PL103529B1 - Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych - Google Patents

Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych Download PDF

Info

Publication number
PL103529B1
PL103529B1 PL18113175A PL18113175A PL103529B1 PL 103529 B1 PL103529 B1 PL 103529B1 PL 18113175 A PL18113175 A PL 18113175A PL 18113175 A PL18113175 A PL 18113175A PL 103529 B1 PL103529 B1 PL 103529B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
frequency
electrodes
measuring
polarization
quartz
Prior art date
Application number
PL18113175A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL18113175A priority Critical patent/PL103529B1/pl
Publication of PL103529B1 publication Critical patent/PL103529B1/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób polaryzacji elementu piezoelektrycznego, zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci dragn wlasnych. Sposób wedlug wy¬ nalazku umozliwia dokladny pomiar czestotliwosci rezonansowych elementu kwarcowego wykorzy¬ stujacych drgania scinania grubosciowego jak na przyklad AT, BT i inne w zastosowaniu do pro¬ dukcji podzespolów kwarcowych jak rezonatory, ogniwa semimonolityczne itp.
Stosowane dotychczas sposoby polaryzyacji mie¬ rzonego elementu oparte sa na mechanicznym kontakcie elektrod metalowych z powierzchniami czynnymi tego elementu. Praktyczne rozwiazania polegaja na ulozeniu elementu kwarcowego na elektrodzie metalowej o powierzchni dopasowanej swym ksztaltem do powierzchni elementu i przy¬ cisniecia go druga elektroda metalowa o po¬ wierzchni równiez dopasowanej do drugiej po¬ wierzchni elementu, przy czym elektrody te sa dolaczane do elektrycznej czesci ukladu pomiaro¬ wego.
Element kwarcowy wraz z elektrodami stanowi dwójnik elektryczny posiadajacy dwie czestotli¬ wosci rezonansowe wywolane efektem piezo¬ elektrycznym odwrotnym. Odmiana konstrukcyjna 25 tego rozwiazania jest takie umieszczenie elementu pomiedzy elektrodami, aby powierzchnie czynne tego elementu oddzielone byly od elektrod waski¬ mi szczelinami powietrznymi.
Czestotliwosci rezonatorów mierzone przy tych 30 sposobach polaryzacji sa (aestoitliwoscdanii wyniko¬ wymi elementu badz odciazonego mechanicznie ele¬ ktrodami, badz szeregowo wlaczonymi z nim po¬ jemnosciami tych szczelin i przez to- silnie sprzezo¬ nego elektrycznie z ukladem pomiarowym, znacz¬ nie wiec odbiegaja od rzeczywistych wartosci czestotliwosci drgan wlasnych.
Na niezgodnosc tych czestotliwosci skladaja sie glównie takie czynniki jak zmiana sredniej gestosci materialu piezoelektrycznego wywolana zewnetrz¬ nym dzialaniem mechanicznym. Zmiana para¬ metrów zastepczego ukladu dwójnika przez wplyw szeregowo wlaczonych z elementem pojemnosci szczelin.
Wzgledne przesuniecie czestotliwosci rezonanso¬ wych okreslonych przy tych sposobach polaryza¬ cji, w stosunku do faktycznych jest rzedu 20010-8.
Pomiary wykonane tymi sposobami cechuje przy tym duza wrazliwosc na sily dociskajace elektro¬ dy, zmiany szczeliny i dokladnosc lokalizacji ob¬ szaru wzbudzania drgan w elemencie. W praktyce czynniki te wplywaja na niepowtarzalnosc po¬ miarów i ich duzy rozrzut wzgledny "rzedu 50H-100 • 10-5.
W odniesieniu do elementu kwarcowego liczby te sa bardzo duze i wskazuja zarówno na nie¬ dokladnosc pomiaru jak i na niedostateczna roz¬ róznialnosc poszczególnych egzemplarzy w serii elementów. Wywieranie przy tym sil mechanicz¬ nych na element kwarcowy w czasie pomiaru 103 529103 529 czestotliwosci pogarsza dobroc elektryczna elemen¬ tu, przez co krzywe rezonansowe splaszczaja sie obnazajac dodatlCowo dokladnosc pomiaru, przy ozym niekontrolowany rozklad: naprezen mecha¬ nicznych w .elemencie znieksztalca charakterystyke 5 czestotliwosciowa • elementu mierzonego. Wszystkie omówione wady sposobu pomiaru nie ustepuja nawet przy daleko posunietej precyzji wykonania konstrukcyjnego elektrod.
Znajomosc czestotliwosci wlasnej elementu 10 kwarcowego jest punktem wyjsciowym w ^procesie jego przygotowania technologicznego jak szlifowa¬ nie i trawienie i musi byc kontrolowana po kazdej fazie jego obróbki mechanicznej i chemicznej, az do momentu uzyskania zamierzonej czestotliwosci. 15 Bezposredni pomiar czestotliwosci wlasnej elemen¬ tu jest trudny, poniewaz element nie posiada jesz¬ cze nalozonych elektrod metalicznych.
Celem wynalazku jest uniezaleznienie pomiaru czestotliwosci elementów piezoelektrycznych od 20 szkodliwego wplywu mechanicznego nacisku ele¬ ktrod na y mierzony element badz trudnej do kontrolowania pojemnosci szczelin. Dla osiagniecia tego celu postawiono zagadnienie wskazania takie¬ go sposobu polaryzacja mierzonego elementu, w ^ którym przyczyny powodujace zmiane czestotli¬ wosci dragan wlasnych zostaly by zredukowane do niezbednego minimum.
