PL103534B1 - Uklad wzmacniajacy - Google Patents
Uklad wzmacniajacy Download PDFInfo
- Publication number
- PL103534B1 PL103534B1 PL18463375A PL18463375A PL103534B1 PL 103534 B1 PL103534 B1 PL 103534B1 PL 18463375 A PL18463375 A PL 18463375A PL 18463375 A PL18463375 A PL 18463375A PL 103534 B1 PL103534 B1 PL 103534B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- transistor
- circuit
- input
- ttl
- voltage
- Prior art date
Links
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 title description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 7
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 7
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest uklad wzmacnia¬
jacy inicjowany malymi sygnalami, zrealizowany
w oparciu o uklady scalone typu TTL lub DTL,
który umozliwia sterowanie ukladami scalonymi
TTL lub DTL zastosowanymi w urzadzeniach tech¬
niki cyfrowej.
W nowoczesnych ukladach odczytu stosowanych
w czytnikach tasmy i ukladach automatycznej
kontroli i sterowania,, waznymi elementami skla¬
dowymi sa przetworniki analogowo-cyfrowe. Prze¬
tworniki te czesto montowane sa w bezposredniej
bliskosci elementów napedowych, wskutek czego
narazone sa na dzialanie róznorodnych silnych
zaklócen radioelektrycznych i wplywów tempera¬
tury. Ponadto w przypadku przetworników ana-
logowo-cyfrowych o duzej zdolnosci rozdzielczej,
uklady odczytujace musza miec duza czulosc i
odpowiednio male czasy przetwarzania, czyli mu¬
sza charakteryzowac sie duza czestotliwoscia gra¬
niczna, a w przypadku bezposredniej wspólpracy
z ukladami cyfrowymi musza odznaczac sie od¬
powiednimi czasami narastania, opadania i po¬
ziomami napiec wyjsciowych. Stosowane dotych¬
czas elektroniczne uklady odczytu wykonywane
sa w szeregu róznych odmian, niemniej posiada¬
ja zawsze takie podstawowe elementy jak wzmac¬
niacze pradu stalego, uklady ksztaltowania sygna¬
lu, uklady przejscia w celu dopasowania sie do
parametrów techniki TTL, oraz niekiedy posia¬
daja uklady kompensujace dzialanie temperatury.
Uklad odczytu skladajacy sie z wspomnianych,
lancuchowo polaczonych elementów zajmuje sto¬
sunkowo duza powierzchnie i daje duze czasy
opóznien, a otrzymanie wysokiej czestotliwosci gra¬
nicznej jest trudne do uzyskania. Dodatkowa wa¬
da jest fakt, ze uklady odczytu posiadaja z re¬
guly inne wartosci napiec zasilajacych niz ukla¬
dy TTL. Ponad/to w bardzo czulych ukladach
przetworników analogowo-cyfrowych jako wmac-
niacze pradu stalego stosuje sie wzmacniacze ope¬
racyjne, które wymagaja zasilania dwoma napie¬
ciami przewaznie rózniacymi sie od napiecia za¬
silajacego stosowanego w technice TTL.
Istota wynalazku jest uklad wzmacniajacy o
nieskomplikowanej- budiowie, który pozwala uzy¬
skac duza szybkosc przetwarzania, dopasowanie
sygnalu wyjsciowego do parametrów techniki TTL,
duza odpornosc na zaklócenia, odpowiednio duza
czulosc oraz mozliwosc kompensacji temperatu¬
rowej. Ponadto uklad ten jest zasilany z tego' sa¬
mego zródla napiecia co uklady techniki TTL,
lub/i dodatkowego jednego zródla o polaryzacji
ujemnej i dowolnym napieciu w przypadku prze¬
tworników o wiekszej czulosci. Wspomniane wa¬
runki zostaly spelnione w ukladzie wedlug wy¬
nalazku dzieki podlaczeniu emitera tranzystora ty¬
pu p-n-p bezposrednio do wejscia bramki TTL.
