NL7514453A - Werkwijze voor het meten van een in een vlak gelegen oppervlaktevervorming. - Google Patents

Werkwijze voor het meten van een in een vlak gelegen oppervlaktevervorming.

Info

Publication number
NL7514453A
NL7514453A NL7514453A NL7514453A NL7514453A NL 7514453 A NL7514453 A NL 7514453A NL 7514453 A NL7514453 A NL 7514453A NL 7514453 A NL7514453 A NL 7514453A NL 7514453 A NL7514453 A NL 7514453A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
measuring
flat surface
surface deformation
deformation
flat
Prior art date
Application number
NL7514453A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Univ Strathclyde
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Univ Strathclyde filed Critical Univ Strathclyde
Publication of NL7514453A publication Critical patent/NL7514453A/nl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • G01B11/165—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge by means of a grating deformed by the object
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/60—Systems using moiré fringes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
NL7514453A 1974-12-11 1975-12-11 Werkwijze voor het meten van een in een vlak gelegen oppervlaktevervorming. NL7514453A (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB5367074A GB1454340A (en) 1974-12-11 1974-12-11 Method of deformation measurement

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL7514453A true NL7514453A (nl) 1976-06-15

Family

ID=10468607

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7514453A NL7514453A (nl) 1974-12-11 1975-12-11 Werkwijze voor het meten van een in een vlak gelegen oppervlaktevervorming.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US3976381A (nl)
DE (1) DE2555512A1 (nl)
FR (1) FR2294427A1 (nl)
GB (1) GB1454340A (nl)
NL (1) NL7514453A (nl)
SE (1) SE7513944L (nl)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE396824B (sv) * 1975-10-01 1977-10-03 Id Kort Ab Forfarande for att astadkomma sekretessbelagd information
US4322162A (en) * 1979-07-23 1982-03-30 National Research Development Corporation Method and apparatus for sensing in-plane deformation of a surface
US4474466A (en) * 1981-03-11 1984-10-02 National Research Development Corporation Measurement of deformation
US4869197A (en) * 1988-02-23 1989-09-26 Gupta Bal K Bulge indicating method and device
GB2252635B (en) * 1989-09-05 1993-05-12 British Tech Group Improvements in or relating to a method and apparatus for measuring shear force
GB8920028D0 (en) * 1989-09-05 1989-10-18 Nat Res Dev Improvements in or relating to a method and apparatus for measuring shear force
US9311566B2 (en) 2012-08-03 2016-04-12 George Mason Research Foundation, Inc. Method and system for direct strain imaging
CN104359563B (zh) * 2014-11-11 2017-06-06 北京理工大学 一种基于四向虚光栅的二维干涉图相位提取方法
US9879981B1 (en) * 2016-12-02 2018-01-30 General Electric Company Systems and methods for evaluating component strain
CN114076136B (zh) * 2020-08-14 2023-12-05 北京小米移动软件有限公司 显示屏模组的保压方法及保压装置
CN113639761B (zh) * 2021-08-25 2023-11-10 吉林大学 一种利用黑白网格图码的二维平动与转动位移和速度同步非接触测量方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3184961A (en) * 1962-03-23 1965-05-25 Marvalaud Inc Optical strain gauge
US3563940A (en) * 1966-12-19 1971-02-16 Magnaflux Corp Resinous composition for determining surface strain concentrations in rigid articles
US3604808A (en) * 1969-10-31 1971-09-14 Western Electric Co Detection of cumulative registration errors on photomasks using optical interference fringes
US3865488A (en) * 1973-11-30 1975-02-11 Rca Corp Fingerprint display system utilizing a stored fingerprint

Also Published As

Publication number Publication date
DE2555512A1 (de) 1976-06-16
SE7513944L (sv) 1976-06-14
US3976381A (en) 1976-08-24
FR2294427A1 (fr) 1976-07-09
GB1454340A (en) 1976-11-03
FR2294427B3 (nl) 1979-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7509361A (nl) Werkwijze en inrichting voor het op afstand uitvoeren van metingen in een boorput.
NL7514376A (nl) Werkwijze voor het meten van de druk van gas in een afgesloten ruimte.
NL188354C (nl) Werkwijze voor de bereiding van een substraat voor de kwantitatieve bepaling van plasmakallikreine en werkwijze voor het kwantitatief bepalen van plasmakallikreine.
NL7500281A (nl) Inrichting voor het bepalen van het profiel en oppervlak.
NL7502901A (nl) Magnetisch bandapparaat met een inrichting voor bepaling van het type van de magnetische laag op een te gebruiken magneetband.
NL170646C (nl) Werkwijze voor het in een vlak oppervlak van een voorwerp vormen van verdiepte delen.
NL7506234A (nl) Werkwijze voor het centreren van een eerste artikel ten opzichte van een tweede artikel en inrichting voor het toepassen van deze werkwij- ze.
NL166542B (nl) Optisch-elektrische meetinrichting voor het bepalen van het hemoglobine-gehalte van een oplossing.
NL7514718A (nl) Werkwijze voor het zonder aanraking meten van een dikte.
NL7502108A (nl) Werkwijze voor het meten van antigeen-anti- lichaam-reacties en inrichting voor het toe- passen van deze werkwijze.
NL7508001A (nl) Werkwijze en inrichting voor het buigen van glazen platen.
BE826040A (nl) Werkwijze voor het meten van een tweedimensionale temperatuurverdeling
NL7501489A (nl) Inrichting voor het bepalen van antigenen.
NL7401937A (nl) Inrichting voor het uitlezen van een registra- ager waarop informatie is aangebracht in ptisch uitleesbare struktuur.
NL161409B (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een houder.
NL7506030A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een fluores- centieweergeefinrichting en inrichting vervaar- digd volgens deze werkwijze.
NL7514453A (nl) Werkwijze voor het meten van een in een vlak gelegen oppervlaktevervorming.
NL7607955A (nl) Inrichting voor het meten van het stortgoed- niveau in een silo.
NL185178C (nl) Inrichting voor het foto-elektrisch meten van een relatieve verschuiving tussen twee elementen.
NL7609050A (nl) Inrichting voor het meten van een in hoofdzaak- lineaire verplaatsing.
BE828194A (fr) Inrichting en werkwijze voor het scheiden van vlees van botten en dergelijke
NL160939C (nl) Werkwijze voor het meten van de druk en het drukverloop die een bepaald materiaal uitoefent op een oppervlak.
NL7507805A (nl) Inrichting voor het tot stand brengen van een film van metaaloxyde.
NL7503868A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van fouten in afdichtingen.
NL7507807A (nl) Inrichting voor het vormen van een film van metaal- oxyde op een glasachtig oppervlak.

Legal Events

Date Code Title Description
BV The patent application has lapsed