powierzch¬ ni So katody K. Wraz ze zmiana tyoh katów fi , Q ulegaja takze zmianie wielkosci powierzch¬ ni elementarnych, emitujace elektrony. Pola te wyznacza sie poslugujac sie prostymi zalez¬ nosciami geometrycznymi, przy czym konieczna jest znajomosc konfiguracji i rozmiarów ukla¬ du elektrod K, W i otworu w cylindrze Wehnelta W.Po ustawieniu katów fi , Q i po wlaczeniu zasilania cewki ZC wytwarzajacej pole magne- tyozne o indukóji B, ustawia sie tak napieoie siatkowe V , z zasilacza Z, aby bylo nieco nizsze od spadku napiecia V_ na rezystorze regulowanym R, podlaczonym do zasilaoza WC« Spa¬ dek napiecia VR jest miara pradu Ifl elektronów wyplywajacych przez otwór cylindra Wehnel¬ ta W# Okreslenie parametrów danego wycinka katody przeprowadza sie jednym ze znanyoh spo¬ sobów.Zastrzezenie patentowe Sposób badania jednorodnosci katod przyrzadów elektronopromieniowych, polegajacy na po¬ miarze podstawowych parametrów katody poprzez badanie strumieni elektronów, kolejno s sa¬ siednich powierzchni elementarny oh tej katody, znamienny tym, ze wytwarza sie naohylone pod katem (/3 ) do osi przyrzadu pole magnetyczne, ogniskujace strumien elektronów przeohodzacy przez otwór w oylindrze Wehnelta (W) wyrzutni elektronowej gotowego przyrzadu, przy czym korzystna wartosc indukoji magnetycznej (B) tego pola jest wieksza od indukcji (B ), powyzej której prad anodowy nie zmienia sie, pomimo wzrostu pola magnetycznego i w trakcie pomiarów zmienia sie kat naohylenia ((b) pola magnetyoznego i kat obrotu (&) szyjki przy¬ rzadu, w celu zmiany kolejnej elementarnej powierzchni (S ) tej katody (K).136 293 Rg.1156 293 Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 100 egz.Cena 130 zl PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób badania jednorodnosci katod przyrzadów elektronopromieniowych, polegajacy na po¬ miarze podstawowych parametrów katody poprzez badanie strumieni elektronów, kolejno s sa¬ siednich powierzchni elementarny oh tej katody, znamienny tym, ze wytwarza sie naohylone pod katem (/3 ) do osi przyrzadu pole magnetyczne, ogniskujace strumien elektronów przeohodzacy przez otwór w oylindrze Wehnelta (W) wyrzutni elektronowej gotowego przyrzadu, przy czym korzystna wartosc indukoji magnetycznej (B) tego pola jest wieksza od indukcji (B ), powyzej której prad anodowy nie zmienia sie, pomimo wzrostu pola magnetycznego i w trakcie pomiarów zmienia sie kat naohylenia ((b) pola magnetyoznego i kat obrotu (&) szyjki przy¬ rzadu, w celu zmiany kolejnej elementarnej powierzchni (S ) tej katody (K).136 293 Rg.1156 293 Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 100 egz. Cena 130 zl PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL23493182A PL136293B1 (en) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL23493182A PL136293B1 (en) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL234931A1 PL234931A1 (en) | 1983-08-15 |
| PL136293B1 true PL136293B1 (en) | 1986-02-28 |
Family
ID=20011405
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL23493182A PL136293B1 (en) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL136293B1 (pl) |
-
1982
- 1982-02-03 PL PL23493182A patent/PL136293B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL234931A1 (en) | 1983-08-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Ehrenberg | LXXXIII. A new method of investigating the diffraction of slow electrons by crystals | |
| PL136293B1 (en) | Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices | |
| Whiddington | The production of characteristic Röntgen radiations | |
| US7378830B2 (en) | Miniature modified Faraday cup for micro electron beams | |
| WO1991009413A1 (de) | Partialdruckmesszelle mit kaltkathodenionenquelle für die lecksuche in vakuumsystemen | |
| Hull | The measurement of magnetic fields of medium strength by means of a magnetron | |
| Dymond | In the precise measurement of the critical potentials of gases | |
| JPH031663B2 (pl) | ||
| Daniel et al. | Similarity in air and nitrogen II. Ionization, attachment and detachment coefficients | |
| DE1918948A1 (de) | Verfahren und Geraet zur Analyse metastabiler Ionen bei Massenspektrometern | |
| PL53465B1 (pl) | ||
| SU1188675A1 (ru) | Способ измерени диэлектрической проницаемости материалов | |
| Fukumoto et al. | 40Ca-40Ar Mass Difference Measurement by High Resolution Mass Spectrometer | |
| SU1045304A1 (ru) | Способ контрол геометрических параметров электровакуумных приборов | |
| PL136309B1 (en) | Method of measuring voltage equivalent of electron work function | |
| SU843022A1 (ru) | Электроннолучевой индикатор нул | |
| SU1215704A1 (ru) | Устройство дл электропунктуры | |
| LaCourse et al. | Voltage-current characteristics of an AC arc for different electrode separations with application to electrosurgery II | |
| SU938331A1 (ru) | Способ определени долговечности отпа нных электровакуумных приборов | |
| Decker et al. | Magnetic probes with nanosecond response time for plasma experiments | |
| SU627423A1 (ru) | Зонд дл измерени характеристик полей | |
| SU886621A1 (ru) | Устройство дл измерени напр женности электрического пол | |
| RU2054732C1 (ru) | Способ определения анодного падения потенциала дугового газового разряда | |
| SU830258A1 (ru) | Датчик магнитного пол | |
| PL94881B1 (pl) |