Przedmiotem wynalazku jest sposób testowania niedopasowania ukladów elektronicznych o dwu impedancjach charakterystycznych. Umozliwia on testowanie niedopasowania wzgladem dwu impe¬ dancji charakterystycznych ZQ i Z0/2. Testowanie niedopasowania wzgledem impedancji ZG/2 dotyczy takich ukladów o podwójnych i symetrycznych wzgledem siebie wrotach, które sa ze soba bezpo¬ srednio polaczone wewnatrz ukladu badanego.Znany sposób testowania niedopasowania w ukla¬ dach elektronicznych o dwu znamionowych impe¬ dancjach charakterystycznych, ZQ i Z0/2, polega na tym, ze za pomoca sprzegacza kierunkowego o im¬ pedancji charakterystycznej ZQ pobudza i wyodreb¬ nia sie fale odbita zarówno przy testowaniu poje¬ dynczych wrót o impedancji charakterystycznej Z0 jak i jednego z podwójnych wrót impedancji cha¬ rakterystycznej Z0/2. W tym ostatnim przypadku testowanie niedopasowania na badanych wrotach odbywa sie na tle niedopasowania, która pochodzi od niedopasowania impedancji charakterystycznej sprzegacza kierunkowego ZQ do znamionowej im¬ pedancji charakterystycznej ukladu badanego ZQ/2 oraz od niedopasowania wprowadzonego przez po¬ jemnosc drugich, nie wykorzystanych wrót, wcho¬ dzacych w sklad podwójnych wrót ukladu bada¬ nego. Wspólczynnik fali stojacej tla w tym przy¬ padku jest wiekszy niz 2. Jezeli natomiast wyeli¬ minuje sie wplyw pojemnosci drugich, niewyko¬ rzystanych wrót przez obciazenie ich rezystancja 10 15 25 o wartosci ZG, to wspólczynnik fali stojacej tla po¬ wiekszy sie do wartosci 3. Sposób ten jest z tych wzgledów klopotliwy w stosowaniu a w szczegól¬ nosci w automatyzowaniu testowania.Inny znany sposób testowania niedopasowania ukladów elektronicznych o dwu znamionowych im¬ pedancjach charakterystycznych Z0 i ZQ/2 za po¬ moca sprzegacza kierunkowego o impedancji cha¬ rakterystycznej Z0 polega na wykorzystaniu spe¬ cjalnego przejscia transformatorowego o przeklad¬ ni j/_2, transformujacego impedancje Z0/2 na ZQ.Przejscie to w wykonaniu rezystorowym zaostrza wymagania na kierunkowosc sprzegacza kierun¬ kowego o okolo 15 dB a w wykonaniu na obwo¬ dach o stalych rozlozonych nie gwarantuje doklad¬ nosci pomiaru w szerokim pasmie czestotliwosci.Istota sposobu testowania niedopasowania na po¬ dwójnych wrotach wedlug wynalazku jest synfazo- we, kierunkowe pobudzanie podwójnych wrót ukla¬ du badanego z dwu oddzielnych torów o impe¬ dancji charakterystycznej Z0 kazdy, zasilanych ze wspólnego zródla sygnalu poprzez dzielnik mocy oraz wykorzystanie do obserwacji tylko fali odbi¬ tej z jednego z tych torów.Zaleta tego sposobu jest mozliwosc testowania niedopasowania zarówno na podwójnych jak i na pojedynczych wrotach ukladu badanego, przy czym w obu przypadkach dokladnosc pomiaru okreslona jest kierunkowoscia pojedynczego sprzegacza. Po¬ nadto przedstawiony sposób nie wymaga stosowa- 112 509112 509 3 nia sprzegaczy kierunkowych o podwyzszonej kie- runkowosci.Przedmiot wynalazku jest pokazany na przykla¬ dzie wykonania na rysunku, na którym przedsta¬ wiono uklad pomiarowy w postaci schematu blo¬ kowego ukladu elektrycznego do testowania niedo¬ pasowania na podwójnych wrotach