Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do pomiaru grubosci przezroczystych przedmiotów, zwlaszcza szkla¬ nych plyt i scian, szklanych pojemników o dowolnym ksztalcie.Znane metody optycznego pomiaru grubosci przedmiotów przezroczystych mozna podzielic na interferen¬ cyjne, dyfrakcyjne i odbiciowe. Metody interferencyjne, stosowane szczególnie przy pomiarach cienkich warstw charakteryzuja sie duza dokladnoscia i mozliwoscia pomiaru w swietle przechodzacym oraz odbitym. Pomiar polega na odczycie przesuniecia prazków interferencyjnych, co wykonuje sie przy pomocy mikroskopu lub innego urzadzenia. Znane jest rozwiazanie miernika interferencyjnego z polskiego opisu patentowego patent nr 60324 oraz z ksiazki pt. II Pracownia Fizyczna, cz. II - UAM 1973 Poznan, str. 87. Metody dyfrakcyjne sa mniej dokladne niz interferencyjne, stosowane przy pomiarach grubosci do kilkunastu milimetrów. Pomiar grubosci, który polega na rejestracji promieni ugietych na przedmiocie, wykonuje sie w swietle przechodzacym. Znane jest rozwiazanie miernika dyfrakcyjnego z opisu patentowego ZSRR patent nr 532000. Metody odbiciowe charakte¬ ryzuja sie dobra dokladnoscia, znajduja zastosowanie przy pomiarach grubosci do kilku centymetrów. Pomiar grubosci polega na rejestracji natezenia wiazek odbitych od przedniej i tylnej powierzchni przedmiotu, przy tym wykorzystuje sie mikroskop.Znane jest jedno rozwiazanie pomiaru grubosci oparte na odbiciu swiatla od powierzchni mierzonego przed¬ miotu. Rozwiazanie takie przedstawione jest w ksiazce M. Grotowskiego pt. Optyka - wydanej przez LTN, Lódz 1954, str.69. Przedmiotowy miernik stanowi standartowy mikroskop optyczny. Istota pomiaru jest nastepujaca.Obiektyw mikroskopowy ustawia sie tak, aby w okularze powstal wyrazny obraz dowolnej dobrze odbijajacej powierzchni, nastepnie miedzy obiektyw i odbijajaca powierzchnie ustawia sie mierzona plytke,przez co obraz przestaje byc wyrazny. Dla ponownego otrzymaniawyraznego obrazuobiektyw mikroskopowy nalezy przesunac do góry na wysokosc h, równa pozornemu wzniesieniu przedmiotu. Odczyt wysokosci H na podzialce sruby podnosnikowej mikroskopu pozwala wyznaczyc grubosc przedmiotu wg wzoru d = h ji_2_ gdzie ni - wspólczynnik zalamania powietrza; n2 - wspólczynnik zalamania materialu mierzonego pr?e"dnliotu.Metody odbiciowe wymagaja znajomosci wspólczynnika zalamania materialu mierzonego przedmiotu, dlatego2 108369 glównie nadaja sie do pomiarów wzglednych, np. kontroli grubosci. Zaleta tych metod jest mozliwosc pomiaru grubosci zamknietych pojemników, ponadto mierniki odbiciowe mozna stosowac do kontroli gladkosci powierz¬ chni przedmiotów. Kazda z wymienionych metod umozliwia bczkontaktowy pomiar grubosci, co równiez jest ich zaleta.Rozwiazanie wedlug wynalazku polega na konstrukcji przyrzadu, w którym dokonuje' sie ogniskowania równoleglej wiazki zmonochromatyzowanego swiatla na powierzchni przedmiotu oo mierzonej grubosci w dwóch polozeniach ogniskujacego, poosiowo-przesuwnie umieszczonego obiektywu i odbioru równoleglej wiazki zwrotnej swiatla odbitego. Odleglosc pomiedzy polozeniami obiektywu pomnozona przez wspólczynnik zalamania materialu, z którego jest wykonany przedmiot, wyznacza jego grubosc.Istota przyrzadu jest jego budowa, na która sklada sie podstawa w formie optycznej lawy z umieszczonymi na niej przesuwnymi konikami, na których usytuowane sa poszczególne elementy konstrukcji przyrzadu. Kolejno na konikach sa umieszczone i tak na pierwszym w prowadnicy pionowej pryzma, na drugim koniku rama, a na trzecim kadlub autokolimatora Czolo autokolimatora jest umiesczone w ruchomej sciance ustawionej na ramie i jest zakonczone obiektywem. Przesuwna plytka pomiarowa stanowiaca z pryzma stolik pomiarowy, na którym umieszcza sie badany przedmiot jest polaczona poprzez sworzen z czujnikiem pomiarowym