Przedmiotem wynalazku jest -sposób pomiaru polysku zwlaszcza powierzchni lakiero¬ wanych. Przedmiotem wynalazku jest takze przyrzad do pomiaru polysku takich powierzchni.Dotychczasowy stan techniki. Znane dotychczas 5 sposoby pomiaru polysku powierzchni lakierowanych mozna podzielic na dwie zasadnicze grupy, metod obiek¬ tywnych i metod subiektywnych. Do grupy metod obiek- . tywnych zalicza sie wszystkie sposoby pomiaru polysku na drodze fotoelektrycznej. Sposób ten realizowany jest 10 na przyklad w polyskomierzu Langego zawierajacym fotoelement, który dokonuje pomiaru intensywnosci swia¬ tla odbitego pod katem 45° od badanej powierzchni i od polerowanej plyty ze szkla czarnego lub mlecznego. Stwier¬ dzono jednak, ze wyniki pomiarów polysku uzyskane tym 15 sposobem nie daja najlepszych rezultatów w zastosowa¬ niu do przedmiotów uzytkowych. Oko ludzkie odbiera bowiem subiektywnie jakosc powierzchni lakierowanych, przy czym ta subiektywna ocena nie jest tozsama z wy¬ nikiem dokonanego pomiaru, w którym mierzy sie je¬ dynie zdolnosc odbicia swiatla.Do grupy znanych metod pomiarowych polegajacych na subiektywnych ocenach jakosci powlok mozna zali¬ czyc na przyklad metode wzorców, a takze metode skal kontrastowych, w tym metode podwójnych linii oraz podwójnych klinów.Metoda wzorców jest bardzo przydatna w praktyce przemyslowej, ale posiada te niedogodnosc, ze wymaga okresowej wymiany wzorców w wyniku ich starzenia sie.Pozostale sposoby pomiaru polysku, gdzie jako znaki 30 20 25 testowe stosowane sa cyfry, litery lub proste figury geo¬ metryczne o stopniowanych wielkosciach, pozwalaja oce¬ niac po czesci bezwiednie — ostrosc odbicia lustrzane¬ go. Jednak wielkosc stopniowania przyjetych znaków tes¬ towych okreslana jest w rózny sposób i dosc dowolnie, co wplywa niekorzystnie na dokladnosc pomiaru.Ponadto stosowanie cyfr, liter i róznych figur w me¬ todach zwierciadlanych stwarza te niedogodnosc, ze w czasie rozpoznawania obrazu na badanej powloce, obser¬ wator czesto odgaduje dana wielkosc, poniewaz jest ona slabo widoczna. Wszystko to sprawia, ze powtarzalnosc wyników oraz klasyfikacja liczbowa polysku u róznych obserwatorów przy zastosowaniu opisanych wyzej metod jest rózna i moze prowadzic do blednych ocen.W metodzie podwójnych linii oraz podwójnych kli¬ nów, gdzie odstep miedzy liniami jest równy grubosci linii, równiez stosuje sie stopniowanie grubosci linii. Gru¬ bosc linii moze byc stopniowana np. wg szeregu Renarda R 10 lub R 20 o róznych ilorazach ciagu, które dobiera sie w zaleznosci od wykonczenia powierzchni lakierowanej.Stanowi to równiez pewna niedogodnosc w eksploatacji przyrzadu, a skokowa zmiana grubosci i odstepu linii uniemozliwia znalezienie wartosci posrednich i stworze¬ nia pelniejszej i dokladniejszej klasyfikacji liczbowej po¬ lysku.Dotychczas nie udalo sie subiektywnych metod oceny jakosci powierzchni lakierowanych zastapic w pelni me¬ toda obiektywnego pomiaru polysku. Rózne wlasnosci wykonczonej powierzchni musza byc bowiem oceniane wspólnie i po czesci (jak w przypadku elementów me- 108 704108 704 blowych) nalezy uwzglednic równiez aspekty czysto este¬ tyczne. Stad metody subiektywne musza skutecznie uzu¬ pelniac metody obiektywne, tak zeby ogólna ocena ja¬ kosci wykonczenia powierzchni nie byla sprzeczna z oce¬ na wizualna uzytkownika.Istota wynalazku oraz jego skutki techniczne.W sposobie pomiaru polysku powierzchni lakierowanych wedlug wynalazku co najmniej dwa liniowe zródla swia¬ tla przesuwa sie równolegle wzgledem siebie az do poja¬ wienia sie na badanej powierzchni granicy cienia roz¬ dzielajacego odbite strumienie swietlne. W tym momencie zatrzymuje sie ruch zródel swiatla a powstale miedzy nimi a odleglosci miCfzyi sie znanymi urzadzeniami. Wielkosci odleglosci 'stantfwia podstawe klasyfikacji liczbowej po¬ lysku. Im gorsza} jakosc wykonczenia powierzchni lakie- -o^ewanej^tygL wpisze rozproszenie swiatla a tym samym " "wieksza- odleglosc