PL119873B1 - Acoustoelectronic apparatus for autocorrelation analysis of two-dimensional optical images analiza dvukhmernykh opticheskikh izobrazhenijj - Google Patents

Acoustoelectronic apparatus for autocorrelation analysis of two-dimensional optical images analiza dvukhmernykh opticheskikh izobrazhenijj Download PDF

Info

Publication number
PL119873B1
PL119873B1 PL21456579A PL21456579A PL119873B1 PL 119873 B1 PL119873 B1 PL 119873B1 PL 21456579 A PL21456579 A PL 21456579A PL 21456579 A PL21456579 A PL 21456579A PL 119873 B1 PL119873 B1 PL 119873B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
dimensional
acoustoelectronic
semiconductor
analyzer
optical images
Prior art date
Application number
PL21456579A
Other languages
English (en)
Other versions
PL214565A1 (pl
Inventor
Pawel Kielczynski
Original Assignee
Polska Akademia Nauk Instytut
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Polska Akademia Nauk Instytut filed Critical Polska Akademia Nauk Instytut
Priority to PL21456579A priority Critical patent/PL119873B1/pl
Publication of PL214565A1 publication Critical patent/PL214565A1/xx
Publication of PL119873B1 publication Critical patent/PL119873B1/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie akusto¬ elektroniczne sluzace do wyznaczania funkcji auto¬ korelacji poszczególnych linii dwuwymiarowych, statycznych i ruchomych obrazów optycznych.Znane dotychczas elektroniczne kolejnoliniowe urzadzenie do autokorelacyjnej analizy dwuwymia¬ rowych obrazów optycznych skladaja sie z dwóch niezaleznych bloków funkcjonalnych, bloku anali¬ zatora obrazu optycznego polaczonego z blokiem autokorelatora. W autokorelatorze wyznacza sie funkcje autokorelacji otrzymanych w analizatorze sygnalów wizyjnych odpowiadajacych rozkladowi oswietlenia na poszczególnych liniach obrazu.Znane sa dwa akustoelektroniczne analizatory, w którym w sposób calkowicie elektroniczny otrzy¬ muje sie sygnal elektryczny odpowiadajacy rozkla¬ dowi oswietlenia dwuwymiarowego obrazu opty¬ cznego. Z opisu patentowego nr 117476 znany jest analizator stanowiacy klasyczny uklad dwuwymia¬ rowego konwolutora akustoelektronicznego typu pólprzewodnik — piezoelektryk. Na powierzchni piezoelektryka, na jego obrzezach, usytuowane sa pod katem korzystnie 90° dwa przetworniki powie¬ rzchniowych fal impulsowych. Na powierzchni pie¬ zoelektryka przylegajacej do plytki pólprzewodnika propaguja sie odpowiednio opóznione impulsy fal powierzchniowych. Czesc wspólna impulsów, w po¬ staci plamki, przesuwa sie wzdluz zadanej linii obrazu, który pada poprzez piezoelektryk na swia¬ tloczula powierzchnie pólprzewodnika i moduluje II 15 20 25 2 intensywnosc nieliniowych oddzialywan fal powierz¬ chniowych z nosnikami ladunku w pólprzewodniku.Odczyt rozkladu oswietlenia jest w tym urzadzeniu nieniszczacy i polega na pomiarze pojemnosci wa- raktora powierzchniowego, którym jest powie¬ rzchniowa warstwa pólprzewodnika.Inny analizator tego typu iposiatia na obrzezach piezoelektryka dwa przetworniki ciaglych fal po¬ wierzchniowych, a na lzewne(trznych powierzchniach ukladu konwolutora, równoleglych do plaszczyzny propagacji fal powierzchniowych zawiera uklad dwóch prostopadlych wzgledem siebie struktur wa¬ skich równoleglych pasków metalicznych przela¬ czonych do koncówek obwodu wyjsciowego za poimoica ukladu 'sterujacego 'zgodnie z wybranym schematem, skaningu. Odczyt rozkladu oswietlenia w plaszczyznie obralzu 'ma .miejsce w obszarze, w którym przecinaja sie dwa wybrane paski metali¬ czne z dwóch prostopadlych struktur. 