NL8000629A - DEVICE FOR EXAMINING AN INSULATION RESISTANCE. - Google Patents
DEVICE FOR EXAMINING AN INSULATION RESISTANCE. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8000629A NL8000629A NL8000629A NL8000629A NL8000629A NL 8000629 A NL8000629 A NL 8000629A NL 8000629 A NL8000629 A NL 8000629A NL 8000629 A NL8000629 A NL 8000629A NL 8000629 A NL8000629 A NL 8000629A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- voltage
- circuit
- current
- feedback
- resistor
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/025—Measuring very high resistances, e.g. isolation resistances, i.e. megohm-meters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Description
, N.O. 28.269 Kr/TW-pl. ^, N.O. 28,269 Kr / TW-pl. ^
Yokogawa Electric Works, Ltd., te Tokio.Yokogawa Electric Works, Ltd., in Tokyo.
Inrichting voor het onderzoeken van een isolatieweerstand.Device for examining an insulation resistance.
De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het onderzoeken van een isolatieweerstand.The invention relates to a device for examining an insulation resistance.
Indien in zulk een inrichting de isolatieweerstand van een aangesloten te testen weerstand ongeveer 0,2 megaohm is, daalt de klem-5 spanning van de inrichting bij een toename van de geleverde stroom als gevolg van de impedantie van de inrichting zelf. Wanneer een daling van de klemspanning van de inrichting optreedt bij toenemende geleverde stroom, is het onmogelijk de isolatieweerstand te meten, doordat ’de aan de gemeten weerstand toegevoerde spanning niet vol-10 doende is.In such a device, if the insulation resistance of a connected resistor to be tested is about 0.2 megohms, the terminal voltage of the device decreases with an increase in the current supplied due to the impedance of the device itself. When a drop in the terminal voltage of the device occurs with increasing current supplied, it is impossible to measure the insulation resistance, because the voltage applied to the measured resistance is not sufficient.
De uitvinding heeft ten doel te voorzien in een inrichting voor het onderzoeken van een isolatieweerstand, waarbij een daling van de klemspanning onder een vooraf bepaalde spanning wordt verhinderd, zelfs wanneer de isolatieweerstand van een te meten weerstand klein 15 is.The object of the invention is to provide a device for examining an insulation resistance, in which a drop of the clamping voltage below a predetermined voltage is prevented, even when the insulation resistance of a resistance to be measured is small.
De uitvinding heeft voorts ten doel te voorzien in een onder-zoekinrichting, waarbij de klemspanning automatisch daalt wanneer een kortsluitingsfout of dergelijke tussen de klemmen van de inrichting optreedt, teneinde een verlaging van het energieverbruik te bereiken. 20 De uitvinding zal hierna nader worden toegelicht aan de hand van de tekening, waarin fig. 1 een schema van een inrichting voor het onderzoeken van isolatieweerstand toont; fig. 2 grafieken van de klemspanning van een onderzoekinrich-25 ting als funktie van de stroom illustreert; fig. 3 een schema van een uitvoeringsvorm van de uitvinding voorstelt; fig. k de vierhoekvormige grafiek van een niet-lineaire schakeling weergeeft, die in de onderzoekinrichting volgens de uitvinding 30 is toegepast; fig. 5 de volgens de uitvinding toegepaste niet-lineaire schakeling illustreert; en fig. 6(a) en (B) uitvoeringsvormen van niet-lineaire schakelingen tonen, die in de onderzoekinrichting volgens de uitvinding zijn 35 toegepast.Another object of the invention is to provide a research device in which the clamp voltage drops automatically when a short-circuit fault or the like occurs between the terminals of the device, in order to achieve a reduction in energy consumption. The invention will be explained in more detail below with reference to the drawing, in which Fig. 1 shows a diagram of an apparatus for examining insulation resistance; FIG. 2 illustrates graphs of the clamping voltage of a tester as a function of the current; Fig. 3 shows a diagram of an embodiment of the invention; Fig. k shows the quadrangular graph of a non-linear circuit used in the research device according to the invention; Fig. 5 illustrates the non-linear circuit used according to the invention; and Fig. 6 (a) and (B) show embodiments of non-linear circuits used in the research device according to the invention.
Het werkingsprincipe van de inrichting voor het onderzoeken van o η η η a 9 o -2- een isolatieweerstand is getoond in fig. 1, waarbij met het verwijzingsteken DS een gelijkspanningsvoeding is aangeduid, waarvan de uitgangsspanning via een niet-lineaire schakeling NC die een indica-tiemeter bevat, wordt toegevoerd aan een te onderzoeken weerstand 5 Ex die is aangesloten tussen een aardkiem E en een lijnklem L. Door de weerstand Ex vloeit een stroom lx die evenredig is aan de isolatieweerstand daarvan,en de stroom lx wordt weergegeven door de meter in de niet-lineaire schakeling, zodat de isolatieweerstand van de weerstand Rx kan worden afgeleid van de aldus weergegeven waarde.The principle of operation of the device for examining o η η η a 9 o -2- an insulation resistance is shown in Fig. 1, where the reference sign DS denotes a DC voltage supply, the output voltage of which is supplied by a non-linear circuit NC which is a indicator, it is applied to a resistor 5 Ex to be tested, which is connected between a grounding seed E and a line terminal L. A current lx proportional to its insulation resistance flows through the resistor Ex, and the current lx is represented by the meters in the non-linear circuit, so that the insulation resistance of the resistor Rx can be derived from the value thus displayed.
10 Indien in zulk een onderzoekinrichting de isolatieweerstand van een te onderzoeken weerstand kleiner is dan 0,2 megaohm of dergelijke, daalt de klemspanning Vx opgev/ekt tussen de aardkiem E en de lijnklem L, bij een toename van de stroom lx zoals blijkt uit de grafie X van fig. 2, hetgeen het gevolg is van de impedantie van de 15 gelijkspanningsvoeding DS en de niet-lineaire schakeling NC. 'Vanneer er een daling van de klemspanning Vx bij een toename van de stroom lx optreedt, is het onmogelijk de isolatieweerstand nauwkeurig te meten doordat een spanning van onvoldoende grootte aan de weerstand Ex wordt toegevoerd.In such an examination device, if the insulation resistance of a resistor to be examined is less than 0.2 megohms or the like, the terminal voltage Vx drops between the grounding seed E and the line terminal L, as the current lx increases as shown by the graph X of FIG. 2, which is due to the impedance of the DC power supply DS and the non-linear circuit NC. When a drop in the clamping voltage Vx occurs with an increase in the current lx, it is impossible to measure the insulation resistance accurately because a voltage of insufficient magnitude is applied to the resistor Ex.
