NL2003000C2

NL2003000C2 - METHOD FOR DETERMINING AT LEAST ONE PROPERTY FOR AN ELECTRICALLY CONDUCTIVE OBJECT.

Info

Publication number: NL2003000C2
Application number: NL2003000A
Authority: NL
Inventors: Victor Otto Haan; Paul Andra Jong; Thomas Theodorus Arnoldus Overbeek
Original assignee: Roentgen Tech Dienst Bv
Priority date: 2009-06-11
Filing date: 2009-06-11
Publication date: 2010-12-15

Description

CMJ/P87110NL00CMJ / P87110NL00

Titel: Werkwijze voor het bepalen van tenminste een eigenschap voor een elektrisch geleidend voorwerp.Title: Method for determining at least one property for an electrically conductive object.

De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het bepalen van tenminste een eigenschap van een elektrisch geleidend voorwerp waarbij de werkwijze tenminste de volgende stappen omvat: a. het met behulp van tenminste een zendantenne aan het 5 voorwerp toevoeren van een elektromagnetisch veld waarbij het elektromagnetisch veld in de tijd verandert voor het opwekken van wervelstromen in het voorwerp; b. het met behulp van tenminste een ontvangantenne ontvangen van een signaal S(t) dat de wervelstromen representeert; 10 c. het door analyse van het signaal S(t) bepalen van de tenminste ene eigenschap van het voorwerp.The invention relates to a method for determining at least one property of an electrically conductive object, the method comprising at least the following steps: a. Applying an electromagnetic field to the object with the aid of at least one transmitting antenna, wherein the electromagnetic field changes over time to generate eddy currents in the object; b. receiving a signal S (t) representing the eddy currents with the aid of at least one receiving antenna; C. determining the at least one property of the object by analyzing the signal S (t).

Een dergelijke werkwijze is onder meer bekend uit WO 98/34104 en EP 0 321 111.Such a method is known, inter alia, from WO 98/34104 and EP 0 321 111.

Bij de bekende werkwijze volgens EP 0 321 111 bestaat het 15 voorwerp uit een metalen pijpleiding waar omheen een afdeklaag in de vorm van een isolatiemateriaal is gebracht zoals een thermoplastisch schuim zoals polystyreen. Daar omheen is een dunne metalen bekleding aangebracht. Deze bekledingslaag heeft een dikte die veel kleiner is dan de dikte van de pijpleiding.In the known method according to EP 0 321 111, the article consists of a metal pipeline around which a cover layer in the form of an insulating material is placed, such as a thermoplastic foam such as polystyrene. A thin metal coating has been applied around it. This coating layer has a thickness that is much smaller than the thickness of the pipeline.

20 Voor het uitvoeren van de werkwijze wordt in stap a. de zendantenne op een buitenoppervlak van het voorwerp geplaatst (de metalen bekledingslaag). Voorts wordt in stap b. de ontvangantenne op een buitenzijde van het voorwerp geplaatst.To carry out the method, in step a. The transmitting antenna is placed on an outer surface of the object (the metal coating layer). Furthermore, in step b. the receiving antenna is placed on an outside of the object.

Vervolgens wordt in stap a. met de zendantenne een veranderend 25 elektromagnetisch veld opgewekt dat aan het voorwerp wordt toegevoerd.Subsequently, in step a. With the transmitting antenna, a changing electromagnetic field is generated which is applied to the object.

Dit veranderende elektromagnetische veld heeft tot gevolg dat in de 2 pijpleiding een wervelstroom wordt gecreëerd die met behulp van de ontvangantenne wordt ontvangen. Met behulp van de ontvangantenne wordt aldus het signaal S(t) gegenereerd dat deze wervelstromen representeert. Het signaal S(t) wordt gekenmerkt door een verval gedurende 5 een bepaalde tijdsperiode die afhankelijk is van het type ontvangstantenne, (Spoel, Hall-Sensor, GMR-Sensor), de positie van de zendantenne en de ontvangantenne ten opzichte van het voorwerp (geometrie), alsmede van het voorwerp zelf. Volgens de bekende methode wordt het verval van het signaal S(t) bepaald. Het verval betreft hier dS(t)/dt. Dit verval wordt 10 vergeleken met het verval van tenminste een signaal V(t) behorende bij een voorwerp met een bekende wanddikte. Door vergelijking van beide vervallen kan een schatting worden gemaakt van de wanddikte van de pijpleiding van het voorwerp.This changing electromagnetic field has the result that an eddy current is created in the 2 pipeline which is received with the aid of the receiving antenna. Thus, with the aid of the receiving antenna, the signal S (t) is generated which represents these eddy currents. The signal S (t) is characterized by a decay during a certain period of time that depends on the type of receiving antenna (coil, Hall sensor, GMR sensor), the position of the transmitting antenna and the receiving antenna relative to the object ( geometry), as well as the object itself. According to the known method, the decay of the signal S (t) is determined. The decay here concerns dS (t) / dt. This decay is compared with the decay of at least one signal V (t) associated with an object with a known wall thickness. By comparing the two decays, an estimate can be made of the wall thickness of the pipeline of the object.

In het algemeen is de wanddikte van een pijpleiding echter bekend. 15 Het kan echter zo zijn dat de pijpleiding op bepaalde plaatsen onderhevig is aan corrosie zodat op deze bepaalde plaatsen de wanddikte afwijkt. Het is nu bij EP 0 321 111 de bedoeling om behalve de nominale wanddikte ook een afwijkende wanddikte van de pijpleiding te meten. Een probleem dat zich voordoet is dat een dergelijke afwijkende wanddikte zich in het signaal 20 S(t) manifesteert vlak nadat de wervelstroom is geïnitieerd. Dit wordt duidelijk uit een verandering van tijdsafgeleide van S(t). Een probleem is echter dat vlak nadat de wervelstroom is geïnitieerd, het signaal S(t) niet goed wordt ontvangen ten gevolge van bijvoorbeeld de aanwezige bekledingslaag en ten gevolge van interferentie tussen de antennes. Daar 25 waar het signaal wel goed kan worden ontvangen, geeft de afgeleide van het signaal S(t) echter geen informatie over genoemde afwijking in wanddikte ten gevolge van bijvoorbeeld corrosie. Wel kan de nominale wanddikte van de pijpleiding dan nog goed worden bepaald.However, the wall thickness of a pipeline is generally known. It may, however, be the case that the pipeline is subject to corrosion at certain locations, so that the wall thickness deviates at these specific locations. It is now the intention with EP 0 321 111 to measure a deviating wall thickness of the pipeline in addition to the nominal wall thickness. A problem that occurs is that such a deviating wall thickness manifests itself in the signal S (t) just after the eddy current has been initiated. This becomes clear from a change of time derivative of S (t). A problem, however, is that just after the eddy current is initiated, the signal S (t) is not properly received due to, for example, the coating layer present and due to interference between the antennas. However, where the signal can be received well, the derivative of the signal S (t) does not provide information about the said deviation in wall thickness due to, for example, corrosion. However, the nominal wall thickness of the pipeline can still be well determined.