W ten sposób tranzystor pracujacy w ukladzie ze
wspólnym kolektorem posiada obciazenie wewnatrz
ukladu scalonego.
103 534103 534
Odpowiednie podlaczenie tranzystora polowego
daje ten sam efekt techniczny. Duza szybkosc prze¬
twarzania ukladu wynika z faktu, ze tranzystor
pracujacy w ukladzie ize wspólnym kolektorem ma
wieksza czestotliwosc graniczna niz analogiczny 5
uklad1 ze wspólnym emitereni. Ponadto, poniewaz
dodatkowe obciazenie tranzystora stanowi tran¬
zystor bramki TTL pracujacy w ukladzie wspól¬
nej bazy, uzyskuje sie dopasowanie opornosci
wyjsciowej tranzystora do opornosci wej- 10
sciowej ukladu scalonego. Tak polaczone tran¬
zystory tworza ukliad kaskodowy, który charak¬
teryzuje sie duza czestotliwoscia graniczna.
Dopasowanie sygnalu wyjsciowego ukladu do
parametrów techniki TTL wynika z zastosowania
jako elementu obciazajacego logicznego ukladu
scalonego typu TTL. Uzyskana w ukladzie wzmac¬
niajacym wedlug wynalazku odpornosc na zakló¬
cenia jest konsekwencja miniaturyzacji ukladu
spowodowanej zastosowaniem malej liczby ele¬
mentów skladowych, dzieki, czemu istnieje mozli¬
wosc montowania ukladu w bezposrednim sasiedz¬
twie odczytujacych elementów fotoelektrycznych.
Ponadto zastosowanie w ukladzie bramki TTL ja¬
ko elementu obciazajacego zapewnia gwarantowa¬
ny próg szumów, jak równiez umozliwia przesy¬
lanie sygnalu na wieksze odleglosci.
W przypadku duzych zaklócen i wahan tempe¬
ratury, jako obciazenie ukladu mozna zastosowac
uklad Schinitta zbudowany z dwóch szeregowo 30
polaczonych bramek logicznych TTL, typu NAND
z petla sprzezenia zwrotnego w postaci rezystora
wlaczonego miedzy wejsciem a wyjsciem. Skom¬
pensowanie wplywu temperatury na dzialanie
ukladu uzyskano przez zasilanie fotodiody z ukla- 35
du-przesuwajacego poziom napiecia w funkcji
temperatury, przy czym napiecie odniesienia ste¬
rujace wspomnianym ukladem pobierane jest z
dodatkowej bramki logicznej TTL typu NAND.
Wynalazek zostanie blizej objasniony w przy- 40
kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1
przedstawia schemat ukladu wzmacniajacego zbu¬
dowanego w oparciu o elementy techniki TTL,
fig. 2 przedstawia uklad z fig. 1 z pokazanym
przykladowo ukladem wewnetrznym bramki lo- 45
gicznej typu TTL, fig. 3 przedstawia uklad we¬
dlug wynalazku przeznaczony do odczytu sygnalu
fotodiody w przetworniku analogowo-cyfrowym z
zastosowanym ukladem Schmitta, fig. 4 przedsta¬
wia uklad z fig. 3 z zastosowaniem elementów M
kompensujacych wplyw temperatury, fig. 5 przed¬
stawia teoretyczny wykres napiec ukladu z fig. 2,
fig. 6 a, b, c d; e przedstawia wykres pradu
i napiec w poszczególnych fazach pracy ukladu,
fig. 7 obrazuje charakterystyke przenoszenia ca- 55
lego ukladu, przy czym linia ciagla oznacza cha¬
rakterystyke ukladu wedlug wynalazku, a linia
przerywana oznacza charakterystyke konwencjo¬
nalnej bramki TTL, fig. 8 pokazuje charaktery¬
styke wejsciowa calego ukladu — linia ciagla 6©
oraz charakterystyke wejsciowa ukladu scalone¬
go typu TTL — linia przerywana.
