NO140866B - Fremgangsmaate og innretning for bestemmelse av den optiske kvalitet av en plate av gjennomsiktig eller reflekterende materiale - Google Patents
Fremgangsmaate og innretning for bestemmelse av den optiske kvalitet av en plate av gjennomsiktig eller reflekterende materiale Download PDFInfo
- Publication number
- NO140866B NO140866B NO4637/73A NO463773A NO140866B NO 140866 B NO140866 B NO 140866B NO 4637/73 A NO4637/73 A NO 4637/73A NO 463773 A NO463773 A NO 463773A NO 140866 B NO140866 B NO 140866B
- Authority
- NO
- Norway
- Prior art keywords
- plate
- rays
- light
- reflected
- glass
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 16
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 20
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 claims 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 70
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 7
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 6
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000005340 laminated glass Substances 0.000 description 3
- 241000283070 Equus zebra Species 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229920001084 poly(chloroprene) Polymers 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- 210000003813 thumb Anatomy 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000005329 float glass Substances 0.000 description 1
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 235000019271 petrolatum Nutrition 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 1
- 238000004073 vulcanization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Oppfinnelsen angår generelt billedforvrengning eller optisk kvalitet av gjennomsiktig eller reflekterende materiale,
og særlig et automatisk undersøkelsessystem for måling av over-flatekvaliteten for plant glass ved hjelp av en ensartet standard uttrykt ved linsestyrken eller brennviddene for linser på overflaten eller overflatene av glasset.
I årenes løp er det blitt benyttet forskjellige metoder ved vurderingen av forvrengningskvaliteten for plant glass, deri-blant anvendelse av slike anordninger som de såkalte gitterbord, sebrabord og skiagrafer av forskjellige konstruksjoner. Brukbar-heten av disse metoder som et endelig redskap ved bestemmelse av ' funksjonell distorsjonskvalitet-utvelgelse for maskinglass, speilglass eller float-glass er imidlertid begrenset, da det generelt benyttes mer enn én prøve og menneskelig skjønn inngår i hver prosess ved bestemmelse av om et spesielt glass-stykke ligger innenfor fastsatte kvalitetsgrenser. En faktor som be-grenser visuelle undersøkelsessystemer er oppløsningsevnen for det menneskelige øye. Følsomhet for forskjellige typer av distorsjon eller forvrengning varierer også mellom systemene. For eksempel er en lett forsenkning ("light ream") lett synlig på en skiagraf,men kan bare med vanskelighet sees på et sebrabord og er i det hele tatt ikke synlig på de fleste gitterbordapparater.
For å tillate etablering av ensartede standarder for sortering av glass i kategorier som er egnet for forskjellige bruksformål, uavhengig av visuell undersøkelse og dennes iboende menneskelige variasjon, har man lenge søkt å finne, frem til en metode for automatisk undersøkelse av plant glass. For dette formål har det vært foreslått mange forskjellige anordninger for påvisning av noen eller alle de typer av feil som ofte kan opp-tre i plant glass. Noen sådanne anordninger er vist og beskrevet i de amerikanske patenter nr. 3 166 627, 3 202 043 og 3 533 706. Dissé anordninger har vist seg å ikke være helt tilfredsstillende for fabrikkdrift på produksjonsbasis, da de har tendens til å være følsomme for vibrasjon, luftstrømmer og smuss på glasset, og gir følgelig feilaktige avlesninger. De kan også kreve mye tilsyn av dyktige teknikere for å arbeide på riktig
måte.
Fra US patent nr. 2 446 628 er det videre kjent en anordning for undersøkelse av planheten av en reflekterende plate, hvor det gjøres bruk av to innbyrdes adskilte lysstråler som rettes mot et område av platen, og hvor strålene avføles fotoelektrisk ved et fra platen fjerntliggende punkt, etter at strålene er blitt overført og/eller reflektert av platen. I denne kjente anordning måler to innbyrdes adskilte fotoceller endringen i avstand mellom de benyttede stråler på basis av den varierende in-- tensitet av det lys som når frem til fotocellene. Som følge av lyskildenes natur belyses forholdsvis store områder av den flate som skal undersøkes, og anordningen danner gjennomsnittet av lyset over de belyste områder ved bestemmelse av avstanden mellom strålene på målestedet. Da anordningen er avhengig av lysinten-siteten, vil den ikke kunne skjelne f.eks. mellom et lite, i sterk grad mangelfullt område, og et større område med en mindre alvorlig mangel. Anordningen vil også være forholdsvis utsatt for forstyrrelse på grunn av smuss på undersøkelsesflaten, hvilket er et vanlig problem ved f.eks. måling av glasskvaliteter i et fa-brikkmiljø.
Det er således et formål med oppfinnelsen å tilveiebringe et effektivt system for automatisk måling av forvrengningskvalitet for plater av gjennomsiktig eller reflekterende materiale, hvor forvrengningskvaliteten bestemmes på basis av en standard med konstant referanse, og hvor systemet er uavhengig av menneskelig vurdering slik at det tillater standardisering av sorte-ringen .
Et annet formål med oppfinnelsen er å tilveiebringe et slikt system som er holdbart og forholdsvis lett å vedlikeholde, og som ikke påvirkes urimelig av ytre faktorer, såsom vibrasjon, luftstrømmer, smuss på glasset eller temperaturvariasjoner som
ofte påtreffes i områder hvor sådanne anordninger er installert.
Et ytterligere formål er å lette analysen ved for-mings- og/eller fabrikasjonsprosesser for sådanne materialer ved å tilveiebringe nøyaktige data for størrelsen og typen av optiske ufullkommenheter eller forvrengningsegenskaper.
For oppnåelse av ovennevnte formål er det ifølge oppfinnelsen tilveiebragt en fremgangsmåte for bestemmelse av den optiske kvalitet av en plate av gjennomsiktig eller reflekterende materiale, hvor platens overflater er i hovedsaken glatte og plane i observasjonsområdet og dens ufullkommenheter omfatter sådanne som oppfører seg som linser, ved hvilken fremgangsmåte to innbyrdes adskilte lysstråler rettes mot et område av platen og, etter å ha blitt overført og/eller reflektert av platen, av-føles fotoelektrisk ved et fra platen fjerntliggende punkt, hvilken fremgangsmåte er kjennetegnet ved at lysstrålene er i hovedsaken parallelle og etter den nevnte overføring og/eller refleksjon periodisk og fortløpende avbrytes med en konstant hastighet ved det fjerntliggende punkt, at de avbrutte stråler oppfanges fotoelektrisk slik at det frembringes et signal som omfatter pulser som er adskilt i tid i forhold til avstanden mellom de nevnte stråler i avbrytelsesposisjonen, og at de nevnte pulser behandles for å tilveiebringe en indikasjon på størrelsen og typen av en eventuell optisk ufullkommenhet i det område som er under observasjon.
Ifølge oppfinnelsen er det også tilveiebragt en innretning for utførelse av den angitte fremgangsmåte for bestemmelse
av den optiske kvalitet av en plate av gjennomsiktig eller reflekterende materiale, hvor platens overflater er i hovedsaken glatte og plane og dens ufullkommenheter omfatter linser med forholdsvis lang brennvidde i observasjonsområdet, hvilken innretning omfatter en anordning for understøttelse av platen i en undersøkelses-stilling, en lyskilde som retter to innbyrdes adskilte, innfallende lysstråler mot platen, og en lysfølsom anordning for fotoelektrisk avføling av de av platen overførte og/eller reflekterte lysstråler, hvilken innretning er kjennetegnet ved at lyskilden frembringer i hovedsaken parallelle lysstråler med en forutbestemt innbyrdes avstand ved platen, og at det er anordnet en avbryteranordning som fanger opp og med en konstant hastighet fort-løpende avbryter de av platen overførte og/eller reflekterte lysstråler, en lysfølsom anordning som fanger opp de avbrutte strå-
ler og frembringer signaler som er adskilt i tid i forhold til avstanden mellom strålene ved avbryteranordningen, og en behandlingsanordning for å motta de nevnte signaler og sammenlikne den nevnte stråleavstand ved avbryteranordningen med den forutbestemte innbyrdes avstand, og dermed indikere typen og størrelsen av optisk ufullkommenhet i undersøkelsesområdet.