Ook bij WO 98/34104 wordt op vergelijkbare wijze een signaal S(t) 30 verkregen als hierboven omschreven voor EP 0 321 111. Verder wordt 3 gebruik gemaakt van een vooraf bepaald model V(t, α, β, γ, δ, η, μΐ, ai, τΐ) van het signaal, welk model een aantal parameters (α, β, γ, δ,η) omvat die afhankelijk zijn van de geometrie van de zendantenne en de ontvangantenne alsmede van de positie van de zendantenne en 5 ontvangantenne ten opzichte van het voorwerp. Verder omvat het model parameters die afhankelijk zijn van materiaaleigenschappen van het materiaal van het voorwerp zoals het magnetische permeabiliteit μΐ van een gebied i van het voorwerp en de elektrische geleiding σΐ van het gebied i. Ook omvat het model nog tijdconstanten xi die afhankelijk zijn van de dikte 10 di van het voorwerp in het gebied i. Door vooraf de parameters die afhankelijk zijn van de geometrie van de zendantenne en de geometrie van de ontvangantenne, de positie van de zendantenne en de positie van de ontvangantenne ten opzichte van het voorwerp met behulp van calibratiemeting te bepalen alsmede door vooraf de magnetische 15 permeabiliteit, μΐ en de elektrische geleidbaarheid ai te bepalen, kan de dikte di van het voorwerp per gebied i worden bepaald door deze diktes dusdanig in het model te kiezen dat het model bij de gekozen diktes overeenkomt met het ontvangen signaal S(t). Ook bij deze methode treedt het nadeel op dat een relatief kleine wanddikte van het voorwerp niet kan 20 worden bepaald doordat deze wanddikte zich manifesteert in het signaal S(t) vlak nadat de wervelstromen zijn geïnitialiseerd waarbij gedurende deze periode het signaal S(t) niet goed meetbaar is ten gevolge van genoemde bekledingslaag en interferenties tussen de zendantenne en de ontvangantenne.Also with WO 98/34104 a signal S (t) 30 is obtained in a similar manner as described above for EP 0 321 111. Furthermore, use is made of a predetermined model V (t, α, β, γ, δ, η , μΐ, ai, τΐ) of the signal, which model comprises a number of parameters (α, β, γ, δ, η) that depend on the geometry of the transmitting antenna and the receiving antenna as well as the position of the transmitting antenna and receiving antenna relative to the object. Furthermore, the model includes parameters that are dependent on material properties of the material of the object such as the magnetic permeability μΐ of an area i of the object and the electrical conductivity σΐ of the area i. The model also comprises time constants xi which are dependent on the thickness 10 di of the object in the area i. By predetermining the parameters which are dependent on the geometry of the transmitting antenna and the geometry of the receiving antenna, the position of the transmitting antenna and the position of the receiving antenna with respect to the object with the aid of calibration measurement, and also beforehand the magnetic permeability, μΐ and determine the electrical conductivity ai, the thickness di of the object per area i can be determined by choosing these thicknesses in the model such that the model at the chosen thicknesses corresponds to the received signal S (t). This method also has the disadvantage that a relatively small wall thickness of the object cannot be determined because this wall thickness manifests itself in the signal S (t) just after the eddy currents have been initialized, during which the signal S (t) is not is easily measurable as a result of said covering layer and interferences between the transmitting antenna and the receiving antenna.

25 De uitvinding beoogt een oplossing te verschaffen voor het genoemde probleem.The object of the invention is to provide a solution for the above-mentioned problem.

De werkwijze volgens de uitvinding wordt dienovereenkomstig gekenmerkt in dat in stap d. een eerste maat voor de afstand tussen de zendantenne en een oppervlak van het voorwerp en een tweede maat voor 4 de afstand tussen de ontvangantenne en een oppervlak van het voorwerp worden bepaald; waarbij in stap c. de analyse van het signaal S(t) wordt uitgevoerd in afhankelijkheid van de eerste maat en de tweede maat voor het bepalen van de tenminste ene eigenschap van het voorwerp. Volgens het 5 inzicht van de uitvinding is het signaal S(t) na de periode waarin de genoemde relatief kleine wanddikte zich manifesteert in het signaal ook afhankelijk van de genoemde relatieve wanddikte, zij het dat een vergelijkbare afhankelijkheid bestaat van de eerste maat en de tweede maat. Door analyse van het signaal S(t) in het tijdsdomein dat volgt na de 10 genoemde periode is het dus niet mogelijk een onderscheid te maken tussen een eigenschap van het signaal dat wordt veroorzaakt door de eerste maat en/of tweede maat enerzijds, en/of een geringe wanddikte anderzijds. Door de eerste maat en de tweede maat in stap d. te bepalen kan vervolgens worden bepaald in hoeverre een bepaalde eigenschap van het signaal S(t) na 15 afloop van de genoemde periode wordt veroorzaakt door een gereduceerde wanddikte en/of door de eerste maat en/of tweede maat. Aldus kan een eventuele geringere wanddikte worden gedetecteerd wanneer de eerste maat en de tweede maat bekend zijn.The method according to the invention is accordingly characterized in that in step d. a first measure of the distance between the transmitting antenna and a surface of the object and a second measure of the distance between the receiving antenna and a surface of the object are determined; wherein in step c. the analysis of the signal S (t) is performed in dependence on the first measure and the second measure for determining the at least one property of the object. According to the insight of the invention, after the period in which said relatively small wall thickness manifests itself in the signal, the signal S (t) is also dependent on said relative wall thickness, although there is a comparable dependence on the first measure and the second measure. By analyzing the signal S (t) in the time domain that follows after the said period, it is therefore not possible to distinguish between a property of the signal caused by the first measure and / or second measure on the one hand, and / or a small wall thickness on the other. By the first measure and the second measure in step d. to determine, it can then be determined to what extent a certain characteristic of the signal S (t) after the said period has elapsed is caused by a reduced wall thickness and / or by the first measure and / or second measure. A possible smaller wall thickness can thus be detected when the first measure and the second measure are known.