Uklad wzmacniajacy (fig. 1) sklada sie ze stop¬
nia wejsciowego pracujacego na tranzystorze Ti
typu p-n-p, lub tranzystorze polowym. Zródlo 65
zmieniajacego sie napiecia Eg, poprzez rezystor
Rg jest podlaczone do wejscia We ukladu wzmac¬
niajacego stanowiacego baze tranzystora Ti. Ko¬
lektor tranzystora Ti jest zasilany dodatkowym
zródlem napiecia E2 o polaryzacji ujemnej. Emi¬
ter tranzystora Ti polaczony jest z wejsciem Wes
scalonego ukladu S wykonanego w technice TTL.
Wewnatrz scalonego ukladu S (fig. 2), emiter tran¬
zystora Ta polaczony jest z wejsciem Wes, a jego
kolektor polaczony jest z baza tranzystora Tu po¬
laczonego z wyjsciowymi tranzystorami Tc i Td.
Scalony uklad S jest zasilany zródlem napiecia
Ei o wartosci + 5 V. Tranzystor Ti pracujacy
w ukladzie ze wspólnym kolektorem z tranzysto¬
rem Ta tworza kaskode, która charakteryzuje sie
duza czestotliwoscia graniczna. Jezeli przyjmiemy,
ze na bazie tranzystora Ti jest napiecie Eg = 0
w chwili ti
przewodzi dajac na wejsciu Wes ukladu scalone¬
go stan „0" logiczne, a prad na wejsciu Wes wy¬
nosi
Iwes(O) ^ —
(El + E2) — (UBETa+ UcEsTi)
Ra
gdzie UBETa oznacza spadek napiecia na zlaczu
baza — emiter tranzystora Ta, Ucest1! — napie¬
cie nasycenia tranzystora Ti, a Ra — opornosc
rezystora Ra wewnetrznego scalonego ukladu S.
W tym momencie prad wejsciowy na wejsciu We
calego ukladu jest odpowiednio mniejszy i wy¬
nosi
Iwes(O)
Iwe(O) = iBTi^
h2lETx
gdzie Ibt1! — oznacza prad bazy tranzystora Ti,
a h2iETx — wspólczynnik wzmocnienia pradowego
tranzystora Ti.
Wewnatrz scalonego ukladu S, tranzystory Tb
i Td sa w stanie nieprzewodzenia, natomiast tran¬
zystor Tc przewodzi prad dajac na wyjsciu Wy
ukladu stan logiczny „1". Przy wzroscie napiecia
Eg w czasie t > t2, prady wejsciowe Iwe(O) i
Iwes(O) zmniejszaja sie tak dlugo, dopóki napie¬
cie na wejsciu Wes nie osiagnie odpowiednio du¬
zej wartosci, a na wejsciu We wartosci odJpowied-
nio mniejszej, która jest okreslona wzorem
Uwe ^ Uwes — Ubet1!
gdzie Ubetj oznacza napiecie zlacza baza — emi¬
ter tranzystora Ti. W tym momencie tranzystor
Ta zaczyna pracowac inwersyjnie, a prad wejscio¬
wy Iwes(i) zmienia kierunek i zmniejsza swa war¬
tosc, przy czym Iwes(i) ^ Iwe(i) oznacza prad
wsteczny spolaryzowanego zlacza baza — emiter
tranzystora Ti, na którego bazie wystepuje napie¬
cie (stan logiczny „1").
Tranzystor Tt, i Td zaczynaja przewodzic, a na
wyjsciu Wy ukladu otrzymuje sie stan „0". W
ukladzie wedlug wynalazku wartosc dodatkowego
zródla napiecia E2 moze byc równa zero. Wynika
to stad, ze warunkiem wystarczajacym poprawnej5
103 534
6
pracy ukladu jest zastosowanie tranzystora Ti o
malym napieciu nasycenia przy nominalnym pra¬
dzie wejsciowym dla stanu logicznego. „0". Na¬
piecie nasycenia tego tranzystora powinno spel¬
niac warunek napieciowy dla stanu „0" uzywany
w technice TTL, który nie jest trudny do spel¬
nienia.
