NL2024470B1 - A method and system for performing characterization measurements on an elongated substrate - Google Patents
A method and system for performing characterization measurements on an elongated substrate Download PDFInfo
- Publication number
- NL2024470B1 NL2024470B1 NL2024470A NL2024470A NL2024470B1 NL 2024470 B1 NL2024470 B1 NL 2024470B1 NL 2024470 A NL2024470 A NL 2024470A NL 2024470 A NL2024470 A NL 2024470A NL 2024470 B1 NL2024470 B1 NL 2024470B1
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- substrate
- locations
- guided
- waves
- cantilevers
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
- G01Q60/32—AC mode
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0654—Imaging
- G01N29/0681—Imaging by acoustic microscopy, e.g. scanning acoustic microscopy
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q70/00—General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
- G01Q70/06—Probe tip arrays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/042—Wave modes
- G01N2291/0427—Flexural waves, plate waves, e.g. Lamb waves, tuning fork, cantilever
Claims (15)
1. Een werkwijze voor het uitvoeren van karakterisatiemetingen op een langwerpig substraat met behulp van een scanning probe microscopiesysteem, waarbij het systeem een meervoudig aantal dragerbalken omvat, waarbij elke dragerbalk een daarop ingerichte sondepunt heeft, waarbij de werkwijze de stappen omvat van: het bewegen van de dragerbalken naar een oppervlak van het substraat om contact mogelijk te maken tussen de sondepunten van de veelheid dragerbalken en het oppervlak van het substraat, het vibreren van ten minste een eerste dragerbalk van de veelheid dragerbalken voor het uitzenden van ultrasone golven in het substraat op een of meerdere eerste locaties op het oppervlak van het substraat, waarbij de ultrasone golven zijn aangepast om een of meerdere geleide golven in het substraat te laten propageren, het detecteren van de gegenereerde geleide golven op een veelheid tweede locaties op het oppervlak van het substraat door middel van ten minste een tweede dragerbalk van de veelheid dragerbalken, waarbij de veelheid tweede locaties op afstand liggen van de een of meerdere eerste locaties, en het uitvoeren van substraatkarakterisering op basis van de gedetecteerde geleide golven op de veelheid tweede locaties.
2. Werkwijze volgens conclusie 1, waarbij de gedetecteerde gegenereerde geleide golven worden gebruikt in dispersiebeeldvorming waarin dispersiecurves worden geïdentificeerd, waarbij mechanische eigenschappen van het substraat worden bepaald op basis van de geïdentificeerde dispersiecurves.
3. Werkwijze volgens conclusie 1 of 2, waarbij de substraatkarakterisering wordt uitgevoerd op basis van een of meerdere geleide golfvariaties, waarbij de gedetecteerde gegenereerde geleide golven op de veelheid tweede locaties worden gebruikt voor het bepalen van de een of meerdere geleide golfvariaties.
4. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij de veelheid dragerbalken zijn ingericht in een dragerbalk groep, waarbij de groep een eerste subset, en een tweede subset omvat, waarbij de eerste subset de ten minste ene eerste dragerbalk omvat, en de tweede subset de ten minste ene tweede dragerbalk omvat, waarbij de tweede subset meerdere dragerbalken omvat die regelmatig op afstand van elkaar staan, waardoor detectie van de gegenereerde geleide golven op de veelheid tweede locaties op het oppervlak van het substraat in staat wordt gesteld.
5. Werkwijze volgens conclusie 4, waarbij de eerste subset meerdere dragerbalken omvat die zijn ingericht voor het achtereenvolgens uitzenden van ultrasone golven in het substraat om opeenvolgende geleide golven te genereren die zich propageren in het substraat, en waarbij de dragerbalken van de tweede subset worden gebruikt voor het ontvangen van elke achtereenvolgens gegenereerde geleide golf in reactie op de uitgezonden ultrasone golven.
6. Werkwijze volgens conclusie 4 of 5, waarbij de groep en het substraat ten opzichte van elkaar beweegbaar zijn, waarbij de groep over een gebied van het oppervlak van het substraat wordt gescand voor het uitvoeren van meerdere metingen.