20 De uitvinding gaat uit van de hierboven beschreven kennis en heeft ten doel te voorzien in een inrichting voor het onderzoeken van een isolatieweerstand, die een daling van de klemspanning Vx onder een bepaalde spanning-Vs verhindert, zelfs wanneer de isolatieweerstand van een te meten weerstand Ex klein is, zoals voorgesteld 25 wordt door de grafiek Z van fig. 2, die de Vx-Ix-karakteristiek toont.The invention is based on the above-described knowledge and it is the object of the object to provide an apparatus for examining an insulation resistance, which prevents a drop in the clamping voltage Vx below a certain voltage Vs, even when the insulation resistance of a resistance to be measured Ex is small, as represented by the graph Z of Figure 2, which shows the Vx-Ix characteristic.
, De uitvinding heeft voorts ten doel te voorzien in een onder zoekinrichting, waarbij de klemspanning Yx automatisch wordt verlaagd bij het optreden van een kortsluitingsfout of dergelijke tus-50 sen de klemmen E en L, teneinde een verlaging van het energieverbruik te bereiken.The object of the invention is furthermore to provide a research device in which the clamping voltage Yx is automatically lowered upon the occurrence of a short-circuit fault or the like between the terminals E and L, in order to achieve a reduction of the energy consumption.
In het elektrische schema van fig. 5 die een uitvoeringsvorm van de uitvinding toont, is DS een gelijkspanningsvoeding; NC een niet-lineaire schakeling; E een aardkiem; L een lijnklem; en Rx een 55 te meten weerstand die tussen de klemmen E en L is aangesloten.In the electrical diagram of Fig. 5 showing an embodiment of the invention, DS is a DC power supply; NC a non-linear circuit; E an earth germ; L a line clamp; and Rx a 55 to measure resistance connected between terminals E and L.
In de gelijkspanningsvoeding DS is een gelijkspanningsbron EL, zoals een batterij aanwezig, een keuzeschakelaar met klemmen 1 en 2; en voorts een oscillatorschakeling OSC bestaande uit een blok-keeroscillator waarvan de blokkeringstijd wordt bestuurd door een kO terugkoppelspanning zoals hierna zal worden beschreven. De voeding 8000629 ♦ -3- DS omvat voorts een, een referentiespanning opwekkend element Dz^, zoals een zenerdiode, een opjaagtransformator ï, een spanningsverdub-belingsinrichting SE bestaande uit dioden en condensatoren C^, weerstandselementen R^ - Hg die een terugkoppelschakeling ?C 5 vormen, een diode D, en een rimpel eliminerende condensator C~. De J ^ gelijkspanningsbron EL is verbonden met de oscillatorschakeling CSC via de klem 1 van de schakelaar 3^. Het uitgangssignaal van de oscil-latorketen OSC wordt opgejaagd door de transformator T en daarna gelijk gericht tot een dubbele spanning door de gelijkrichtschakeling 10 HE, waarvan de uitgangsspanning wordt aangeboden als een spanning Vx via de weerstand Hg aan een serieschakeling van weerstandselementen R^, en Een deelspanning Ef wordt afgeleid uit de spanning Vx in een verbindingspunt a van de weerstandselementen R^ en R^ en de oscillatorschakeling OSC houdt zijn oscillatie voortdurend met een 15 vaste aan-uit-periode, totdat de deelspanning Ef de zenerspanning van de diode Dz^ overschrijdt. Wanneer de deelspanning Ef de spanning Ez^ overschrijdt, vloeit een zenerstroom om de oscillatorschakeling OSC in zijn uit-toestand te houden. Dat wil zeggen dat in de schakeling OSC de deelspanning Ef als een terugkoppelspanning dient 20 en de werk-rust-verhouding van de oscillator wordt gevarieerd overeenkomstig het resultaat van de vergelijking tussen de terugkoppelspanning en een referentiespanning Ez^ verkregen uit de zenerdiode Dz^, zodat de gelijkspanningscomponent van de spanning Vx door besturing wordt gehandhaafd op een vaste waarde. De spanning Vx wordt 25 via de aardkiem E en de lijnklem L toegevoerd aan de te meten weerstand Rx, waarbij een stroom lx evenredig aan de isolatieweerstand daarvan vloeit en daarna wordt teruggevoerd naar de voeding DS via de niet-lineaire schakeling NC. In het geval dat de isolatieweerstand van de te meten weerstand Rx groter is dan een vooraf bepaalde waar-30 de en de stroom lx die daar doorheen vloeit,lager is dan een vooraf bepaalde grenswaarde (in fig. 2 Ix^ genoemd) kan de spanning opgewekt in het verbindingspunt b van de weerstandselementen R2 en R^ worden uitgedrukt als --=2—— vx ........................ (1) .In the DC voltage supply DS, a DC voltage source EL, such as a battery, is provided with a selector switch with terminals 1 and 2; and furthermore an oscillator circuit OSC consisting of a block-reverse oscillator whose blocking time is controlled by a kO feedback voltage as will be described below. The power supply 8000629 -3-DS further comprises a reference voltage generating element Dz ^, such as a zener diode, a boosting transformer ï, a voltage doubler SE consisting of diodes and capacitors C ^, resistor elements R ^ -Hg comprising a feedback circuit? C 5 shapes, a diode D, and a ripple eliminating capacitor C ~. The DC voltage source EL is connected to the oscillator circuit CSC via the terminal 1 of the switch 3 ^. The output of the oscillator circuit OSC is driven by the transformer T and then rectified to a double voltage by the rectifier circuit 10 HE, the output voltage of which is presented as a voltage Vx through the resistor Hg to a series circuit of resistor elements R ^, and A partial voltage Ef is derived from the voltage Vx at a junction a of the resistor elements R ^ and R ^ and the oscillator circuit OSC maintains its oscillation continuously for a fixed on-off period, until the partial voltage Ef is the zener voltage of the diode Dz ^ exceeds. When the partial voltage Ef exceeds the voltage Ez ^, a zener current flows to keep the oscillator circuit OSC in its off state. That is, in the circuit OSC, the partial voltage Ef serves as a feedback voltage and the work-rest ratio of the oscillator is varied according to the result of the comparison between the feedback voltage and a reference voltage Ez ^ obtained from the zener diode Dz ^, so that the DC voltage component of the voltage Vx by control is maintained at a fixed value. The voltage Vx is applied via the grounding core E and the line terminal L to the resistor Rx to be measured, a current lx flowing proportional to its insulation resistance and then fed back to the power supply DS via the non-linear circuit NC. In the event that the insulation resistance of the resistor Rx to be measured is greater than a predetermined value and the current 1x flowing through it is less than a predetermined limit value (referred to as 1xx in Fig. 2), the voltage generated in the junction b of the resistance elements R2 and R ^ are expressed as - = 2 - vx ........................ (1).
