PL116756B1 - Method and system for measuring harmonic surface deformations particularly those of boat shell plating - Google Patents

Method and system for measuring harmonic surface deformations particularly those of boat shell plating Download PDF

Info

Publication number
PL116756B1
PL116756B1 PL20842278A PL20842278A PL116756B1 PL 116756 B1 PL116756 B1 PL 116756B1 PL 20842278 A PL20842278 A PL 20842278A PL 20842278 A PL20842278 A PL 20842278A PL 116756 B1 PL116756 B1 PL 116756B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
digital
measuring
input
deformations
counter
Prior art date
Application number
PL20842278A
Other languages
English (en)
Other versions
PL208422A1 (pl
Inventor
Jan Radecki
Ryszard Sikora
Original Assignee
Politechnika Szczecinska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Szczecinska filed Critical Politechnika Szczecinska
Priority to PL20842278A priority Critical patent/PL116756B1/pl
Publication of PL208422A1 publication Critical patent/PL208422A1/xx
Publication of PL116756B1 publication Critical patent/PL116756B1/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób i uklad do po¬ miaru harmonicznych odksztalcen powierzchni, zwlaszcza poszycia statku.Dotychczas pomiary aplitud harmonicznych od¬ ksztalcen powierzchni przeprowadzano w ten sposób, ze mierzono odksztalcenie powierzchni punkt po punkcie i zapisywano amplituda od¬ ksztalcenia i polozenia geometrycznego kazdego zmierzonego punktu. Uzyskane wyniki wprowa¬ dzano jalko dane do elektronicznej masizyny cyfro¬ wej, w której byla przeprowadzana analiza har¬ moniczna. Metoda pomiaru jest pracochlonna, szczególnie przy pomiarach duzych powierzchni i nieprzydatna do celów produkcyjnych.Celem wynalazku jest usuniecie powyzszych niedogodnosci przez opracowanie nowego sposobu pomiaru i ukladu elektronicznego umozliwiajace¬ go uzyskanie amplitud harmonicznych odksztal¬ cen powierzchni po czasie kilku lub kilkunastu selkund, liczac od momentu rozpoczecia pomiaru.Sposób wedlug wynalazku polega na tym, ze amplituda odksztalcenia powierzchni zostaje za¬ pamietana w paimieci elektronicznej i odtwarzana ze stabilna czestotliwoscia. Pomiar amplitud har¬ monicznych przeprowadza sie przez przylozenie do mierzonej powierzchni listwy z naniesionymi w równej odleglosci od siebie punktami sygna¬ lizacji polozenia i wzidluz listwy jest przesuwana karetka zawierajaca przetwornik odksztalcenia 10 15 powierzchni oraz uklad wytwarzania impulsu po¬ lozenia.W momencie mijania punktu sygnalizacji po¬ lozenia amplituda odksztalcenia powierzchni w tym punkcie zostaje wpisana do pamieci elektro¬ nicznej i w wyniku tego zostaje zarejestrowane w tej pamieci odkssztalcenie w okreslonej liczbie punktów na miefzonej powierzchni. Po zakoncze¬ niu pomiaru rozpoczyna sie cykliczne odtwarza¬ nie ze stabilna wysoka czestotliwoscia zapamieta¬ nego przebiegu i na uzyskanym w wyniku tego periodycznym sygnale odksztalcenia powierzchni zastaje przeprowadzona w ukladzie elektronicz¬ nym analiza harmcniczna.Uklad wedlug wynalazku charakteryzuje sie tym, ze pozwala na przeprowadzenie analizy harmonicznej odksztalcen powierzchni przy wy¬ korzystaniu dowolnej czesci listwy pomiarowej.W tym celu uklad ma licznik cyfrowy pomiaro- 20 wy i licznik cyfrowy odtwarzajacy. Wejscie cy¬ frowego licznika pomiarowego jest polaczone z Ukladem wytwarzania impulsu polozenia- a wej¬ scie cyfrowego licznika odtwarzania poprzez uklad przelaczajacy jest polaczone z generatorem M stabilnej czestotliwosci, zas wyjscia tych liczni¬ ków sa polaczone z komparatorem porównuja¬ cym stany wyjsc obu liczników. Wyjscie kompa¬ ratora jest polaczone z wejsciem kasujacym u- kladu sterowania adresem i wejsciem kasujacym 30 cyfrowego licznika odtwarzania. W momencie 116 7563 1X6 756 4 zrównania sie stanów cyfrowego licznika pomia¬ rowego i