Istota wynalazku dotyczaca sposobu polaryzacji elementu w którym pomiedzy elektrodami pobu- 30 dzajacymi rozstawionym wzdluz przeciwleglych krawedzi elementu jest umieszczony mierzony ele¬ ment polega na tym, ze mierzony element ustawia sie przeciwleglymi krawedziami prostopadlymi do powierzchni czynnych pomiedzy elektrody pobudza- 35 jace. Powierzchnie czynne elementu pozostawia sie swobodne i element orientuje sie w kierunku az do uzyskania. maksymaiLnego wskazania przyrzadu.
Zaleta sposobu wedlug wynalazku jest to, ze po¬ wierzchnie czynne pozostaja nie tlumione obecnos- ^ cia elektrod, a sprzezenie elektryczne elementu z elektrodami i ukladem pomiarowym zostaje w znacznym stopniu zmniejszone, dzieki czemu zmniejsza sie wplyw ukladu pomiarowego na wlasnosci elektryczne elementu. Elektrody wy- 45 korzystuje sie jako czynnik wsporczy. Przenikal- nosc dielektryczna materialu piezoelektrycznego powoduje zwiekszenie indukcji elektrycznej w przestrzeni miedzy elektrodami, a przez to zwiek¬ sza jednorodnosc przenikajacego pola przez caly 50 element.
W ukladach pomiarowych wykorzystujacych me¬ tode bierna transmisyjna z kryterium amplitudo¬ wym, stosowanych dotychczas, gdzie efekt piezo¬ elektryczny w elemencie dociskanym elektrodami 55 do powierzchni czynnych wystepuje silnie, tlumie¬ nie sygnalu transmitowanego z generatora poprzez ten dwójnik do wzmacniacza jest na ogól bardzo male. Z tego wzgledu wielkosc wzmocnienia wzmacniacza w konwencjonalnym ukladzie pomia- M rowym ma znaczenie drugorzedne. Typowy dla takiego dwójnika przebieg impedancji w funkcji czestotliwosci jest analogiczny jak dla rezonatora kwarcowego to znaczy zawiera skladowe o reak- tancji zerowej. Ten fakt pozwala przy zastosowa- 65 niu generacyjnego ukladu samowzbudnego wyzna¬ czac czestotliwosc drgan wlasnych dwójnika me¬ toda aktywna.
, • Elektryczny uklad pomiarowy przylaczony do dwójnika wedlug wynalazku oparty jest na meto¬ dzie biernej transmisyjnej z kryterium amplitudo¬ wym. Uklad ten sklada sie z przestrajanego gene¬ ratora oraz wzmacniacza szerokopasmowego ze wskaznikiem analogowym. Zestaw uzupelniony jest czestosciomierzem cyfrowym. Dwójnik zlozony z elementu kwarcowego i elektrod pobudzajacych wlaczony jest wzdluznie pomiedzy wyjscie gene¬ ratora a wejscie wzmacniacza. Wzmacaiacz ma za zadanie skompensowanie bardzo duzego tlumienia sygnalu generatora, jakie wprowadza dwójnik z zastosowanym sposobem polaryzacji elementu wedlug wynalazku. W tym celu wzmacniacz musi posiadac duze wzmoonietniie. W praktycznych ukla¬ dach pomiarowych* gdzie stosuje sie generator o opornosci wyjsciowej 50Q i wzmacniacz o opor¬ nosci wejsciowej 50Q, dla otrzymania czytelnych wskazan przyrzadu analogowego wzmocnienie na¬ pieciowe wzmacniacza jest rzedu 80 dB.
Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania na zalaczonym rysunku perspektywicznym.
Na podstawie analizy stwierdzono, ze charakter tego dwójnika jest równowaznydiwójmikowi kwarco¬ wemu z. szeregowowlaczona bardzo mala i stala dla róznych elementówpojemnoscia elefctyrczna. W mia¬ re zmniejszania tej pojemnosci szybko zanika cha¬ rakter indukcyjny dwójnika, a ekstrema odpowia¬ dajace maksimum i minimum impedancji zblizaja sie do siebie na odleglosc graniczna zalezna tylko od dobroci elementu kwarcowego, natomiast im- pedencja ma charakter zlozony, rezystywny i po¬ jemnosciowy. Polozenie punktów ekstremalnych na osi czestotliwosci jest praktycznie stale. Odstep wzgledny miedzy punktami ekstremalnymi osiaga wartosc rzedu 5 • 10-6. Poniewaz czestotliwosc teoretyczna rezonansu równoleglego drgan wlas¬ nych elementu lezy pomiedzy wierzcholkami punktów ekstremalnych, maksymalny blad jej wyznaczenia znajduje sie w tym przedziale.
Powtarzalnosc pomiaru jest wysoka i wynosi 10-5.
Element kwarcowy 1 jest wlozony swobodnie pomiedzy elektrody 2. Elektrody 2 nie wywieraja nacisku mechanicznego na powierzchnie F czynne elementu 1. Elektrody jednoczesnie podtrzymuja element i wytwarzaja pole elektryczne w plasz- czynie XZ. Elektrody 2 maja ksztalt krawedzi elementu w kierunku osi elektrycznej X. Do ele¬ ktrod 2 dolaczone sa doprowadzenia 3 za pomoca których dwójnik polaczony jest z czescia elektrycz¬ na ukladu pomiarowego. Elektrody 2 wraz z od¬ prowadzeniami 3 zamocowane sa na podstawie 4 wykonanej z materialu dielektrycznego. Element kwarcowy 1 spoczywa swa dolna krawedzia na podstawie 4. Powierzchnie F czynne elementu 1 leza w plaszczyznie XZ' ukladu krystalograficzne¬ go, przy czym wektor E pobudzajacego pola ele¬ ktrycznego skierowany jest równolegle do osi X elementu 1. /103 529