Ifølge oppfinnelsen er det således tilveiebragt et system for automatisk undersøkelse av forvrengningskvaliteten for plateglass eller andre gjennomsiktige eller reflekterende materialer, hvor linsestyrken eller brennviddene for linser eller ufullkommenheter på glassoverflåtene måles. Selv om avsøkningen kan utføres i vilkårlig retning, utføres den vanligvis på tvers av trekkeretningen, dvs. på tvers av den retning i hvilken glass-remsen opprinnelig dannes. Man har funnet at tilstander i plate-glasset som forårsaker forvrengning, vanligvis opptrer som langsgående striper eller tykkelsesvariasjoner eller ikke-plane områder på glassoverflåtene. Ved avsøkning på tvers av trekkeretningen, fremkommer disse ikke-plane områder som linser hvor disses bredde og linsestyrke tjener som et pålitelig mål på glassets forvrengningskvalitet. Utnyttet på denne måte tjener linsene som basis for oppsetning av standarder for sortering av glasset, uavhengig av menneskelig skjønn.
En helium-neonlaser benyttes til å frembringe en så godt som perfekt parallell bunt av lysstråler. Denne strålebunt splittes opp i to i hovedsaken parallelle stråler som ledes gjennom eller reflekteres fra glassprøven til en avbryter- eller opphakkerenhet. Avbryteren eller opphakkeren tillater først den ene stråle og deretter den andre å falle på en fotocelle. Fotocellen sender følgelig ut et elektrisk signal bestående av to pulser som er adskilt i tid med et beløp som er proporsjonalt med avstanden mellom strålene når disse ankommer til avbryteren. Etter hvert som strålene avsøkes gjennom systemet, endres avstanden mellom strålene ved avbryteren i forhold til den resiproke verdi av brennvidden for eventuelle linser i glassprøven. Således vil et positivt eller konvekst linseområde forårsake at strålene konvergerer, mens en negativ eller konkav linse vil forårsake at de divergerer når de forlater glasset. De adskilte stråler fokuseres på avbryteren eller opphakkeren ved hjelp av et konkavt speil som forårsaker at strålene inverteres slik at en konveks linse på glasset i virkeligheten forårsaker at avstanden mellom strålene øker ved avbryteren, mens en konkav linse forårsaker at avstanden avtar. Pulsene fra fotocellen blir passende forsterket og differensiert, pulsavstanden omformes til et ana-logt signal og filtreres, og det resulterende signal tilføres til en remseskriver etter hvert som glasset avsøkes. Remsestrimme-lens lengdeakse representerer stillingen langs prøven, mens den vertikale akse representerer linsestyrken for linser på glasset. Generelt gjelder at jo kortere brennvidden for en linse er, jo mer anstøtelig er den for en betrakter. På remsestrimmelen er amplituden proporsjonal med linsestyrken for linser på glasset. Således indikerer strimmelen forvrengningskvaliteten uttrykt ved linsestyrken ved et vilkårlig punkt langs glassprøven.
Oppfinnelsen skal beskrives nærmere i det.følgende under henvisning til tegningene, der fig. 1 er et gjennombrutt planriss av en innretning ifølge oppfinnelsen for måling av forvrengningskvalitet, fig. 2 er et sideriss, delvis i snitt, som viser lyskilden og avbryterenheten ifølge oppfinnelsen, fig. 3 er et sideriss i hovedsaken etter linjen 3 - 3 på fig. 1 og viser trans-portør- og refleksjonssystemet, fig. 4 er et forstørret, ufullstendig og delvis gjennomskåret bilde som viser avbryterenheten ifølge oppfinnelsen, fig. 5 er et forstørret, delvis gjennomskåret bilde som viser stråledeleren og dens innstillingsmekanisme, og fig. 6 er et ufullstendig planriss av stråleavstandskalibratoren på transportørskinnene; fig. 7 er et blokkdiagram som viser forbindelsen mellom komponentene i de optiske og elektroniske sy-stemer ifølge oppfinnelsen, fig. 8 er et skjematisk diagram som illustrerer registrering av data på remsestrimmelen ved vurdering eller undersøkelse av en glassplate med plane overflater når innretningen ifølge oppfinnelsen drives i overføringsmodusen, fig. 9 er en lignende skjematisk fremstilling som på fig. 8 og illustrerer den måte på hvilken en positiv linse på overflaten represen-teres ved en spiss over strimmelens senterlinje, idet spissens amplitude indikerer styrken av linsen, fig. 10 er en lignende skjematisk fremstilling som på fig. 8 og 9, men som viser den måte på hvilken et negativt linseområde på glassoverflaten repre-senteres ved en spiss under strimmelens senterlinje, og fig. 11 er en skjematisk fremstilling som illustrerer lysstrålenes baner når innretningen ifølge oppfinnelsen drives i refleksjons- eller av spe i1ing smodu s en.
På tegningene er undersøkelsessystemet eller distorsjonsmåleren ifølge oppfinnelsen generelt vist ved 15 på fig. 1. Som best vist på fig. 1, 2 og 3, omfatter systemet en laserlyskil-de 16, en stråledelerenhet 17, et speilsystem 18, en vogn 19 som bærer en glassplate S som skal undersøkes, en avbryterenhet 2 0 og en signalanalyserende og registrerende anordning 21.
Selv om andre konvensjonelle lyskilder kan benyttes med hell, har det vist seg at en laveffekts laser er meget velegnet for anvendelse i oppfinnelsen da den tilveiebringer en intens, i høy grad kollimert lysstråle og har lave omkostninger og lite ved-likehold. Lyskilden 16 omfatter en laserenhet 22 som er stillbart montert slik at lysstrålen fra denne kan orienteres riktig i un-dersøkelsessystemet. For dette formål er laserenheten 22 montert i lagerblokker 2 3 for svingende bevegelse om en horisontal akse 24. Lagerblokkene 23 bæres av en festeplate 25 på en basisplate 26 som på sin side hviler på en støtteplate 27. Basisplaten er festet til støtteplaten f.eks. ved bolter 28, og mellomlegg 29 kan anbringes mellom basis- og støtteplatene etter behov for å heve eller senke hele laserenheten for innstillingsformål. Støt-teplaten bæres på en ramme 3 0 som hviler på gulvet 31 for å holde anordningen i en høyde som er bekvem for driftspersonell. Festeplaten 25 er fastspent til basisplaten 26 ved hjelp av bolter 32 som strekker seg gjennom bueformede slisser 33 i denne, slik at det tilveiebringes en begrenset svingeride bevegelse av festeplaten og laserenheten i horisontalplanet. Innstillingsbolter 34 som er skrudd gjennom ører 35 på laserenheten 22 og hviler mot festeplaten 25, kan manipuleres for å svinge laserenheten 22 om den hori-sontale akse 24 for innstillingsformål. Låsemuttere 36 på inn-stillingsboltene 34 holder disse i stilling når den riktig juster-te stilling er oppnådd.
For å tilveiebringe de to lysstråler som benyttes i systemet, passerer strålen 37 fra laserenheten gjennom stråledelerenheten 17 hvor den splittes opp i høyre og venstre stråler 38 henholdsvis 39 med samme intensitet (fig. 5). Som best vist på . fig. 5, er stråledelerenheten av konvensjonell konstruksjon og omfatter en sokkel 4 0 som bæres av rammen 30 og har en topp-plate 41 anbragt på sokkelen. En brakett 42 som er stillbart festet til topp-platen 41 ved hjelp av settskruer 43, bærer stråledeleren 44 i strålens 37 bane.