Jak wynika z wykresu (fig. 8), prad Iwe ste¬
rowania potrzebny do otrzymania stanu „1" na
wyjsciu Wy ukladu jest wielokrotnie mniejszy w
przypadku konwencjonalnego sterowania bramki
TTL, przy jednoczesnym zmniejszeniu napiecia
sterujacego, co wynika z charakterystyki prze¬
noszenia ukladu (fig. 7). W przypadku- zastosowa¬
nia ukladu do odczytywania sygnalu fotodiody D
umieszczonej na przyklad, w przetworniku analo¬
gowo-cyfrowym (fig. 3), w miejsce scalonego ukla¬
du S umieszczono szeregowo polaczone braimki
Bi i B2 TTL typu NAND tworzace uklad Schmit-
ta, posiadajacy petle sprzezenia zwrotnego w po¬
staci rezystora R2 wlaczonego miedzy wejsciem
bramki Bi a wyjsciem bramki B2. W chwili
t = ti = 0, gdy fotodioda D jest nieoswietlona, jej
prad Id = 0 (fig. 6a), a w punkcie M istnieje
napiecie Um (fig. 6b) wymuszone pradem bazy
Ibti tranzystora Ti (fig. 6c) wynoszace
Um ^ Ibti • Ri
gdzie Ri, oznacza rezystor zasilajacy baze tran¬
zystora Ti. Z chwila t > ti wzrasta natezenie
oswietlenia i fotodioda D zaczyna przewodzic, a
prad bazy Ibti tranzystora Ti zaczyna malec. Nie
zmienia to jednak napiecia w punkcie M do chwi¬
li t = t3, w której prad bazy tranzystora Ti ma¬
leje do zera i o zmianie potencjalu w punkcie M
decyduje prad Id fotodiody D.
Inaczej przedstawia sie zmiana napiecia w punk¬
cie N. Tranzystor Ti w chwili t = ti = 0 pracuje
w nasyceniu, a w chwili t > ti napiecie Un w
punkcie N nieznacznie wzrasta (fig. 6di), pomi¬
mo malenia pradu bazy lBTr Ten stan trwa do
chwili t = t2, kiedy to tranzystor Ti zaczyna wy¬
chodzic ze stanu nasycenia. Wówczas napiecie Un
w punkcie N zaczyna wyraznie wzrastac i z chwi¬
la t = U osiaga wartosc U'N', która powoduje
zmiane stanu logicznego w punkcie 0 na wyjsciu
ukladu ze stanu „0" na stan „1" (fig. 6e).
Stan logiczny „1" w punkcie 0 trwa do chwili
t = t5 w której napiecie w punkcie N osiaga war¬
tosc U"n < U'n, a w punkcie 0 na wyjsciu ukla-
40
45
50
du powstaje stan logiczny „0". Zmiane wspólczyn¬
nika wypelnienia impulsu uzyskuje sie poprzez
zmiane wartosci rezystorów R2 lub Ri przy czym
— = f (R2) = f(Ri)
T
gdzie — oznacza wspólczynnik wypelnienia. We
T
wspomnianym ukladzie mozna dodatkowo zasto¬
sowac kompensacje wplywu temperatury
(fig. 4) poprzez zasilanie fotodiody D z ukladu P
przesuwajacego poziom napiecia w funkcji tem¬
peratury.
Napiecie odniesienia Uk sterujace ukladem P
przesuwania poziomu pobierane jest z wyjscia do¬
datkowej bramki B3 TTL typu NAND, której wej¬
scie jest uziemione. Taki sam efekt kompensacji
uzyskac mozna przez polaczenie ukladu P prze¬
suwajacego poziom napiecia z wejsciem dodatko¬
wej bramki B'3 TTL typu NAND. Uklad P prze¬
suwania poziomu napiecia moze stanowic na przy¬
klad dzielnik rezystorowy lub wzmacniacz pradu
stalego o odpowiedmiim wzmocnieniu.
