Przedmiotem wynalazku jest uklad urzadzenia do aktywnego pomiaru mikronowych srednic przed¬ miotów walcowych, znajdujacy zastosowanie przy pomiarach srednic zwlaszcza swiatlowodów szklanych w trakcie procesu ich wyciagania.Obecnie znane sa rózne metody i przyrzady do aktywnego pomiaru grubosci powlok do 0,1 mm, brak jest natomiast urzadzen do pomiarów bardzo malych srednic przedmiotów, bedacych w ruchu postepowym.Celem wynalazku jest opracowanie ukladu urzadzenia do aktywnego pomiaru mikronowych srednic, zwlaszcza wlókien swiatlowodowych, w procesie ich wyciagania.Cel ten zgodnie z wynalazkiem osiagnieto przez zastosowanie mikroskopu, kamery telewizyjnej, moni¬ tora telewizyjnego oraz elektronicznego bloku analizujacego sygnal wizyjny kamery, przy czym kamera analizuje powiekszony przez mikroskop obraz obiektu mierzonego, a do jej wyjsc dolaczony jest monitor telewizyjny, zas do wyjscia sygnalu wizyjnego podlaczony jest uklad formujacy, którego wyjscie polaczone jest z wejsciem bramki logicznej, zas wyjscie bramki logicznej jest dolaczone do generatora bramkowego, którego wyjscie jest polaczone z wejsciem licznika, do którego dolaczonyjest wskaznik wyniku, natomiast do wyjscia impulsów synchronizacji linii i obrazu kamery podlaczony jest uklad logiczny, którego pierwsze wyjscie jest polaczone z drugim wejsciem bramki logicznej, zas drugie wyjscie jest polaczone z wejsciem zerujacym licznika.Zaleta ukladu urzadzenia pomiarowego wedlug wynalazku jest mozliwosc dokonywania aktywnego pomiaru srednicy wyciaganego swiatlowodu bez wywierania na niego jakiegokolwiek nacisku, przy czym cyfrowa wartosc mierzonej srednicy mozna otrzymac 50 razy w ciagu sekundy, oraz istnieje mozliwosc wizualnej obserwacji obrazu mierzonego obiektu, jak równiez wyprowadzenia wyniku pomiaru do dowol¬ nego urzadzenia rejestrujacego.Wynalazek zostanie blizej objasniony na przykladzie wykonania przedstawionym na rysunku, któryjest schematem blokowym ukladu urzadzenia.Jak uwidoczniono na rysunku kamera K dokonuje analizy powiekszonego przez mikroskop M obrazu obiektu badanego, natomiastjej sygnalwizyjnyjest analizowany w elektronicznym bloku analizujacym EBA.Do wyjsc kamery K podlaczony jest monitor telewizyjny MT, natomiast do jej wyjscia sygnalu wizyjnego podlaczony jest uklad formujacy UF, którego wyjscie polaczone jest z wejsciem 1 bramki logicznej BL.Wyjscie bramki logicznej BL jest dolaczone do generatora bramkowego GB, którego wyjscie jest polaczone z wejsciem 1 licznika L. Do licznika L dolaczony jest cyfrowy wskaznik wyniku W. Wyjscia impulsów synchronizacji linii i obrazu kamery K polaczone sa odpowiednio z wejsciami 1 i 2 ukladu logicznego UL,2 111377 którego wyjscie 1 polaczone jest z wejsciem 2 bramki logicznej BL. Wyjscie 2 ukladu logicznego UL jest polaczone z wejsciem zerujacym Z licznika L.Dzialanie ukladu jest nastepujace. Mikroskop M wytwarza powiekszony obraz rzeczywisty mierzonego obiektu na widikonie telewizyjnej kamery K, który mozna obserwowac na telewizyjnym monitorze MT.Sygnal wizyjny kamery K podawany jest na wejscie ukladu formowania UF, na wyjsciu którego otrzymuje sie impulsy prostokatne o czasie trwania proporcjonalnym do srednicy mierzonej. Impulsy te podawane sa na wejscie 1 bramki logicznej BL. Impulsy synchronizacji obrazu i linii sa podawane odpowiednio na wejscia 1 i 2 ukladu logicznego UL, którego zadaniem jest wybranie dwóch linii obrazowych pochodzacych ze srodka obrazu celem unikniecia dodatkowych bledów wynikajacych z nieliniowosci pionowej kamery K oraz wypracowanie impulsu zerowania, licznika L podawanego na jego wejscie zerujace 2. Impuls prostokatny wybierajacy duze linie obrazowe z wyjscia 1 ukladu logicznego UL jest podawany na wejscie 2 bramki logicznej BL, na wyjsciu której w kazdym cyklu analizy tresci obrazu pojawiaja siedwa impulsy prostokatne o czasie trwania proporcjonalnym do mierzonej srednicy uruchamiajace generator bramkowy GB, którego impulsy wyjsciowe podawane na wejscie 1 licznika L sa przez ten licznik L zliczane. Stan licznika L wyswietlany przez wskaznik cyfrowy W jest zarazem wynikiem pomiaru srednicy mierzonego obiektu.Zastrzezenie patentowe Uklad urzadzenia do aktywnego pomiaru mikronowych srednic przedmiotów walcowych, znajdujacy zastosowanie przy pomiarach srednic zwlaszcza swiatlowodów szklanych w trakcie procesu ich wyciagania, zwuftiemy tym, ze zawiera mikroskop (M), kamere telewizyjna (K), monitor telewizyjny (MT) oraz elektroni¬ czny blok analizujacy (EBA), przy czym kamera (K) analizuje powiekszony przez mikroskop (M) obraz obiektu mierzonego, a do jej wyjsc dolaczony jest monitor telewizyjny (MT), zas do wyjscia sygnalu wizyjnego podlaczony jest uklad formujacy (UF), którego wyjscie podlaczone jest z wejsciem (1) bramki logicznej (BL), zas wyjscie bramki logicznej (BL) jest dolaczone do generatora bramkowego (GB), którego wyjscie jest polaczone z wejsciem (1) licznika (L), do którego dolaczonyjest wskaznik wyniku (W), natomiast do wyjscia impulsów synchronizacji linii i obrazu kamery (K) podlaczone sa odpowiednio wejscia (1) i (2) ukladu logicznego (UL), którego wyjscie (1) polaczone jest z wejsciem (2) bramki logicznej (BL), zas jego wyjscie (2) jest polaczone z wejsciem (Z) licznika (L).111 377 ^< CZYTLLNIA Urzedu Polpntowego PL