7. Werkwijze volgens een van de conclusies 4-6, waarbij twee of meer dragerbalken van de eerste subset worden gebruikt voor het gelijktijdig uitzenden van ultrasone golven in het substraat, waarbij de gelijktijdig uitgezonden ultrasone golven worden gecoördineerd om een geleide mode te selecteren.
8. Werkwijze volgens conclusie 7, waarbij de geselecteerde geleide mode een hogere gevoeligheid heeft voor ten minste een van: een sub-oppervlak element van het substraat, of een laag van het substraat omvattende meerdere lagen.
9. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij een veelheid geleide modi wordt geselecteerd, waarbij substraatkarakterisering wordt uitgevoerd door het uitzenden van de veelheid geselecteerde geleide modi in het substraat.
10. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij de ten minste ene tweede dragerbalk over het oppervlak van het substraat wordt gescand voor het op meerdere plaatsen detecteren van de uitgezonden geleide golven.
11. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij een meerlagig substraat, bij voorkeur een meerlagig halfgeleidersubstraat, wordt gekarakteriseerd.
12. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij de substraatkarakterisering ten minste één omvat van: karakterisering van sub-oppervlak elementen in het substraat, karakterisering van mechanische eigenschappen van het substraat, karakterisering van een of meerdere lagen of diktevariaties van een meerlagig substraat, karakterisering van heterogeniteiten of holtes in het substraat, of niet- destructief onderzoek van het substraat.
13. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, waarbij meer dan drie dragerbalken worden verschaft, met meer voorkeur meer dan vijf dragerbalken, met nog meer voorkeur meer dan tien dragerbalken.
14. Een scanning probe microscopiesysteem voor het uitvoeren van metingen onder een oppervlak op een substraat, waarbij het systeem een sensorkop omvat met een veelheid dragerbalken, waarbij elke dragerbalk een daarop ingerichte sondepunt heeft, waarbij het systeem verder een processor omvat die is geconfigureerd voor het toepassen van een werkwijze gedefinieerd in een van de voorgaande conclusies, in het bijzonder ingericht voor: het verplaatsen van de dragerbalken naar een oppervlak van het substraat om contact mogelijk te maken tussen de sondepunten van de veelheid dragerbalken en het oppervlak van het substraat, het vibreren van ten minste een eerste dragerbalk van de veelheid dragerbalken voor het uitzenden van ultrasone golven in het substraat op een of meerdere eerste locaties op het oppervlak van het substraat, waarbij de ultrasone golven zijn aangepast om een of meerdere geleide golven in het substraat te laten propageren, het detecteren van de gegenereerde geleide golven op een veelheid tweede locaties op het oppervlak van het substraat door middel van ten minste een tweede dragerbalk van de veelheid dragerbalken, waarbij de veelheid tweede locaties op afstand liggen van de een of meerdere eerste locaties, en het uitvoeren van substraatkarakterisering op basis van de gedetecteerde geleide golven op de veelheid tweede locaties.
15. Een computerprogrammaproduct dat kan worden gedownload van een communicatienetwerk en/of opgeslagen op een computerleesbaar en/of door een microprocessor uitvoerbaar medium, omvattende programmacode-instructies die, wanneer uitgevoerd door een scanning probe microscopiesysteem omvattende een processor, ervoor zorgt dat het systeem een werkwijze uitvoert volgens een van de voorgaande conclusies 1-13.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL2024470A NL2024470B1 (en) | 2019-12-16 | 2019-12-16 | A method and system for performing characterization measurements on an elongated substrate |
PCT/NL2020/050787 WO2021125944A1 (en) | 2019-12-16 | 2020-12-15 | A method and system for performing characterization measurements on an elongated substrate |
EP20828160.0A EP4078191A1 (en) | 2019-12-16 | 2020-12-15 | A method and system for performing characterization measurements on an elongated substrate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL2024470A NL2024470B1 (en) | 2019-12-16 | 2019-12-16 | A method and system for performing characterization measurements on an elongated substrate |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL2024470B1 true NL2024470B1 (en) | 2021-09-02 |
Family