'Podobnie, jak w poprzednim urzadzeniu odczyt jest nieniszczacy i polega na pomiarze pojemnosci waraktora powie¬ rzchniowego 'modulowanej oswietleniem.Do otrzymania funkcji autokorelacji stosuje sie autokorelator skladajacy sie iz dwóch klasycznych konwolutorów akustoeielktronicznych. W jednym konwolutonze otrzymuje sie przebieg odwrócony w czasie f i(—t) w stosunku do przelbiegu podstawo¬ wego f (t). Przebiegi odwrócony i podstawowy podaje sie na dwa wejscia drugiego konwolutora, 119 873119 873 na wejsciu którego otrzymuje sie fsygnal odpowia¬ dajacy autokorelacji sygnalu f Dzialanie przedstawionego wyzej autokorelatóra nie jest powiazane z analiza dwuwymiarowych obrazów optycznych. Wyznacza on funkcje auto¬ korelacji dowolnego sygnalu analogowego wykonu¬ jac wszystkie procesy konieczne do wyznaczenia funkcji autokorelacji, ito jest oidwrocenie w czasie sygnalu f (t), .mnozenie sygnalów f calkowanie.Znane urzadzenie do autokorelacyjnej analizy dwuwymiarowych obrazów optycznych, zawierajace, omówione wyzej analizator i autokorelaitor, nie f,r*1^7~za5tem"ojptytmallne, bowiem nie wykorzystywa- ; *y rwzajemnytlrippwiazan pomiedzy praca amaliza- ? tora i auitokordlaitora, dzialajacych niezaleznie I c^SS1*?* Swoich iijrocedur wewneitranych. \ n»iJsiote wy-nalag^u stanowi urzadzenie skladajace sie .ze^imodyfikowanego analizatora, którego dwa wytjscia polaczone sa z dwoma przeciwleglymi wejsciami konwolutora jednowymiarowego.Zmodyfikowany analizator stanowi dwuwymiaro¬ wy konwoliuitor typu pólprzewodnik — piezoele- ktryk posiadajacy na obrzezach powierzchni piezo- elektryka, przylegajacej do powierzchna pólpnzewo- dnika, cztery wzajemnie prostopadle przetworniki wytwarzajace impulsy fal powierzchniowych.W konwolutorze tym nastepuje kolejnoliniowa analiza danego rozkladu oswietlenia. Kazda linia obrazu skanowana jest dwukrotnie, w dwóch prze¬ ciwbieznych kierunkach, co daje na wyjsciu* tego zmodyfikowanego analizatora, dla jednej linii obra¬ zu, sygnaly f(t) i «—t). Sygnaly te nastepnie podaje sie na dwa przeciwlegle wejscia jednowymiarowego konwolutora, na wyjsciu którego otrzymuje sie fun¬ kcje autokorelacji sygnalu f(t), odpowiadajacego danej linii obrazu.Istotna cecha urzadzenia* wedlug wynalazku jest przeniesienie operacji odwracania sygnalu w czasie z bloku autokorelacji do bloku analizatora.Urzadzenie bedace przedmiotem wynalazku jest prostsze w realizacji od dotychczas znanych, ponie¬ waz sklada sie tylko z dwóch urzadzen skladowych, zmodyfikowanego analizatora i jednowymiarowego konwolutora, w którym wyeliminowano znieksztal¬ cajacy sygnal proces zapamietywania.Przedmiot wynalazku zostanie blizej objasniony w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat blokowy urzadzenia do autokorelacyjnej analizy dwuwymiarowych obrazów optycznych, a fig. 2 