PL106839B1 - Sposob pomiaru rownoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych krysztalow - Google Patents

Sposob pomiaru rownoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych krysztalow Download PDF

Info

Publication number
PL106839B1
PL106839B1 PL19077976A PL19077976A PL106839B1 PL 106839 B1 PL106839 B1 PL 106839B1 PL 19077976 A PL19077976 A PL 19077976A PL 19077976 A PL19077976 A PL 19077976A PL 106839 B1 PL106839 B1 PL 106839B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
liquid crystal
planes
cholesterol
layer
liquid crystals
Prior art date
Application number
PL19077976A
Other languages
English (en)
Other versions
PL190779A1 (pl
Inventor
Antoni Adamczyk
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL19077976A priority Critical patent/PL106839B1/pl
Publication of PL190779A1 publication Critical patent/PL190779A1/pl
Publication of PL106839B1 publication Critical patent/PL106839B1/pl

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru równoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych krysztalów przydatny zwlasz¬ cza do testowania szkla optycznego oraz szkla przeznaczonego do produkcji wskazników elektro- optycznych.Przy produkcji precyzyjnych ukladów optycznych i mechanicznych oraz przy produkcji wskazników elektrooptycznych bardzo waznym problemem jest okreslanie równoleglosci plaszczyzn oraz pomiar gladkosci plaszczyzn.Pomiaru gladkosci plaszczyzn dokonuje sie w znany sposób albo mechanicznie przy uzyciu od¬ powiednich wodzików mechanicznych sprzezonych ze wzmacniaczami przesuwu albo poprzez badanie i pomiar figur interferencyjnych swiatla odbitego.W przypadku znanych sposobów opartych na zja¬ wiskach intereferencyjnych konieczne jest uzywa¬ nie drugiej plaszczyzny o wzorcowej gladkosci, przy czym przynajmniej jedna z plaszczyzn, ba¬ dana lub wzorcowa, jest przezroczysta dla swiatla.Interferencyjny sposób pomiaru gladkosci po¬ wierzchni sprowadza sie do pomiaru równoleglosci dwu powierzchni: jednej badanej i drugiej wzor¬ cowej. Sposób ten jest efektywny tylko dla bar¬ dzo gladkich powierzchni badanych, których nie¬ równosci nie przekraczaja kilkunastu dlugosci fali swiatla, natomiast przy wiekszych nierównosciach pomiar mozliwy jest tylko dla bardzo malych po¬ wierzchni. Duze nierównosci powierzchni powoduja powstawanie odbic wielokrotnych i usrednienie /zanik/ zjawisk interferencji. W sposobie takim opartym na obserwacji klasycznych obrazów in¬ terferencyjnych, jak na przyklad w przypadku 5 prazków Newtona, odleglosc miedzy sasiednimi prazkami odpowiada róznicy grubosci szczeliny l Ah= -^, gdzie X jest dlugoscia fali swiatla uzytego do pomiaru. 10 Sposób wedlug wynalazku pomiaru równoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn opiera sie na zjawiskach interferencyjnych ale rózni sie me¬ chanizmem powstawania prazków interferencyj¬ nych. w Sposób pomiaru równoleglosci plaszczyzn lub gladkosci plaszczyzn metoda interferencyjna we¬ dlug wynalazku polega na tym, ze przestrzen po¬ miedzy dwoma plaszczyznami, z których przynaj¬ mniej jedna jest przezroczysta, wypelnia sie ply- 20 nem anizotropowym, którym jest ciekly krysztal o strukturze cholesterolowej i o znanym okresie struktury cholesterolowej L. Nastepnie warstwe cieklego krysztalu