På topp-platen 41 er også montert en translasjonsplatt-formanordning 45 med en tommeskrue-innstillingsmekanisme 46 for translasjonsbevegelse av plattformen. En forlengelse 47 rager opp fra plattformen, og en basisplate 48 med en overensstemmende åpning passer over forlengelsen. Ved hjelp av en justeringsmekanisme 49 kan basisplaten 48 roteres om forlengelsen 47 på trans-las jonsplattf ormen i anordningen 45. Et reflekterende speil 50
er svingbart montert i en Y-del 51 som bæres av basisplaten 48,
og en justeringsmekanisme 5 2 er anordnet for nøyaktig svingning av speilet til valgte stillinger i Y-delen.
Av fig. 5 fremgår at når strålen 37 splittes opp av stråledeleren 44, fortsetter den ene del som den høyre stråle 38, og den andre reflekteres tilbake og bort fra speilet 58 for å bli den venstre stråle 39. Med henblikk på anordningens virkemåte er det viktig at strålene 38 og 3 9 er i hovedsaken parallelle, at de holdes i en kjent forutbestemt avstand fra hverandre ved prøven, og at de er horisontalt innrettet. Disse forhold opprettholdes ved manøvrering av innstillingsanordningene 46, 49 og 52. Avstanden mellom strålene ved stråledelerenheten innstilles således ved hjelp av tommeskrueinnstillingsmekanismen 46 som beveger plattformen og det reflekterende speil som bæres av denne, mot eller bort fra stråledelereh 44. Innstillingsmekanismen 49 roterer speilet 50 om en vertikal akse for å innstille stråleavstanden ved glasset, mens innstillingsmekanismen 52 svinger dette om en horisontal akse slik at strålene kan gjøres i hovedsaken parallelle og horisontalt innrettet.
Brennviddene for de linser som skal måles på platen S, er ganske lange, og det er nødvendig at lyskilden 16 og avbryterenheten 20 er anordnet i en viss avstand fra platen for at avbøy-ningen av strålene skal bli nøyaktig oppløst. I en innretning ifølge oppfinnelsen var f.eks. avstanden mellom speilsystemet 18 og stråledeleren og avbryterenheten av størrelsesorden 3,8 til 4 meter. Med innretningen ifølge oppfinnelsen kan det måles linse-brennvidder opp til ca. 1,6 km. Linsestyrken i dioptre defineres som én over brennvidden i meter, og med den foran beskrevne anordning kan en linsestyrke ved glasset på ca. 0,5 millidioptre opplø-ses .
En svak innvirkning på lysstrålene av ytre faktorer kan påvirke avlesningene ugunstig på grunn av den avstand som strålene vandrer, og det er derfor anordnet en innelukket tunnel 53 gjennom hvilken både de innfallende og returnerende stråler vandrer, slik som senere nærmere beskrevet. Tunnelen 53 er ved lyskildeenden
passende understøttet på en pilar 54, og over resten av sin lengde ved hjelp av adskilte sokler 55 (fig. 1) som alle utgjør en del av rammen 3 0 som systemet er montert på. Endene av tunnelen er lukket ved hjelp av gjennomsiktige lokk 56 som er passende belagt for å minimere refleksjonen og som holdes på plass ved hjelp av klem-mer 57. Ved tunnelens lyskildeende er det over det gjennomsiktige lokk anbragt en svakt farget, ugjennomsiktig treffplate 57a som har to små, rektangulære og over hverandre beliggende treffåpninger . De utgående lysstråler passerer gjennom den. nedre av disse åpninger, mens returstrålene passerer gjennom den øvre åpning. For belysning av den svakt fargede treffplate er det anordnet en lampe 58 slik at en observatør ved innretting av det optiske system kan se gjennom tunnelen fra den motsatte ende for å sentrere de røde prikker av laserlysstrålene på de mørke treffåpninger i den belyste, ugjennomsiktige plate. De sentrerte stråler vil således på riktig måte treffe opphakkerhjulet.
Undersøkelsesanordningen ifølge oppfinnelsen er i stand til å måle både den overførte distorsjon eller to-flate-distorsjonen, og den reflekterte distorsjon eller én-flate-distorsjonen av glassplaten S. For noen bruksformål er det således viktig å kjenne distorsjonsegenskapene for den ene overflate av glasset, mens det for andre anvendelser er viktig å kjenne distorsjonsegenskapene for overført lys. Når det f.eks. gjelder glass som skal benyttes til fremstilling av frontflatespeil, er distorsjonskvaliteten for denne ene overflate den kontrollerende faktor, og anordningen ville da bli drevet i refleksjonsmodus. For glass som skal lamineres for motorkjøretøyer, blir likeledes mulig distorsjon som skyldes uregelmessigheter i de indre overflater, effektivt elimi-nert ved lamineringen, slik at én-flate- eller refleksjonsdistor-sjon av den ytre overflate av platen kan være den kontrollereride faktor. Glass hvor den bakre overflate er belagt for å danne et ryggflatespeil, kan også undersøkes ved drift av anordningen i re-fleks jonsmodus . Ved bestemmelse av akseptabel kvalitet av glass for installasjon som glassruteenheter og gjennom hvilke objekter vil bli betraktet, som f.eks. bygningsglass eller bilglass, vil overføringsdistorsjonskvaliteten være den begrensende faktor, og for undersøkelse av denne drives anordningen i overføringsmodus. Fabrikerte bilglass, såsom krumme "side lite"- og "back lite"-enheter og laminerte frontruter kan også undersøkes med hensyn til distorsjonskvalitet på denne måte ved å tilpasse vognen 19 slik at den passer for de krumme enheter. Et annet område hvor oppfinnelsen har vist seg å være uvurderlig, er når det gjelder undersøkel-se av det plastmellomleggsmateriale som skal benyttes ved fremstilling av laminert glass. Prøver på mellomleggsmateriale fjernes fra varepartiet som mottas fra fabrikanten og lamineres mellom glassplater med høy optisk kvalitet. De laminerte prøver blir deretter ved hjelp av innretningen sortert ut fra overføringsdistor-sjon. Da man vet at glassplatene i laminatet er forholdsvis dis-tors jonsf ri, er distorsjonsavlesningen et mål på kvaliteten aV plastmaterialet som mellomlegg i laminert glass.
Vognen 19 omfatter et bord 59 med en flat øvre overflate 60 for understøttelse av plasten S. Overflaten 60 må være helt plan slik at man unngår tilsynelatende distorsjon av platen på grunn av ujevn understøttelse, og den må holde fast platen slik at denne ikke glir på overflaten. For dette formål har man funnet at bordet med fordel kan bestå av en metallplate 61 til hvilken det f.eks. ved vulkanisering er festet et neoprensjikt 62. Neo-prensjiktet blir deretter maskinert for å tilveiebringe den plane overflate 60', og overflaten har tilstrekkelig høy f riks jonskoef-fisient til å holde platen S stabilt på plass når denne anbringes på overflaten. Styrelister 63 er festet til bordet for å bidra til å orientere platen på dette og for å sikre at dennes forkant får ensartet beliggenhet for innledende drift av systemet. Langsgående og tversgående avstivere 64 henholdsvis 65 som er festet til den nedre overflate av platen 61, styrker vognen og hindrer nedbøyning av overflaten 60. En avlang åpning 66 strekker seg på langs av vognen slik at lysstrålene 38 og 39 kan passere gjennom denne i overføringsmodusen for oppfinnelsen slik som nedenfor beskrevet.
Vognen 19 beveges frem og tilbake i en resiprokerende bevegelse for å føre platen forbi lysstrålene og speilsystemet 18 på to langsgående, sylindriske skinner 67 som opptas i overensstemmende bæreblokker 68 som er festet til bordets 59 underside. For at skinnene 67 skal kunne innrettes vertikalt, er de under-støttet på gjengede nivellerings- eller opprettingsbolter 69 som er adskilt over hele skinnenes lengde. Opprettingsboltene er ført gjennom åpninger 70 i forlengelsesplater 71 som bæres av en bygningsramme 72 på hvilken hele vognmontasjen er understøttet, og innstillingsmuttere 73 er innskrudd på opprettingsboltene på hver side av forlengelsesplatene. Ved manipulering av mutrene 73 kan de sylindriske skinner 67 opprettes slik at det tilveiebringes en plan bane for bordet og den på dette anbragte plate.