i sruba mikrometry- czna. Na kadlubie autokolimatora jest umieszczony oswietlajacy uklad. Tylna czesc autokolimatora jest pola¬ czona z glowica fotopowielacza, z która polaczony jest miernik pomiarowy. Przyrzad wedlug wynalazku nie znajduje odpowiednika w dotychczasowym stanie techniki w zakresie konstrukcji i pozwala na bezstykowy po¬ miar grubosci przedmiotów przezroczystych o zakresie 0,05 do 2 cm. Szczególnie nadaje sie do kontroli grubosci zamknietych pojemników szklanych, pomiaru grubosci róznych elementów optycznych. Ponadto moze byc przyrzad stosowany do badania chropowatosci powierzchni.Przyrzad wedlug wynalazku jest uwidoczniony w przykladowym wykonaniu na rysunku, który przed¬ stawia ogólny widok przyrzadu w rzucie aksometrycznym.Przyrzad do pomiaru grubosci ma optyczna lawe 1, na której na pierwszym koniku 2 jest umieszczona pryzma 3 osadzona przesuwnie w prowadnicy 4. Na drugim koniku 5 zamocowana jest rama 6, a na trzecim koniku 7 kadlub autokolimatora 8. Czolo 9 autokolimatora jest polaczone z ruchoma scianka 10 i zakonczone obiekty¬ wem 11 sprzezonym z pomiarowa plytka 12, która jest polaczona sworzniem 13 z pomiarowym — zegarowym czujnikiem 14 i mikrometryczna sruba 15. Na kadlubie autokolimatora 8 umieszczony jest oswietlajacy uklad 16. Tylna czesc autokolimatora 8 polaczona jest z fotopowielaczowa glowica 17, z która jest polaczony miernik 18.B£yrzad wedlug wyihalazku umozliwia pomiar grubosci w przedziale od 0,5 do 20mm z dokladnoscia1 w granicach ±0,02 mm. Zakres stosowania przyrzadu jest szeroki, szczególnie przydatny w przypadkach, gdy nie moga byc stosowane mechaniczne metody pomiaru, np. przy mierzeniu precyzyjnych elementów optycznych, elementów o nieregularnym ksztalcie, scian zamknietych pojemników i innych. Ponadto za pomoca przyrzadu mozna sprawdzac chropowatosc powierzchni przedmiotów oraz wyznaczac ich wspólczynnik zalamania swiatla.Pomiar grubosci przezroczystych przedmiotów przebiega wzdluz nastepujacego porzadku. Po wlaczeniu zasilania fotopowielacza i zarówki oswietleniowej, pomiedzy pryzma 3 i plytka 12 ustawia sie przedmiot badany. Po tym, obracajac wrzecionem mikrometru 15 znajduje sie pierwsze maksimum wychylenia wskazówki miernika 18 i odczytuje pierwsze polozenie wskazówki czujnika 14. Obracajac dalej wrzeciono mikrometru znajduje sie drugie maksimum wychylenia wskazówki miernika 18 i odczytuje drugie polozenie wskazówki czujnika 14.Róznica wskazan czujnika pomnozona przez wspólczynnik zalamania materialu przedmiotu mierzonego okresla jego grubosc.Aby uniknac mnozenia, przyrzad mozna wyposazyc w tabele grubosci przedmiotów podajaca wartosc grubosci w funkcji wspólczynnika zalamania i róznicy wskazan czujnika. Jesli zachodzi potrzeba wyznaczenia wspólczynnika zalamania materialu przedmiotu, wówczas nalezy zmierzyc jego grubosc inna metoda i wyzna¬ czyc róznice wskazan czujnika postepujac jak wyzej opisano. Oznaczajac grubosc przedmiotu przez d oraz róznice wskazan czujnika przez h, wspólczynnik zalamania wylicza sie z wzoru n = d/d — h/.Zastrzezenie patentowe Przyrzad do pomiaru grubosci przezroczystych przedmiotów wykorzystujacy lawe optyczna z osadzonymi w jej prowadnicach konikami,znamienny tym, ze na lawie (1) na pierwszym koniku (2) umieszczona jest108369 3 pryzma (3) w prowadnicy (4), na drugim koniku (5) umieszczona jest rama (6) zas na trzecim koniku (7) spoczywa kadlub autokolimatora (8), którego czolo (9) umieszczone jest w ruchomej sciance (10) ustawionej na ramie (6) i zakonczone obiektywem (11) sprzezonym z pomiarowa plytka (12) polaczona sworzniem (13) z pomiarowym czujnikiem (14) i sruba mikrometryczna (15), przy czym na korpusie autokolimatora (8) umiesz¬ czony jest oswietlajacy uklad (16), a tylna czesc autokolimatora (8) jest polaczona z glowica fotopowielacza (17) i polaczonym do niej miernikiem (18). PL