przedstawia widok ogólny zmodyfikowanego analizatora.Zmodyfikowany analizator 1 dolaczony jest po¬ przez wzmacniacz 2 do przelacznika 3 kierujacego sygnal zmodyfikowanego analizatora 1 do dwóch przeciwleglych wejsc jednowymiarowego konwolu¬ tora 4, przy czym jedno z wejsc konwolutora dolaczone jest do przelacznika 3 bezposrednio, a drugie poprzez linie opózniajaca 5. Zmodyfiko- is 25 wany analizator 1 i przelacznik 3 polaczone sa z ukladem sterujacym 6.Zmodyfikowany analizator 1 stanowi dwuwymia¬ rowy konwolutor typu pólprzewodnik — piezoele- * ktryk.Na przyleglej do pólprzewodnika A powierzchni plytki piezoelektryka B naniesione sa dwie pary C, Di E, F prostopadlych przetworników miedzy- palczastych IDT, które ograniczaja kwadratowa po- 10 wierzchnie analizowanego obrazu optycznego.Przez odpowiednie opóznienie czasowe momentów generacji impulsów powierzchniowych, uzyskuje sie analize dowolnej linii obrazu w dwóch przeciwbie¬ znych kierunkach. Najpierw generuja impulsy fal powierzchniowych dwa prostopadle i stykajace sie przetworniki C i D, a nastepnie, po czasie skani¬ ngu linii, pozostala para przetworników E i F. Dla kazdej nowej linii proces ten jest powtarzany.Powierzchnia piezoelektryka, nie przylegajaca do pólprzewodnika, pokryta jest przezroczysta elektro¬ da metalowa G, która wraz z górna metalizowana powierzchnia pólprzewodnika H tworzy koncówki obwodu wyjsciowego zmodyfikowanego analizatora.Analizowany jest dwuwymiarowy rozklad oswie¬ tlenia, które pada poprzez plytke piezoelektryka B na swiatloczula powierzchnie pólprzewodnika A, gdzie moduluje intensywnosc nieliniowych oddzia¬ lywan fal powierzchniowych z nosnikami ladunku w powierzchniowej warstwie pólprzewodnika.Sygnal wyjsciowy przedstawionego powyzej zmo¬ dyfikowanego analizatora odpowiada skanowaniu linii obrazu w dwóch przeciwbieznych kierunkach.Sygnal ten, stanowiacy ciag przebiegów odpowiada¬ jacych liniom obrazu, przelaczony w przelaczniku 3, podaje sie bezposrednio na dwa wejscia konwo¬ lutora jednowymiarowego 4, na wyjsciu którego otrzymuje sie sygnal odpowiadajacy autokorelacji poszczególnych linii dwuwymiarowego obrazu opty- w cznego.Zastrzezenia patentowe 1. Afcustoelektroniczne urzadzenie do autokorela¬ cyjnej analizy dwuwymiarowych obrazów optycz- 45 nych, znamienne tym, ze sklada sie ze zmodyfiko¬ wanego analizatora (1) z dwoma sygnalam wyj¬ sciowymi odwróconymi w czasie, którego wyjscie dolaczone jest poprzez przelacznik (3) do dwóch wejsc jednowymiarowego konwolutora <4), do jed- 50 nego wejscia bezposrednio, a do drugiego poprzez linie opózniajaca (5), przy czym przelacznik <3) i analizator zmodyfikowany (1) polaczone sa z ukla¬ dem sterujacym (6). 3. Akustoelektroniczne urzadzenie wedlug zastrz. 1, 55 znamienne tym, ze analizator zmodyfikowany (1) stanowi konwolutor dwuwymiarowy typu pólprze¬ wodnik — piezoelelctryk, posiadajacy na obrzezach powierzchni piezoelektryka (B) przylegajacej do po¬ wierzchni pólprzewodnika (A), cztery wzajemne eo prostopadle przetworniki (C, D, E, F) powierzch¬ niowych fal impulsowych.119 873 1 * h—ir-m i t \m m^p^ 3 ] lf(-t) AWY -J 4 L— Fig. 1 H _ /?~-~\ -A-m /;.<- y-syy— r- ^tA ^lllfll ttt ° Fig. 2 PL