Den normale hvilestilling av vognen 19 er ved den ytter-ste høyre ende av rammen 72 og skinnene 67 som betraktet på fig. 1. Platen S anbringes på overflaten 60 i denne stilling og deretter aktiveres vognen for å beveges sakte langs skinnene til den motsatte eller venstre ende og deretter returnere til hvilestil-lingen. For å frembringe denne resiprokerende bevegelse, er en endeløs rullekjede 74 ved hjelp av en klemme 75 festet til bunnen av en av de langsgående avstivere 64. Ved den ene ende løper rullekjeden over et kjedehjul 76 på en aksel 77 som er lagret i lageret 78 som er montert på konstruksjonsrammen 72. Ved den andre ende løper kjeden over et hovedkjedehjul 79 på en transmis-jonsaksel 80 som er lagret i lagre 81 som er festet til konstruksjonsrammen. På drivakselen 80 er også anordnet et kjedehjul 82 som bærer en drivkjede 83 som løper over et drivkjedehjul 84 på drivakselen 85 for en utvekslings- og bremseenhet 86, Utveks-lingsenheten drives av en passende reversibel, elektrisk motor 87. Den nedre del av kjeden 74 bæres på en rekke ledehjul 88 som er passende festet til rammen 72 slik at de kan innstilles for å re-gulere strammingen av kjeden. En reverseringsbryter 89 som er montert på konstruksjonsrammen 72, påvirkes av en til vognen 19 festet utløserarm 90 når vognen når ytterpunktet for sin utadgå-ende bevegelse, for å reversere motoren 87 og returnere vognen til sin startstilling. En stoppbryter 91 på rammen ved den motsatte ende har en utløserarm 92 som påvirkes av vognen når denne retur-nerer, for å deaktivere motoren og stanse vognen i dennes hvilestilling.
For å frembringe overensstemmelse mellom avlesningene og tillate bruk av en eneste avbrytermontasje, er det ønskelig at de optiske baner fra glassplaten S til avbrytermontasjen 20 har i hovedsaken samme lengde i refleksjons- og overføringsmodusene. For dette formål blir lysstrålene 38 og 39, når de kommer ut fra tunnelen 53, avbøyd nedover for å falle på glassplaten S ved et første plant speil 93 som er festet på passende måte til en fast-spenningsanordning 94 som er anordnet ved enden av tunnelen 53. Speilet 93 er roterbart montert slik at det kan innstilles for passende innretting av det optiske system.
Når innretningen arbeider i overføringsmodusen, fortsetter strålene 38 og 39, etter at de er avbøyd av speilet 93, gjennom glassplaten S slik at de faller på et under platen anordnet, konkavt speil 95 som tjener til å fokusere strålene på avbryter-eller opphakkerhjulet slik som nærmere beskrevet nedenfor. Speilet 95 er montert i en boks 96 for å beskytte speilet mot støv og smuss som kan være til stede i området. Boksen bæres av en søyle 9 7 som hviler på gulvet 31 og er forbundet med rammen 30 for lyskilden og tunnelen ved hjelp av strevere 98 slik at de forskjellige elementer forblir fiksert i forhold til hverandre. Speilet 95 er understøttet i boksen 95 ved hjelp av et konvensjonelt speil-stativ 99 med innstillingsskruer 100 og 101 for innstilling av speilet om dettes hovedakser. En lukker 102 lukker en åpning 103 i toppen av boksen bortsett fra de tidspunkter når det er nødven-dig at lysstrålene fra glasset faller på speilet. Lukkeren manøv-reres ved hjelp av en stang 104 som er forbundet med ankeret i en solenoid 105. Solenoiden er anordnet i en viss avstand fra lukkeren slik at varme som frembringes under dennes drift ikke forårsaker at en stigende strøm av varmluft beveger seg oppover forbi speilene og forårsaker distorsjon av lysstrålene. Alternativt kan en luftsylinder (ikke vist) benyttes for å manøvrere lukkeren.
Da en sådan luftsylinder ikke frembringer varme under drift, kan den være anordnet i umiddelbar nærhet av lukkeren.
Lukkeren 102 vil normalt være lukket. Når innretningen er innstilt for drift i overføringsmodus, kontrolleres lukkeren av en bryter 106 over platen S og under tunnelen 53.. Bryteren har en arm 107 som glir opp over styrelisten 63 og platen når denne beveges i stilling for undersøkelse, og energiserer dermed solenoiden 105 og åpner lukkeren 102 hver gang en plate befinner seg i stilling for undersøkelse.
Driften av innretningen i refleksjons- og avspeilingsmodusene er i prinsipp den samme. I refleksjonsmodusen blir bare de stråler som reflekteres fra den øvre overflate, utnyttet slik som senere nærmere beskrevet, mens det i avspeilingsmodusen bare er de stråler som reflekteres fra den nedre, avspeilede overflate, som utnyttes. Intensiteten av returstrålene i overførings-
og avspeilingsmodusene er av størrelsesorden 25 ganger så stor som i refleksjonsmodusen. I det elektroniske system benyttes en forforsterker for å bringe signalnivået i refleksjonsmodusen opp på nivået for overførings- og avspeilings-driftsmodusene for videre behandling. Når innretningen drives i avspeilingsmodusen og signalet fra fotocellen ikke blir forforsterket, er det signal som frembringes av de stråler som reflekteres fra den øvre overflate, uvesentlig og kan ignoreres på grunn av denne store for-skjell i intensitet.
For å måle kvaliteten av bare den øvre overflate eller
av en avspeilet, nedre overflate av glassplaten S, omkoples således anordningen fra overføringsmodusen til refleksjonsmodusen henholdsvis avspeilingsmodusen, f.eks. ved hjelp av en bryter
(ikke vist). Slik som senere forklart, blir den del av lysstrålene 38 og 39 som reflekteres fra den øvre overflate av platen eller fra den nedre, avspeilte overflate, alt etter det forelig-gende tilfelle, deretter ledet tilbake gjennom avbrytermontasjen 20 og den signalanalyserende og registrerende anordning 21 for å
gi en indikasjon på kvaliteten av den overflate som undersøkes. For dette formål blir de innfallende lysstråler 38 og 39 som av-bøyes mot platen S av det første plane speil 93, reflektert fra den undersøkte overflate for å oppfanges av et annet plant speil 108 (fig. 3). Fra speilet 108 blir strålene ledet til et konkavt speil 109 som bæres av fastspenningsanordningen 94. Det konkave speil 109 har én konvensjonell to-retningsinnstillingsanordning 110 og tjener til å fokusere den tilsynelatende stråleavstand ved stråledelerenheten på avbryterhjulet. Strålene reflekteres fra det konkave speil 109 til et tredje plant speil 111 og endelig til et fjerde plant speil 112 som leder strålene gjennom tunnelen 53 til avbryterenheten 20. De plane speil 111 og 112 er montert på. fastspenningsanordningen 94 slik at de er svingbare for å tillate riktig innstilling av returstrålene. Speilet 112 er videre montert slik at det er glidbart langs en sliss 113 i fastspenningsanordningen 94, for å tillate innstilling av lengden av den optiske bane for de reflekterte stråler. Det er således mulig å
gjøre lengden av den optiske bane fra glassplaten S til avbryterenheten 20 i det vesentlige lik i overførings-, avspeilings- og refleksjonsmodusene, slik at en eneste avbryterenhet er tilstrekkelig for de tre driftsmoduser. Dette tillater også overførings-modusen null å være referanse for refleksjons- og avspeilings-driftsmodusene.
