PL103529B1 - Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych - Google Patents
Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych Download PDFInfo
- Publication number
- PL103529B1 PL103529B1 PL18113175A PL18113175A PL103529B1 PL 103529 B1 PL103529 B1 PL 103529B1 PL 18113175 A PL18113175 A PL 18113175A PL 18113175 A PL18113175 A PL 18113175A PL 103529 B1 PL103529 B1 PL 103529B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- frequency
- electrodes
- measuring
- polarization
- quartz
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 230000010287 polarization Effects 0.000 title description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 2
- 230000004936 stimulating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 13
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 2
- 206010044565 Tremor Diseases 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 230000029087 digestion Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000003623 enhancer Substances 0.000 description 1
- 230000002964 excitative effect Effects 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób polaryzacji
elementu piezoelektrycznego, zwlaszcza do pomiaru
czestotliwosci dragn wlasnych. Sposób wedlug wy¬
nalazku umozliwia dokladny pomiar czestotliwosci
rezonansowych elementu kwarcowego wykorzy¬
stujacych drgania scinania grubosciowego jak na
przyklad AT, BT i inne w zastosowaniu do pro¬
dukcji podzespolów kwarcowych jak rezonatory,
ogniwa semimonolityczne itp.
Stosowane dotychczas sposoby polaryzyacji mie¬
rzonego elementu oparte sa na mechanicznym
kontakcie elektrod metalowych z powierzchniami
czynnymi tego elementu. Praktyczne rozwiazania
polegaja na ulozeniu elementu kwarcowego na
elektrodzie metalowej o powierzchni dopasowanej
swym ksztaltem do powierzchni elementu i przy¬
cisniecia go druga elektroda metalowa o po¬
wierzchni równiez dopasowanej do drugiej po¬
wierzchni elementu, przy czym elektrody te sa
dolaczane do elektrycznej czesci ukladu pomiaro¬
wego.
Element kwarcowy wraz z elektrodami stanowi
dwójnik elektryczny posiadajacy dwie czestotli¬
wosci rezonansowe wywolane efektem piezo¬
elektrycznym odwrotnym. Odmiana konstrukcyjna 25
tego rozwiazania jest takie umieszczenie elementu
pomiedzy elektrodami, aby powierzchnie czynne
tego elementu oddzielone byly od elektrod waski¬
mi szczelinami powietrznymi.
Czestotliwosci rezonatorów mierzone przy tych 30
sposobach polaryzacji sa (aestoitliwoscdanii wyniko¬
wymi elementu badz odciazonego mechanicznie ele¬
ktrodami, badz szeregowo wlaczonymi z nim po¬
jemnosciami tych szczelin i przez to- silnie sprzezo¬
nego elektrycznie z ukladem pomiarowym, znacz¬
nie wiec odbiegaja od rzeczywistych wartosci
czestotliwosci drgan wlasnych.
Na niezgodnosc tych czestotliwosci skladaja sie
glównie takie czynniki jak zmiana sredniej gestosci
materialu piezoelektrycznego wywolana zewnetrz¬
nym dzialaniem mechanicznym. Zmiana para¬
metrów zastepczego ukladu dwójnika przez wplyw
szeregowo wlaczonych z elementem pojemnosci
szczelin.
Wzgledne przesuniecie czestotliwosci rezonanso¬
wych okreslonych przy tych sposobach polaryza¬
cji, w stosunku do faktycznych jest rzedu 20010-8.
Pomiary wykonane tymi sposobami cechuje przy
tym duza wrazliwosc na sily dociskajace elektro¬
dy, zmiany szczeliny i dokladnosc lokalizacji ob¬
szaru wzbudzania drgan w elemencie. W praktyce
czynniki te wplywaja na niepowtarzalnosc po¬
miarów i ich duzy rozrzut wzgledny "rzedu
50H-100 • 10-5.
W odniesieniu do elementu kwarcowego liczby
te sa bardzo duze i wskazuja zarówno na nie¬
dokladnosc pomiaru jak i na niedostateczna roz¬
róznialnosc poszczególnych egzemplarzy w serii
elementów. Wywieranie przy tym sil mechanicz¬
nych na element kwarcowy w czasie pomiaru
103 529103 529
czestotliwosci pogarsza dobroc elektryczna elemen¬
tu, przez co krzywe rezonansowe splaszczaja sie
obnazajac dodatlCowo dokladnosc pomiaru, przy
ozym niekontrolowany rozklad: naprezen mecha¬
nicznych w .elemencie znieksztalca charakterystyke 5
czestotliwosciowa • elementu mierzonego. Wszystkie
omówione wady sposobu pomiaru nie ustepuja
nawet przy daleko posunietej precyzji wykonania
konstrukcyjnego elektrod.
Znajomosc czestotliwosci wlasnej elementu 10
kwarcowego jest punktem wyjsciowym w ^procesie
jego przygotowania technologicznego jak szlifowa¬
nie i trawienie i musi byc kontrolowana po kazdej
fazie jego obróbki mechanicznej i chemicznej, az
do momentu uzyskania zamierzonej czestotliwosci. 15
Bezposredni pomiar czestotliwosci wlasnej elemen¬
tu jest trudny, poniewaz element nie posiada jesz¬
cze nalozonych elektrod metalicznych.
