PL136293B1 - Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices - Google Patents

Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices Download PDF

Info

Publication number
PL136293B1
PL136293B1 PL23493182A PL23493182A PL136293B1 PL 136293 B1 PL136293 B1 PL 136293B1 PL 23493182 A PL23493182 A PL 23493182A PL 23493182 A PL23493182 A PL 23493182A PL 136293 B1 PL136293 B1 PL 136293B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
cathode
magnetic field
change
angle
testing
Prior art date
Application number
PL23493182A
Other languages
English (en)
Other versions
PL234931A1 (en
Inventor
Jerzy Kaczmarczyk
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL23493182A priority Critical patent/PL136293B1/pl
Publication of PL234931A1 publication Critical patent/PL234931A1/xx
Publication of PL136293B1 publication Critical patent/PL136293B1/pl

Links

Landscapes

  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób badania-jednorodnosci katod przyrzadów elektronopro¬ mieniowych* Znane sa sposoby badania jednorodnosci katod polegajace na pomiarze podstawowych para¬ metrów katody jak: prad emisyjny, temperatura katody, wspólczynnik odbicia elektronów uwz¬ gledniajacy nierównomiernosoi katody, niezalezna od temperatury ozesó potencjalu wyjscia i nachylenie charakterystyki potencjalu katody od temperatury* Parametry te wyznaoza sie badajac strumien elektronów emitowany przez elementarna powierzchnie katody* W ten sposób bada sie kolejno sasiednie elementarne powierzchnie katody* Aby strumien elektronów ogra¬ niczyc jedynie do wycinka powierzohni, badana katode umieszcza sie w przyrzadzie zawiera- jaoym przeslone maskujaca cala pozostala czesc katody* Przemieszczanie wzajemne przeslony i katody pozwala na badanie kolejnych elementarnych powierzchni katody* Istota sposobu wedlug wynalazku polega na tym, ze wytwarza sie nachylone pod katem do osi przyrzadu pole magnetyczne ogniskujace wiazke elektronów przechodzaca przez otwór w oylindrze Wehnelta wyrzutni elektronowej gotowego przyrzadu* Wartosc indukóji magnetycznej tego pola jest korzystnie wieksza od indukcji pola magnetycznego, powyzej którego prad ano¬ dowy nie zwieksza sie pomimo wzrostu pola magnetycznego* W trakcie pomiaru zmienia sie kat naohylenia pola magnetycznego i kat obrotu szyjki przyrzadu, w celu kolejnej zmiany elemen¬ tarnej powierzohni katody* Najwazniejsza zaleta wynalazku jest mozliwosc wykonania pomiaru gotowych, wyprodukowa¬ nych juz przyrzadów elektronowych, nie powodujac pogorszenia ich wlasciwosci* Poza tym umo¬ zliwia on proste i szybkie wykonanie pomiarów* Sposób wedlug wynalazku jest objasniony na podstawie rysunku na którym fig* 1 przedsta¬ wia przekrój podluzny kineskopu w plaszczyznie osi otworów w jej elektrodach, a fig* 2 uklad do badania jednorodnosci katod sposobem wedlug wynalazku*n 2 136 293 Cylinder Wehnelta W w postaoi kubka koncentrycznie otaczajacego katode K, posrednio za¬ rzona napieciem Uz, posiada w swej czolowej czesci otwór. Przez otwór przechodzi strumien elektronów emitowany z elementarnej powierzchni So katody, naohylony pod katem /9 do osi przyrzadu, zgodny z kierunkiem pola magnetycznego o indukcji B. Elektrony z innych powierz¬ chni katody K nie dojda do dalszych elektrod B wyrzutni* Kierunek pola magnetyoznego regu¬ lowany jest przez zmiane kata kachylenia (i cewki indukcyjnej C zasilanej z zasilacza cew¬ ki ZC i mierzony w ukladzie pomiaru nachylenia cewki. Szyjka kineskopu Sz jest obracana, a kat obrotu 8 jest mierzony w ukladzie pomiarowym. Zmieniajac oba te katy /3 , Q powoduje sie ze prad docierajacy do dalszych elektrod E czerpany jest z róznych czesci powierzch¬ ni So katody K. Wraz ze zmiana tyoh katów fi , Q ulegaja takze zmianie wielkosci powierzch¬ ni elementarnych, emitujace elektrony. Pola te wyznacza sie poslugujac sie prostymi zalez¬ nosciami geometrycznymi, przy czym konieczna jest znajomosc konfiguracji i rozmiarów ukla¬ du elektrod K, W i otworu w cylindrze Wehnelta W.Po ustawieniu katów fi , Q i po wlaczeniu zasilania cewki ZC wytwarzajacej pole magne- tyozne o indukóji B, ustawia sie tak napieoie siatkowe V , z zasilacza Z, aby bylo nieco nizsze od spadku napiecia V_ na rezystorze regulowanym R, podlaczonym do zasilaoza WC« Spa¬ dek napiecia VR jest miara pradu Ifl elektronów wyplywajacych przez otwór cylindra Wehnel¬ ta W# Okreslenie parametrów danego wycinka katody przeprowadza sie jednym ze znanyoh spo¬ sobów.Zastrzezenie patentowe Sposób badania jednorodnosci katod przyrzadów elektronopromieniowych, polegajacy na po¬ miarze podstawowych parametrów katody poprzez badanie strumieni elektronów, kolejno s sa¬ siednich powierzchni elementarny oh tej katody, znamienny tym, ze wytwarza sie naohylone pod katem (/3 ) do osi przyrzadu pole magnetyczne, ogniskujace strumien elektronów przeohodzacy przez otwór w oylindrze Wehnelta (W) wyrzutni elektronowej gotowego przyrzadu, przy czym korzystna wartosc indukoji magnetycznej (B) tego pola jest wieksza od indukcji (B ), powyzej której prad anodowy nie zmienia sie, pomimo wzrostu pola magnetycznego i w trakcie pomiarów zmienia sie kat naohylenia ((b) pola magnetyoznego i kat obrotu (&) szyjki przy¬ rzadu, w celu zmiany kolejnej elementarnej powierzchni (S ) tej katody (K).136 293 Rg.1156 293 Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 100 egz.Cena 130 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób badania jednorodnosci katod przyrzadów elektronopromieniowych, polegajacy na po¬ miarze podstawowych parametrów katody poprzez badanie strumieni elektronów, kolejno s sa¬ siednich powierzchni elementarny oh tej katody, znamienny tym, ze wytwarza sie naohylone pod katem (/3 ) do osi przyrzadu pole magnetyczne, ogniskujace strumien elektronów przeohodzacy przez otwór w oylindrze Wehnelta (W) wyrzutni elektronowej gotowego przyrzadu, przy czym korzystna wartosc indukoji magnetycznej (B) tego pola jest wieksza od indukcji (B ), powyzej której prad anodowy nie zmienia sie, pomimo wzrostu pola magnetycznego i w trakcie pomiarów zmienia sie kat naohylenia ((b) pola magnetyoznego i kat obrotu (&) szyjki przy¬ rzadu, w celu zmiany kolejnej elementarnej powierzchni (S ) tej katody (K).136 293 Rg.1156 293 Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 100 egz. Cena 130 zl PL
PL23493182A 1982-02-03 1982-02-03 Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices PL136293B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL23493182A PL136293B1 (en) 1982-02-03 1982-02-03 Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL23493182A PL136293B1 (en) 1982-02-03 1982-02-03 Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL234931A1 PL234931A1 (en) 1983-08-15
PL136293B1 true PL136293B1 (en) 1986-02-28