miedzy zródlami swiatla w momencie powstawania^ granicy cienia.W przyrzadzie do pomiaru polysku powierzchni la¬ kierowanych co najmniej dwa zródla swiatla umieszczone sa w zamknietej obudowie, równolegle wzgledem siebie i pod katem do podstawy przyrzadu przy czym przy¬ najmniej jedno zródlo swiatla jest przesuwne i jest po¬ laczone ze znanym urzadzeniem do mierzenia odleglosci.Korzystnie jest, gdy zródla swiatla umocowane sa na plycie z otworem, umieszczonej w obudowie i usytuo¬ wanej" pod katem do podstawy. W takiej sytuaqi przy¬ najmniej jedno ze zródel swiatla zamocowane jest na przesuwnym suporcie, z którym polaczone jest obrotowo urzadzenie mierzace odleglosc miedzy zródlami swiatla.W przedniej scianie przyrzadu umieszczony jest okular z ukladem optycznym o osi ustawionej do podstawy przy¬ rzadu pod katem odpowiadajacym katowi padania swia¬ tla. W podstawie przyrzadu, w czesci pola widzenia oku¬ laru, umieszczona jest wzorcowa plytka a za nia, w plasz¬ czyznie stanowiacej przedluzenie plytki usytuowany jest otwór, przez który strumien swiatla pada na badana po¬ wierzchnie.Najdokladniejsze wyniki pomiaru uzyskuje sie, gdy zródla swiatla maja rozklad widmowy zblizony do roz¬ kladu widmowego swiatla dziennego. Powstaja wtedy bowiem warunki oceny zblizone do warunków rzeczy¬ wistych, w których oko ludzkie najprecyzyjniej rozróz¬ nia szczególy obrazu odbitego od powloki z uwzgled¬ nieniem walorów barwy powierzchni. Usytuowanie w jednym polu widzenia badanej powierzchni i plyty wzor¬ cowej umozliwia bezposrednie porównanie odbitych obrazów na wzorcu i na badanej powierzchni. Staly kie¬ runek obserwacji i zawsze ta sama odleglosc obserwa¬ tora od obrazu wplywaja korzystnie na powtarzalnosc wyników.Sposób pomiaru polysku wedlug wynalazku pozwala rozpoznawac granice cienia w sposób ciagly i umozliwia ocene polysku w szerokim zakresie liczbowym. Przyrzad natomiast umozliwia prowadzenie pomiarów na duzym odcinku badanej powierzchni, co pozwala wychwycic i wyrazic liczbowo wplyw róznych czynników i efek¬ tów powierzchniowych na jakosc wykonczenia powierz¬ chni lakierowanej.Pomiar polysku moze byc stosowany w czasie kolej¬ nych operacji wykanczania powierzchni, dzieki czemu pozwala na korekcje podstawowych operacji technolo¬ gicznych po zeschnieciu i kolejnych polakierowaniach powlok lakierniczych co wplywa korzystnie na obnize¬ nie pracochlonnosci procesów wykanczania powierzchni.Objasnienie figur rysunku. Przyrzad wedlug wy¬ nalazku uwidoczniono w przykladowym wykonaniu na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia przekrój podluz¬ ny przyrzadu, fig. 2 przedstawia wzajemne usytuowanie 5 zródel swiatla i ich polaczenie z urzadzeniem mierzacym w widoku z góry, natomiast fig. 3 przedstawia kolejne etapy tworzenia sie granicy cienia miedzy dwoma odbi¬ tymi strumieniami swietlnymi od badanej powloki, wi¬ dzianego przez obserwatora w okularze przyrzadu. io szczególowy opis przykladu wykonania wynalaz¬ ku. Przyrzad sklada sie z drewnianej obudowy 1, wew¬ natrz której znajduje sie plyta 2 z prostokatnym otwo¬ rem 3. Plyta 2 jest pochylona wzgledem podstawy przy¬ rzadu pod katem 45°. Na plycie 2, nad otworem 3, za- 15 mocowane sa równolegle dwie swietlówki typu de mx z tzw. poprawionym oddawaniem barw w wersji cieplno- -bialej o temperaturze barwowej 3000 °K. Swietlówka 4 jest na stale zamocowana do plyty 2. Swietlówka 5 jest ruchoma i moze byc odsuwana i dosuwana do swietlów- 20 ki 4 za pomoca wrzeciona 6 sruby mikrometrycznej mo¬ cowanego obrotowo do suportu 7. Sanki 8 suportu 7 prze¬ mieszczane sa na prowadnicach 9, na których umocowa¬ no miedzy saniami 8 a boczna sciana przyrzadu sprezy¬ ny 10 dosuwajace swietlówke 5 do swietlówki 4 ruchem 25 ciaglym. Za swietlówkami wewnatrz obudowy przy¬ rzadu, jest umieszczony matowy czarny ekran 11 zwiek¬ szajacy dokladnosc odczytu oraz zabezpieczajacy swie¬ tlówki przed osadzeniem sie na nich pylu i kurzu.W przedniej sciance