^1 + ^2 + ^3 35 In dit geval is de waarde van elk element zodanig gekozen, dat de spanningsval R^ïx opgewekt over het weerstandselement als gevolg van de stroom lx de volgende betrekking heeft: R-Γτη- ♦ ™ 5 V* ................. (2) 1 2 3^ 1 + ^ 2 + ^ 3 35 In this case, the value of each element is chosen such that the voltage drop R ^ ïx generated across the resistance element due to the current lx relates to the following: R-Γτη- ♦ ™ 5 V * ................. (2) 1 2 3
ann n fi?Qann n fi? Q
-if- waarin VD de doorlaatspanning van de diode D^ voorstelt. Daarom geleidt de diode D^ niet. Dientengevolge wordt de spanning afgeleid van Vx in het verbindingspunt a van de weerstandselementen R^ en R^, vergeleken met de referentiespanning Ez^ verkregen uit de zenerdiode 5 Dz^ zoals reeds is 'vermeld en de werk-rust-verhouding van de oscilla-torschakeling OSC wordt bestuurd volgens het resultaat van deze vergelijking. Op deze wijze is wanneer de isolatieweerstand van de te meten weerstand Sx groot is, terwijl de stroom lx kleiner is dan de grenswaarde Ix^, de terugkoppeling uitgeoefend op de oscillatorscha-10 keling OSC louter de spanningsterugkoppeling op zichzelf. In deze spanning-terugkoppeltoestand wordt wanneer de spanningsval veroorzaakt door de impedantie van de niet-lineaire schakeling (die hierna zal worden beschreven), de klemspanning Vx bestuurd op een vaste waarde gehouden onafhankelijk van de isolatieweerstand van de weer-15 stand Rx, dat wil zeggen onafhankelijk van de stroom lx, voorgesteld door het deel van de grafiek Y in fig. 2. De werkelijke constante-spanningsbesturing wordt verkregen tussen een verbindingspunt e van de weerstandselementen Rg en R^ en een negatieve klem f van de ge-lijkspanningsbron EL. Aangezien een weerstandselement R^ is verbon-20 den tussen het verbindingspunt f en een verbindingspunt g van de weerstandselementen R^ en R^, wordt de klemspanning Vx enigszins kleiner overeenkomstig de te meten stroom lx. Echter is de aldus veroorzaakte spanningsval zo klein, dat de gelijkspanningsvoeding DS kan worden beschouwd als een bestuurde schakeling met een constante 25 spanning in het geval van slechts spanningsterugkoppeling.-if- where VD represents the forward voltage of the diode D ^. Therefore, the diode D ^ does not conduct. As a result, the voltage is derived from Vx at the junction a of the resistor elements R ^ and R ^, compared with the reference voltage Ez ^ obtained from the zener diode 5 Dz ^ as already mentioned and the work-rest ratio of the oscillator circuit OSC is controlled according to the result of this comparison. In this way, when the insulation resistance of the resistor Sx to be measured is large, while the current Ix is smaller than the limit value Ix ^, the feedback applied to the oscillator circuit OSC is merely the voltage feedback itself. In this voltage feedback state, when the voltage drop caused by the impedance of the non-linear circuit (which will be described below), the terminal voltage Vx is controlled at a fixed value independent of the insulation resistance of the resistor Rx, i.e. independent of the current 1x, represented by the part of the graph Y in Fig. 2. The actual constant voltage control is obtained between a junction e of the resistance elements Rg and Rj and a negative terminal f of the DC voltage source EL. Since a resistance element R ^ is connected between the connection point f and a connection point g of the resistance elements R ^ and R ^, the clamping voltage Vx becomes slightly smaller in accordance with the current 1x to be measured. However, the voltage drop thus caused is so small that the DC power supply DS can be considered a constant voltage controlled circuit in the case of only voltage feedback.
Als gevolg van een kleine isolatieweerstand van de te meten weerstand Rx en een grote stroom lx die Ix^ overschrijdt, wordt de spanningsval R^Ix die optreedt over de weerstand R^:Due to a small insulation resistance of the resistor Rx to be measured and a large current lx exceeding Ix ^, the voltage drop R ^ Ix occurring across the resistor R ^ becomes:
Bl + Rz + R3 Vx + VD < Sklx .............. (3) 30 zodat de diode D^ kan geleiden. Bij geleidende diode D^ vloeit de stroom lx die door de weerstand R^ vloeit, ook door de weerstand R^ via Rj- . Derhalve wordt de spanningsval veroorzaakt over de weerstand R^ door het gedeeltelijk vloeien van de stroom lx gesuperponeerd op de spanning in het verbindingspunt b en ook op de deelspanning in 35 het verbindingspunt a. De gesuperponeerde spanning in het verbindingspunt a dient als een terugkoppelspanning Ef die wordt vergeleken met de referentiespanning Ex^ verkregen uit de zenerdiode Dz^. Derhalve wordt de karakteristiek zodanig, dat de klemspanning Yx sterk afneemt overeenkomstig de stroom lx, zoals voorgesteld door het 8000629 *' m -5- deel Y2 van de grafiek Y in fig. 2. De helling van het deel Y is variabel en afhankelijk van de waarde van de weerstand R^, Vanneer aldus de stroom lx een vooraf bepaalde waarde Ix^ in de gelijkspan-ningsvoeding DS overschrijdt, wordt een stroomterugkoppeling evenre-5 dig aan lx uitgeoefend naast de spanningsterugkoppeling.Bl + Rz + R3 Vx + VD <Sklx .............. (3) 30 so that the diode D ^ can conduct. With conductive diode D ^, the current 1x flowing through the resistor R ^ also flows through the resistor R ^ through Rj-. Therefore, the voltage drop caused across the resistor R ^ by the partial flow of the current 1x is superimposed on the voltage in the junction b and also on the partial voltage in the junction a. The superimposed voltage in the junction a serves as a feedback voltage Ef. is compared with the reference voltage Ex ^ obtained from the zener diode Dz ^. Therefore, the characteristic becomes such that the terminal voltage Yx decreases sharply according to the current 1x, as represented by the 8000629 * m -5 part Y2 of the graph Y in Fig. 2. The slope of the part Y is variable and depends on the value of the resistor R ^ If the current lx thus exceeds a predetermined value Ix ^ in the DC voltage supply DS, a current feedback proportional to 1x is applied in addition to the voltage feedback.
Op deze wijze, zoals voorgesteld door de grafiek Y in fig, 2, daalt de klemspanning Vx van de gelijkspanningsvoeding D3 niet onder de spanning Vs, en ook niet indien de isolatieweerstand van de weerstand fix klein is. In het geval van een kortsluiting of dergelijke 10 tussen de klemmen S en L ontstaat, wordt de klemspanning Vx automatisch verlaagd om een toename van de stroom lx te voorkomen, waardoor een verlaging van het energieverbruik wordt verkregen. Dit voordeel is van belang in verband met een langere levensduur van een batterij gebruikt als gelijkspanningsbron EL in de voeding DS, terwijl 15 eveneens de veiligheid voor de mens wordt gewaarborgd.In this manner, as represented by the graph Y in Fig. 2, the clamping voltage Vx of the DC voltage supply D3 does not drop below the voltage Vs, nor when the insulation resistance of the resistor fix is small. In the event of a short circuit or the like between the terminals S and L, the terminal voltage Vx is automatically decreased to prevent an increase in the current 1x, thereby reducing the energy consumption. This advantage is important because of the longer life of a battery used as a DC voltage source EL in the power supply DS, while also ensuring safety for humans.