De deler av strålene som reflekteres fra de øvre og nedre overflater av platen S, blir selvsagt også reflektert når anordningen arbeider i overføringsmodusen. Selv om disse stråler vanligvis er ubetydelige og kan ignoreres som ovenfor angitt, kan de lett hindres fra å nå frem til avbryterenheten, og for dette formål er det i lysstrålenes bane innsatt en sperreklaff eller sperreskive 114 som bæres av stempelet 115 i en luftsylinder 116 på fastspenningsanordningen 94. Når anordningen drives i refleksjons- eller avspeilingsmodusen, trekker luftsylinderen tilbake sitt stempel og trekkersperreskiven ut av banen for de reflekterte stråler 38 og 39. I overføringsmodusen hindrer skiven 114 strålene i å komme inn i tunnelen 53.
De reflekterte stråler fra enten det plane speil 93 i overføringsmodusen eller det plane speil 112 i refleksjons- og avspeilingsmodusene, vandrer tilbake gjennom tunnelen 53 og gjennom dekslene 56 ved dennes ender for å falle på avbryterenheten 20. Som best vist på fig. 2 og 4, er selve avbryterenheten en mer eller mindre standard konstruksjon og omfatter en trommel 117 som er anordnet på akselen av og drives med konstant hastighet av en motor 118. Motoren er montert på en brakett 119 som bæres av rammen slik at trommelen ligger i banen for de reflekterte stråler 38 og 39. Trommelen 117 har en periferisk flens 120 i hvilken det er anordnet to slisser 121 som er 180° innbyrdes adskilt på trommelen. En mindre trommel med en eneste sliss kan også benyttes, men det foretrekkes å ha en forholdsvis stor diameter, av størrelsesorden 20 cm, for å redusere omkretskrumningen slik at de adskilte lysstråler vil stå mer tilnærmet normalt på trommeloverflaten ved de punkter hvor strålene treffer overflaten. To slisser som er 180° innbyrdes adskilt, blir benyttet i stedet for en eneste sliss for å redusere den nødvendige vinkelhastighet av trommelen. Lokk eller deksler 122 er festet over slissene, f.eks. ved hjelp av bolter 123.
Når trommelen 117 roterer med konstant hastighet, hak-ker den opp eller avbryter lysstrålene 38 og 39 med et tidsinter-vall som er proporsjonalt med avstanden mellom strålene. En linse 124 som er montert i trommelen, fokuserer de fortløpende avbrutte stråler på en fotocelle 12 5 i trommelen. Fotocellen frembringer således<1,> to elektriske pulser som er adskilt i tid i forhold til avstanden mellom lysstrålene for hver halv omdreining av trommelen 117. Slik som senere forklart, overføres pulsene til den signalanalyserende og registrerende mekanisme 21 for omforming til data som indikerer stillingen og brennvidden av linser på overflaten eller overflatene av glassplaten S.
For å illustrere innretningens virkemåte, er de optiske og elektroniske faser av oppfinnelsen vist skjematisk i blokkdia-grammet på fig. 7. Således blir en nøyaktig kollimert lysstråle med Gauss-energifordeling rettet fra laserkilden 16 til stråledeleren 44 som deler opp strålen i de høyre og venstre stråler 38 henholdsvis 39. Den venstre stråle 39 reflekteres av det plane speil 50 slik at den er i hovedsaken parallell med og adskilt fra den høyre stråle 38. De adskilte stråler blir deretter reflektert av det første plane speil 93 mot glassplaten S på bordet 59. Dersom innretningen drives i overføringsmodusen for å måle distorsjon eller forvrengning gjennom glassplaten, passerer strålene gjennom glasset der de avbøyes dersom en linse er til stede. Strålene blir deretter av det konkave speil 95 reflektert tilbake gjennom glassprøven til det første plane speil 93. Det konkave speil fokuserer den tilsynelatende stråleavstand ved stråledelermontasjen på opphakker- eller avbryterhjulet. Ved tilbakepassasje gjennom prøven blir strålene selvsagt på nytt avbøyd av linsene. Det plane speil 93 retter de adskilte stråler mot avbryterhjulet 117 og fotocellen 125 i dette.
Dersom innretningen arbeider i enkelflate- eller avspeilingsmodusene, blir lysstrålene 38 og 39 reflektert fra glassprø-ven S til det andre plane speil 108 og deretter til det konkave speil 109 ved hjelp av hvilket strålene blir fokusert på avbryterhjulet. Strålene blir deretter av de tredje og fjerde plane speil 111 henholdsvis 112 rettet mot avbryterhjulet 117.
For hver halv omdreining av avbryterhjulet 117 frembringer fotocellen 125 i dette to elektriske pulser med en tidsavstand
(t) som er proporsjonal med stråleavstanden ved overflaten av avbryterhjulet. Disse pulser tilføres til den elektroniske, signalanalyserende og registrerende anordning 21 (fig. 1). Hovedfunk-sjonen for den elektroniske enhet er å forsterke lavnivåsignalet fra fotocellen til en amplitude ved hvilken tiden mellom pulstop-per kan omformes til en analog spenning som kan filtreres og inte-greres over lengden av glassplaten S og angis på en remseskriver.
Da bare en liten prosent av det innfallende lys blir reflektert av glassoverflaten, er fotocellens utgangssignal selvsagt mye svakere i refleksjonsmodusen enn for overførings- og avspei-lingsdriftsmodusene, slik som foran beskrevet. For å bringe intensiteten av dette signal opp til nivået i de andre driftsmoduser og tilveiebringe tilstrekkelig utgangssignal i hver modus, er en forforsterker 126 innkoplet i kretsen foran forsterkertrinnet i refleksjonsmodusen. Deretter går signalet i alle driftsmoduser gjennom en forsterker 127 for forsterkning til en passende stør-relse, og blir deretter tilført til en differensiator 128. Signalet blir differensiert for å lokalisere nøyaktig inngangspuls-toppene. Da inngangspulsens helling er null på toppen, er det et tilsvarende nullgjennomgangspunkt på differensiatorens utgang. Signalet tilføres deretter til en Schmitt-trigger 129 som koples på ved en svakt positiv inngangsverdi og stenges av ved null. Som et resultat blir utgangen et sett firkantpulser P, og P2 (fig. 7). Tiden mellom slutten på pulsene P-^ og P2 er lik tiden mellom top-pene av fotocellens utgangspulser.
Pulsene P^ og P2 tilføres til en signalport 130 som tillater de to pulser å passere til en omformer 131, og deretter luk-kes porten og avviser ethvert signal inntil det neste sett av pulser skal ankomme til portinngangen. Tilfeldig støy som kan opp-tre mellom pulssettene, tillates således ikke å komme til omformeren 131 som mottar signalet fra porten 130. Omformeren omformer tiden mellom slutten av pulsene P-^ og P2 til en analog spenning som deretter passerer til et filtersystem 132 med fire maneult velgbare driftsmoduser, nemlig ikke noe filter, lavpass, høypass, og en kombinasjon av lavpass og høypass som gir et båndpassfilter. I lengderetningen representerer signalet fra omformeren 131 belig-genheten L (fig. 7) langs platen S, mens tverretningen representerer linsestyrken LP ved denne spesielle beliggenhet.
Den tilsynelatende linse i glasset kan være enten en linse på overflaten eller en krumning i selve glasset som gir dette en korrugert virkning. Visse av disse mangler er mer be-tydningsfulle i glass som skal benyttes for visse formål enn for andre. For eksempel i speilglass er brede striper eller korrugeringer mest uheldig, mens smale striper eller korrugeringer er mer uheldige i bilfrontruter. De forskjellige filtre benyttes til å eliminere fra signalet de mangler som ikke ville gjøre glasset uønsket for et spesielt formål.
Utgangssignalet fra filtersystemet overføres gjennom en selektiv bryter (ikke vist) til en remseskriver 133 ved hjelp av hvilken data blir registrert. Den analoge spenning tilføres også til en integrator 13 4 som gir en total-kvalitet for platen S i overensstemmelse med bestemte standarder, og denne kvalitet utleses via en bryter til skriveren 133.