In het bijzonder geldt hierbij dat in stap c. aan de hand van de 20 eerste maat en/of tweede maat een amplitude van een te verwachten signaal V(t) bij een voorwerp met een gegeven wanddikte wordt bepaald aan de hand van een vooraf bepaald referentiemodel en waarbij door een vergelijken van de amplitude van S(t) en de amplitude van V(t) wordt bepaald of het voorwerp een wanddikte heeft die kleiner is dan gegeven 25 wanddikte.In this case it applies in particular that in step c. on the basis of the first measure and / or second measure an amplitude of an expected signal V (t) at an object with a given wall thickness is determined on the basis of a predetermined reference model and wherein by comparing the amplitude of S (t) and the amplitude of V (t), it is determined whether the object has a wall thickness that is smaller than given wall thickness.

De genoemde eerste maat en de genoemde tweede maat worden praktisch gezien in geval van een pijpleiding bepaald door de som van de dikte van de isolatielaag en de eventuele afdeklaag. Deze dikte is in sommige gevallen bekend zodat de eerste maat en de tweede maat bekend 30 zijn. In andere gevallen is een diameter van de pijpleiding bekend waarbij 5 vervolgens de eerste maat en/of de tweede maat kunnen worden bepaald door het uitvoeren van afstandmetingen met behulp van een meetmiddel voor het meten van een afstand tussen twee punten langs een vooraf bepaalde weg tussen deze twee punten. Praktisch gezien kan bijvoorbeeld 5 met een meetlint een diameter van de cilindervormige afdeklaag worden bepaald, bijvoorbeeld door een omtreksmeting. Dan is uiteraard ook op basis van de bekende diameter van de pijpleiding, de eerste maat en de tweede maat bekend. Immers, wanneer de positie van de zendantenne in stap a. en de positie van de ontvangantenne in stap b. ten opzichte van de afdeklaag 10 bekend is, is eveneens de afstand tussen de zendantenne en de pijpleiding alsmede de afstand tussen de ontvangantenne en de pijpleiding bekend.Said first measure and said second measure are practically seen in the case of a pipeline determined by the sum of the thickness of the insulating layer and the possible cover layer. This thickness is known in some cases so that the first measure and the second measure are known. In other cases, a diameter of the pipeline is known, wherein the first dimension and / or the second dimension can subsequently be determined by performing distance measurements with the aid of a measuring means for measuring a distance between two points along a predetermined path between these two points. In practical terms, for example, a diameter of the cylindrical covering layer can be determined with a measuring tape, for example by means of a circumferential measurement. Then, of course, also on the basis of the known diameter of the pipeline, the first dimension and the second dimension are known. After all, when the position of the transmitting antenna in step a. And the position of the receiving antenna in step b. with respect to the covering layer 10, the distance between the transmitting antenna and the pipeline as well as the distance between the receiving antenna and the pipeline is also known.

Er zijn echter situaties denkbaar waarbij de diameter van de pijpleiding niet bekend is en/of waarbij de dikte van de isolerende laag en de afdeklaag niet bekend is.However, situations are conceivable in which the diameter of the pipeline is not known and / or in which the thickness of the insulating layer and the cover layer is not known.

15 Volgens een bijzondere uitvoeringsvorm van de werkwijze volgens de uitvinding kan ook aan dit probleem tegemoet worden gekomen. Volgens deze bijzondere variant geldt dat de eerste maat en/of de tweede maat in stap d wordt bepaald door: dl. het met behulp van een zendantenne genereren van een statisch of 20 variërend magnetisch veld in het voorwerp waarbij de zendantenne in stap a. een zelfde positie heeft als de zendantenne in stap dl en waarbij in het bijzonder de zendantenne in stap a. dezelfde antenne is als in stap dl; d2. het met behulp van een magnetische veldsensor meten van het magnetische veld bij de zendantenne van stap dl; 25 d3 het bepalen van de eerste maat en/of tweede maat aan de hand van het met de magnetische veldsensor gemeten magnetische veld en aan de hand van een vooraf bepaald model voor het magnetische veld ter plaats van de magnetische veldsensor voor verschillende waarden van de eerste maat en/of de tweede maat.According to a special embodiment of the method according to the invention, this problem can also be met. According to this special variant, the first measure and / or the second measure in step d is determined by: dl. generating a static or varying magnetic field in the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the transmitting antenna in step a. has the same position as the transmitting antenna in step d1 and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same antenna as in step d1; d2. measuring the magnetic field at the transmitting antenna of step d1 using a magnetic field sensor; D3 determining the first measure and / or second measure on the basis of the magnetic field measured with the magnetic field sensor and on the basis of a predetermined model for the magnetic field instead of the magnetic field sensor for different values of the first size and / or the second size.