De niet-lineaire schakeling NG bestaat uit de weerstanden -R20, een zenerdiode Dz^ en halfgeleiderschakelelementen D^, D,. en Q.The non-linear circuit NG consists of the resistors -R20, a zener diode Dz ^ and semiconductor switching elements D ^, D ,. and Q.
In de uitvoeringsvorm zijn dioden voor D^ en D^ toegepast en een transistor voor Q. Met het verwijzingsteken is een, een rimpel 20 eliminerende condensator en met M een meter van het bewegende spoel-type aangeduid. De zenerdiode Dzp is aangesloten tussen de uitgangs-klemmen e en g van de gelijkspanningsvoeding DS via de weerstand Ry en een vaste voorinstellingsstroom wordt door de spanning Vx daaraan toegevoerd. Met het verwijzingsteken is een schakelaar met klem-25 men 1 en 2 aangeduid, terwijl Dg een diode is die moet worden gebruikt voor het meten van een externe spanning, zoals hierna zal worden beschreven. De stroom lx die door de te meten weerstand Hx vloeit, vloeit voorts door de niet-lineaire schakeling NC van het verbindingspunt k van de weerstanden R^ en in deze schakeling 30 via de diode Dg en de schakelaar S^. Als gevolg van de vaste voorin stellingsstroom toegevoerd aan de zenerdiode Dz^ wordt een referen-tiespanning Ez^ opgewekt in het verbindingspunt h (hierna referentie-spanningspunt genoemd) van de weerstand R^ en de diode Dz2* De refe-rentiespanning Ez2 wordt gedeeld door middel van de weerstanden fig -35 ^ίο’ een spanning Ez^ wordt opgewekt in een verbindingspunt i van de weerstanden fig en R^ en een spanning Ez^ wordt opgewekt in het verbindingspunt j van de weerstanden fi^ en R,^. Ondertussen wordt de stroom lx afkomstig van het verbindingspunt k toegevoerd als een in-gangsstroom 1,^ aan de meter M via de weerstanden en fi^g, zodat ko de waarde daarvan wordt weergegeven. Een diode D^ komt in de gelei-In the embodiment, diodes for D 1 and D 1 are used, and a transistor for Q. The reference character denotes a ripple-eliminating capacitor and M denotes a moving coil type meter. The zener diode Dzp is connected between the output terminals e and g of the DC voltage supply DS via the resistor Ry and a fixed bias current is supplied by the voltage Vx. The reference character designates a switch with terminals 1 and 2, while Dg is a diode to be used for measuring an external voltage, as will be described below. The current 1x passing through the resistance Hx to be measured also flows through the non-linear circuit NC of the connection point k of the resistors R ^ and in this circuit 30 through the diode Dg and the switch S ^. As a result of the fixed bias current applied to the zener diode Dz ^, a reference voltage Ez ^ is generated in the connection point h (hereinafter referred to as reference voltage point) of the resistor R ^ and the diode Dz2 * The reference voltage Ez2 is divided by by means of the resistors fig. 35 a voltage Ez is generated in a connection point i of the resistors fig and R and a voltage Ez is generated in the connection point j of the resistors fi and R1. Meanwhile, the current 1x from the connection point k is supplied as an input current 1.1 to the meter M through the resistors and fi, so that its value is displayed. A diode D ^ enters the conductor
onn π R 9Qonn π R 9Q
-6- dende toestand, wanneer de potentiaal in het verbindingspunt k of de spanningsval veroorzaakt over de weerstanden - R£q door de stroom lx, de som van de deelspanning 2z^ in het verbindingspunt j en de voorwaartse spanningsval van de diode D,- overschrijdt. Als gevolg 5 daarvan wordt een schakeling bestaande uit de weerstanden R-g·* 3^ en R^q, parallel geschakeld aan de meter M, zodat de stroom lx gedeeltelijk vloeit naar het verbindingspunt g via de genoemde parallelschakeling. Wanneer de stroom lx is toegenomen tot een zodanige waarde dat de potentiaal in het verbindingspunt k, dat een instroompunt 10 van lx is, de som overschrijdt van de spanning Ez^ in het verbindingspunt i en de basis-emitterspanning van een transistor Q, wordt deze transistor in de geleidende toestand gebracht om een schakeling van R^ en R^ parallel te schake/met de meter M, zodat de stroom lx toegevoerd aan de meter M gedeeltelijk wordt geshunt naar deze 15 parallelschakeling en stroomtdirekt naar het verbindingspunt g. Indien de v/aarde van de weerstand Rx klein is en de stroom lx verder toeneemt tot de waarde, waarbij de potentiaal in het instroompunt k de som overschrijdt van de referentiespanning Ez^ in het, de refe-rentiespanning opwekkende punt h en de voorwaartse spanningsval van 20 een diode D^, dan geleidt de diode D^, waardoor de stroom lx gedeeltelijk kan vloeien in een schakeling bestaande uit R^» en D^, zodat de deelstroom uit het verbindingspunt g vloeit via de zener-diode Dz^. Aldus wordt de verhouding tussen de te meten stroom lx en de door de meter M vloeiende stroom I logaritmisch omgezet zoals 25 voorgesteld is door de getrokken lijn in fig. zodat het mogelijk wordt een schaal te verkrijgen met een uit drie decaden bestaand meet-gebied zelfs onder toepassing van een draaispoelmeter waarvan de stroom-indicatiekarakteristiek lineair is. De punten van de veelhoekvormige lijn getoond in fig. k zijn in beginsel bepaald door ^0 de waarden van de weerstanden Rg, R^ en R-jq» terwijl de hellingen van de lijnen worden bepaald door de weerstanden R^, R^ en R^.-6- when the potential at the junction k causes the voltage drop across the resistors - R £ q through the current lx, the sum of the partial voltage 2z ^ at the junction j and the forward voltage drop of the diode D, - exceeds. As a result, a circuit consisting of the resistors R-g * 3 ^ and R ^ q is connected in parallel to the meter M, so that the current 1x flows partly to the connection point g via the said parallel connection. When the current lx has increased to such a value that the potential at the connection point k, which is an inflow point 10 of lx, exceeds the sum of the voltage Ez ^ at the connection point i and the base-emitter voltage of a transistor Q, it becomes transistor brought into the conducting state to parallel a circuit of R 1 and R 1 to the meter M, so that the current 1x supplied to the meter M is partially shunted to this parallel connection and flows directly to the connection point g. If the v / earth of the resistor Rx is small and the current lx further increases to the value, the potential at the inflow point k exceeding the sum of the reference voltage Ez ^ at the point h generating the reference voltage and the forward voltage drop of a diode D ^, then the diode D ^ conducts, allowing the current 1x to flow partly in a circuit consisting of R ^ and D ^, so that the partial current flows from the junction g through the zener diode Dz ^. Thus, the relationship between the current Ix to be measured and the current I flowing through the meter M is converted logarithmically as represented by the solid line in FIG. So as to make it possible to obtain a scale with a measuring range consisting of three decades using a rotary coil meter whose current indication characteristic is linear. The points of the polygonal line shown in Fig. K are basically determined by the values of the resistors Rg, R ^ and R-jq, while the slopes of the lines are determined by the resistors R ^, R ^ and R ^.