Claims (4)
1. Uklad wzmacniajacy inicjowany malymi sy¬ gnalami umozliwiajacy sterowanie ukladami sca¬ lonymi typu TTL lub DTL, zawierajacy stopien wzmacniajacy zbudowany na tranzystorze pracu¬ jacym w ukladzie wspólnego kolektora, znamien¬ ny tym, ze emiter tranzystora (Ti) jest podlaczo¬ ny do wejscia (Wes) scalonego ukladu (S), tworzac kaskode z wejsciowym tranzystorem (Ta) scalo¬ nego ukladu (S).
2. Uklad wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze stopien wzmacniajacy tworzy polowy tranzystor (Ti), którego zródlo jest podlaczone do wejscia scalonego ukladu (S).
3. Uklad wedlug zastrz. 1, lub 2, znamienny tym, ze emiter tranzystora (Ti) podlaczony jest do wejscia ukladu scalonego skladajacego sie z szeregowo polaczonych logicznych bramek (Bi) i (B2), które tworza uklad Schmitta,
4. Uklad wedlug zastrz. 3, znamienny tym, ze napiecie odniesienia Uk zalezne od zmian tempe¬ ratury pobierane jest z dodatkowej logicznej bram¬ ki (B3). We ES Ti < Fig. i % 9f Fig. 2 M103 534 ~1B^ M R<\\ w fsT > 62 0 Wy 1 %3 ^±Z) M I 1 -i—i s*r 6.1 r^ k/« % 1 Fig. 4 Uwy 1' ~\ Jw_ fig. 7 ,0' Uwe Jm Uwe Fig. 8 Druk: Opolskie Zaklady Graficzne im. Jana Langowskiego w Opolu zam. 1359-80 naklad 120 Cena 45 zl
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18463375A PL103534B1 (pl) | 1975-11-11 | 1975-11-11 | Uklad wzmacniajacy |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18463375A PL103534B1 (pl) | 1975-11-11 | 1975-11-11 | Uklad wzmacniajacy |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL103534B1 true PL103534B1 (pl) | 1979-06-30 |
Family
ID=19974206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL18463375A PL103534B1 (pl) | 1975-11-11 | 1975-11-11 | Uklad wzmacniajacy |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL103534B1 (pl) |
-
1975
- 1975-11-11 PL PL18463375A patent/PL103534B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5990711A (en) | Constant current driving circuit | |
| US7292083B1 (en) | Comparator circuit with Schmitt trigger hysteresis character | |
| US3716722A (en) | Temperature compensation for logic circuits | |
| US4071714A (en) | Signal transmission system | |
| US5030856A (en) | Receiver and level converter circuit with dual feedback | |
| PL103534B1 (pl) | Uklad wzmacniajacy | |
| GB1536623A (en) | Integrated circuits | |
| US5287014A (en) | Hysteresis circuit | |
| US3792291A (en) | Circuit arrangement for improving the short circuit resistance of the slower interference-free logic circuits | |
| CA1167529A (en) | Digital voltage comparator | |
| CA1132220A (en) | Electronic relay arrangement | |
| US3048711A (en) | Transistor reversible counting circuit with resistive coupling between stages | |
| EP0105520B1 (en) | Transition detector circuits and mos integrated circuits provided with such a detector circuit | |
| US3121172A (en) | Electrical pulse manipulating apparatus | |
| US3017523A (en) | Transistor exclusive-or circuit with gain | |
| CN120469534A (zh) | 恒流源电路、温度采样电路及具有该电路的开关量板卡 | |
| JPH03104413A (ja) | 遅延回路 | |
| US3794855A (en) | Regenerative transistorized switch with constant voltage circuit | |
| JPS55133133A (en) | Malfunction prevention circuit for digital logic unit | |
| KR100243263B1 (ko) | Rc 오실레이터용 슈미트트리거 회로 | |
| JPS6334798A (ja) | ラツチ回路 | |
| JP3075920B2 (ja) | 入力信号増幅回路 | |
| CA1062793A (en) | Signal transmission system | |
| JPS57125418A (en) | Input circuit | |
| JPS596615A (ja) | シユミツトトリガ−回路 |