oswietla sie równolegla wiazka swiatla bialego lub monochromatycznego interferu- 25 jacego w tej warstwie. W powstalym obrazie in¬ terferencyjnym liczy sie ciemne prazki zawarte po¬ miedzy poszczególnymi punktami i na podstawie ilosci tych prazków okresla sie róznice grubosci warstwy miedzy punktami. W przypadku, gdy so swiatlo pada prostopadle do warstwy cieklego kry- 106 839106 839 sztalu to wzór okreslajacy róznice grubosci war¬ stwy miedzy dwoma punktami Ah ma postac: Ah=nL, gdzie n jest iloscia warstwie miedzy tymi punktami wyznaczona przez ilosc prazków inter¬ ferencyjnych, zas L jest okresem struktury chole¬ sterolowej wyznaczonym dowolnym sposobem dla danego cieklego krysztalu.Obraz interferencyjny otrzymany wedlug wyna¬ lazku powstaje wewnatrz warstwy cieklego kry¬ sztalu i moze byc obserwowany bezposrednio bez stosowania dodatkowych urzadzen optycznych lub tez moze byc w prosty sposób fotografowany. Na podstawie fotografii moga byc budowane modele topograficzne badanych powierzchni lub przestrzeni pomiedzy powierzchniami.Pomiaru równoleglosci dwu powierzchni i po¬ miaru gladkosci plaszczyzn za pomoca sposobu wedlug wynalazku dokonuje sie w ten sposób, ze przestrzen miedzy dwoma badanymi powierzchnia¬ mi lub badana plaszczyzna a powierzchnia plytki wzorcowej wypelnia sie cieklym krysztalem o strukturze cholesterolowej /niekoniecznie zwiazka¬ mi cholesterolu/, zorientowanym tak, ze os spirali cholesterolowej jest prostopadla do badanych po¬ wierzchni. Swiatlo przechodzace lub odbite od zorientowanej warstwy cholesterolowego cieklego krysztalu interferuje wewnatrz tej warstwy z wy¬ tworzeniem odpowiedniego wzoru wygaszen.Ze wzgledu na niezwykle duza aktywnosc op¬ tyczna cholesterolowych cieklych krysztalów me¬ chanizm powstawania interferencji rózni sie znacz¬ nie od mechanizmu interferencji w innych cien¬ kich warstwach. Swiatlo niespolaryzowane pada¬ jace na warstwe cholesterolowego cieklego krysz¬ talu rozchodzi sie w tej substancji jako — na ogól -r- spolaryzowane eliptycznie, przy czym polaryza¬ cje Jiniowa i kolowa rozpatrujemy jako przypadki szczególne polaryzacji eliptycznej. Jezeli warstwa cholesterolowego cieklego krysztalu znajduje sie miedzy dwoma powierzchniami ograniczajacymi, z których obie lub przynajmniej jedna z nich na¬ leza do substancji przezroczystych, to swiatlo po przejsciu przez powierzchnie graniczna i przez war¬ stwe cieklego krysztalu odbija sie od drugiej po¬ wierzchni granicznej, wraca przez warstwe ciekle¬ go krysztalu i interferuje z fala padajaca. Wa¬ runkiem interferencji jest zgodnosc faz fali pada¬ jac^ i fali, która dwa razy przeszla przez warstwe cieklokrystaliczna, te wzgledu na specjalny cha¬ rakter rozchodzenia sie fali swietlnej w osrodku o. skreconej strukturze cholesterolowej, relacja fa¬ zowa w falach rozchodzacych sie równolegle do osi spirali cholesterolowej i prowadzaca do inter¬ ferencyjnego wygaszenia swiatla wystepuje wtedy, gdy grubosc warstwy cieklokrystalicznej jest cal¬ kowita wielokrotnoscia okresu struktury spiral¬ nej L.W przypadku, gdy obie powierzchnie ogranicza¬ jace sa powierzchniami cial przezroczystych inter¬ ferencje obserwuje sie tak w swietle przechodza¬ cym jak i odbitym. Gdy zas jedna z powierzchni ograniczajacych nalezy do ciala