De weerstanden R^» R^ en R^g zijn variabele weerstanden voor het uitvoeren van een fijninstelling van de afzonderlijke hellingen van de lijnen. De wisselspanningscomponent van de spanning die in het 35 instroompunt k van de stroom lx wordt opgewekt, wordt geelimineerd door middel van een condensator C^.The resistors R ^ »R ^ and R ^ g are variable resistors for fine tuning the individual slopes of the lines. The AC voltage component of the voltage generated at the inflow point k of the current 1x is eliminated by means of a capacitor C1.
De niet-lineaire schakeling NC van dit type toegepast in de inrichting voor het onderzoeken van de isolatieweerstand, was reeds beschreven in het Japanse gebruiksmodel nr. 130001/1975 ingediend door ifO aanvraagster. Bij deze schakeling volgens fig. 5 worden deelspannin- 8000629 -7- gen opgewekt in de respectievelijke deelpunten a, b en c ,met behulp van een serieschakeling van weerstanden R_ - R- als gevolg van de d 5 stroom lx die door een te onderzoeken weerstand Rx vloeit. .Vanneer een spanningsval in het verbindingspunt a een referentiespanning Ez 5 overschrijdt, die uit een zenerdiode Dz wordt verkregen, geleidt in dit geval een diode , waardoor een deelstroom van de stroom lx vloeit door de schakeling van . Vervolgens geleidt een diode D^, wanneer de spanning in het verbindingspunt b Ez overschrijdt als het resultaat van de toename van lx. Op analoge wijze geleidt Dy wan-10 neer de spanning in het verbindingspunt c de spanning Ez overschrijdt, zodat de stroom gedeeltelijk vloeit in de schakeling van de dioden respectievelijk D^. Als gevolg daarvan wordt de relatie tussen de te meten stroom lx en de stroom die door de meter M vloeit, gebogen zoals getoond is in fig. 4 op dezelfde wijze als bij de niet-15 lineaire schakeling NC van fig. 3.The non-linear circuit NC of this type used in the insulation resistance testing device was already described in Japanese Utility Model No. 130001/1975 filed by ifO applicant. In this circuit according to FIG. 5, partial voltages 8000629 -7- are generated in the respective partial points a, b and c, using a series circuit of resistors R_ - R- as a result of the d 5 current lx generated by an resistor Rx flows. When a voltage drop in the connection point a exceeds a reference voltage Ez 5, which is obtained from a zener diode Dz, in this case a diode conducts, whereby a partial current of the current 1x flows through the circuit of. Then, a diode D ^ conducts when the voltage at the connection point b exceeds Ez as the result of the increase of 1x. Analogously, when the voltage at the junction point c exceeds the voltage Ez, Dy conducts, so that the current flows partly in the circuit of the diodes and D1, respectively. As a result, the relationship between the current 1 x to be measured and the current flowing through the meter M is bent as shown in FIG. 4 in the same manner as in the non-linear circuit NC of FIG. 3.
Echter is de niet-lineaire schakeling volgens fig. 3 van het type, waarbij veelhoeklijnen van de stroom lx worden opgewekt door de opeenvolgende geleiding van de dioden en D^, wanneer de span ningsval in de verbindingspunten a, b en c zodanig is toegenomen, dat 20 deze groter is dan de referentiespanning Ez. Derhalve wordt in het geval van de geleiding van bijvoorbeeld de diode D^, de spanningsval in het verbindingspunt c zeer groot en bereikt ongeveer 130 volt, wanneer lx 1 milliampère is bij de verhouding van 250 volt/50 mega-ohm. Zoals reeds is beschreven aan de hand van de grafiek Y van fig.However, the non-linear circuit of FIG. 3 is of the type in which polygon lines of the current 1x are generated by the successive conduction of the diodes and DI when the voltage drop in the junctions a, b and c has increased such that that it is greater than the reference voltage Ez. Therefore, in the case of the conductance of, for example, the diode D ^, the voltage drop in the junction point c becomes very large and reaches about 130 volts, when 1x is 1 milliamp at the ratio of 250 volts / 50 mega-ohms. As already described with reference to the graph Y of fig.
25 2, is de uitvinding zodanig ontworpen, dat een verbeterde inrichting voor het onderzoeken van een isolatieweerstand wordt verkregen, waarbij de klemspanning Vx niet daalt onder de spanning Vs, indien de te meten stroom lx kleiner is dan de grenswaarde Ix^. In het geval de impedantie hoog is als in de niet-lineaire schakeling van fig. 5, 30 daalt echter de klemspanning Vx aanzienlijk vergeleken met de stroom lx als gevolg van de daarin optredende spanningsval en aldus blijkt, dat de schakeling volgens fig. 5 niet voldoet aan de vereisten van de uitvinding. In de niet-lineaire schakeling NC getoond in fig. 3 wordt de referentiespanning Ez^ gedeeld in deelspanningen en wanneer 35 de spanningsval die optreedt in het instroompunt k van de stroom lx evenredig aan de weerstand Rx, de deelspanningen van Ez-, overschrijdt achtereenvolgens vanaf de laagste, worden de halfgeleiderschakelaars achtereenvolgens aangeschakeld om de weerstandsschakelingen parallel te schakelen aan de meter K om een deelstroom van de stroom lx daar-40 door te doen vloeien. Zulk een schakeling is voordelig voor het ver- 80 0 0 6 29 -8- kleinen van de spanningsval vereist in het instroompunt k voor de geleiding van de halfgeleiderschakelaar D^, waardoor de noodzakelijke spanningsval veel kleiner is dan die in de niet-lineaire schakeling van fig. 5* Volgens experimenter, onder voorwaarden van een ver-5 houding van 250 volt/50 megaohm en bij een stroom lx van 1 milli-ampêre, kon de spanningsval in de niet-lineaire schakeling NC kleiner zijn dan ongeveer 8 volt. 3ij de inrichting voor het onderzoeken van een isolatieweerstand volgens de uitvinding, waarbij de hierboven beschreven niet-lineaire schakeling NC wordt toegepast, is de grafiek 10 van de klemspanning Vx als funktie van de stroom lx zodanig, dat deze kan worden voorgesteld door een grafiek 2 van fig. 2. Wanneer de stroom lx lager is dan de grenswaarde, daalt de klemspanning Vx enigszins, zoals geïllustreerd is door een grafiekdeel , bij een toename van lx. Echter is deze spanningsval als gevolg van de impe-15 dantie van de niet-lineaire schakeling NC slechts klein, aangezien de impedantie zoals hierboven is vermeld laag is en zolang de stroom lx binnen de grenswaarde Ix^ ligt, blijft de klemspanning Vx boven de spanning Vs onafhankelijk van een toename van lx. Wanneer voorts . de stroom lx verder stijgt