PL120524B2 - Apparatus for sorting resistors according to resistance deviationzistansa - Google Patents

Apparatus for sorting resistors according to resistance deviationzistansa Download PDF

Info

Publication number
PL120524B2
PL120524B2 PL21890379A PL21890379A PL120524B2 PL 120524 B2 PL120524 B2 PL 120524B2 PL 21890379 A PL21890379 A PL 21890379A PL 21890379 A PL21890379 A PL 21890379A PL 120524 B2 PL120524 B2 PL 120524B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
sorting
resistance
resistors
resistors according
deviationzistansa
Prior art date
Application number
PL21890379A
Other languages
English (en)
Other versions
PL218903A2 (pl
Inventor
Andrzej Wojtyla
Andrzej Tuleja
Original Assignee
Politechnika Slaska Im Wincent
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Slaska Im Wincent filed Critical Politechnika Slaska Im Wincent
Priority to PL21890379A priority Critical patent/PL120524B2/pl
Publication of PL218903A2 publication Critical patent/PL218903A2/xx
Publication of PL120524B2 publication Critical patent/PL120524B2/pl

Links

Landscapes

  • Sorting Of Articles (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do sortowania rezystorów wedlug odchylki rezystancji, które moze miec zastosowanie w zakladach produkujacych rezystory oraz wytwórniach precyzyjnego sprzetu elektro¬ nicznego, gdzie wymagane sa duze dokladnosci uzytych elementów.Znane jest z polskiego opisu patentowego nr 55 415 urzadzenie do sortowania i cechowania rezystorów zaopatrzone w zespól transportowy, zespól pomiarowo-sortujacy i zespól podajacy. Zespól transportowy sklada sie z szyn prowadzacych w których umieszczone sa kasety z rezystorami przesuwane za pomoca slimaków.Zes¬ pól transportowy umieszcza rezystor w zespole podajacym skladajacym sie z dwóch par prowadnic, które wyko¬ nujac ruch posuwisto zwrotny przemieszczaja badany element pod styki pomiarowe. Rezystor o rezystancji innej niz zadana, zostaje wyrzucony przy pomocy wyrzutni, a pozostale rezystory podawane sa do ukladu cechowa¬ nia.Wada tego urzadzenia jest rozróznianie tylko jednej dowolnie wybranej grupy elementów. Przy rozróznia¬ niu wiekszej ilosci grup wymaganajest wieksza ilosc stanowisk pomiarowo-sortujacych.Znane jest równiez z polskiego opisu patentowego nr 58 590 urzadzenie do sortowania drobnych elemen¬ tów zawierajace transporter zamocowany trwale na wale osadzonym obrotowo. Wewnatrz transportera i walu znajduje sie kanal zakonczony od strony transportera ssawka, natomiast z drugiej strony kanal ten jest polaczo¬ ny poprzez otwór w dolnej czesci walu z komora prózniowa polaczona poprzez przewód rurowy z pompa prózniowa. Urzadzenie to pomimo, ze zapewnia segregacje na wiecej grup wymaga obwodów pneumatycznych i elektrycznych.Urzadzenie do sortowania rezystorów wedlug wynalazku posiada jako zespól napedowy tasme na której sa umieszczone kotwiczki do mocowania rezystorów zwalniane przez plytki napedzane elektromagnesami.Zaleta urzadzenia jest utworzenie duzej ilosci grup sortowanych elementów, duza szybkosc dzialania.Ponadto przy takim typie zespolu pomiarowego mozliwe jest wykonanie wiekszej ilosci dodatkowych operaqi np. cechowanie, dodatkowe pomiary.Przedmiot wynalazku jest pokazany w przykladzie^ wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia widok z boku urzadzenia do sortowania rezystorów wedlug odchylki rezystanqi, fig. 2 - pólprzekrój urzadze¬ nia, a,fig. 3 — zamocowanie kotwiczki na tasmie.2 120524 Urzadzenie do sortowania rezystorów wedlug odchylki rezystancji sklada sie z tasmy 1, napedzanej kolem napedowym 2. Tasma 1 dodatkowo zamocowana jest na walcu naciagajacym 3. Kolo napedowe 2 uzyskuje moment napedowy z walu napedowego 4, napedzanego silnikiem krokowym. Calosc zawieszona jest na kon¬ strukcji nosnej trwalej, skladajacej sie z ramy 5 i podstawy 6.Rezystor mocowany jest za pomoca kotwiczek 7. Kotwiczki 7 wahadlowo przymocowane sa do nakladki mocujacej 8, która przytwierdzona jest do tasmy 1 polaczeniem nitowym 11. Kotwiczki 7 dociskaja z dwóch stron nózki badanego elementu do blaszek miedzianych 9, sluzacych do uzyskania lepszego styku. Kotwiczki 7 zamykaja sie dzieki sprezynom oporowym 10 na nózce rezystora. Tasma 1 przesuwajac sie wzdluz ramy 5 przesuwa sie nad stala plytka 12. Kotwiczki 7 ulegaja odkrzywieniu i rezystor z kasety podajacej zostaje podany na tasme 1.W trakcie skokowego ruchu tasmy 1 kotwiczka 7 z umocowanym rezystorem przemieszcza sie pod styki pomiarowe 18 umocowane do calosci urzadzenia za pomoca uchwytu 17. Jeden ze znanych ukladów pomiaro¬ wych dokonuje pomiaru odchylki rezystancji i wypracowuje informacje w postaci stanów logicznych w zalezno¬ sci od przynaleznosci badanego rezystora do danej grupy.Uzyskana informacja logiczna jest sygnalem wejsciowym dla ukladu sterujacego, który jest blokiem reje¬ strów. Blok rejestrów sklada sie z szeregowo polaczonych rejestrów, które to polaczenie zapewnia, ze przy kolejnych taktach pracy ukladu napedowego informacja przepisywana jest z rejestru. Kazdy rejestr zawiera tyle komórek ile jest grup sortowanych elementów. Takiblok rejestrów zapewnia uzyskanie odpowiedniego opóznie¬ nia miedzy taktem pomiar, a taktem sortowania, jednoczesnie steruje praca elementów sortujacych. Elementy sortujace skladaja sie z wzmacniacza na którego wyjsciu jest przekaznik elektromagnetyczny 14, Czesc ruchoma przekaznika 14 zakonczona jest plytka 15. Plytka 15 odchyla kotwiczki 7, co pozwala, ze zmierzony rezystor pod wplywem sily ciezkosci wpada do pojemnika 16. Elementów sortujacych i pojemników 16 jest tyle ile jest grup sortowanych elementów.Przy zastosowaniu odpowiedniego ukladu pomiarowego przedmiot wynalazku moze sluzyc do sortowania innych elementów np. kondensatorów, elementów indukcyjnych, diod, itp.Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do sortowania rezystorów wedlug odchylki rezystancji zawierajace zespól transportowy, uklad pomiarowy i zespól sortujacy, znamienne tym, ze zespól transportowy stanowi tasma (1) na której sa umieszczone kotwiczki (7) do mocowania rezystorów, zwalniane przez plytki (15) napedzane elektromagne¬ sami (14).Fig. 3 Pracownia Poligraficzna UPPRL. Naklad 120 egz.Cena 100 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do sortowania rezystorów wedlug odchylki rezystancji zawierajace zespól transportowy, uklad pomiarowy i zespól sortujacy, znamienne tym, ze zespól transportowy stanowi tasma (1) na której sa umieszczone kotwiczki (7) do mocowania rezystorów, zwalniane przez plytki (15) napedzane elektromagne¬ sami (14). Fig. 3 Pracownia Poligraficzna UPPRL. Naklad 120 egz. Cena 100 zl PL
PL21890379A 1979-10-11 1979-10-11 Apparatus for sorting resistors according to resistance deviationzistansa PL120524B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21890379A PL120524B2 (en) 1979-10-11 1979-10-11 Apparatus for sorting resistors according to resistance deviationzistansa