Claims (3)

1. Zastrzezenia patentowe 1.
2. Afcustoelektroniczne urzadzenie do autokorela¬ cyjnej analizy dwuwymiarowych obrazów optycz- 45 nych, znamienne tym, ze sklada sie ze zmodyfiko¬ wanego analizatora (1) z dwoma sygnalam wyj¬ sciowymi odwróconymi w czasie, którego wyjscie dolaczone jest poprzez przelacznik (3) do dwóch wejsc jednowymiarowego konwolutora <4), do jed- 50 nego wejscia bezposrednio, a do drugiego poprzez linie opózniajaca (5), przy czym przelacznik <3) i analizator zmodyfikowany (1) polaczone sa z ukla¬ dem sterujacym (6).
3. Akustoelektroniczne urzadzenie wedlug zastrz. 1, 55 znamienne tym, ze analizator zmodyfikowany (1) stanowi konwolutor dwuwymiarowy typu pólprze¬ wodnik — piezoelelctryk, posiadajacy na obrzezach powierzchni piezoelektryka (B) przylegajacej do po¬ wierzchni pólprzewodnika (A), cztery wzajemne eo prostopadle przetworniki (C, D, E, F) powierzch¬ niowych fal impulsowych.119 873 1 * h—ir-m i t \m m^p^ 3 ] lf(-t) AWY -J 4 L— Fig. 1 H _ /?~-~\ -A-m /;.<- y-syy— r- ^tA ^lllfll ttt ° Fig. 2 PL
PL21456579A 1979-03-31 1979-03-31 Acoustoelectronic apparatus for autocorrelation analysis of two-dimensional optical images analiza dvukhmernykh opticheskikh izobrazhenijj PL119873B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21456579A PL119873B1 (en) 1979-03-31 1979-03-31 Acoustoelectronic apparatus for autocorrelation analysis of two-dimensional optical images analiza dvukhmernykh opticheskikh izobrazhenijj

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21456579A PL119873B1 (en) 1979-03-31 1979-03-31 Acoustoelectronic apparatus for autocorrelation analysis of two-dimensional optical images analiza dvukhmernykh opticheskikh izobrazhenijj

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL214565A1 PL214565A1 (pl) 1980-11-03
PL119873B1 true PL119873B1 (en) 1982-01-30

Family

ID=19995458

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL21456579A PL119873B1 (en) 1979-03-31 1979-03-31 Acoustoelectronic apparatus for autocorrelation analysis of two-dimensional optical images analiza dvukhmernykh opticheskikh izobrazhenijj

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL119873B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL214565A1 (pl) 1980-11-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3675163A (en) Cascaded f. m. correlators for long pulses
US3883831A (en) Surface wave devices
US3668639A (en) Sequency filters based on walsh functions for signals with three space variables
US3551837A (en) Surface wave transducers with side lobe suppression
US4114116A (en) Two-dimensional surface acoustic wave signal processor
US4009380A (en) Electro-optical system for performing matrix-vector multiplication
US4398274A (en) Within-pulse doppler scanning
US3696250A (en) Signal transfer system for panel type image sensor
US3675052A (en) Field-delineated acoustic wave device
US5539687A (en) Correlator and communication system using it
PL119873B1 (en) Acoustoelectronic apparatus for autocorrelation analysis of two-dimensional optical images analiza dvukhmernykh opticheskikh izobrazhenijj
GB1562207A (en) Device for the two-dimensional reading o optical images using elastic surface waves
US3942135A (en) Concatenated surface wave delay line correlator
US3412372A (en) Sonar multibeam tracking system including a digital 90 deg. phase shifter
PL119948B1 (en) Acoustoelectronic apparatus for correlation analysis of two-dimensional optical imagesliza dvukhmernykh opticheskikh izobrazhenijj
US3280318A (en) Correlator
PL121815B1 (en) Method of and apparatus for scanning of two-dimensional optical imagesheskikh izobrazhenijj
JPS5823595B2 (ja) 超音波映像表示装置
SU911549A1 (ru) Вычитающее устройство
SU1709498A1 (ru) Согласованный фильтр
RU2024943C1 (ru) Устройство для считывания графической информации
SU590764A1 (ru) Устройство дл определени коэффициента фурье
US3990072A (en) Acoustic residue algebra decoder
SU824225A1 (ru) Интегратор
Sabine Analysis of the surface-acoustic-wave crossbar coupler