Przedmiotem wynalazku jest tester cyfrowych ukladów elektronicznych stosowany* szczególnie w systemach sterowania sekwencyjnego oraz central¬ nej rejestracji i przetwarzania danych.Obecnie stosowane testery wspóldzialaja z mini¬ komputerami o odpowiedniej konfiguracji adaptera, urzadzen peryferyjnych i oprogramowaniu umozli¬ wiajacym generowanie funkcji wejsciowych wedlug kombinacji wymaganej przez strukture logiczna ba¬ danego ukladu. Jednoczesnie na wyjsciu ukladu ba¬ danego pojawia sie .kombinacja logiczna odpowia¬ dajaca danej kombinacji wejsciowej. Minikomputer lub dowolnej klasy sterownik ma w pamieci zapi¬ sane kombinacje wyjsciowe odpowiadajace danym kombinacjom wejsciowym. Sekwencyjne zmiany kombinacji wejsciowych powoduja okreslone zmiany wyjsciowe. W wyniku porównania sygnalów wyjscio¬ wych z modulu, ze sygnalami poprawnymi, minikom¬ puter stwierdza czy wynik testu jest prawidlowy.Znany jest równiez z polskiego zgloszenia P. 197 380 sposób i urzadzenie do wykrywania i loka¬ lizowania uszkodzen w ukladach cyfrowych zawie¬ rajace klawiature i wyswietlacz stanów logicznych polaczone z blokiem inicjujaco-pamietajacym, któ¬ ry nastepnie laczy sie dwukierunkowo z badanym ukladem poprzez uklad adaptera. Róznica w dzia¬ laniu tego urzadzenia w porównaniu z testerami wykorzystujacymi sprzet minikomputerowy polega na przejeciu funkcji sterowania testerem oraz funk¬ cji odczytu, poprzednio wykonywanych za pomoca 2 minikomputera, przez odpowiednio przeszkolonego operatora, co w. efekcie nie daje urzadzenia o cha¬ rakterze automatycznym.Wada. testerów wspóldzialajacych z minikompu- 5 terami jest zastosowanie duzej ilosci sprzetu 6 roz¬ budowanych ukladach oraz niemozliwosc bezpo¬ sredniej ingerencji i lokalizacji uszkodzen w ele¬ mentach modulu. W wypadku stwierdzenia niepo- prawnosci dzialania badanego modulu konieczne 10 jest przeniesienie go na odrebne stanowisko symu¬ lacji recznej i dalsze sprawdzenie uszkodzonego elementu.Ponadto programowanie systemu minikompute¬ rowego jest pracochlonne oraz wymaga znajomosci 15 i kwalifikacji programisty. Natomiast sposób i urzia- dzenie wedlug zgloszenia P. 197 380 jest malo sprawne, zwlaszcza podczas wykrywania uszkodzen róznorakich uszkodzen ukladów cyfrowych i kazdo¬ razowo wymaga okreslenia, za pomoca klawiatury, 20 zestawu sygnalów pobudzajacych badany uklad, co z zasady wyklucza mozliwosc generowania sygna¬ lów o czasach rzeczywiscie wystepujacych w trak¬ cie pracy badanego ukladu. Dodatkowo urzadzenie wymaga podczas testowania ciaglej obserwacji 25 przez operatora a zatem nie jest urzadzeniem auto¬ matycznym.Rozwiazanie wedlug- polskiego, zgloszenia P. 190 175 zawiera generator sekwencji kombinacji wejsciowych, matryce przelaczajaca oraz uklad zli- 30 czajacy i wyswietlania wyniku. 