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21890379A PL120524B2 (en) 1979-10-11 1979-10-11 Apparatus for sorting resistors according to resistance deviationzistansa

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL218903A2 PL218903A2 (pl) 1980-08-25
PL120524B2 true PL120524B2 (en) 1982-03-31

Family

ID=19998855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL21890379A PL120524B2 (en) 1979-10-11 1979-10-11 Apparatus for sorting resistors according to resistance deviationzistansa

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL120524B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL218903A2 (pl) 1980-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5903154A (en) Battery test contact assembly
US4747479A (en) Device for the testing and/or processing of small component parts
US6034524A (en) Apparatus and method for testing flexible circuit substrates
EP0204291A3 (en) Device for testing and sorting electronic components, in particular integrated chips
US4423815A (en) Component sorting apparatus
JP3110984B2 (ja) 回路パターンの電気的特性を測定する装置
PL120524B2 (en) Apparatus for sorting resistors according to resistance deviationzistansa
KR101158064B1 (ko) 전자부품 시험장치 및 전자부품의 시험방법
CN202305776U (zh) 磁感应强度测量装置
EP0295805A3 (en) Automated burn-in system
TW376455B (en) Apparatus for testing a semiconductor device
US3771048A (en) Sealed contact switch testing apparatus utilizing helmholtz coils
CN212031697U (zh) 一种永磁体工件的自动检测装置
CN221326541U (zh) 一种多孔陶瓷测试机
JPS6351273B2 (pl)
CN112213626B (zh) 一种集成电路测试设备
JPS6459081A (en) Handler
CN220901070U (zh) 一种焊片分选测试机
SU1252255A1 (ru) Способ определени состо ни конвейерной ленты при ее непрерывном прот гивании
CN102435964A (zh) 永磁体表面磁场强度的检测装置及检测方法
KR100205496B1 (ko) 웨이퍼 카세트 탑재용 인댁서 및 카세트
KR970077423A (ko) Ic 테스터용 분리형 핸들러 시스템
SU932197A1 (ru) Устройство дл измерени длины движущихс объектов
Spitz Handlers
CN119470250A (zh) 光转膜测试系统