Przedmiotem wynalazku jest impulsowy mier¬ nik indukcyjnosci, zwlaszcza czujników indukcyj¬ nych, przeznaczony zwlaszcza do jednoczesnego pomiaru wielu czujników dlawikowych.Znane sa z literatury M. Lapinski „Miernictwo elektryczne WNT Warszawa 1967, M. Lapinski, W. Wlodarski „Miernictwo wielkosci nieelektrycz¬ nych" WNT Warszawa 1968, A. Jellonek, Z. Kar¬ kowski „Miernictwo radiotechniczne WNT War¬ szawa 1972, uklady mostkowe w których mierzona indukcyjnosc znajduje sie w jednej z galezi most¬ ka a sygnal wyjsciowy odbierany jest w przy¬ padku pomiaru analogowego z przekatnej most¬ ka nie zasilanej ze zródla lub z nastawnych wzor¬ ców w wypadku pomiaru metoda zerowa. Przy jednoczesnej pracy czujników indukcyjnych mie¬ rzonych metoda mostkowa pojawiaja sie bledy pomiarowe spowodowane wystepowaniem sprze¬ zen miedzy czujnikami, które najczesciej eliminu¬ je sie poprzez ekranowanie czujnika oraz sieci pomiarowej, niedogodne jednak w warunkach przemyslowych lub przez zastosowanie odmien¬ nych czestotliwosci pracy dla kazdego mostka po¬ miarowego.Istota wynalazku polega na polaczeniu pierw¬ szego wyjscia przerzutnika bistabilnego z ukla¬ dem rózniczkujacym typu RL, którego indukcyj¬ nosc stanowi mierzona indukcyjnosc indukcyjnego czujnika pomiarowego polaczona równolegle z po¬ ziomujacym wejsciem dwupoziomowego kompara- 10 15 20 25 30 tora napiecia. Pozostale dwa wejscia odniesienia komparatora napiecia sa polaczone ze wzorco¬ wymi zródlami napiec odniesienia dodatnim i uje¬ mnym o modulach napiecia mniejszych od am¬ plitudy napiecia generowanego przez przerzutnik bistabilny a wyjscie dwupoziomowego kompara¬ tora napiecia jest polaczone, korzystnie poprzez uklad formowania, z wejsciem przerzutnika bi¬ stabilnego, którego drugie wyjscie jest polaczone z ukladem pomiarowym okresu impulsów wyj¬ sciowych przerzutnika bistabilnego lub czasu trwania tych impulsów wyjsciowych.Rozwiazanie wedlug wynalazku zapewnia po¬ wiekszenie dokladnosci pomiaru przez powieksze¬ nie czulosci ukladu gdyz do pomiaru indukcyjno¬ sci wyikorzystaje sde obie czesci okresu przerzut¬ nika — stan „jeden" i stan „zero". Ponadto w mierniku uzyskuje sie w prosty sposób kompen¬ sacje wplywu temperatury przez zmiane warto¬ sci jednego z napiec odniesienia powodujaca zmia¬ ne czasu trwania impulsu na wyjsciu komparato¬ ra.Przedmiot wynalazku uwidoczniony jest w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat blokowy miernika, fig. 2 przebiegi napiec w charakterystycznych punktach ukladu, fig. 3 schemat blokowy tego miernika z ukladem pomiarowym dolaczonym do drugiego wyjscia przerzutnika bistabilnego a fig. 4 sche¬ mat blokowy miernika z wlaczonym ukladem for- 108201108201 mujacym miedzy wyjscie komparatora a wejscie przerzutnika.Do jednego wyjscia przerzutnika bistabilnego PB dolaczony jest uklad rózniczkujacy skladajacy sie z rezystora R i szeregowo dolaczonej mierzo- • nej indukcyjnosci Lx czujnika. Równolegle do in- dukcyjnosci Lx dolaczone jest srodkowe porów¬ nawcze wejscie komparatora dwupoziomego K a pozostale wejscia odniesienia dolaczone sa do dwóch wzorcowych zródel napiec odniesienia UN1 w i UN2; Wyjscie komparatora K dolaczone jest do wejscia przerzutnika bistabilnego PB. Równolegle do wyjscia komparatora K dolaczony jest uklad pomiarowy.. £ mierzacy czestotliwosc, okres lub czas*lrwtinia jmpijlsu. Impedancja wejsciowa u- kladu pomiarowego P Obciaza wyjscie kompara¬ tora K powodujac pogorszenie stabilnosci pracy ukladu. Celem* usuniecia tego wplywu zastosowano uklad -pomocniczy miernika, w którym uklad po¬ miarowy P dolaczony jest do drugiego wyjscia *° przerzutnika bistabilnego PB nieobciazonego ukla¬ dem rózniczkujacym R. Gdy na wyjsciu przerzut¬ nika bistabilnego PB pojawia sie „jedynka" wów¬ czas na indukcyjnosci Lx pojawia sie dodatni ekspotencjalny impuls napiecia U2 wyzszego od • obu napiec odniesienia. Gdy napiecie Ua opadajac zrówna sie z dodatnim napieciem odniesienia UN1, wówczas napiecie U, na wyjsciu komparatora K zmieni sie tak, ze pojawia sie skok z „jedynki" do „zera", który przerzuca przerzutnik bistabilny M.PB ze stanu „jeden" w stan „zero". Powoduje to powstanie na indukcyjnosci Lx ujemnego skoku