ukladu bada¬ nego.Sposób testowania niedopasowania za pomoca wynalazku jest nastepujacy. Przy testowaniu po¬ dwójnych wrót ukladu badanego o znamionowej impedancji charakterystycznej równej Z0 sygnal z wobuloskopu 1 doprowadza sie do dzielnika mo¬ cy 2, który dzieli moc sygnalu na dwie równe czesci i zasila nimi wrota 3A i 4A sprzegaczy kie¬ runkowych 3 i 4. Czesci sygnalów z wrót 3A i 4A przekazywane sa w sposób synfazowy poprzez wrota 3B i 4B odpowiednio do wrót 8A i 8B w ukladzie badanym 8. Do niebadanych wrót 8C dolacza sie obciazenie 9 o rezystancji równej ZQ.Brak dopasowania impedancji w podwójnych wro¬ tach 8A i 8B ukladu badanego do impedancji cha¬ rakterystycznych wrót pomiarowych 3B i 4B ukla¬ du do testowania powoduje powstanie w tychze wrotach fal odbitych, które nastepnie przekazywa¬ ne sa odpowiednio do wrót 3D i 4D. Do wrót 3C i 4C sprzegaczy kierunkowych 3 i 4 dolacza sie odpowiednio obciazenie 5 i 6 o rezystancjach rów¬ nych Z0. Fala odbita, wychodzaca z wrót 3D prze¬ kazywana jest do wrót wejsciowych wobuloskopu 1, na którego ekranie podlega wykresleniu w po¬ staci zaleznosci poziomu fali odbitej od czestotli¬ wosci. Fala odbita wychodzaca z wrót 4D, wytra¬ cana jest na dopasowanym obciazeniu 7, zalaczo¬ nym do wrót 4D, jako niosaca te sama informacje o niedopasowaniu co fala wychodzaca z wrót 3D.Przy testowaniu pojedynczych wrót 8C ukladu badanego 8 o znamionowej impedancji charakte¬ rystycznej Z0 wrota te zalacza sie do wrót pomia¬ rowych 3B ukladu do testowania a wrota pomia¬ rowe 4B obciaza sie rezystancja dopasowania 5 o wartosci ZQ. W tym przypadku sprzegacz kie¬ runkowy 4 nie bierze udzialu w testowaniu niedo¬ pasowania a opisywany uklad zachowuje sie jak pojedynczy sprzegacz kierunkowy 3, zasilany z wo¬ buloskopu 1 poprzez tlumik staly. O ile impedancja 10 charakterystyczna pojedynczych wrót pomiaro¬ wych 3B wynosi ZG to wypadkowa wyjsciowa im¬ pedancji charakterystyczna podwójnych wrót po¬ miarowych 3B i 4B, przeznaczonych do pomiaru niedopasowania jednej impedancji poprzez podwój- 15 ne wrota 3B i 4B, wynosi ZQ/2.Zastrzezenie patentowe Sposób testowania niedopasowania ukladów elek- 20 tronicznych o dwu impedancjach charakterystycz¬ nych, w którym sygnalem wielkiej czestotliwosci z wobuloskopu pobudza sie za pomoca znajdujace¬ go sie w torze sygnalowym sprzegacza kierunko¬ wego lub ukladu mostkowego podwójne lub poje- 25 dyncze wrota ukladu badanego a nastepnie odpro¬ wadza sie sygnal od tych wrót do wobuloskopu i otrzymuje sie na jego ekranie przebieg sygnalu odbitego w funkcji czestotliwosci, znamienny tym, ze podwójne wrota (8A i 8B) ukladu badanego (8) 30 pobudza sie synfazowo z dwu oddzielnych torów sygnalowych (3 i 4) zasilanych z wobuloskopu (1) poprzez dzielnik mocy (2), przy czym sygnal odbi¬ ty od wrót (8B) wytraca sie w jednym torze na dopasowanym obciazeniu (7) o rezystancji charak- 35 tery stycznej, natomiast sygnal odbity od wrót (8A) po przejsciu przez drugi tor doprowadza sie do wobuloskopu (1). 3 4^ 7 r / r I SC 8B 8A / O01 4 C 1 r \ z 1 r / / r * . JIM p- RSW Z.G. W-wa, Srebrna 16, z. 389-81/0 (Cena 45 zl 120+20 egz. PL