66

Volgens een alternatieve methode geldt hiertoe dat de eerste maat en/of de tweede maat in stap d wordt bepaald door: dl. het met behulp van een zendantenne genereren van een statisch of variërend magnetisch veld in het voorwerp waarbij de zendantenne in stap 5 a. een zelfde positie heeft als de zendantenne in stap dl en waarbij in het bijzonder de zendantenne in stap a. dezelfde antenne is als in stap dl; d2. het met behulp van een eerste magnetische veldsensor meten van het magnetische veld dat is opgewekt in stap dl. bij de zendantenne van stap dl; 10 d3 het met behulp van een tweede magnetische veldsensor meten van het magnetische veld dat is opgewekt in stap dl waarbij de tweede magnetische veldsensor een bekende positie ten opzichte van de eerste magnetische veldsensor heeft; d4 het bepalen van de eerste maat en/of tweede maat aan de hand van 15 het met de eerste magnetische veldsensor gemeten magnetische veld, het met de tweede magnetische veldsensor gemeten magnetische veld, de vooraf bepaalde positie van de tweede magnetische veld sensor ten opzichte van de eerste magnetische veldsensor en aan de hand van een vooraf bepaald model voor het magnetische veld ter plaatse van de eerste magnetische veldsensor 20 en het magnetische veld terplaatste van de tweede magnetische veldsensor voor verschillende waarden van de eerste maat en/of de tweede maat. De genoemde magnetische veldsensor kan bijvoorbeeld zijn voorzien van een Hall-sensor, SQUIDS en/of GMR-sensor. Volgens een andere uitvoeringsvorm van een werkwijze volgens de uitvinding wordt dit 25 probleem op gelost doordat de eerste maat en/of de tweede maat in stap d wordt bepaald door: dl. het met behulp van een zendantenne aan het voorwerp toevoeren van een elektromagnetisch veld waarbij het elektromagnetisch veld in de tijd verandert voor het opwekken van wervelstromen in het voorwerp en 30 waarbij de zendantenne in stap a en de zendantenne in stap dl op een zelfde 7 positie staan en waarbij in het bijzonder de zendantenne in stap a. dezelfde antenne is als in stap dl.; d2. het met behulp van een ontvangantenne ontvangen van een signaal S’(t) dat de wervelstromen representeert die zijn opgewekt in stap dl 5 waarbij de ontvangantenne in stap b en de ontvangantenne in stap d2 op een zelfde positie staan en waarbij in het bijzonder de ontvangantenne in stap d2 dezelfde antenne is als in stap b.; d3. het met behulp van tenminste een zendantenne aan het voorwerp toevoeren van een elektromagnetisch veld waarbij het elektromagnetisch 10 veld in de tijd verandert voor het opwekken van wervelstromen in het voorwerp; d4. het met behulp van tenminste een ontvangantenne ontvangen van een signaal S”(t) dat de wervelstromen representeert die zijn opgewekt in stap d3 waarbij de zendantenne in stap dl op een andere afstand staat tot 15 het voorwerp dan de zendantenne in stap d3 en/of waarbij ontvangantenne in stap d2 op een andere afstand staat tot het voorwerp dan de ontvangantenne in stap d4; dö. het bepalen van de onderlinge afstanden tussen de zendantenne in stap dl, de ontvangantenne in stap d2, de zendantenne in stap d3 en de 20 ontvangantenne in stap d4; d6 het door analyse van het signaal S’(t), het signaal S”(t) en de bepaalde onderlinge afstanden in stap d5 bepalen van de eerste maat of tweede maat.To this end, according to an alternative method, the first measure and / or the second measure in step d is determined by: dl. generating a static or varying magnetic field in the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the transmitting antenna in step 5 a. has the same position as the transmitting antenna in step d1 and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same antenna as in step d1; d2. measuring with the aid of a first magnetic field sensor the magnetic field generated in step dl. at the transmitting antenna of step d1; D3 measuring with the aid of a second magnetic field sensor the magnetic field generated in step d1 wherein the second magnetic field sensor has a known position relative to the first magnetic field sensor; d4 determining the first measure and / or second measure on the basis of the magnetic field measured with the first magnetic field sensor, the magnetic field measured with the second magnetic field sensor, the predetermined position of the second magnetic field sensor relative to the first magnetic field sensor and on the basis of a predetermined model for the magnetic field at the location of the first magnetic field sensor 20 and the magnetic field at the location of the second magnetic field sensor for different values of the first measure and / or the second measure. Said magnetic field sensor can for instance be provided with a Hall sensor, SQUIDS and / or GMR sensor. According to another embodiment of a method according to the invention, this problem is solved in that the first measure and / or the second measure in step d is determined by: d1. applying an electromagnetic field to the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the electromagnetic field changes in time to generate eddy currents in the object and wherein the transmitting antenna in step a and the transmitting antenna in step d1 are in the same position 7 and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same antenna as in step dl .; d2. receiving with the aid of a receiving antenna a signal S '(t) representing the eddy currents generated in step d1, wherein the receiving antenna in step b and the receiving antenna in step d2 are at the same position and in particular the receiving antenna in step d2 is the same antenna as in step b .; d3. applying an electromagnetic field to the object with the aid of at least one transmitting antenna, the electromagnetic field changing in time to generate eddy currents in the object; d4. receiving with the aid of at least one receiving antenna a signal S '(t) representing the eddy currents generated in step d3, wherein the transmitting antenna in step d1 is at a different distance from the object than the transmitting antenna in step d3 and / or wherein receiving antenna in step d2 is at a different distance from the object than receiving antenna in step d4; do. determining the mutual distances between the transmitting antenna in step d1, the receiving antenna in step d2, the transmitting antenna in step d3 and the receiving antenna in step d4; d6 determining the first measure or second measure by analyzing the signal S "(t), the signal S" (t) and the determined mutual distances in step d5.

Volgens nog een alternatieve uitvoeringsvorm geldt dat de eerste 25 maat en/of de tweede maat in stap d wordt bepaald door: dl. het met behulp van een zendantenne aan het voorwerp toevoeren van een elektromagnetisch veld waarbij het elektromagnetisch veld in de tijd verandert voor het opwekken van wervelstromen in het voorwerp en waarbij de zendantenne in stap a en de zendantenne in stap dl op een zelfde 30 positie staan en waarbij in het bijzonder de zendantenne in stap a. dezelfde 8 antenne is als in stap dl; d2. het met behulp van een ontvangantenne ontvangen van een signaal S’(t) dat de wervelstromen representeert waarbij de ontvangantenne in stap b en de ontvangantenne in stap d2 op een zelfde positie staan en waarbij in 5 het bijzonder de ontvangantenne in stap d2 dezelfde antenne is als in stap b.; d3. het met behulp van tenminste een zendantenne aan het voorwerp toevoeren van een elektromagnetisch veld waarbij het elektromagnetisch veld in de tijd verandert voor het opwekken van wervelstromen in het 10 voorwerp ; d4. het met behulp van tenminste een ontvangantenne ontvangen van een signaal S”(t) dat de wervelstromen representeert die zijn opgewekt in stap d3, waarbij geldt dat de zendantenne in stap dl en de zendantenne in stap d3 van elkaar verschillende configuraties hebben waarbij genoemde 15 configuraties of verschillen tussen deze configuraties bekend zijn en/of waarbij geldt dat de ontvangantenne in stap d2 en de ontvangantenne in stap d4 een van elkaar verschillende configuraties hebben waarbij genoemde configuraties of verschillen tussen deze configuraties bekend zijn; d5. het bepalen van de onderlinge afstanden tussen de zendantenne in 20 stap dl, de ontvangantenne in stap d2, de zendantenne in stap d3 en de ontvangantenne in stap d4; d6 het door analyse van het signaal S’(t), het signaal S”(t), de in stap d5 bepaalde onderlinge afstanden,de bekende configuraties van de zendantenne in stap dl en de bekende configuratie van de ontvangantenne 25 in stap d2 ,de bekende configuraties van de zendantenne in stap d3 en de bekende configuratie van de ontvangantenne in stap d4 dan wel de bekende verschillen van configuraties van de antennes in stap dl, d2, d3 en d4 bepalen van de eerste maat of de tweede maat.According to yet another alternative embodiment, it holds that the first measure and / or the second measure in step d is determined by: d1. applying an electromagnetic field to the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the electromagnetic field changes in time to generate eddy currents in the object and wherein the transmitting antenna in step a and the transmitting antenna in step d1 are in the same position and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same 8 antenna as in step d1; d2. receiving a signal S '(t) with the aid of a receiving antenna, representing the eddy currents, wherein the receiving antenna in step b and the receiving antenna in step d2 are at the same position and in particular the receiving antenna in step d2 is the same antenna as in step b .; d3. applying an electromagnetic field to the object with the aid of at least one transmitting antenna, the electromagnetic field changing in time to generate eddy currents in the object; d4. receiving with the aid of at least one receiving antenna a signal S '(t) representing the eddy currents generated in step d3, wherein it holds that the transmitting antenna in step d1 and the transmitting antenna in step d3 have different configurations, said configurations whether differences between these configurations are known and / or wherein the receiving antenna in step d2 and the receiving antenna in step d4 have mutually different configurations, said configurations or differences between these configurations being known; d5. determining the mutual distances between the transmitting antenna in step d1, the receiving antenna in step d2, the transmitting antenna in step d3 and the receiving antenna in step d4; d6 by analyzing the signal S '(t), the signal S' (t), the mutual distances determined in step d5, the known configurations of the transmitting antenna in step d1 and the known configuration of the receiving antenna 25 in step d2, the known configurations of the transmitting antenna in step d3 and the known configurations of the receiving antenna in step d4 or the known differences of configurations of the antennas in steps d1, d2, d3 and d4 determine the first measure or the second measure.