napiecia U8 o. wartosci równej amplitudzie napie¬ cia na wyjsciu, przerzutnika PB. Ten skok napie¬ cia przewyzsza co do wartosci bezwzglednej dru- M gie napiecie odniesienia UNf wskutek czego na wyjsciu komparatora K ponownie pojawia sie sy¬ gnal „jeden"* Ujemny sygnal napiecia U2 zanika ekspotencjal- nie i w momencie zrównania sie z ujemnym na- *° pieciem odniesienia UN2 na wyjsciu komparatora pojawia sie sygnal „zero", który przerzuca prze¬ rzutnik bistabilny PB w stan „jeden", po czym cykl powtarza sie- Na wyjsciu komparatora poja¬ wiaja sie szerokie impulsy dodatnie z krótkimi przerwami zwiazanymi z inercja przerzutu. Im¬ pulsy jte przerzucaja przerzutnik bistabilny ze sta¬ nu „jeden" w stan „zero" i odwrotnie oraz ste¬ ruja uklad pomiarowy P. Opisane dzialanie do¬ tyczy komparatora dajacego na wyjsciu sygnal w „jeden" gdy napiecie porównywane Uf lezy poza przedzialem napiec odniesienia UN1 i Un* a prze¬ rzutnik bistabilny PB wyzwalany jest tylnym zbo¬ czem. Czasy trwania impulsów dodatnich kompa¬ ratora K sa okreslone w przyblizeniu zaleznos- M ciami: przy jedynce na wyjsciu przerzutnik PB 60 przy „zerze" na wyjsciu przerzutnika PB Calkowity okres przebiegu wynosi T = tij + 2tp -+- 65 45 + ti, gdzie tp jest to czas przerzutu — czas sta- nu niestabilnego. Zakladajac, ze czas przerzutu tp spelnia nierównosc otrzymuje sie przyblizony wzór na okres przebiegu T_ai+11,.-(.-j/r^ Lx / ' U0 — 1 — 15 oraz czestotliwosc f = Lx (.-/ U0 1 — V-?M gdzie U0 jest amplituda napiecia impulsów na wyjsciu przerzutnika bistabilnego. A zatem uklad pomiarowy P musi reagowac na okres T, czesto¬ tliwosc f lub czas trwania impulsów tit lub tez Zaleta miernika wedlug wynalazku jest latwosc kompensacji wplywu temperatury poprzez zmiane wartosci jednego z napiec odniesienia przez co zmienia sie czas trwania impulsu ti co przy sta¬ lym w przyblizeniu czasie przerzutu tp umozli¬ wia kompensacje termiczna ukladu oraz wieksza stabilnosc czestotliwosci pracy, gdyz obie czesci napiecia generowanego sa funkcjami mierzonej in¬ dukcyjnosci a czas trwania stanu niestabilnego tp zalezny od parametrów ukladu jest maly. Celem pracy i poprawy warunków przerzutnika bistabil¬ nego PB lub uniezaleznienia typu przerzutnika bi¬ stabilnego PB od typu komparatora K miedzy wyj¬ sciem komparatora K a wejsciem przerzutnika PB wlaczono uklad formowania UF, który dostoso¬ wuje impulsy wyjsciowe komparatora K do wa¬ runków przerzutu przerzutnika PB.Zastrzezenia patentowe 1. Impulsowy miernik indukcyjnosci, zwlaszcza czujników indukcyjnych, skladajacy sie z prze¬ rzutnika, mierzonej indukcyjnosci wlaczonej w uklad rózniczkujacy typu RL, zródel napiec od¬ niesienia, komparatora i ukladu pomiarowego, zna¬ mienny tym, ze zawiera przerzutnik bistabilny (PB) którego pierwsze wyjscie jest polaczone z u- kladem rózniczkujacym RL, przy czym indukcyj- nosc obwodu rózniczkujacego stanowiaca induk- cyjnosc mierzonego miernika (Lx) jest polaczona równolegle z poziomujacym wejsciem komparato¬ ra napiecia dwupoziomowego (K) którego pozostale dwa wejscia odniesienia sa polaczone ze wzorco¬ wymi zródlami napiec odniesienia dodatniego (UN1) i ujemnego (Uni), przy czym moduly napiec wzor¬ cowych (UNl, Uw) sa mniejsze od amplitudy na-108201 piecia generowanego przez przerzutnik bistabilny (Pi*) a wyliscie dwupoziomowego komparatora na¬ piecia (K) jest polaczone z wejsciem przerzutnika bistabilnego (PB), którego drugie wyjscie jest po¬ laczone z ukladem pomiarowym (P). 2. Impulsywny miernik wedlug zastrz. 1, zna¬ mienny tym, ze wyjscie dwupoziomowego kompa- 6 ratora napiecia (K) jest polaczone z ukladem po¬ miarowym (P) okresu T lub czasu trwania im¬ pulsu dodatniego ti2. 3. Impulsowy miernik wedlug zastrz. 1, zna¬ mienny tym, ze wyjscie komparatora (K) polaczo¬ ne jest z wejsciem przerzutnika bistabilnego (PB) poprzez uklad formujacy (UF).PB c=i I J ' I—I Fiq.1 ») ^ i *) i c) 1 i i -¦;¦-¦; k 1 IK \K it \ i \ V f l I" '\ 1 i f i 141 K ' i* i i T 1 XV \ 1 r 'l 1 1 li rr '' " ii u i i i i * 1 '/ L/h " ns ' 1 1 H 1 II 1 II 1 H 1 U - " c t i ? Fi3.2108201 PB ki \_r^~i i T\u"1 T ty"2 r %3 IAF RS r Lx +t«* j t "m Rq.4 Drukarnia Narodowa, Zaklad Nr 6, zam. 356/80 Cena 45 zl PL