en Xx^ overschrijdt, wordt een stroomte-20 rugkoppeling in de gelijkspanningsvoeding DS geeffektueerd om een scherpe daling van de klemspanning Vx als funktie van de stroom lx te veroorzaken, zoals getoond is met het grafiekdeel Z^,2, the invention is designed such that an improved device for examining an insulation resistance is obtained, wherein the clamping voltage Vx does not fall below the voltage Vs if the current to be measured 1x is less than the limit value Ix ^. However, in case the impedance is high as in the non-linear circuit of Fig. 5, 30, the terminal voltage Vx drops significantly compared to the current 1x due to the voltage drop occurring therein, and thus it appears that the circuit of Fig. 5 does not meets the requirements of the invention. In the non-linear circuit NC shown in Fig. 3, the reference voltage Ez ^ is divided into partial voltages and when the voltage drop occurring in the inflow point k of the current lx proportional to the resistor Rx, exceeds the partial voltages of Ez- from the lowest, the semiconductor switches are turned on successively to connect the resistance circuits in parallel with the meter K to flow a partial current of the current 1x-40 therethrough. Such a circuit is advantageous for reducing the voltage drop required at the inflow point k for conducting the semiconductor switch D ^, making the necessary voltage drop much smaller than that in the non-linear circuit of FIG. 5 * According to the experimenter, under conditions of a ratio of 250 volts / 50 megohms and at a current 1x of 1 milli-ampere, the voltage drop in the non-linear circuit NC could be less than about 8 volts. In the device for examining an insulation resistance according to the invention, in which the non-linear circuit NC described above is applied, the graph 10 of the terminal voltage Vx as a function of the current lx is such that it can be represented by a graph 2 of Fig. 2. When the current 1x is lower than the limit value, the terminal voltage Vx drops slightly, as illustrated by a graph section, with an increase of 1x. However, this voltage drop due to the impedance of the non-linear circuit NC is only small, since the impedance as stated above is low and as long as the current lx is within the limit value Ix ^, the terminal voltage Vx remains above the voltage Vs independent of an increase of lx. When also. the current 1x increases further and exceeds Xx ^, a current feedback in the DC voltage supply DS is effected to cause a sharp drop in the terminal voltage Vx as a function of the current 1x, as shown with the graph part Z ^,
Bij de niet-lineaire'schakeling NC volgens de uitvinding en getoond in fig. 3i is de toepassing van dioden voor en als half-25 geleiderschakelaars en een transistor voor Q gebaseerd op de volgende redenen. Bij geleiding van de diode vloeit zoals reeds is vermeld een gedeelte van de stroom lx door het weerstandselement H^q, zodat een spanningsval wordt opgewekt in een spanningsdeelpunt j door het element R^q en derhalve wordt de spanning Ez^ gewijzigd.In the non-linear circuit NC according to the invention and shown in Fig. 3i, the use of diodes for and as semiconductor switches and a transistor for Q is based on the following reasons. When the diode is conducting, as already mentioned, a part of the current 1x flows through the resistance element H ^ q, so that a voltage drop is generated in a voltage division point j by the element R ^ q and therefore the voltage Ez ^ is changed.
30 Bij zulk een wijziging van Ez^ wordt een punt P^ van een veelhoek-lijn getoond in fig. 4 eveneens gewijzigd. Aangezien echter de waarde van de weerstand S^ zo klein is, levert de spanningsvariatiedie in het punt j als gevolg van de stroom optreedt, bij praktisch gebruik wezenlijk geen probleem op. Indien een diode wordt toegepast in 35 plaats van de transistor Q vloeit de stroom die loopt door de weerstanden R^ en R^ volgend op de geleiding van deze diode, via de weerstanden RQ en R. _ om de spanning Ez, in het spanningsdeelpunt i te verhogen. En aangezien de spanningstoename in het punt i groot is, wordt de grafiekheliing vanaf een punt in fig. ^ zoals getoond is *+0 met een stippellijn, waardoor het ónmogelijk is de ideale logaritmi- 8000629 -9- sche conversie te verkrijgen, die nodig is voor de schaalkarakteris-tiek van de inrichting voor het onderzoeken van een isolatieweer-stand. Voorts is de reden voor de toepassing van een transistor als halfgeleiderschakelaar Q in plaats van een diode gebaseerd op een 5 poging een toename van de spanning Ez^ in hetypunt i te verhinderen, doordat de stroom die door de weerstanden en E^ vloeit, wordt afgeleid van de schakeling van de weerstanden E^ en S^q. 7/anneer de impedantie van de zenerdiode Dz^ laag is, loopt de stroom die door de diode D^ vloeit, door Dz^, zodat er geen variatie in de refentie-10 spanning Ez^ optreedt. In het geval dat de zenerdiode Dz^ een hoge impedantie heeft vloeit de stroom die loopt door de weerstanden en eveneens door de weerstanden Sn, E0, om Ez~ te variëren.With such a change of Ez ^, a point P ^ of a polygon line shown in Fig. 4 is also modified. However, since the value of the resistor S ^ is so small, the voltage variation which occurs at point j as a result of the current is essentially no problem in practical use. If a diode is used instead of the transistor Q, the current flowing through the resistors R ^ and R ^ following the conduction of this diode, flows through the resistors RQ and R. around the voltage Ez, into the voltage dividing point i increase. And since the voltage increase in point i is large, the graph slope from a point in fig. ^ As shown is * + 0 with a dotted line, making it impossible to obtain the ideal logarithmic conversion, which is necessary is for the scale characteristic of the insulation resistance tester. Furthermore, the reason for the use of a transistor as a semiconductor switch Q instead of a diode is based on an attempt to prevent an increase in the voltage Ez ^ at the power point i by diverting the current flowing through the resistors and E ^ of the circuit of the resistors E ^ and S ^ q. 7 / when the impedance of the zener diode Dz ^ is low, the current flowing through the diode Dz ^ flows through Dz ^, so that no variation in the reference voltage Ez ^ occurs. In the case where the zener diode Dz ^ has a high impedance, the current flowing through the resistors and also through the resistors Sn, E0 flows to vary Ez ~.