Family

ID=20011405

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL23493182A PL136293B1 (en) 1982-02-03 1982-02-03 Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL136293B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL234931A1 (en) 1983-08-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Ehrenberg LXXXIII. A new method of investigating the diffraction of slow electrons by crystals
PL136293B1 (en) Method of testing of homogeneity of cathodes of cathode-ray devices
Whiddington The production of characteristic Röntgen radiations
US7378830B2 (en) Miniature modified Faraday cup for micro electron beams
WO1991009413A1 (de) Partialdruckmesszelle mit kaltkathodenionenquelle für die lecksuche in vakuumsystemen
Hull The measurement of magnetic fields of medium strength by means of a magnetron
Dymond In the precise measurement of the critical potentials of gases
JPH031663B2 (pl)
Daniel et al. Similarity in air and nitrogen II. Ionization, attachment and detachment coefficients
DE1918948A1 (de) Verfahren und Geraet zur Analyse metastabiler Ionen bei Massenspektrometern
PL53465B1 (pl)
SU1188675A1 (ru) Способ измерени диэлектрической проницаемости материалов
Fukumoto et al. 40Ca-40Ar Mass Difference Measurement by High Resolution Mass Spectrometer
SU1045304A1 (ru) Способ контрол геометрических параметров электровакуумных приборов
PL136309B1 (en) Method of measuring voltage equivalent of electron work function
SU843022A1 (ru) Электроннолучевой индикатор нул
SU1215704A1 (ru) Устройство дл электропунктуры
LaCourse et al. Voltage-current characteristics of an AC arc for different electrode separations with application to electrosurgery II
SU938331A1 (ru) Способ определени долговечности отпа нных электровакуумных приборов
Decker et al. Magnetic probes with nanosecond response time for plasma experiments
SU627423A1 (ru) Зонд дл измерени характеристик полей
SU886621A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности электрического пол
RU2054732C1 (ru) Способ определения анодного падения потенциала дугового газового разряда
SU830258A1 (ru) Датчик магнитного пол
PL94881B1 (pl)