In het bijzonder geldt dat de zendantenne in stap a. en de 30 ontvangantenne in stap b. zich op een althans nagenoeg zelfde positie 9 bevinden en waarbij de zendantenne en ontvangantenne dusdanig ten opzichte van elkaar zijn gericht dat de eerste maat althans nagenoeg gelijk is aan de tweede maat. In het bijzonder geldt dan dus dat de eerste maat gelijk is aan de tweede maat waarbij in stap d. alleen de eerste maat of de 5 tweede maat behoeft te worden bepaald. De zendantenne en de ontvangantenne kunnen dan bijvoorbeeld deel uitmaken van één en dezelfde probe. Ook is het mogelijk dat de zendantenne en de ontvangantenne van stap a. en b. één en dezelfde antenne vormen.In particular, it holds that the transmitting antenna in step a. And the receiving antenna in step b. are located at a substantially identical position 9 and wherein the transmitting antenna and receiving antenna are oriented relative to each other such that the first measure is at least substantially equal to the second measure. In particular, it then holds that the first measure is the same as the second measure in which in step d. only the first measure or the second measure needs to be determined. The transmitting antenna and the receiving antenna can then, for example, form part of one and the same probe. It is also possible that the transmitting antenna and the receiving antenna of steps a. And b. one and the same antenna.

De uitvinding zal thans nader worden toe gelicht aan de hand van 10 de tekening.The invention will now be explained in more detail with reference to the drawing.

Hierin toont:It shows:

Figuur 1 een voorwerp en meetmiddelen voor het uitvoeren van een werkwijze volgens de uitvinding;Figure 1 shows an object and measuring means for performing a method according to the invention;

Figuur 2 een verband tussen een gegenereerd signaal S(t) voor een 15 voorwerp met een constante wanddikte bij respectievelijk een nominale liftoff MO, een toegenomen lift-off MO, en een afgenomen hft-off MO;Figure 2 shows a relationship between an generated signal S (t) for an object with a constant wall thickness at a nominal lift-off MO, an increased lift-off MO, and a decreased hft-off MO, respectively;

Figuur 3 het signaal S(t) voor een wand met twee verschillende gebieden voor verschillende diktes van één van deze gebieden;Figure 3 shows the signal S (t) for a wall with two different areas for different thicknesses of one of these areas;

Figuur 4 het signaal S(t) voor een materiaal met twee verschillende 20 gebieden voor verschillende wanddiktes van één van deze gebieden en voor verschillende waarden van een lift-off MO;Figure 4 shows the signal S (t) for a material with two different areas for different wall thicknesses of one of these areas and for different values of a lift-off MO;

Figuur 5.1 een opstelling voor het uitvoeren van een eerste alternatieve uitvoeringsvorm volgens de uitvinding;Figure 5.1 shows an arrangement for performing a first alternative embodiment according to the invention;

Figuur 5.2 het signaal van een Hall sensor als functie van een lift- 25 off MO.Figure 5.2 shows the signal from a Hall sensor as a function of a lift-off MO.

Figuur 6 een opstelling voor het uitvoeren van een tweede alternatieve uitvoeringsvorm volgens de uitvinding;Figure 6 shows an arrangement for performing a second alternative embodiment according to the invention;

Figuur 7 een opstelling voor het uitvoeren van een derde alternatieve uitvoeringsvorm van een werkwijze volgens de uitvinding; 10Figure 7 shows an arrangement for performing a third alternative embodiment of a method according to the invention; 10

Figuur 8 een uitvoering van een probe die een zendspoel en twee ontvangspoelen omvat die een bekende configuratie hebben en die bekende afstanden t.o.v. elkaar hebben;Figure 8 shows an embodiment of a probe comprising a transmit coil and two receive coils which have a known configuration and which have known distances from each other;

Figuur 9-11 grafieken die worden gebruikt bij een werkwijze 5 volgens figuur 6 of 7; enFigures 9-11 are graphs used in a method according to Figure 6 or 7; and

Figuur 12A en Figuur 12B model kwaliteit als functie van de fractie van het defect gebied (Θ2) en de defect wanddikte d2 (in percentages van de nominale wanddikte) voor een situatie zonder (figuur 12A) en met (figuur 12B) signaal ampütude gegevens uit de onafhankelijke lift-off 10 meting.Figure 12A and Figure 12B model quality as a function of the fraction of the defective area (Θ2) and the defective wall thickness d2 (in percentages of the nominal wall thickness) for a situation without (Figure 12A) and with (Figure 12B) signal ampütude data from the independent lift-off 10 measurement.