11 0910211 09 102
Op analoge wijze wordt wanneer de impedantie van Dz2 hoog is, de spanning Ez^ in het deelpunt j eveneens gevarieerd door de stroom 15 die door de weerstanden en vloeit. Derhalve is het indien de zenerdiode Dz^ een hoge impedantie heeft, noodzakelijk om transisto-ren voor alle halfgeleiderschakelaars D^, Q en toe te passen zoals getoond is in fig. 6 (A). De toepassing van transistoren voor alle schakelelementen gaat echter gepaard met een toename van de pro-20 duktiekosten. In het geval dat de zenerdiode Dz^ zodanig is, dat deze een extreem lage impedantie heeft en de waarden van de weerstanden Eg, Eg en Ε^0 kan verlagen doordat een grote voorinstellings-stroom daarin vloeit, rijst echter geen probleem ten aanzien van een variatie in de deelspanning Sz^ alsmede in Ez^, indien een diode D 25 wordt toegepast voor elk van de halfgeleiderschakelaars zoals getoond is in fig. 6(B). In de praktijk heeft de zenerdiode Dz? een vaste impedantie hoewel zijn waarde laag is. De niet-lineaire schakeling NC volgens fig. 3 wordt gevormd door toepassing van twee dioden en één transistor in een poging de produktiekosten laag te houden bin-30 nen een gebied, waarin geen onverwaarloosbare fouten in werkelijk bedrijf ontstaan. In fig. 6 (A) en (B) is een constante-stroombron IS getoond en dezelfde referentienummers en symbolen worden gebruikt voor dezelfde elementen als in fig. 3. In elk van de niet-lineaire schakelingen getoond in de fig. 6 (A) en (3), is de impedantièilaag 35 als in de schakeling volgens fig. 3· V/'anneer er een spanning bestaat in een meetschakeiing die een te meten weerstand Ex bevat, wordt de spanning toegevoerd aan een intern netwerk van de inrichting voor het onderzoeken van de isolatie-weerstand via de klemmen Ξ en L door deze te verbinden met de meet-^0 schakeling om de isolatieweerstand van de te meten weerstand Ex te 8000629 -10- meten. Bij de onderzoekinrichting volgens de uitvinding kan aangezien de niet-lineaire schakeling NC zoals hierboven is beschreven , een lage impedantie heeft, de schakeling NC worden beschadigd, indien een hoge spanning (van een gedeelde waarde of dergelijke) 5 wordt toegevoerd uit een externe bron. Het is derhalve noodzakelijk de aanwezigheid of afwezigheid van een externe spanning te controleren voor de meting van de isolatieweerstand. Volgens de uitvinding wordt zulk een controle uitgevoerd volgens de volgende procedure.Analogously, when the impedance of Dz2 is high, the voltage Ez ^ at the dividing point j is also varied by the current 15 flowing through the resistors and. Therefore, if the zener diode Dz ^ has a high impedance, it is necessary to use transistors for all semiconductor switches D ^, Q and as shown in Fig. 6 (A). However, the use of transistors for all switching elements is accompanied by an increase in production costs. However, in case the zener diode Dz ^ is such that it has an extremely low impedance and can decrease the values of the resistors Eg, Eg and en ^ 0 due to a large bias current flowing therein, no problem arises with regard to a variation in the partial voltage Sz ^ as well as in Ez ^, if a diode D25 is used for each of the semiconductor switches as shown in Fig. 6 (B). In practice, the zener diode Dz? a fixed impedance although its value is low. The non-linear circuit NC of FIG. 3 is formed by using two diodes and one transistor in an attempt to keep production costs low within an area in which no negligible errors occur in actual operation. In Fig. 6 (A) and (B), a constant current source IS is shown and the same reference numbers and symbols are used for the same elements as in Fig. 3. In each of the non-linear circuits shown in Fig. 6 (A ) and (3), the impedance layer 35 is as in the circuit of FIG. 3 · V / 'when a voltage exists in a measuring circuit containing a resistance to be measured Ex, the voltage is applied to an internal network of the device for examining the insulation resistance via terminals Ξ and L by connecting it to the measuring circuit to measure the insulation resistance of the resistance Ex to be measured 8000629 -10-. In the research device according to the invention, since the non-linear circuit NC as described above has a low impedance, the circuit NC can be damaged if a high voltage (of a divided value or the like) is supplied from an external source. It is therefore necessary to check the presence or absence of an external voltage before measuring the insulation resistance. According to the invention, such a check is performed according to the following procedure.
Bij de uitvoeringsvorm volgens fig. 3 worden de klemmen E en L ver-10 bonden met de meetschakeling in de toestand waarin de schakelaars en respectievelijk zijn verbonden met de klemmen 2 en 1 daarvan. Wanneer een externe spanning aanwezig is vloeit als gevolg daarvan een stroom door een weg bestaande uit de klem L —£ gelijkricht-diode —$ schakelaar 32 —* niet-lineaire schakeling NC —s> scha- 15 keling uit weerstanden - R^ in de gelijkspanningsvoeding DS — dioden D2 en in de gelijkrichtschakeling SE —» weerstand 3g —> klem E. Aldus wordt de waarde van de spanning weergegeven door de meter M in de niet-lineaire schakeling NC, De weerstand wordt ingeschakeld en dient als belasting, wanneer zulk een externe spanning 20 wordt gemeten. Nadat de afwezigheid van een externe spanning is bevestigd, wordt de schakelaar verbonden met zijn klem 1, zodat de uitvoering werkt als een onderzoekinrichting met constante spanning.In the embodiment of Fig. 3, terminals E and L are connected to the measuring circuit in the state in which the switches and, respectively, are connected to terminals 2 and 1 thereof. As a result, when an external voltage is present, a current flows through a path consisting of the terminal L - £ rectifying diode - $ switch 32 - * non-linear circuit NC — s> circuit from resistors - R ^ DC power supply DS - diodes D2 and in the rectifier circuit SE - »resistor 3g -> terminal E. Thus the value of the voltage is displayed by the meter M in the non-linear circuit NC, The resistor is turned on and serves as a load, when such an external voltage 20 is measured. After the absence of an external voltage is confirmed, the switch is connected to its terminal 1, so that the embodiment operates as a constant voltage tester.
Een voordeel v/ordt bereikt, indien de continuïteit van een te onderzoeken geleider kan worden gecontroleerd door middel van een 25 inrichting voor het onderzoeken van de isolatieweerstand. De uitvinding is uitgerust met zulk een continuiteitscontrolefunktie. Daar-voor een zoemer Bz aangebracht. Wanneer de continuïteit met behulp van de onderzoekinrichting volgens fig. 3 wordt gecontroleerd, zijn de schakelaars en respectievelijk verbonden met de klemmen 2 30 daarvan, teneinde een serieschakeling te vormen, die bestaat uit de gelijkspanningsbron EL —» schakelaar > diode —> te meten geleider Rx die aangesloten is tussen de klemmen E en L —> schakelaar $2 —zoemer 3z. Daarom vloeit indien Rx niet is onderbroken, een stroom door de zoemer 3z om de continuïteit van de geleider Sx 35 vast te stellen. Wanneer moet worden voorzien in zulk een continuï-teitscontrole of een meetfunktie van een externe spanning, zijn de schakelaars 5„ en 3~ vereist zoals in de uitvoeringsvorm. Aangezien ic “ de uitvinding zodanig is geconstrueerd, dat deze schakelaars aan de laagspanningszijde zijn geplaatst, wordt het voordeel bereikt, dat Lq ncch een hoge dieiektrische sterkte noch een hoge isolatiekarakteris- 8000629 ' -11-.An advantage is achieved if the continuity of a conductor to be examined can be checked by means of a device for examining the insulation resistance. The invention is equipped with such a continuity control function. Before this a buzzer Bz was applied. When the continuity is checked with the aid of the examination device according to FIG. 3, the switches and, respectively, are connected to their terminals 30 to form a series circuit consisting of the DC voltage source EL - »switch> diode -> conductor to be measured Rx connected between terminals E and L -> switch $ 2 — buzzer 3z. Therefore, if Rx is not interrupted, a current flows through the buzzer 3z to determine the continuity of the conductor Sx 35. When such a continuity check or an external voltage measuring function is to be provided, switches 5 and 3 are required as in the embodiment. Since the invention is constructed in such a way that these switches are placed on the low voltage side, the advantage is achieved that Lq ncch has neither a high electrical strength nor a high insulation characteristic.