nie przezroczy¬ stego, figury interferencyjne wywoluje sie jedy¬ nie w swietle odbitym.Substancje cieklokrystaliczna o strukturze chole¬ sterolowej i o zadanym okresie struktury L naj¬ korzystniej otrzymuje sie w postaci okreslonej mieszaniny estrów cholesterolu, np. pelargonianu cholesterylu z materialami nematycznymi, np. 5 p-n-metoksybenzylideno butyloanilina lub nema¬ tycznymi zwiazkami cyjanodwufenyli. Zamiast estrów cholesterolu do substancji nematycznych mozna dodawac substancji, które same nie ko¬ niecznie sa cieklymi krysztalami, ale powoduja 10 w nematykach cholesterolowe skrecenie struktury.Okres struktury cholesterolowej L materialu cieklokrystalicznego moze byc znaleziony wielu znanymi sposobami, np. przez pomiar mikrosko¬ powy w cienkiej nie zorientowanej warstwie. War- 15 stwa cholesterolowego cieklego krysztalu nie pod¬ dana oddzialywaniom orientujacym posiada widocz¬ na pod mikroskopem w swietle spolaryzowanym strukture okresowa przemiennie uszeregowanych jasnych i ciemnych prazków, których szerokosc 20 jest równa okresowi struktury L. Przez bezposred¬ ni pomiar szerokosci prazków za pomoca okularu pomiarowego uzyskuje sie szukana, charaktery¬ styczna dla uzywanej mieszaniny, wartosc L.Istote wynalazku wyjasnia rysunek, na którym 2i fig. 1 przedstawia schematyczny rysunek ciemnych prazków interferencyjnych powstajacych w swietle przechodzacym przez warstwe cieklokrystaliczna, umieszczona miedzy dwoma plaskimi plytkami szklanymi, fig. 2 jest fotografia tych prazków in- 30 terferencyjnych, natomiast fig. 3, przedstawia fo¬ tografie modelu trójwymiarowego, wykonanego na podstawie fotografii pokazanej na fig. 2. Na fig. 4, przedstawiona jest mikrofotografia warstwy chole¬ sterolowego cieklego krysztalu z widocznymi prze- 35 miennie uszeregowanymi jasnymi i ciemnymi pas¬ mami, których szerokosc jest równa okresowi struk¬ tury cholesterolowej L. Fig. 5, przedstawia sche¬ matyczny rysunek ukladu zorientowanej warstwy cholesterolowej 1 i powierzchni ograniczajacych 2 40 wraz z przechodzacym promieniem swiatla, przy czym promien padajacy 3 dzieli sie na promien przechodzacy bez odbicia 4 i na promien odbity 5 interferujacy z promieniem padajacym. Na fig. 5, odcinki poziome oznaczaja polozenie dlugich osi 45 molekul, przy czym konce odcinków oznaczone kreska poprzeczna wystaja ponad plaszczyzne ry¬ sunku. Kropka oznacza pionowe ustawienie mole¬ kuly. 50 Zastrzezenie patentowe Sposób pomiaru równoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych kryszta- 55 lów znamienny tym, ze przestrzen pomiedzy dwo¬ ma plaszczyznami, z których przynajmniej jedna jest przezroczysta, wypelnia sie cieklym kryszta¬ lem o strukturze cholesterolowej i o znanym okre¬ sie struktury cholesterolowej L po czym warstwe 60 cieklego krysztalu oswietla sie swiatlem bialym lub monochromatycznym i na podstawie otrzyma¬ nego obrazu interferencyjnego wyznacza sie roz¬ klad grubosci warstwy cieklego krysztalu zawar¬ tego miedzy badanymi powierzchniami lub miedzy 65 badanymi powierzchniami i plytkami wzorcowymi.106 839 '/ i / ///. / 1A l ( i ) ^ N! "t --!_ ^^-XSx \\w\\ \ Flfi.1.%JSi * (Mil ;r106 839 1 ¦^ 1 5-1 ' J 1 ' - | Kr¥— - { H y I 1 . • ^ j i • i i i -¦ "i ? i j \ L N Fig. 5 Bltk 46/80 r. 95 egz. A4 Cena 45 zl PL