cyfrowego licznika odtwarzania, impuls z komparatora powoduje skasowanie do stanu zerowego ukladu sterowania adresem, oraz cyfro¬ wego licznika odtwarzania i w zwiazlku z tym proces odtwarzania zapamietanego przebiegu od¬ ksztalcenia powierzchni rozpoczyna sie od nowa.Sposób i uklad wedlug wynalazku pozwalaja na pomiar amplitudy harmonicznych odksztalcen powierzchni zwlaszcza poszycia kadluba statku podczas jego budowy.Uklad wedlug wynalazku przedstawiony jest w przykladzie wykonania na rysunku schema¬ tycznym. Przetwornik odksztalcenia powierzchni 1, przetwarzajacy odksztalcenie geometryczne na sygnal elektryczny, prowadzony jest wzdluz list¬ wy, na której naniesione sa punkty sygnalizacji polozenia. Sygnal odksztalcenia poprzez pasmo¬ wy filtr aktywny 2 oraz uklad fazoczuly 3, roz¬ rózniajacy wybrzuszenie czy wklesniecie, jest po¬ dawany na przetwornik analogowo-cyfrowy 4.Z przetwornika analogowo-cyfrowego sygnal od¬ ksztalcenia w kodzie binarnym, poprzez uiklad sterowania wejsciami pamieci elektronicznej 5 jest podawany na wejscia pamieci elektronicz¬ nej 6.Przetwornik odksztalcenia powierzchni 1 jest zasilany z generatora sinusoidalnego 7. Równiez z generatora sinusoidalnego 7 j.est podawany syg¬ nal do ukladu fazoczulego 3, jako sygnal odniesie¬ nia. W momencie gdy przetwornik odksztalcenia powierzchni 1 mija punkt sygnalizacji polozenia, powstaje impuls w ukladzie wytwarzania impulsu polozenia 8, który zostaje podany na uklad stero¬ wania wejsciami pamieci elektronicznej 5, oraz na uklad stepowania adresem 9. Impuls ten powo¬ duje, ze wejscia pamieci elektronicznej 6 zostaja polaczone z wyjsciem przetwornika amalogowo- cyfrotyegp 4. Dane o odksztalceniu powierzchni w okreslonym punkcie zostaja wpisane do po¬ szczególnych komórek pamieci elektronicznej.Wpisanie informacji dla danego punktu pomia¬ rowego do scisle okreslonych komórek pamieci najjtepuje przez (pqdamie impulsu polozenia, po¬ przez uklad przelaczajacy 10 na uklad sterowa¬ nia adresem 9.Stad w momencie mijania przez przetwornik odksztalcenia powierzchni 1 danego punktu, na wejsciach adresowych pamieci elektronicznej 6 Jest ten sam kod, a wiec rJnformacia z tego punk¬ tu jest zawsze wpisywana do tych samych ko¬ mórek.(Po przejsciu przez przetwornik odksztalcenia powierzchni 1 mierzonego odcinka, zostaija zablo¬ kowane wejscia pamieci elektronicznej 6 przez -uiklad sterowania wejsciami pamieci 5, oral w ukladzie przelaczajacym 10 nastepuje odlaczenie ukladu wytwarzania impulsu polozenia 3 od ukla- c|u sterowania adresem 9 i podlaczenie do tego ukladu generatora stabilnej czestotliwosci 11.J^astapiuje równiez -^tasowanie ukladu sterowania atdresein ? oraz przelaczenie pamieci elektronicz¬ nej fl z funkcji „zapis" na „odczyt". Na wyjsciu paim^i elektronicznej 6 uzyskuje sie cyklicznie odtworzony przebieg odksztalcenia powierzchni.Sygnal z wyfjscia pamieci elektronicznej 6 jest podawany do ukladu analizy harmonicznej 12.Celem otrzymania pomiaru amplitudy harmo- 5 nicznych odksztalcenia powierzchni przy wyko¬ rzystaniu dowolnej czesci listwy pomiarowej isygnal z ukladu wytwarzania impulsu polozenia 8 ijesit podawany na cyfrowy licznik pomiarowy 13, iskad poprzez przetwornik cydrowo-analogowy 14 jest .podawany na komparator 15. Po zakonczeniu pomiaru, stan wyjsc cyfrowego licznika pomiaro¬ wego 13 jest okreslony przez ilosc punktów sygna¬ lizacji polozenia, które znajdowaly sie na mierzo¬ nym odcinku, a na wyjsciu przetwornika cyfrowo- -analogowego 14 wartosc napiecia jest proporcjo¬ nalna do ilosci tych punktów.Przy odtwarzaniu przebiegu zapamietanego w pamieci elektronicznej 6,, na wejscie cyfrowego licznika odtwarzania 16 jest podawany przez uklad przelaczajacy 10 sygnal z generatora stabil¬ nej czestotliwosci 11, a sygnal z wyjscia cyfro¬ wego licznika odtwarzania 16 jest podawany po¬ przez przetwornik analogowo-cyfrowy 17 na wej¬ scie komparatora 15. Przy zrównaniu sie stanów wyjsc cyfrowego licznika pomiarowego 13 i cy¬ frowego licznika odtwarzania 16, napiecia na wyjsciach przetworników analogowo-cyfrowych 14 i 17 sa równe, wobec czego na wyjsciu kompara¬ tora 15 pojawia sie impuls, który jest podawany na wejscia kasujace ukladu sterowania adresem 9 ¦i cyfrowego licznika odtwarzania 16 w zwiazku z czym proces odtwarzania sygnalu rozpoczyna sie od poczatku.