Celem wynalazku jest uniezaleznienie pomiaru
czestotliwosci elementów piezoelektrycznych od 20
szkodliwego wplywu mechanicznego nacisku ele¬
ktrod na y mierzony element badz trudnej do
kontrolowania pojemnosci szczelin. Dla osiagniecia
tego celu postawiono zagadnienie wskazania takie¬
go sposobu polaryzacja mierzonego elementu, w ^
którym przyczyny powodujace zmiane czestotli¬
wosci dragan wlasnych zostaly by zredukowane
do niezbednego minimum.
Istota wynalazku dotyczaca sposobu polaryzacji
elementu w którym pomiedzy elektrodami pobu- 30
dzajacymi rozstawionym wzdluz przeciwleglych
krawedzi elementu jest umieszczony mierzony ele¬
ment polega na tym, ze mierzony element ustawia
sie przeciwleglymi krawedziami prostopadlymi do
powierzchni czynnych pomiedzy elektrody pobudza- 35
jace. Powierzchnie czynne elementu pozostawia sie
swobodne i element orientuje sie w kierunku az
do uzyskania. maksymaiLnego wskazania przyrzadu.
Zaleta sposobu wedlug wynalazku jest to, ze po¬
wierzchnie czynne pozostaja nie tlumione obecnos- ^
cia elektrod, a sprzezenie elektryczne elementu z
elektrodami i ukladem pomiarowym zostaje w
znacznym stopniu zmniejszone, dzieki czemu
zmniejsza sie wplyw ukladu pomiarowego na
wlasnosci elektryczne elementu. Elektrody wy- 45
korzystuje sie jako czynnik wsporczy. Przenikal-
nosc dielektryczna materialu piezoelektrycznego
powoduje zwiekszenie indukcji elektrycznej w
przestrzeni miedzy elektrodami, a przez to zwiek¬
sza jednorodnosc przenikajacego pola przez caly 50
element.
W ukladach pomiarowych wykorzystujacych me¬
tode bierna transmisyjna z kryterium amplitudo¬
wym, stosowanych dotychczas, gdzie efekt piezo¬
elektryczny w elemencie dociskanym elektrodami 55
do powierzchni czynnych wystepuje silnie, tlumie¬
nie sygnalu transmitowanego z generatora poprzez
ten dwójnik do wzmacniacza jest na ogól bardzo
male. Z tego wzgledu wielkosc wzmocnienia
wzmacniacza w konwencjonalnym ukladzie pomia- M
rowym ma znaczenie drugorzedne. Typowy dla
takiego dwójnika przebieg impedancji w funkcji
czestotliwosci jest analogiczny jak dla rezonatora
kwarcowego to znaczy zawiera skladowe o reak-
tancji zerowej. Ten fakt pozwala przy zastosowa- 65
niu generacyjnego ukladu samowzbudnego wyzna¬
czac czestotliwosc drgan wlasnych dwójnika me¬
toda aktywna.
, •
Elektryczny uklad pomiarowy przylaczony do
dwójnika wedlug wynalazku oparty jest na meto¬
dzie biernej transmisyjnej z kryterium amplitudo¬
wym. Uklad ten sklada sie z przestrajanego gene¬
ratora oraz wzmacniacza szerokopasmowego ze
wskaznikiem analogowym. Zestaw uzupelniony
jest czestosciomierzem cyfrowym. Dwójnik zlozony
z elementu kwarcowego i elektrod pobudzajacych
wlaczony jest wzdluznie pomiedzy wyjscie gene¬
ratora a wejscie wzmacniacza. Wzmacaiacz ma za
zadanie skompensowanie bardzo duzego tlumienia
sygnalu generatora, jakie wprowadza dwójnik z
zastosowanym sposobem polaryzacji elementu
wedlug wynalazku. W tym celu wzmacniacz musi
posiadac duze wzmoonietniie. W praktycznych ukla¬
dach pomiarowych* gdzie stosuje sie generator o
opornosci wyjsciowej 50Q i wzmacniacz o opor¬
nosci wejsciowej 50Q, dla otrzymania czytelnych
wskazan przyrzadu analogowego wzmocnienie na¬
pieciowe wzmacniacza jest rzedu 80 dB.
Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w
przykladzie wykonania na zalaczonym rysunku
perspektywicznym.
Na podstawie analizy stwierdzono, ze charakter
tego dwójnika jest równowaznydiwójmikowi kwarco¬
wemu z. szeregowowlaczona bardzo mala i stala dla
róznych elementówpojemnoscia elefctyrczna. W mia¬
re zmniejszania tej pojemnosci szybko zanika cha¬
rakter indukcyjny dwójnika, a ekstrema odpowia¬
dajace maksimum i minimum impedancji zblizaja
sie do siebie na odleglosc graniczna zalezna tylko
od dobroci elementu kwarcowego, natomiast im-
pedencja ma charakter zlozony, rezystywny i po¬
jemnosciowy. Polozenie punktów ekstremalnych na
osi czestotliwosci jest praktycznie stale. Odstep
wzgledny miedzy punktami ekstremalnymi osiaga
wartosc rzedu 5 • 10-6. Poniewaz czestotliwosc
teoretyczna rezonansu równoleglego drgan wlas¬
nych elementu lezy pomiedzy wierzcholkami
punktów ekstremalnych, maksymalny blad jej
wyznaczenia znajduje sie w tym przedziale.