Claims (1)

  1. Zastrzezenie patentowe Sposób pomiaru równoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych kryszta- 55 lów znamienny tym, ze przestrzen pomiedzy dwo¬ ma plaszczyznami, z których przynajmniej jedna jest przezroczysta, wypelnia sie cieklym kryszta¬ lem o strukturze cholesterolowej i o znanym okre¬ sie struktury cholesterolowej L po czym warstwe 60 cieklego krysztalu oswietla sie swiatlem bialym lub monochromatycznym i na podstawie otrzyma¬ nego obrazu interferencyjnego wyznacza sie roz¬ klad grubosci warstwy cieklego krysztalu zawar¬ tego miedzy badanymi powierzchniami lub miedzy 65 badanymi powierzchniami i plytkami wzorcowymi.106 839 '/ i / ///. / 1A l ( i ) ^ N! "t --!_ ^^-XSx \\w\\ \ Flfi.1. %JSi * (Mil ;r106 839 1 ¦^ 1 5-1 ' J 1 ' - | Kr¥— - { H y I 1. . • ^ j i • i i i -¦ "i ? i j \ L N Fig. 5 Bltk 46/80 r. 95 egz. A4 Cena 45 zl PL
PL19077976A 1976-06-28 1976-06-28 Sposob pomiaru rownoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych krysztalow PL106839B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL19077976A PL106839B1 (pl) 1976-06-28 1976-06-28 Sposob pomiaru rownoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych krysztalow

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL19077976A PL106839B1 (pl) 1976-06-28 1976-06-28 Sposob pomiaru rownoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych krysztalow

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL190779A1 PL190779A1 (pl) 1978-01-02
PL106839B1 true PL106839B1 (pl) 1980-01-31

Family

ID=19977528

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL19077976A PL106839B1 (pl) 1976-06-28 1976-06-28 Sposob pomiaru rownoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych krysztalow

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL106839B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL190779A1 (pl) 1978-01-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Fergason Cholesteric structure-1 optical properties
US4523848A (en) Polariscope
DE3434575C1 (de) Ellipsometrische Vorrichtung zur Untersuchung der physikalischen Eigenschaften der Oberflaeche einer Probe
Kiselev et al. Polarization-gratings approach to deformed-helix ferroelectric liquid crystals with subwavelength pitch
CN107462149A (zh) 一种相移干涉测量系统及其波片相移方法
Shabana Determination of film thickness and refractive index by interferometry
PL106839B1 (pl) Sposob pomiaru rownoleglosci plaszczyzn oraz gladkosci plaszczyzn przy uzyciu cieklych krysztalow
AT131311B (de) Drehbarer Kompensator mit einer planparallelen Platte aus doppelbrechendem Stoffe.
JP2655097B2 (ja) 位相差測定方法および装置
Ramachandran On the nature and origin of the laminations observed in diamond
Huxley A theoretical treatment of diffraction of light by a striated muscle fibre
SU1005174A1 (ru) Матричный индикатор
Matyáš et al. Determination of Refractive Indices and Thicknesses of Double‐Film Composite Waveguides
Alippi et al. Lamb wave analysis through light polarization discrimination techniques
Glazer et al. Classical linear crystal optics
JP2770481B2 (ja) 液晶表示パネルのセル厚測定方法およびその測定器
Bezirganyan et al. X‐Ray Diffraction in Interferometric Systems Consisting of Crystalline Blocks of Different Thickness
US6774996B2 (en) Measuring density variations
Morris et al. Inducing variable pitch gratings in nematic liquid crystals using chirped surface acoustic wave transducers
Shcherbakov et al. The existence of five-wave non-collinear acousto-optical weakly coupled states
Narasimhamurty Elasticity of crystals
Wright A simple method for the accurate measurement of relative strain in glass
Pardaev Light Scattering Studies of Defects in Nematic/twist-bend Liquid Crystals and Layer Fluctuations in Free-standing Smectic Membranes
RU1770843C (ru) Способ визуализации микронеоднородностей в кристаллах
TAKAMINE Interference fringes obtained by a quartz Lummer-Gehrcke plate