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru harmonicznych odksztalcen powierzchni, zwlaszcza poszycia statku, znamien¬ ny tym, ze mierzony odcinek lezacy na rozpatry¬ wanej powierzchni zostaje podzielony na odcin¬ ki przy pomocy przylozonej listwy z naniesiona liczba punktów pomiarowych równo oddalonych od siebie, a amplitudy odksztalcenia powierzchni w tych punktach pomiarowych mierzone sa przy pomocy przesuwanej wzdluz listwy karetki, za¬ wierajacej przetwornik odksztalcenia powierzchni oraiz uklad wytwarzania impulsu i zostaja one zapamietale w pamieci elektronicznej, a nastep¬ nie po skonczonym pomiarze odtwarzane sa ze stabilna czestotliwoscia, wieksza od czestotliwosci zapisu calego przebiegu odksztalcenia po¬ wierzchni. 2. Uklad do pomiaru harmonicznych odksztalr e?n powierzchnia zwlaszcza poszycia statku, zna¬ mienny tym, ze ma dwa cyfrowe liczniki (13) i (16) r' komparator (15), przy czym wejscie cyfrowego licznika pomiarowego (13) jest polaczone z ukladem wytwarzania impulsu polozenia (8), a wejscie cy¬ frowego licznika odtwarzania (16) poprzez uklad przelaczajacy (10) jest polaczone z generatorem stabilnej czestotliwosci (11), zas wyjscia tych licz¬ ników sa polaczone z komparatorem (15), którego wyjscie jest polaczone z wejsciem kasujacym ukladu sterowania adresem (9) i wejsciem kasur jaeymr cyfrowego licznjka odtwarzania (16). 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60116 756 8 ®— ffól— nz__ 41 <*r l_ 74 j ily ¦—ju r I4J" 0 ~S 0 [ PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru harmonicznych odksztalcen powierzchni, zwlaszcza poszycia statku, znamien¬ ny tym, ze mierzony odcinek lezacy na rozpatry¬ wanej powierzchni zostaje podzielony na odcin¬ ki przy pomocy przylozonej listwy z naniesiona liczba punktów pomiarowych równo oddalonych od siebie, a amplitudy odksztalcenia powierzchni w tych punktach pomiarowych mierzone sa przy pomocy przesuwanej wzdluz listwy karetki, za¬ wierajacej przetwornik odksztalcenia powierzchni oraiz uklad wytwarzania impulsu i zostaja one zapamietale w pamieci elektronicznej, a nastep¬ nie po skonczonym pomiarze odtwarzane sa ze stabilna czestotliwoscia, wieksza od czestotliwosci zapisu calego przebiegu odksztalcenia po¬ wierzchni.
  2. 2. Uklad do pomiaru harmonicznych odksztalr e?n powierzchnia zwlaszcza poszycia statku, zna¬ mienny tym, ze ma dwa cyfrowe liczniki (13) i (16) r' komparator (15), przy czym wejscie cyfrowego licznika pomiarowego (13) jest polaczone z ukladem wytwarzania impulsu polozenia (8), a wejscie cy¬ frowego licznika odtwarzania (16) poprzez uklad przelaczajacy (10) jest polaczone z generatorem stabilnej czestotliwosci (11), zas wyjscia tych licz¬ ników sa polaczone z komparatorem (15), którego wyjscie jest polaczone z wejsciem kasujacym ukladu sterowania adresem (9) i wejsciem kasur jaeymr cyfrowego licznjka odtwarzania (16). 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60116 756 8 ®— ffól— nz__ 41 <*r l_ 74 j ily ¦—ju r I4J" 0 ~S 0 [ PL
PL20842278A 1978-07-13 1978-07-13 Method and system for measuring harmonic surface deformations particularly those of boat shell plating PL116756B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20842278A PL116756B1 (en) 1978-07-13 1978-07-13 Method and system for measuring harmonic surface deformations particularly those of boat shell plating