På fig. 8 - 11 er skjematisk vist innretningens virkemåte for å detektere og registrere mangler eller feil i de forskjellige moduser. På fig. 8 arbeider således innretningen i over-føringsmodusen, og strålen 37 fra laserlyskilden 16 splittes opp av stråledeleren 44 slik at det ved hjelp av det reflekterende speil 50 tilveiebringes høyre og venstre stråler 38 og 39. Strålene overføres gjennom glassplaten S som har plane front- og rygg-flater 135 og 136, slik at strålene ikke blir avbøyd i forhold til hverandre. Strålene blir deretter ved hjelp av det konkave speil 95 reflektert og fokusert på avbryterhjulet 117, slik at de fort-løpende passerer gjennom slissen 121 for å falle på fotocellen 125. De resulterende pulser som er adskilt i tid i forhold til stråleavstanden ved overflaten av avbryterhjulet, behandles ved hjelp av den signalanalyserende anordning 21, og da strålene ikke er blitt avbøyd, vil signalet bli registrert som en rett linje langs senterlinjen av strimmelen i remseskriveren 133.
På fig. 9 har glassplaten S i overdrevet form en positiv eller konveks linse 137 på sin frontplate 135. Dette forårsaker at.lysstrålene 38 og 39 konvergerer når de passerer gjennom glassplaten. Ved sin fokusering av strålene på avbryterhjulet forårsaker speilet 95 at strålene inverteres slik at avstanden mellom strålene økes ved avbryterhjulets slisser 121. Den resulterende økede avstand mellom pulser fra fotocellen forårsaker at signalet etter behandling i den elektroniske analyseringsenhet 21 registreres som en topp eller spiss over senterlinjen på remseskriverens strimmel. På fig. 10 har derimot glassplaten på sin overflate en konkav eller negativ linse 138 som forårsaker ulik avbøyning av strålene 38 og 39 slik at disse divergerer. Etter at strålene er invertert av speilet 95 blir således stråleavstanden ved slissene eller spaltene 121 redusert og signalet registreres som en spiss under senterlinjen på skriverstrimmelen. En erfaren observatør kan med et blik på remsestrimmelen avgjøre antall, type, størrelse og beliggenhet av feil i glassplaten. Uregelmessighetene kan selvsagt også befinne seg på den bakre overflate 136 av platen eller de kan være en kombinasjon av tilstander på den fremre og bakre overflate. I disse situasjoner kan det bestemmes om feilene er linser eller korrugeringer ved å undersøke begge overflater i re-fleks jonsmodusen, og deretter plassere topp- og bunnoverflateav-søkningene i flukt med hverandre. Dersom de to kurver da ligger over hverandre, er glasset korrugert. Dersom kurvene ikke ligger over hverandre, inneholder glasset linser, dvs. tykkelsesvariasjoner.
Refleksjons-driftsmodusen er illustrert på fig. 11. I denne modus blir den del av strålene 38 og 39 som reflekteres fra den fremre overflate 135 av platen, fokusert på avbryterhjulet 117 ved hjelp av det konkave speil 109. For å hindre tilfeldige lysstråler som reflekteres fra den bakre overflate 136, i å forstyrre under måling av enkel overflatedistorsjon av en glatt glassplate, blir et belegg 139 av et lysspredende materiale, såsom vanlig va-selin, påført på den bakre overflate 136. Dette sjikt hindrer at lysstrålene passerer forbi platen og sprer lyset som overføres til den bakre overflate, slik at dette ikke reflekteres og når fotocellen for å gi feilaktige avlesninger. Ved gradering av en prøve med avspeiling ved den bakre overflate har på den annen side den bakre overflate 136 et reflekterende speilbelegg (ikke vist) i stedet for det lysspredende sjikt, og de stråler som reflekteres fra speilbelegget, måles ved avbryteren.
For at de distorsjonsdata som frembringes av innretningen, skal være overensstemmende og nøyaktige, er det vesentlig at avstanden mellom strålene 38 og 39 når disse treffer platen S, er kjent og holdes konstant. Hvilken som helst passende stråleavstand kan benyttes, men den må forbli konstant for å tillate standardisering av resultatene. For eksempel er en avstand på 0,625 mm blitt funnet å være særlig g!odt egnet. For dette formål er det anordnet en stråleavstandskalibrator 140 (fig. 6) ved hjelp av hvilken måleavstanden kan kontrolleres periodisk og jus-teres dersom det er nødvendig. Kalibratoren omfatter en plattform 141 som på sin nedre overflate har føringsblokker 142 som er tilpasset til å gli på de sylindriske skinner 67. Når man ønsker å kontrollere avstanden mellom de innfallende stråler 38 og 39, skyves bordet 59 til enden av de sylindriske skinner 67 slik at det forskyves fra en stilling under speilsystemet 18. Stråleavstandskalibratoren anbringes deretter på skinnene og beveges i stilling under speilsystemet 18.
Ved sentrum av plattformen 141 er anordnet en førings-montasje 143 i hvilken det er montert en plattform 144 for line-ært glidende bevegelse. Et mikrometer 145 ved den ene ende av plattformen beveger denne langs føringsmontasjen, og to fjærer 146 presser plattformen mot mikrometeret. To fotoceller 14 7 som frembringer like signaler, er montert på plattformen 144 i den stilling som opptas av en glassplate S på bordet 59. Fotocellene er ved hjelp av ledere 148 forbundet med et konvensjonelt måleinstru-ment 14 9 på en slik måte at når de aktiveres likt av en lysstråle, opphever de hverandre og måleinstrumentets avlesning vil bli null.
Ved kontroll av stråleavstanden innstilles mikrometeret 145 på null. Den ene av strålene, f.eks. den venstre stråle 39, blokkeres og plattformen 141 beveges langs skinnene 67 inntil den høyre stråle 38 visuelt sentreres på fotocellene og måleinstrumentets avlesning er null. Mikrometeret 14 5 innstilles deretter på 0,625 mm, eller hva nå den ønskede stråleavstand kan være, uten at plattformen 141 beveges på skinnene. Strålen 39 blir deretter avblokkert og strålen 38 blokkeres. Dersom strålene har riktig innbyrdes avstand, vil måleinstrumentets avlesning være null. Dersom måleinstrumentet ikke viser null, manøvreres innstillingsmekanismen 49 på stråledeleren inntil avlesningen blir lik null. Deretter avblokkeres strålen 38 og stråleavstandskalibratoren 140 fjernes fra skinnene for å klargjøre distorsjonsmåleren for drift.
Selv om oppfinnelsen er særlig tilpasset for og i det foregående er blitt beskrevet i forbindelse med undersøkelse av monolittiske, plane glassplater, vil man innse at den i videre
forstand kan anvendes ved undersøkelse og klassifisering av hvil-
ket som helst gjennomsiktig eller reflekterende materiale hvor nærvær av forskjellige brytningsindekser eller grader av overfla-
teplanhet kan være av betydning. Oppfinnelsen kan således anven-
des ved undersøkelse av krumme glassplater, laminert glass, for-
skjellige former for plast og polerte metallflater. For eksempel kan velegnetheten for plastmellomleggsmateriale for laminering kontrolleres ved at en prøve av materialet lamineres mellom glass-
flater med kjente optiske egenskaper, og den laminerte enhet der-
etter undersøkes. Eventuelle feil som ikke er fremkommet i de in-
dividuelle glassplater, må således tilskrives plastmellomlegget.