ID=70295977
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL2024470A NL2024470B1 (en) | 2019-12-16 | 2019-12-16 | A method and system for performing characterization measurements on an elongated substrate |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP4078191A1 (nl) |
NL (1) | NL2024470B1 (nl) |
WO (1) | WO2021125944A1 (nl) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19729280C1 (de) * | 1997-07-09 | 1998-11-05 | Fraunhofer Ges Forschung | Ultraschallmikroskop |
JP2012083130A (ja) * | 2010-10-07 | 2012-04-26 | Fujitsu Ltd | 超音波検査方法及び超音波検査装置 |
EP3232192A1 (en) * | 2016-04-14 | 2017-10-18 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Heterodyne scanning probe microscopy method, scanning probe microscopy system and probe therefore |
CN104965105B (zh) * | 2015-07-06 | 2018-03-23 | 中国科学院半导体研究所 | 集成超声换能器的afm探针阵列 |
EP3396390A1 (en) * | 2017-04-24 | 2018-10-31 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Subsurface atomic force microscopy with guided ultrasound waves |
-
2019
- 2019-12-16 NL NL2024470A patent/NL2024470B1/en active
-
2020
- 2020-12-15 EP EP20828160.0A patent/EP4078191A1/en active Pending
- 2020-12-15 WO PCT/NL2020/050787 patent/WO2021125944A1/en unknown
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19729280C1 (de) * | 1997-07-09 | 1998-11-05 | Fraunhofer Ges Forschung | Ultraschallmikroskop |
JP2012083130A (ja) * | 2010-10-07 | 2012-04-26 | Fujitsu Ltd | 超音波検査方法及び超音波検査装置 |
CN104965105B (zh) * | 2015-07-06 | 2018-03-23 | 中国科学院半导体研究所 | 集成超声换能器的afm探针阵列 |
EP3232192A1 (en) * | 2016-04-14 | 2017-10-18 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Heterodyne scanning probe microscopy method, scanning probe microscopy system and probe therefore |
EP3396390A1 (en) * | 2017-04-24 | 2018-10-31 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Subsurface atomic force microscopy with guided ultrasound waves |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP4078191A1 (en) | 2022-10-26 |
WO2021125944A1 (en) | 2021-06-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Diamanti et al. | Structural health monitoring techniques for aircraft composite structures | |
Fromme et al. | Measurement of the scattering of a Lamb wave by a through hole in a plate | |
Masserey et al. | High-frequency guided ultrasonic waves for hidden defect detection in multi-layered aircraft structures | |
Edwards et al. | Depth gauging of defects using low frequency wideband Rayleigh waves | |
US10126273B2 (en) | Inspection of structures | |
Masserey et al. | Ultrasonic sizing of short surface cracks | |
TWI766932B (zh) | 外差式原子力顯微術裝置、方法以及微影製程系統 | |
Trushkevych et al. | Characterisation of small defects using miniaturised EMAT system | |
US9488623B2 (en) | Guided wave mode sweep technique for optimal mode and frequency excitation | |
Kuts et al. | Study of parametric transducer operation in pulsed eddy current non-destructive testing | |
NL2024470B1 (en) | A method and system for performing characterization measurements on an elongated substrate | |
Etxaniz et al. | Ultrasound-based structural health monitoring methodology employing active and passive techniques | |
EP2984479B1 (en) | Ultrasonic inspection using incidence angles | |
NL2024467B1 (en) | A method and system for performing sub-surface measurements on a sample | |
NL2024466B1 (en) | A method and system for performing sub-surface measurements on a sample | |
Claes et al. | Acoustic material characterization of additively manufactured components | |
US11327092B2 (en) | Subsurface atomic force microscopy with guided ultrasound waves | |
KR102116051B1 (ko) | 배열형 초음파 센서를 이용한 펄스 에코형 비선형 검사 장치 | |
JP5853445B2 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JP2012083130A (ja) | 超音波検査方法及び超音波検査装置 | |
Chen et al. | Thickness measurement optimisation for permanently installed inductively coupled ultrasonic transducer systems | |
Eremin et al. | Application of piezoelectric wafer active sensors for elastic guided wave excitation and detection in structural health monitoring systems for elongated constructions | |
Li et al. | Highly non-linear solitary wave imaging method for detecting cylindrical defects in the metal plate of an adhesive composite metal structure | |
He et al. | A Lamb wave based fatigue crack length estimation method using finite element simulations | |
US11060860B2 (en) | Method of inspection by guided waves |