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20842278A PL116756B1 (en) 1978-07-13 1978-07-13 Method and system for measuring harmonic surface deformations particularly those of boat shell plating

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL208422A1 PL208422A1 (pl) 1980-03-24
PL116756B1 true PL116756B1 (en) 1981-06-30

Family

ID=19990567

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL20842278A PL116756B1 (en) 1978-07-13 1978-07-13 Method and system for measuring harmonic surface deformations particularly those of boat shell plating

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL116756B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL208422A1 (pl) 1980-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3881184A (en) Adaptive digital servo system
ATE42007T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur aufnahme und wiedergabe von analogen signalen.
ATE8950T1 (de) Vorrichtung zum nachweis von ungleichmaessigkeiten in der zeitkodeadresse kennzeichnend aufgezeichnete informationssignale.
EP0315372A3 (en) Digital signal recording apparatus
PL116756B1 (en) Method and system for measuring harmonic surface deformations particularly those of boat shell plating
GB1513003A (en) Recorder apparatus
KR890015202A (ko) 트랙 서치회로 및 트랙 서치방법
JP3162058B2 (ja) 信号の符号化方法及び装置
US2972136A (en) Data handling system and magnetic switching network therefor
JPS56159841A (en) Magnetic disc medium and its defect inspection device
JPS55163697A (en) Memory device
SU691914A1 (ru) Устройство дл контрол преобразователей угол/код
SU864138A1 (ru) Устройство дл регистрации информации
SU924509A1 (ru) Регистрирующее устройство с точечной записью
SU1216796A1 (ru) Устройство дл проверки параметров магнитных головок
JPS5810238Y2 (ja) テ−プ走行位置表示装置
SU909684A1 (ru) Устройство дл воспроизведени фазомодулированных сигналов
SU605266A1 (ru) Устройство дл измерени поперечных перемещений магнитной ленты
SU964717A1 (ru) Устройство дл контрол стирающей магнитной головки
SU935982A1 (ru) Устройство дл моделировани тракта магнитной записи-воспроизведени
SU911588A1 (ru) Устройство дл контрол преобразователей угла поворота вала в код
SU1674260A1 (ru) Устройство дл считывани цилиндрических магнитных доменов
SU746558A1 (ru) Устройство дл контрол влажности промышленных материалов
SU809389A1 (ru) Аналоговое запоминающее устрой-CTBO
JPS57150109A (en) Rotary head type reproducer