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób polaryzacji elementu piezoelektrycznego, zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlas¬ nych, w którym pomiedzy elektrodami pobudza¬ jacymi rozstawionym wzdluz przeciwleglych kra¬ wedzi elementu jest umieszczony mierzony element, 6 znamienny tym, ze mierzony element (1). ustawia sie przeciwleglymi krawedziami prostopadlymi do powierzchni czynnych (F) pomiedzy elektrody po¬ budzajace (2), przy czym jego powierzchnie czyn¬ ne (F) pozostawia sie swobodne, zas element orientuje sie w kierunku, az do uzyskania maksy¬ malnego wskazania przyrzadu.
PL18113175A 1975-06-11 1975-06-11 Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych PL103529B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18113175A PL103529B1 (pl) 1975-06-11 1975-06-11 Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18113175A PL103529B1 (pl) 1975-06-11 1975-06-11 Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL103529B1 true PL103529B1 (pl) 1979-06-30

Family

ID=19972499

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL18113175A PL103529B1 (pl) 1975-06-11 1975-06-11 Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL103529B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Mason et al. Methods for measuring piezoelectric, elastic, and dielectric coefficients of crystals and ceramics
US4039969A (en) Quartz thermometer
KR100216885B1 (ko) 전기장 센서
Siegel et al. The variation of Young's modulus with magnetization and temperature in nickel
Benedict et al. Dielectric Properties of Single Domain Crystals of BaTi O 3 at Microwave Frequencies
US3234461A (en) Resistivity-measuring device including solid inductive sensor
CN107817045B (zh) 一种磁耦合谐振式频率检测装置及频率检测方法
US2817813A (en) Measurement of the complex tensor permeability and the complex dielectric constant of ferrites
PL103529B1 (pl) Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych
JP6510263B2 (ja) 複素誘電率測定方法
Roleder Measurement of the high-temperature electrostrictive properties of ferroelectrics
US3315156A (en) Method for determining the electrical resistance of a body of extremely pure semiconductor material for electronic purposes
Gerber A review of methods for measuring the constants of piezoelectric vibrators
Tiedje et al. The application of capacitive transducers to sound velocity measurements in TTF‐TCNQ
Blunt et al. The dielectric properties of barium titanate at low temperatures
Burdick et al. Measurements of large dielectric constants and loss tangents at 55 Gc/s
Kammer et al. A determination of the elastic constants of beta-quartz
Tiwary et al. An electrical method for the measurement of thermal expansion of thin films
RU2212736C2 (ru) Пьезоэлектрический изгибный преобразователь
CN207894514U (zh) 一种磁耦合谐振式频率检测装置
RU235851U1 (ru) Устройство для определения пьезоэлектрических параметров пьезоэлектрического полимерного материала
Zhao et al. The strength of PIN–PMN–PT single crystals under bending with a longitudinal electricfield
Filippov et al. New way the determination of magnetostrictive parameters composite multiferroics using the magnetoelectric response
SU1835506A1 (ru) Cпocoб oпpeдeлehия пobepxhocthoгo coпpotиbлehия
Koike et al. Elastoresistance effects in evaporated bismuth films