przyrzadu wbudowany jest oku- 30 lar 12 z ukladem optycznym. Stanowi go soczewka 13, w ognisku której umieszczona jest matówka 14. Os oku¬ laru 12 ustawiona jest pod katem 45° do podstawy przy¬ rzadu, w której usytuowany jest otwór 15, a w jego prze¬ dluzeniu, wzorcowa plyta 16 z czarnego polerowanego 35 szkla. Tylna sciana przyrzadu ma otwory 17 dla lepszego odprowadzenia ciepla.Przyrzad zaopatrzony jest ponadto w uchwyty 18 ulat¬ wiajace manipulacje w czasie pomiaru. Podstawa przy¬ rzadu jest wyklejona miekkim filcem, który w czasie rha- 40 nipulacji przyrzadem oczyszcza badana powierzchnie z pylu i kurzu a jednoczesnie chroni ja przed uszkodze¬ niem. Na sciance bocznej przyrzadu przewidziano miejsce na umieszczenie odpowiedniej tabeli klasyfikujacej ja¬ kosc wykonczenia powierzchni lakierowanej, w zalez- 45 nosci od wielkosci odsuniecia swietlówek w mm.Przyrzad ustawia sie na badanej powierzchni 19 i wla¬ cza sie zródla swiatla, Strumien swietlny przez otwór 3 w plycie 2 i otwór 15 w podstawie przyrzadu pada na badana powierzchnie pod katem 45° a jego odbicie pod EO takim samym katem jest obserwowane przez okular. Po¬ krecajac wrzeciono 6 sruby mikrometrycznej ze skala przesuwa sie swietlówke 5 wzgledem swietlówek 4. W trakcie odsuwania sie od siebie swietlówek, na badanej powierzchni tworzy sie stopniowo cien, az do powstania 55 wyraznej granicy rozdzialu dwóch liniowych zródel swiatla.Fazy tworzenia sie charakterystycznego cienia na ba¬ danej powierzchni w czasie odsuwania od siebie swietló¬ wek pokazano na fig. 3 rysunku. Faza a przedstawia obraz swietlówek polaczonych. Faza b przedstawia moment 60 tworzenia sie cienia stopniowo wzdluz calej dlugosci swietlówek w miare ciaglego odsuwania od siebie zródel swiatla. Faza c przedstawia moment zakonczenia two¬ rzenia sie cienia stanowiacego wyrazna granice rozdzialu dwóch liniowych zródel swiatla odbitych od powloki 65 lakierniczej. Dla tego momentu dokonuje sie odczytu108 704 5 w milimetrach na wrzecionie sruby mikrometrycznej.Male wartosci odsuniecia rzedu kilku setnych milimetra klasyfikuja wykonczenie powloki na polysk zwierciadla¬ ny i wysoki, natomiast duze wartosci rzedu kilku mili¬ metrów klasyfikuja wykonczenie powloki na polysk zwier¬ ciadlany i wysoki, natomiast duze wartosci rzedu kilku mi¬ limetrów klasyfikuja wykonczenie powloki na mat polys¬ kujacy lub mat.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru polysku, zwlaszcza powierzchni lakierowanych, w którym mierzy sie intensywnosc swiatla odbitego od badanej powierzchni pod katem, znamien¬ ny tym, ze co najmniej dwa liniowe zródla swiatla prze¬ suwa sie równolegle wzgledem siebie az do pojawienia sie na badanej powierzchni granicy cienia rozdzielaja¬ cego odbite strumienie swietlne, w którym to momen¬ cie zatrzymuje sie ruch zródel swiatla a powstale mie¬ dzy nimi odleglosci mierzy sie znanymi urzadzeniami. 2. Przyrzad do pomiaru polysku, zwlaszcza powierz- 6 chni lakierowanych, w ksztalcie zamknietej obudowy, ze zródelm swiatla umieszczonym na usytuowanej pod katem do badanej powierzchni przegrodzie z otworami znamienny tym, ze na przegrodzie umieszczone sa co 5 najmniej dwa liniowe zródla swiatla (4 i 5) ustawione równolegle wzgledem siebie przy czym przynajmniej jedno zródlo swiatla (5) jest przesuwne i jest polaczone ze znanym urzadzeniem do mierzenia odleglosci a po¬ nadto przyrzad ma w przedniej sciance okular (12) z 10 ukladem optycznym o osi ustawionej wzgledem podsta¬ wy przyrzadu pod katem odpowiadajacym katowi pa¬ dania swiatla przy czym w podstawie przyrzadu, w polu widzenia okularu (12), znajduje sie otwór (15), na prze¬ dluzeniu którego, w kierunku okularu, umieszczona jest 15 wzorcowa plytka (16). \— 3. Przyrzad wedlug zastrz. 2 znamienny tym, ze zródla swiatla (4 i 5) maja najkorzystniej rozklad wid¬ mowy zblizony do rozkladu widmowego swiatla dzien¬ nego.108 704 12. 1 LZG Z-d 3, z. 289/1400/51, n. 115 + 20 egz. f. A4 Cena 45 zl PL