Λ- - tiek nodig is, De diode dient voor het verhinderen van de toevoer van een hoge spanning Vx uit het verbindingspunt e naar de schakelaar .Λ- - is required. The diode serves to prevent the supply of a high voltage Vx from the connection point e to the switch.
Volgens de uitvinding zoals hierboven is beschreven, kan een 5 verbeterde inrichting voor het onderzoeken van een isolatieweerstand worden verkregen met een eenvoudige constructie, waarbij een klem-spanning boven een bepaalde spanning blijft, zelfs wanneer de isolatie’,veerstand een kleine waarde heeft en indien een kortsluiting of dergelijke tussen de klemmen optreedt, wordt de kiemspanning automa-10 tisch verlaagd om het energieverbruik te verminderen.According to the invention as described above, an improved device for examining an insulation resistance can be obtained with a simple construction, wherein a clamping tension remains above a certain tension, even when the insulation resistance spring value is small and if a short circuit or the like occurs between the terminals, the germination voltage is automatically reduced to reduce energy consumption.
80006298000629
Claims (5)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1373179 | 1979-02-08 | ||
| JP1373179A JPS55106365A (en) | 1979-02-08 | 1979-02-08 | Megger |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL8000629A true NL8000629A (en) | 1980-08-12 |
| NL187997C NL187997C (en) | 1992-03-02 |
Family
ID=11841380
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL8000629A NL187997C (en) | 1979-02-08 | 1980-01-31 | DEVICE FOR EXAMINING AN INSULATION RESISTANCE. |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55106365A (en) |
| BR (1) | BR7906260A (en) |
| DE (1) | DE2940524C2 (en) |
| GB (1) | GB2041545A (en) |
| NL (1) | NL187997C (en) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5643062U (en) * | 1979-09-11 | 1981-04-20 | ||
| DE3308793A1 (en) * | 1982-07-14 | 1984-09-13 | Gossen GmbH Mess- und Regeltechnik, 8520 Erlangen | Battery-operated insulation measuring instrument |
| DE3226253A1 (en) * | 1982-07-14 | 1984-01-26 | Gossen Gmbh, 8520 Erlangen | Battery-operated insulation measuring instrument |
| US7990162B2 (en) * | 2007-08-14 | 2011-08-02 | Fluke Corporation | Systems and methods for an open circuit current limiter |
| CN115792522B (en) * | 2022-12-08 | 2023-07-28 | 青岛艾测科技有限公司 | Capacitive load insulation detection method, device and equipment |
| CN116338324B (en) * | 2023-05-30 | 2023-07-25 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | Resistance measurement circuit, method, universal meter and storage medium |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1054168B (en) * | 1958-02-10 | 1959-04-02 | Wandel & Goltermann | Circuit arrangement for measuring insulation resistance of cables |
-
1979
- 1979-02-08 JP JP1373179A patent/JPS55106365A/en active Granted
- 1979-09-28 BR BR7906260A patent/BR7906260A/en not_active IP Right Cessation
- 1979-10-05 DE DE19792940524 patent/DE2940524C2/en not_active Expired
- 1979-11-07 GB GB7938637A patent/GB2041545A/en not_active Withdrawn
-
1980
- 1980-01-31 NL NL8000629A patent/NL187997C/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| BR7906260A (en) | 1980-10-14 |
| GB2041545A (en) | 1980-09-10 |
| DE2940524C2 (en) | 1982-11-04 |
| JPS55106365A (en) | 1980-08-15 |
| NL187997C (en) | 1992-03-02 |
| DE2940524A1 (en) | 1980-08-14 |
| JPS6256982B2 (en) | 1987-11-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB909413A (en) | Apparatus for the detection of electrically active components in an ambient | |
| NL8000629A (en) | DEVICE FOR EXAMINING AN INSULATION RESISTANCE. | |
| US3676767A (en) | Device for automatically identifying unknown transistors | |
| KR870000597A (en) | Low resistance measuring ohmmeter and method | |
| GB2292221A (en) | Hottest temperature sensor | |
| SU1288612A1 (en) | Device for reading voltage-current characteristics of sources of electric power | |
| SU1142882A1 (en) | Charge amplifier | |
| ES2098695T3 (en) | FAULT DETECTION DEVICE IN AN UNDERGROUND ELECTRICAL ENERGY DISTRIBUTION NETWORK. | |
| PL139739B1 (en) | Method of measurement of reverse current of semiconductor elements of rectifying circuit,especially of integrated graetz bridge | |
| KR920010304A (en) | Micro load current detection circuit | |
| SU1170378A1 (en) | Two-terminal network voltage-current characteristic meter | |
| SU1698798A1 (en) | Device for measurement of voltage in high-voltage dc installations with output measurement circuit insulated from high voltage | |
| SU1251205A1 (en) | Realy device | |
| US3356946A (en) | Gate sensitivity meters for silicon controlled rectifiers or the like | |
| SU1712890A1 (en) | Device to measure high voltages | |
| SU399791A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING THE RESISTANCE OF THE LOOP OF PHASE-ZERO UNDER VOLTAGE | |
| KR0116677Y1 (en) | Power line point detector | |
| SU213974A1 (en) | DEVICE OF THRESHOLD MONITORING OF PERMANENT STRESSES | |
| RU182U1 (en) | Device for surge protection | |
| SU500510A1 (en) | Pulse Residual Voltage Meter | |
| KR820001526B1 (en) | Insulation resistor | |
| SU444121A1 (en) | Device for measuring small constant and slowly varying voltages | |
| SU754678A1 (en) | Majority device | |
| SU1737362A1 (en) | Device for checking resistance of insulation of constant current circuits | |
| SU1138848A1 (en) | Device for testing incandescent lamps |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A1A | A request for search or an international-type search has been filed | ||
| BB | A search report has been drawn up | ||
| BC | A request for examination has been filed | ||
| DNT | Communications of changes of names of applicants whose applications have been laid open to public inspection |
Free format text: YOKOGAWA HOKUSHIN ELECTRIC CORPORATION |
|
| A85 | Still pending on 85-01-01 | ||
| DNT | Communications of changes of names of applicants whose applications have been laid open to public inspection |
Free format text: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION |
|
| V1 | Lapsed because of non-payment of the annual fee |
Effective date: 19980801 |