Claims (13)
1. Fremgangsmåte for bestemmelse av den optiske kvalitet
av en plate (S) av gjennomsiktig eller reflekterende materiale,
hvor platens overflater (135, 136) er i hovedsaken glatte og plane i observasjonsområdet og dens ufullkommenheter omfatter sådanne
som oppfører seg som linser (137, 138), ved hvilken fremgangsmåte to innbyrdes adskilte lysstråler (38, 39) rettes mot et område av platen (S) og, etter å ha blitt overført og/eller reflektert av
platen, avføles fotoelektrisk ved et fra platen fjerntliggende
punkt, karakterisert ved at lysstrålene (38, 39) er i hovedsaken parallelle og etter den nevnte overføring og/eller
refleksjon periodisk og fortløpende avbrytes (20) med en konstant hastighet ved det fjerntliggende punkt, at de avbrutte stråler
(38R, 38T, 39R, 39T) oppfanges (125) fotoelektrisk slik at det
frembringes et signal som omfatter pulser som er adskilt i tid i forhold til avstanden mellom de nevnte stråler (38R, 38T, 39R,
39T) i avbrytelsesposisjonen, og at de nevnte pulser behandles for å tilveiebringe en indikasjon på størrelsen og typen av en eventuell optisk ufullkommenhet i det område som er under observasjon.
2. Fremgangsmåte ifølge krav 1, karakterisert ved at en del (38R, 39R) av de nevnte stråler (38, 39) reflekteres fra den første overflate (135) av platen til det nevnte fjerntliggende punkt, for å detektere ufullkommenheter ved den første overflate.
3. Fremgangsmåte ifølge krav 1 eller 2, hvor platen er gjennomsiktig, karakterisert ved at den del av strålene (38, 39) som overføres gjennom platen spredes ved den andre overflate (13 6) for å hindre at noen del av strålene reflekteres derfra til det fjerntliggende punkt.
4. Fremgangsmåte ifølge krav 1, hvor platen er gjennomsiktig, karakterisert ved at de nevnte stråler (38, 39) overføres gjennom platen og deretter reflekteres tilbake gjennom platen til det fjerntliggende punkt.
5. Fremgangsmåte ifølge krav 4, karakterisert ved det trinn å blokkere (114) eventuelle refleksjoner av de nevnte stråler fra den første overflate av platen til det fjerntliggende punkt.
6. Fremgangsmåte ifølge krav 1, hvor platen har et reflekterende belegg på sin andre overflate (136) , karakterisert ved at strålene reflekteres av det reflekterende belegg til det nevnte lysfølsomme element.
7. Innretning for utførelse av fremgangsmåten ifølge krav 1, for bestemmelse av den optiske kvalitet av en plate (S) av gjennomsiktig eller reflekterende materiale, hvor platens overflater (135, 13 6) er i hovedsaken glatte og plane og dens ufullkommenheter omfatter linser (137, 138) med forholdsvis lang brennvidde i obser-vas jonsområdet, hvilken innretning omfatter en anordning (19) for understøttelse av platen (S) i en undersøkelsesstilling, en lyskilde (16) som retter to innbyrdes adskilte, innfallende lysstråler (38, 39) mot platen (S), og en lysfølsom anordning (125) for fotoelektrisk avføling av de av platen overførte og/eller reflekterte lysstråler (38T, 39T, 38R, 39R), karakterisert ved at lyskilden (16) frembringer i hovedsaken parallelle lysstråler (38, 39) med en forutbestemt innbyrdes avstand ved platen (S), og at det er anordnet en avbryteranordning (20) som fanger opp og med en konstant hastighet fortløpende avbryter de av platen over-førte og/eller reflekterte lysstråler (38T, 39T, 38R, 39R), en lysfølsom anordning (125) som fanger opp de avbrutte stråler og frembringer signaler som er adskilt i tid (t) i forhold til avstanden mellom strålene (38R, 39R, 38T, 39T) ved avbryteranordningen (20), og en behandlingsanordning (21) for å motta de nevnte signaler og sammenlikne den nevnte stråleavstand ved avbryteranordnin
gen med den forutbestemte innbyrdes avstand, og dermed indikere typen og størrelsen av optisk ufullkommenhet i undersøkelsesområ-det.
8. Innretning ifølge krav 7, karakterisert ed at anordningen (16) som retter lysstrålene (38, 39) mot platen (S), omfatter en kilde (22) som frembringer en kollimert lysstråle (37), og en stråledeler (44) og et speil (50) som splitter opp den kollimerte stråle (37) i de nevnte i hovedsaken parallelle lysstråler (38, 39).
9. Innretning ifølge krav 7 eller 8, karakterisert ved at den omfatter et konkavt speil (109) som er anbragt på samme side av platen som den nevnte anordning (16) som retter lysstrålene (38, 39) mot platen, for å fange opp den del (38R, 39R) av lysstrålene som reflekteres fra platens fremre overflate (135) og en avspeilet bakre overflate (136) av platen, og fokusere den nevnte del på avbryteranordningen (20).
10. Innretning ifølge ett av kravene 7-9, karakterisert ved at den omfatter et konkavt speil (95) som er anbragt på den side av platen som ligger motsatt av anordningen (16) som retter lysstrålene (38, 39) mot platen, for å fange opp de stråler (38T, 39T) som overføres gjennom platen, og fokusere disse på avbryteranordningen (2 0).
11. Innretning ifølge ett av kravene 7-10, karakterisert ved at avbryteranordningen (20) omfatter en trommel (117) som er montert for rotasjon om sin lengdeakse og som har minst én åpning (121) i trommelveggen gjennom hvilken de nevnte lysstråler (38R, 39R, 38T, 39T) passerer, og at den lysfølsomme anordning (125) er montert i trommelen (117) for å fange opp lysstrålene som passerer gjennom den nevnte åpning.
12. Innretning ifølge ett av kravene 7-11, karakterisert ved at den signalbehandlende anordning (21) omfatter en forsterker (127), en differensiator (128), en Schmitt-trigger (129), en signalport (130), en digital-analogomformer (131), et filter (132) og en anordning (133) for registrering av det behandlede signal.
