Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru i dyskretyzacji profili powierzchni.Znane i stosowane dotychczas sposoby pomiaru i dyskretyzacji profili polegaja na próbkowaniu w sta- hch odstepach czasu sygnalu analogowego, uzyskiwanego na wyjsciu profilografometru. Uklady do realiza¬ cji tego sposobu zawieraja jako istotny element przetwornik analogowo-cyfrowy z bramka czasowa. W dalszej analizie otrzymanych próbek sygnalu zaklada sie, ze kolejne odcinki drogi przebytej przez konców ke pomiarowa profilografometru sa stale. W zwiazku z tym uzyskiwany cyfrowy opis profilu obarczony jest bledem. Ponadto, dla celów cyfrowej obróbki danych, rozpoznania parametrów struktury geometrycznej powierzchni, zachodzi potrzeba uzyskiwania dyskretnego opisu profili powierzchni w stalych okreslonych przedzialach dlugosci biezacej.Sposób pomiaru, wedlug wynalazku, polega na tym, ze sygnal analogowy, uzyskiwany na wyjsciu profilografometru, próbkuje sie co staly odcinek drogi przebytej przez koncówke pomiarowa profilografo¬ metru. W nowoopracowanym rozwiazaniu przetwornik analogowo-cyfrowy, dolaczony do wyjscia profilo¬ grafometru, sterowany jest z fotoelektrycznego ukladu przetwornika drogi, którego sygnal wyjsciowy uzalezniony jest od polozenia koncówki pomiarowej profilografometru wzgledem powierzchni badanej.Wyjscie przetwornika analogowo-cyfrowego dolaczone jest do wejscia rejestratora poprzez muliplekser i konwerter kodu. Praca wszystkich wymienionych bloków steruje uklad sterujacy, polaczony z programowa¬ nym licznikiem danych, za pomoca którego wprowadza sie do ukladu informacje o ilosci próbek,jaka nalezy pobrac z badanego profilu powierzchni.Korzysci techniczne, wynikajace ze stosowania rozwiazania wedlug wynalazku, polegaja na mozliwosci próbkowania sygnalu chropowatosci w funkcji drogi i wprowadzania danych w postaci dogodnej do dalszej obróbki na elektroniczna maszyne cyfrowa, co z kolei zapewnia uzyskanie znaczenie wiecej informacji o stanie powierzchni badanej, w przeciwienstwie do stosowanych powszechnie konwencjonalnych parametrów chropowatosci.Przedmiot wynalazku jest pokazany w przykladzie wykonania na rysunku przedstawiajacym schemat blokowy ukladu do pomiaru i dyskretyzacji profilu powierzchni.Jak pokazano na rysunku, na wejsciu ukladu wlaczony jest profilografometr 1, którego wyjscie pola¬ czone jest z wejsciem przetwornika analogowo-cyfrowego 2. Pozostale wejscia przetwornika analogowo- cyfrowego 2 polaczone sa z wyjsciem ukladu sterujacego 3 oraz z wyjsciem fotoelektrycznego ukladu przetwornika drogi 4. Wyjscie przetwornika analogowo-cyfrowego 2 doprowadzone jest poprzez multiple¬ kser 5 i konwerter kodu 6 do wejscia rejestratora 7. Jako rejestrator 7 zastosowano dziurkarke, ze wzgledu na2 116109 wystarczajaca szybkosc rejestracji oraz latwosc przechowywania danych na tasmie perforowanej. Praca ukladu steruje uklad sterujacy 3, polaczony z programowanym licznikiem danych 8, za pomoca którego wprowadza sie do ukladu informacje o ilosci próbek, jaka nalezy pobrac i zarejestrowac z badanego profilu.Ilosc pobieranych próbek ustalona jest w zaleznosci od dlugosci standardowego odcinka elementarnego dla powierzchni, przy okreslonym rodzaju obróbki. Uklad sterujacy 3 polaczony jest z przetwornikiem analogowo-cyfrowym 2, multiplekserem 5, konwerterem kodu 6 i rejestratorem 7. Profilografometr 1 zmienia rzeczywisty profil powierzchni na sygnal analogowy, charakteryzujacy profil obserwowany. Z przesuwem koncówki pomiarowej profilografometru 1 zwiazana jest praca przetwornika drogi 4, który stanowi analogowo-cyfrowy fotoelektryczny przetwornik kodowy z wymiennymi plytkami kodowymi.Dzieki temu, do przetwornika analogowo-cyfrowego 2 wysylane saimpulsy w róznych odstepach czasu, ale w stalych odstepach drogi przebytej przez czujnik profilografometru 1. Odstepy te mozna zmieniac poprzez wymianeplytek kodowych przetwornika drogi 4. Otrzymany na wyjsciu przetwornika analogowo-cyfrowego 2 sygnal doprowadzony jest do konwertera kodu 6, który zamienia kod BCD na dowolny kod urzadzenia wyjsciowego.System pracuje w asynchronicznym cyklu sekwencyjnym.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru i dyskretyzacji profilipowierzchni, polegajacyBa zamianie, za pomocaprofilografo¬ metru, rzeczywistego profilu powierzchni na sygnal analogowy, znamienny tym, ze otrzymany sygnal analogowy próbkuje sie co staly odcinek drogi przebytej przez koncówke pomiarowa profilografometru (1). 2. Uklad do pomiaru i dyskretyzacji profili powierzchni, zawierajacy profilografometr polaczony z przetwornikiem analogowo-cyfrowym, znamienny tym, ze posiada uklad przetwornika drogi (4), polaczony z wyjsciem profilografometru (1) i wejsciem przetwornika analogowo-cyfrowego (2), którego wyjscie dopro¬ wadzone jest do wejscia rejestratora (7) poprzez multiplekser (5) i konwerter kodu (6), przy czym przetwornik analogowo-cyfrowy (2), multiplekser (5), konwerter kodu (6) i rejestrator (7) polaczone sa z ukladem sterujacym (3), który z kolei jest polaczony z programowanym licznikiem danych (8), gdzie wprowadza sie informacje o ilosci próbek, jaka nalezy pobrac z badanego profilu.Prac. Poligia£ UP PRL. Naklad 120 egz.Cena 100 zl PL