In figuur 1 is met referentienummer 1 een inrichting voor het bepalen van tenminste een eigenschap van een elektrisch geleidend voorwerp 2 getoond. In dit voorbeeld betreft het elektrisch geleidend voorwerp een geleidende plaat 2 die bijvoorbeeld deel kan uitmaken van een 15 wand van een vat, een wand van een pijpleiding of bijvoorbeeld een wegdek van een brug. Het voorwerp is hier schematisch getekend en vlak uitgevoerd, hetgeen echter niet noodzakelijk is. De plaat 2 kan bijvoorbeeld ook gekromd zijn indien deze deel uitmaakt van een wand van een pijpleiding of vat.In Fig. 1, reference numeral 1 shows a device for determining at least one property of an electrically conductive object 2. In this example, the electrically conductive object relates to a conductive plate 2 which can for instance form part of a wall of a vessel, a wall of a pipeline or, for example, a road surface of a bridge. The object is schematically drawn here and has a flat design, but this is not necessary. The plate 2 can for instance also be curved if it forms part of a wall of a pipeline or vessel.

20 In dit voorbeeld betreft de eigenschap van het voorwerp dat dient te worden bepaald, de dikte d van het voorwerp. Hierbij gaat het er in dit voorbeeld niet om dat de gemiddelde dikte d van het voorwerp wordt bepaald maar dat juist individuele diktes di die behoren bij een gebied i van het voorwerp worden bepaald. In de tekening zijn een aantal van deze 25 mogelijke gebieden in de vorm van een veelvoud van kubussen schematisch aangeduid. Indien het voorwerp bij de in de tekening getoond gebied i corrosie omvat, zal daar ter plaatse de dikte di kleiner zijn dan op plaatsen in andere gebieden. In dit voorbeeld is het de bedoeling dat zowel de dikte di als de nominale dikte dO van gebieden waar geen corrosie aanwezig is, kan 30 worden bepaald.In this example, the property of the object to be determined relates to the thickness d of the object. In this example, it is not a matter of determining the average thickness d of the object, but of determining individual thicknesses that belong to an area i of the object. A number of these possible areas in the form of a plurality of cubes are schematically indicated in the drawing. If the object comprises corrosion at the area shown in the drawing, the thickness at that location will be smaller than at locations in other areas. In this example, it is intended that both the thickness di and the nominal thickness dO of areas where no corrosion is present can be determined.

1111

Volgens een werkwijze volgens de uitvinding wordt in een stap a. met behulp van tenminste een zendantenne 4 een elektromagnetisch veld aan het voorwerp 2 toegevoerd. Het elektromagnetisch veld wordt met behulp van een op zich bekende zender 5 met behulp van de zendantenne 4 5 uitgezonden en veranderd in de tijd voor het opwekken van wervelstromen in het voorwerp 2. Praktisch gezien kan dit worden gerealiseerd door het elektromagnetisch veld een bepaalde waarde te geven en om dit vervolgens heel snel tot nul te laten reduceren. Hierdoor ontstaat een snel veranderend elektromagnetisch veld waardoor wervelstromen worden opgewekt. Dit is 10 bijvoorbeeld omschreven in EP 0 321 111 BI en in EP 0 956 503. Veelal wordt er een elektromagnetisch veld gepulst opgewekt waarbij bijvoorbeeld een pulsbreedte van 50-2000 msec wordt gehanteerd. Per puls worden dan wervelstromen gegenereerd. Deze wervelstromen zullen zich geleidelijk voortplanten door het voorwerp waarbij de amplitude van de stromen 15 afneemt. Het afvallen van de amplitude van de stroom tot een waarde die praktisch gelijk aan nul is geschied in 10-100 msec. De grootte van de stroom die gedurende een puls door de zendantenne loopt is bijvoorbeeld in de orde van 1-5 Ampère. Andere waarden zijn uiteraard eveneens mogelijk. Aldus wordt in stap a. een wervelstroom opgewekt in het voorwerp.According to a method according to the invention, an electromagnetic field is applied to the object 2 in step a. With the aid of at least one transmitting antenna 4. The electromagnetic field is transmitted with the aid of a transmitter 5 known per se with the aid of the transmitting antenna 4 and changed in the time for generating eddy currents in the object 2. Practically this can be achieved by giving the electromagnetic field a certain value. and then have it reduced to zero very quickly. This creates a rapidly changing electromagnetic field through which eddy currents are generated. This is described, for example, in EP 0 321 111 B1 and in EP 0 956 503. Usually, an electromagnetic field is generated in a pulsed manner in which, for example, a pulse width of 50-2000 msec is used. Eddy currents are then generated per pulse. These eddy currents will gradually propagate through the object, the amplitude of the currents decreasing. The amplitude of the current drops to a value that is practically equal to zero in 10-100 msec. The magnitude of the current flowing through the transmitting antenna during a pulse is, for example, of the order of 1-5 Amps. Other values are of course also possible. Thus, an eddy current is generated in the object in step a.

20 Vervolgens wordt in een stap b. met behulp van een ontvangantenne 6 een signaal S(t) ontvangen dat de wervelstromen representeert. De ontvangantenne 6 is in dit voorbeeld uitgevoerd als een loopantenne die een veranderend magnetisch veld registreert, welk veranderend elektromagnetisch veld wordt opgewekt door de wervelstromen. Het 25 veranderende elektromagnetisch veld genereert een inductiespanning in de ontvangantenne 6 welke inductiespanning door het ontvangen signaal S(t) wordt opgewekt en die daarmee de wervelstromen representeert. Het signaal S(t) kan per puls worden bepaald.Next, in a step b. receive a signal S (t) with the aid of a receiving antenna 6 representing the eddy currents. In this example, the receiving antenna 6 is designed as a loop antenna that registers a changing magnetic field, which changing electromagnetic field is generated by the eddy currents. The changing electromagnetic field generates an induction voltage in the receiving antenna 6, which induction voltage is generated by the received signal S (t) and thereby represents the eddy currents. The signal S (t) can be determined per pulse.