Powtarzalnosc pomiaru jest wysoka i wynosi 10-5.
Element kwarcowy 1 jest wlozony swobodnie
pomiedzy elektrody 2. Elektrody 2 nie wywieraja
nacisku mechanicznego na powierzchnie F czynne
elementu 1. Elektrody jednoczesnie podtrzymuja
element i wytwarzaja pole elektryczne w plasz-
czynie XZ. Elektrody 2 maja ksztalt krawedzi
elementu w kierunku osi elektrycznej X. Do ele¬
ktrod 2 dolaczone sa doprowadzenia 3 za pomoca
których dwójnik polaczony jest z czescia elektrycz¬
na ukladu pomiarowego. Elektrody 2 wraz z od¬
prowadzeniami 3 zamocowane sa na podstawie 4
wykonanej z materialu dielektrycznego. Element
kwarcowy 1 spoczywa swa dolna krawedzia na
podstawie 4. Powierzchnie F czynne elementu 1
leza w plaszczyznie XZ' ukladu krystalograficzne¬
go, przy czym wektor E pobudzajacego pola ele¬
ktrycznego skierowany jest równolegle do osi X
elementu 1.
/103 529
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób polaryzacji elementu piezoelektrycznego, zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlas¬ nych, w którym pomiedzy elektrodami pobudza¬ jacymi rozstawionym wzdluz przeciwleglych kra¬ wedzi elementu jest umieszczony mierzony element, 6 znamienny tym, ze mierzony element (1). ustawia sie przeciwleglymi krawedziami prostopadlymi do powierzchni czynnych (F) pomiedzy elektrody po¬ budzajace (2), przy czym jego powierzchnie czyn¬ ne (F) pozostawia sie swobodne, zas element orientuje sie w kierunku, az do uzyskania maksy¬ malnego wskazania przyrzadu.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18113175A PL103529B1 (pl) | 1975-06-11 | 1975-06-11 | Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18113175A PL103529B1 (pl) | 1975-06-11 | 1975-06-11 | Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL103529B1 true PL103529B1 (pl) | 1979-06-30 |
Family
ID=19972499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL18113175A PL103529B1 (pl) | 1975-06-11 | 1975-06-11 | Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL103529B1 (pl) |
-
1975
- 1975-06-11 PL PL18113175A patent/PL103529B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Mason et al. | Methods for measuring piezoelectric, elastic, and dielectric coefficients of crystals and ceramics | |
| US4039969A (en) | Quartz thermometer | |
| KR100216885B1 (ko) | 전기장 센서 | |
| Siegel et al. | The variation of Young's modulus with magnetization and temperature in nickel | |
| Benedict et al. | Dielectric Properties of Single Domain Crystals of BaTi O 3 at Microwave Frequencies | |
| US3234461A (en) | Resistivity-measuring device including solid inductive sensor | |
| CN107817045B (zh) | 一种磁耦合谐振式频率检测装置及频率检测方法 | |
| US2817813A (en) | Measurement of the complex tensor permeability and the complex dielectric constant of ferrites | |
| PL103529B1 (pl) | Sposob polaryzacji elementu,piezoelektrycznego,zwlaszcza do pomiaru czestotliwosci drgan wlasnych | |
| JP6510263B2 (ja) | 複素誘電率測定方法 | |
| Roleder | Measurement of the high-temperature electrostrictive properties of ferroelectrics | |
| US3315156A (en) | Method for determining the electrical resistance of a body of extremely pure semiconductor material for electronic purposes | |
| Gerber | A review of methods for measuring the constants of piezoelectric vibrators | |
| Tiedje et al. | The application of capacitive transducers to sound velocity measurements in TTF‐TCNQ | |
| Blunt et al. | The dielectric properties of barium titanate at low temperatures | |
| Burdick et al. | Measurements of large dielectric constants and loss tangents at 55 Gc/s | |
| Kammer et al. | A determination of the elastic constants of beta-quartz | |
| Tiwary et al. | An electrical method for the measurement of thermal expansion of thin films | |
| RU2212736C2 (ru) | Пьезоэлектрический изгибный преобразователь | |
| CN207894514U (zh) | 一种磁耦合谐振式频率检测装置 | |
| RU235851U1 (ru) | Устройство для определения пьезоэлектрических параметров пьезоэлектрического полимерного материала | |
| Zhao et al. | The strength of PIN–PMN–PT single crystals under bending with a longitudinal electricfield | |
| Filippov et al. | New way the determination of magnetostrictive parameters composite multiferroics using the magnetoelectric response | |
| SU1835506A1 (ru) | Cпocoб oпpeдeлehия пobepxhocthoгo coпpotиbлehия | |
| Koike et al. | Elastoresistance effects in evaporated bismuth films |