13. Innretning ifølge krav 7, hvor anordningen (19) for understøttelse av platen (S) i en undersøkelsesstilling omfatter en vogn (59, 67, 68) på hvilken platen hviler, og anordninger (74, 86, 87) for bevegelse av vognen (59, 67, 68) for å bevege platen på denne forbi de innbyrdes adskilte lysstråler (38, 39) for dermed å avsøke en stripe tvers over platen, karakterisert ved at den omfatter en remseskriver (133) for mot-tagelse og registrering av det behandlede signal, hvorved amplituden av det registrerte signal representerer type og størrelse av de nevnte ufullkommenheter, og signalets lengdeakse representerer posisjonen langs den nevnte stripe tvers over platen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US31278572A | 1972-12-06 | 1972-12-06 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NO140866B true NO140866B (no) | 1979-08-20 |
NO140866C NO140866C (no) | 1979-11-28 |
Family
ID=23212994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NO4637/73A NO140866C (no) | 1972-12-06 | 1973-12-05 | Fremgangsmaate og innretning for bestemmelse av den optiske kvalitet av en plate av gjennomsiktig eller reflekterende materiale |
Country Status (18)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3788750A (no) |
JP (1) | JPS5435516B2 (no) |
AR (1) | AR204709A1 (no) |
BE (1) | BE807814A (no) |
BR (1) | BR7309517D0 (no) |
CA (1) | CA999135A (no) |
CH (1) | CH571706A5 (no) |
DE (1) | DE2361209C2 (no) |
ES (1) | ES420614A1 (no) |
FR (1) | FR2210292A5 (no) |
GB (1) | GB1443976A (no) |
IE (1) | IE38495B1 (no) |
IT (1) | IT1008612B (no) |
LU (1) | LU68873A1 (no) |
NL (1) | NL180783C (no) |
NO (1) | NO140866C (no) |
SE (1) | SE398552B (no) |
ZA (1) | ZA738540B (no) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4255055A (en) * | 1979-05-11 | 1981-03-10 | Libbey-Owens-Ford Company | Surface inspection system for detecting flatness of planar sheet materials |
US4455086A (en) * | 1982-02-09 | 1984-06-19 | Sira Institute Limited | Optical test apparatus for examining an object |
JPS5985947A (ja) * | 1982-07-31 | 1984-05-18 | ドイツチエ・フオルシユングス−ウント・フエルズ−フスアンシユタルト・フユ−ル・ルフト−ウント・ラウムフア−ルト・エ−・フアウ | ガラスの密度の不均一性を定量的に測定する方法及び装置 |
US4512661A (en) * | 1982-09-02 | 1985-04-23 | The United States Of America As Represented By The Aministration Of The National Aeronautics And Space Administration | Dual differential interferometer |
US4585343A (en) * | 1983-11-04 | 1986-04-29 | Libbey-Owens-Ford Company | Apparatus and method for inspecting glass |
US4735508A (en) * | 1986-06-02 | 1988-04-05 | Honeywell Inc. | Method and apparatus for measuring a curvature of a reflective surface |
JP3042693B2 (ja) * | 1989-12-28 | 2000-05-15 | 旭硝子株式会社 | 透視歪の測定方法及びその装置並びに表面3次元形状の測定方法及びその装置 |
DE4035168A1 (de) * | 1990-11-06 | 1992-05-07 | Flachglas Ag | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der optischen qualitaet einer transparenten platte |
US5251010A (en) * | 1991-06-07 | 1993-10-05 | Glasstech, Inc. | Optical roller wave gauge |
DE9211860U1 (de) * | 1991-09-16 | 1992-11-05 | Lisec, Peter, Amstetten-Hausmening | Anordnung zum Prüfen der Versiegelung von Isolierglasscheiben |
US5477332A (en) * | 1992-12-17 | 1995-12-19 | Mcdonnell Douglas Corporation | Digital image system and method for determining surface reflective and refractive characteristics of objects |
US5880843A (en) * | 1997-09-03 | 1999-03-09 | Vitro Flotado, S.A. De C.V. | Apparatus and method for determining the optical distortion of a transparent substrate |
US6339491B1 (en) * | 1998-12-09 | 2002-01-15 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Dustproof structure of optical box |
US6985231B2 (en) * | 2001-09-20 | 2006-01-10 | Strainoptics, Inc. | Method and apparatus for measuring the optical quality of a reflective surface |
US7023542B2 (en) * | 2002-04-03 | 2006-04-04 | 3M Innovative Properties Company | Imaging method and apparatus |
TWI240790B (en) * | 2004-09-01 | 2005-10-01 | Optimax Tech Corp | Apparatus and methods for automatically measuring curls of optical sheets |
WO2008149712A1 (ja) * | 2007-06-01 | 2008-12-11 | University Of Miyazaki | 歪検査装置、及び歪検査方法 |
CN101382502B (zh) * | 2007-09-07 | 2011-07-27 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 表面污点检测系统及其检测方法 |
JP2018147579A (ja) * | 2017-03-01 | 2018-09-20 | オムロン株式会社 | 光電センサ |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2446628A (en) * | 1947-03-06 | 1948-08-10 | Eastman Kodak Co | Flatness testing apparatus |
US3533706A (en) * | 1966-05-02 | 1970-10-13 | Libbey Owens Ford Glass Co | Inspecting glass |
-
1972
- 1972-12-06 US US00312785A patent/US3788750A/en not_active Expired - Lifetime
-
1973
- 1973-01-01 AR AR251330A patent/AR204709A1/es active
- 1973-11-05 CA CA185,027A patent/CA999135A/en not_active Expired
- 1973-11-06 ZA ZA00738540A patent/ZA738540B/xx unknown
- 1973-11-06 GB GB5140973A patent/GB1443976A/en not_active Expired
- 1973-11-06 IE IE1997/73A patent/IE38495B1/xx unknown
- 1973-11-16 ES ES420614A patent/ES420614A1/es not_active Expired
- 1973-11-19 NL NLAANVRAGE7315809,A patent/NL180783C/xx not_active IP Right Cessation
- 1973-11-22 IT IT53849/73A patent/IT1008612B/it active
- 1973-11-26 BE BE138179A patent/BE807814A/xx not_active IP Right Cessation
- 1973-11-28 LU LU68873A patent/LU68873A1/xx unknown
- 1973-12-04 BR BR9517/73A patent/BR7309517D0/pt unknown
- 1973-12-05 SE SE7316400A patent/SE398552B/xx unknown
- 1973-12-05 FR FR7343442A patent/FR2210292A5/fr not_active Expired
- 1973-12-05 NO NO4637/73A patent/NO140866C/no unknown
- 1973-12-06 DE DE2361209A patent/DE2361209C2/de not_active Expired
- 1973-12-06 CH CH1712773A patent/CH571706A5/xx not_active IP Right Cessation
- 1973-12-06 JP JP13668773A patent/JPS5435516B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NO140866C (no) | 1979-11-28 |
ZA738540B (en) | 1975-01-29 |
DE2361209C2 (de) | 1984-05-10 |
NL7315809A (no) | 1974-06-10 |
IT1008612B (it) | 1976-11-30 |
LU68873A1 (no) | 1974-01-29 |
US3788750A (en) | 1974-01-29 |
AU6331973A (en) | 1975-06-12 |
JPS4990590A (no) | 1974-08-29 |
DE2361209A1 (de) | 1974-06-12 |
NL180783B (nl) | 1986-11-17 |
SE398552B (sv) | 1977-12-27 |
NL180783C (nl) | 1987-04-16 |
ES420614A1 (es) | 1976-10-16 |
CH571706A5 (no) | 1976-01-15 |
AR204709A1 (es) | 1976-02-27 |
GB1443976A (en) | 1976-07-28 |
JPS5435516B2 (no) | 1979-11-02 |
CA999135A (en) | 1976-11-02 |
BR7309517D0 (pt) | 1974-08-29 |
FR2210292A5 (no) | 1974-07-05 |
IE38495L (en) | 1974-06-06 |
BE807814A (fr) | 1974-03-15 |
IE38495B1 (en) | 1978-03-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NO140866B (no) | Fremgangsmaate og innretning for bestemmelse av den optiske kvalitet av en plate av gjennomsiktig eller reflekterende materiale | |
US4966457A (en) | Inspecting apparatus for determining presence and location of foreign particles on reticles or pellicles | |
US2215211A (en) | Polish meter | |
US3857637A (en) | Surface distortion analyzer | |
EP0380408B1 (fr) | Contrôle d'objets à forte cadence | |
US3877814A (en) | Method of and apparatus for detecting concave and convex portions in a specular surface | |
US5251010A (en) | Optical roller wave gauge | |
WO1998012538A1 (en) | Windshield distortion measuring system | |
CA2093080A1 (en) | Reflective grain defect scanning | |
JPH0776752B2 (ja) | 透光性プレートの光学特性の決定方法 | |
US4285597A (en) | Goniophotometer for measuring the gloss and/or light diffusion of surfaces | |
US2624014A (en) | Refractometer | |
US3415370A (en) | Empty bottle bottom and neck inspection machine using radiation sensitive means | |
US4255055A (en) | Surface inspection system for detecting flatness of planar sheet materials | |
JPS6352032A (ja) | 透明材料要素を表面の不整及び吸蔵について試験するために照明する装置 | |
US3688235A (en) | Apparatus for detecting the angular deflection imparted to a beam passing through a transparent sheet | |
US2471750A (en) | Photoelectric glossmeter | |
US5724140A (en) | Method and apparatus for determining the quality of flat glass sheet | |
US9891041B2 (en) | Apparatus and method for measuring thickness of transparent and/or translucent mediums using a reflecting signal that is normal or near normal to the mediums | |
US5543924A (en) | Method and apparatus for evaluating pummeled glass | |
US3533706A (en) | Inspecting glass | |
US3609380A (en) | Radiation sensitive defect scanner for transparent materials | |
WO1999064845A1 (en) | Defect detecting unit | |
JPH03115844A (ja) | 表面欠点検出方法 | |
US2889737A (en) | Apparatus for optical inspection of glass sheets |