In dit voorbeeld is de zender met referentienummer 5 aangeduid en 30 is de ontvanger met referentienummer 7 aangeduid. Het met behulp van de 12 ontvanger 7 gegenereerde signaal S(t) wordt aan een besturingseenheid 8 toegevoerd. De besturingseenheid 8 bestuurt de zender voor het genereren van de zendpulsen en de besturingseenheid 8 is tevens ingericht om het signaal S(t) te analyseren voor het bepalen van de tenminste ene eigenschap 5 van het voorwerp.In this example the transmitter is indicated with reference number 5 and the receiver is indicated with reference number 7. The signal S (t) generated with the aid of the receiver 12 is supplied to a control unit 8. The control unit 8 controls the transmitter for generating the transmission pulses and the control unit 8 is also adapted to analyze the signal S (t) for determining the at least one property 5 of the object.

In dit voorbeeld is de besturingseenheid 8 aangesloten op een display 10 voor het tonen van het signaal S(t).In this example, the control unit 8 is connected to a display 10 for displaying the signal S (t).

Zoals te zien is in figuur 1, is er in dit voorbeeld een afstand Ml aanwezig tussen de zendantenne 4 enerzijds en een oppervlak van het 10 voorwerp 2 anderzijds. Tevens is er een afstand M2 tussen de ontvangantenne 6 en het oppervlak 3 van het voorwerp 2 aanwezig. De afstand Ml in dit voorbeeld gedefinieerd als een kleinste afstand tussen de zendantenne 4 en het oppervlak 3 van het voorwerp 2 en de afstand M2 is in dit voorbeeld gedefinieerd als een kleinste afstand tussen de 15 ontvangantenne 6 en het oppervlak 3 van het voorwerp waarbij bij voorkeur een kleinste afstand de lengte van een lijnstuk is dat loodrecht is gericht op het oppervlak. Het betreffende lijnstuk voor de afstand Ml is met referentienummer 50 aangeduid en het betreffende lijnstuk voor de afstand M2 is met referentienummer 52 aangeduid. Er geldt dat de afstand Ml van 20 de zendantenne tot het genoemde oppervlak 12 en de afstand M2 van de ontvangantenne tot het genoemde oppervlak 12 in dit voorbeeld aan elkaar gelijk zijn. In zijn algemeenheid behoeft dit echter niet zo te zijn.As can be seen in figure 1, in this example there is a distance M1 between the transmitting antenna 4 on the one hand and a surface of the object 2 on the other. There is also a distance M2 between the receiving antenna 6 and the surface 3 of the object 2. The distance M1 in this example defined as a smallest distance between the transmitting antenna 4 and the surface 3 of the object 2 and the distance M2 is defined in this example as a smallest distance between the receiving antenna 6 and the surface 3 of the object, preferably a smallest distance is the length of a segment that is perpendicular to the surface. The line segment in question for the distance M1 is indicated by reference number 50 and the line segment in question for the distance M2 is indicated by reference number 52. It holds that the distance M1 from the transmitting antenna to said surface 12 and the distance M2 from the receiving antenna to said surface 12 in this example are equal to each other. In general, however, this need not be the case.

Veelal is er een voorwerp 2 waarvan de wanddikte moet worden bepaald bedekt met een afdeklaag. In geval van een pijpleiding kan deze 25 afdeklaag van kunststof zijn en in geval van een wegdek kan deze afdeklaag bijvoorbeeld bestaan uit asfalt. In de praktijk zullen de zendantenne en de ontvangantenne vlak boven of op de betreffende afdeklaag worden aangebracht zodat de dikte van deze laag correspondeert met de genoemde afstanden Ml en M2. De genoemde afstand Ml is dan een direct gevolg van 30 de dikte van de betreffende laag en is dus een voorwaarde voor het kunnen 13 uitvoeren van de werkwijze. De genoemde afstanden Ml en M2 worden ook wel aangeduid met lift-off.There is often an object 2 whose wall thickness must be determined covered with a cover layer. In the case of a pipeline this covering layer can be made of plastic and in the case of a road surface this covering layer can for instance consist of asphalt. In practice, the transmitting antenna and the receiving antenna will be arranged directly above or on the relevant covering layer so that the thickness of this layer corresponds to the said distances M1 and M2. The said distance M1 is then a direct consequence of the thickness of the layer in question and is therefore a condition for being able to carry out the method. The distances M1 and M2 mentioned are also referred to as lift-off.

In figuur 2 geeft de lijn Si(t) het verloop aan van het signaal Si(t) bij een nominale waarde Mn van Ml en M2. Er geldt dus Ml=M2=Mn. De 5 nominale wanddikte dO is bijvoorbeeld gelijk aan 20% van de nominale waarde Mn. Indien echter de waarde van Mien M2 toenemen, waarbij geldt dat M1=M2, wordt de amplitude van het signaal S(t) kleiner zoals is aangeduid voor S2(t) in figuur 2. Zijn daarentegen de waarden van Ml en M2 kleiner (waarbij weer geldt dat M1=M2) dan de nominale waarde Mn, 10 dan ontstaat een signaal zoals aangeduid met Sa(t). Meer in het bijzonder zal voor het uitvoeren van een meting de nominale wanddikte dO kleiner zijn dan de waarde van Ml en M2 omdat de meetresultaten dan het beste kunnen worden geanalyseerd aan de hand van een fitmodel zoals omschreven in WO 98/34104. Andere types analyses zijn echter ook 15 mogelijk..In Figure 2, the line Si (t) indicates the variation of the signal Si (t) at a nominal value Mn of M1 and M2. So M1 = M2 = Mn applies. The nominal wall thickness dO is, for example, equal to 20% of the nominal value Mn. However, if the value of M1 and M2 increases, where it holds that M1 = M2, the amplitude of the signal S (t) becomes smaller as indicated for S2 (t) in Figure 2. On the other hand, are the values of M1 and M2 smaller (where again it holds that M1 = M2) then the nominal value Mn, then a signal is generated as indicated by Sa (t). More specifically, for carrying out a measurement, the nominal wall thickness d0 will be smaller than the value of M1 and M2 because the measurement results can then best be analyzed on the basis of a fit model as described in WO 98/34104. However, other types of analysis are also possible.