123 743 V123 743 3 Rozwiazanie to nie daje mozliwosci sprawdzenia odpowiedzi w dowolnym punkcie ukladu logicznego lecz umozliwia jedynie obserwacje stanów na wyj¬ sciach ukladu wzglednie elementu scalonego.Innym znanym testerem jest próbnik nakladany na badany element scalony wedlug polskiego zglo¬ szenia P. 205 194, który ma generator impulsów te¬ stowych polaczonych z pamiecia sprezona ze wskaz¬ nikiem cyfrowym laczacym sie z ukladem wyróz¬ niajacym stany statyczne--* dynamiczne elementów scalonych oraz ze wskaznikiem sygnalizujacym sta¬ ny logiczne badanych elementów.Stwierdzenie poprawnosci pracy elementu scalo- nejgó polega na porównaniu stanu wyjsc na wy¬ swietlaczu z prawidlowa kombinacja okreslona w kitalogu badanego elementu. Za pomoca powyzsze- gb próbnika nie mozna jednak sprawdzic ukladów Dotychczasowe urzadzenie oparte na polskim opi¬ sie patentowym nr 91 864 wykorzystujace dwa prze- rzutnik^ Schmitta do wykrywania stanów statycz¬ nych i trzy uniwibratory scalone do wykrywania stanów dynamicznych, umozliwia testowanie wy¬ lacznie pojedynczych elementów scalonych.Znany, z polskiego opisu patentowego nr 95 698, analizator elementów, ukladów i struktur logicz¬ nych zawiera uklad synchronizacji sumacyjnej za¬ pisu, uklad bramkowania, blok sterowania, blok pamieci, uklad podstawy czasu, generator napiec schodkowych, sumator oraz urzadzenie do zobrazo¬ wania przebiegów.Analizator ten umozliwia tylko obserwacje prze¬ biegów czasowych na wyjsciu badanego ukladu i przedstawienie ich w oscyloskopie. Analiza prze- iJtegów jest trudna i pracochlonna a biorac pod uwage duza, lecz ograniczona, ilosc sond potrzeb¬ nych do wprowadzenia sygnalów, jest nie przydatny dla szybkiego i sprawnego testowania ukladów cy¬ frowych.Z kolei znana jest konstrukcja przedstawiona w polskim opisie patentowym nr 102 496 w sklad któ¬ rej wchodzi generator impulsów prostokatnych la¬ czacy sie, poprzez bramkujacy uklad, z licznikiem a ten z blokiem ciagu, impulsów sprawdzajacych oraz z blokiem wzorcowych ciagów impulsów wyj¬ sciowych. Oba bloki sa polaczone z blokiem wybie¬ rania, krory laczy sie bezposrednio i posrednio, po¬ przez badany uklad scalony, z ukladem porówna¬ nia a ten za pomoca ukladu sygnalizacji jest sprze¬ zony z ukladem bramkujacym.W powyzszym przyrzadzie dla sprawdzenia po¬ prawnosci pracy cyfrowego elementu scalonego/ jest niezbedny uklad wzorcowy, który sluzy jako baza porównawcza w stosunku do badanego elementu.Wynalazek ma na celu szybkie, dokladne i szcze¬ gólowe zbadanie modulu oraz kazdego elementu w nim zawartego z mozliwoscia sprawdzenia szerokie¬ go asortymentu cyfrowych ukladów elektronicznych ,w sposób nie wymagajacy wysoko kwalifikowanego personelu w randze programisty elektronicznych maszyn cyfrowych jak równiez pozwala na doklad¬ ne okreslenie miejsca uszkodzenia, jego naprawe i ponowne sprawdzenie badanego ukladu bez ko¬ niecznosci wyjmowania tego ukladu z testera.Istota wynalazku polega na tym, ze pierwszy licznik o dowolnej ilosci bitów, wyjsciami laczy sie bezposrednio — i posrednio poprzez dekoder, z wej¬ sciowym laczem badanego ukladu, natomiast jego wyjsciowe lacze jest wyjsciami polaczone z wielo- 5 wyjsciowym sumatorem, który za pomoca rozlacz¬ nej sondy jest laczone z drugim licznikiem.Zaleta nowego rozwiazania jest nieskomplikowa¬ na budowa, szybkie, dokladne i szczególowe spraw¬ dzenie kazdego elementu elektronicznego ukladu io cyfrowego w sposób automatyczny oraz uproszczo¬ ne programowanie. Ponadto rozwiazanie to cechuje duzy zbiór kombinacji sygnalów testujacych o cza¬ sie trwania zblizonym do rzeczywiscie wystepuja¬ cych w trakcie pracy elektronicznych ukladów cy- 15 frowyeh.Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, który przedstawia schemat blokowy testera.Rozwiazanie zawiera generator 1 polaczony z licz- 20 nikiem 2, wyjsciami laczacymi sie bezposrednio — i posrednio poprzez dekoder 3 z wejsciowym laczem 4 badanego ukladu 5 a wyjsciowe lacze 6 jest po- • laczone z sumatorem 7, który za pomoca sondy 8 jest laczony z drugim licznikiem 9 sprzezonym z cy- 25 frowym wyswietlaczem 10. • Dzialanie testera wedlug wynalazku polega na tym, ze generator 1 wytwarza prostokatne impulsy o czestotliwosci wynikajacej z granicznej czestotli- 30 wosci pracy danego ukladu 5 badanego. Czestotli¬ wosc impulsów moze byc regulowana. Impulsy z ge¬ neratora 1 sa podawane na wejscie licznika 2, któ¬ ry jest wielowyjsciowym licznikiem binarnym. Z wyjsc licznika 2 sygnaly sa podawane na dekoder 3, 35 który dekoduje wprowadzona informacje na sygna¬ ly binarne. Na wejsciowe lacze 4 badanego ukladu 5 sa podawane kombinacje sygnalów cyfrowych z dekodera 3 i"licznika 2. Kombinacje te sa tak do¬ brane dla badanego ukladu 5, iz umozliwiaja spraw- 40 dzenie poprawnosci jego pracy.Oprogramowanie odpowiedniej sekwencji wej¬ sciowej dla danego modulu jest wykonywane za pomoca zakodowania wejsciowego lacza 4. Program dla wejsciowego lacza 4 jest wykonywany w opar- 45 ciu o wymagana liczbe sygnalów oraz ich wzajem¬ ne uzaleznienie czasowe. Oprogramowanie testera nalezy tak wykonac zeby zagwarantowac sprawdze¬ nie wszystkich funkcji badanego ukladu 5 przy cze¬ stotliwosciach odpowiadajacych znamionowej cze- 50 stotliwosci pracy lub przy czestotliwosciach wyz¬ szych wzglednie —:. nizszych. Wyjsciowe lacze 6 takze programowalne pod konkretnie badany uklad 5 laczy sie z sumatorem 7 z wyjsc którego za po¬ moca sondy 8 sygnaly sa podawane na licznik 9 55 zliczajacy impulsy. Sonda 8 jest równiez wykorzy¬ stywana dla wyszukiwania uszkodzonych miejsc we wnetrzu struktury badanego ukladu 5 umozli¬ wiajac bezposredni dostep do dowolnego jego punk¬ tu. Licznik.9 ma swoje wyjscia o takim kodzie, ze eo steruje cyfrowy wyswietlacz 10.Jezeli kod licznika 9 nie odpowiada kodowi wej¬ sciowemu wyswietlacza 10 to za pomoca zastoso¬ wania dekoderów przetwarzajacych odpowiednie kody cyfrowe nalezy wyjscia licznika 9 dostosowac 65 do wejsc wyswietlacza 10.5 123 743 6 o dowolnej ilosci bitów, wyjsciami laczy sie bez posrednio — i posrednio poprzez dekoder (3) z wej¬ sciowym laczem (4) badanego ukladu (5), natomiast jego wyjsciowe lacze (6) jest wyjsciami polaczone z wielowyjsciowym sumatorem (7), który za pomo¬ ca rozlacznej sondy (8) jest laczony z drugim licz¬ nikiem (9).Zastrzezenia patentowe Tester cyfrowych ukladów elektronicznych za¬ wierajacy generator impulsów polaczony z pierw¬ szym licznikiem, dekoder oraz sumator a na wyj¬ sciu — drugi licznik sprzezony z cyfrowym wyswie¬ tlaczem, znamienny tym, ze pierwszy licznik (2), PL