Nu is het bekend dat door analyse van het signaal S(t) in een stap c. een wanddikte d van het voorwerp kan worden bepaald. Zo is het bekend dat de positie (zie figuur 2) op de x-as van figuur 2 waar het verval van het signaal begint toe te nemen, een maat is voor een wanddikte d van het 20 voorwerp. Bevat het voorwerp meer dan één wanddikte (bijvoorbeeld omdat net voorwerp plaatselijk een gereduceerde wanddikte omvat ten gevolge van corrosie) dan zal het signaal op verschillende plaatsen op de x-as der gelijke veranderingen in verval tonen. Er zijn diverse methoden bekend om uit dergelijke signalen S(t) wanddiktes di van het voorwerp te bepalen, waarbij 25 i een aanduiding is van een gebied van het voorwerp met de betreffende wanddikte di. Dit kan bijvoorbeeld door de logaritme van S(t) te analyseren versus de logaritme van (t) zoals is omschreven in EP 0 321 111. Dit kan ook door een signaal V(t) dat een model geeft voor een te verwachten signaal S(t) in afhankelijkheid van onder meer de diktes di te fitten voor een bepaalde 30 waarde van di. Hierdoor kunnen de diktes di worden bepaald. Dit zijn op 14 zich bekende methoden die in het kader van de huidige aanvrage niet uitgebreid nader zullen worden toegelicht. In de situatie van figuur 2 kunnen aan de hand van elk signaal Si(t), S2(t), Ss(t) de diktes di worden bepaald. Elk signaal zal in principe na analyse dezelfde diktes di opleveren.It is now known that by analyzing the signal S (t) in a step c. a wall thickness d of the object can be determined. For example, it is known that the position (see figure 2) on the x-axis of figure 2 where the decay of the signal begins to increase is a measure of a wall thickness d of the object. If the object contains more than one wall thickness (for example, because the object locally comprises a reduced wall thickness due to corrosion), the signal will show the same changes in decay at different places on the x-axis. Various methods are known for determining wall thicknesses di of the object from such signals S (t), wherein i is an indication of a region of the object with the relevant wall thickness di. This can for example be done by analyzing the logarithm of S (t) versus the logarithm of (t) as described in EP 0 321 111. This can also be done by a signal V (t) that gives a model for an expected signal S ( t) depending on, inter alia, the thicknesses that are fit for a specific value of di. This allows the thicknesses to be determined. These are methods known per se that will not be explained in detail in the context of the present application. In the situation of Fig. 2, the thicknesses di can be determined on the basis of each signal Si (t), S2 (t), Ss (t). In principle, each signal will yield the same thicknesses after analysis.

5 In figuur 3 worden situaties aangegeven waarbij er sprake is van een defect in het voorwerp, dat wil zeggen dat het voorwerp ergens in bepaalde gebieden i een kleinere wanddikte di heeft dan de nominale wanddikte dO in andere gebieden i.Figure 3 shows situations in which there is a defect in the object, that is to say that the object has a smaller wall thickness di somewhere in certain areas i than the nominal wall thickness d0 in other areas i.

In figuur 3 toont het signaal S(t) voor het geval dat het voorwerp 10 kan worden ingedeeld in twee gebieden. Het eerste gebied i=l beslaat 25% van het totale gebied van het voorwerp dat door de inrichting 1 wordt bestreken voor het uitvoeren van metingen van de wanddikte d en het tweede gebied i=2 beslaat 75% van het totale gebied dat wordt bestreken. Het eerste gebied (het 25% gebied) heeft telkens een nominale wanddikte 15 dl=d0. Het tweede gebied (het 75% gebied) heeft voor het signaal Si(t) een dikte d2 die gelijk is aan 100% van de nominale wanddikte dO. Bij het signaal S2(t) heeft het tweede gebied i=2 een wanddikte d2 die gelijk is aan 50% van de nominale wanddikte dO. Tenslotte is het signaal Ss(t) het resultaat van de situatie wanneer het tweede gebied i=2 een wanddikte d2 20 heeft van slechts 25% van de nominale wanddikte dO. Het op de bekende wijze analyseren van het signaal Si(t) levert wederom dat er één positie xl is waar het signaal sterker begint af te vallen. Deze positie xl correspondeert dan met de betreffende nominale wanddikte dO van het eerste gebied i=l. Ook bij het signaal S2(t) is zichtbaar dat de nominale 25 wanddikte dO aanwezig is omdat op de positie xl het signaal S2(t) sterker begint af te vallen. Ook dit betreft de wanddikte dl van het eerste gebied. Het signaal S2(t) begint echter eveneens sterker af te vallen op de positie x2. Deze positie x2 correspondeert dan met de wanddikte d2 van het tweede gebied i=2. Het signaal Ss(t) leert dat het signaal sterker begint af te vallen 30 op een positie x3, hetgeen dan correspondeert met de gereduceerde 15 wanddikte d2 van het tweede gebied. Het signaal Sa(t) begint ook sterker af te vallen op positie xl, hetgeen correspondeert met de nominale wanddikte dO van het eerste gebied i=l. In de situatie volgens figuur 3 zijn dus alle wanddiktes goed te bepalen.In Figure 3 the signal S (t) shows for the case that the object 10 can be divided into two areas. The first area i = 1 covers 25% of the total area of the object covered by the device 1 for taking measurements of the wall thickness d and the second area i = 2 covers 75% of the total area covered. The first area (the 25% area) each has a nominal wall thickness of 15 dl = d0. The second region (the 75% region) has a thickness d2 for the signal Si (t) which is equal to 100% of the nominal wall thickness d0. At the signal S2 (t), the second region i = 2 has a wall thickness d2 which is equal to 50% of the nominal wall thickness d0. Finally, the signal Ss (t) is the result of the situation when the second region i = 2 has a wall thickness d2 of only 25% of the nominal wall thickness d0. Analyzing the signal Si (t) in the known manner again provides that there is one position x1 where the signal starts to fall more strongly. This position x1 then corresponds to the relevant nominal wall thickness d0 of the first region i = 1. Also with the signal S2 (t) it is visible that the nominal wall thickness d0 is present because at the position x1 the signal S2 (t) starts to fall more strongly. This also relates to the wall thickness dl of the first area. However, the signal S2 (t) also starts to fall more strongly at the position x2. This position x2 then corresponds to the wall thickness d2 of the second area i = 2. The signal Ss (t) teaches that the signal starts to fall more strongly at a position x3, which then corresponds to the reduced wall thickness d2 of the second region. The signal Sa (t) also starts to fall more strongly at position x1, which corresponds to the nominal wall thickness d0 of the first region i = 1. In the situation according to Figure 3, therefore, all wall thicknesses can be determined well.

5 Kijken we nu naar de situatie van figuur 4 dan ligt dit anders. In figuur 4 is er wederom een situatie waarbij het voorwerp 2 gebieden heeft met van elkaar verschillende wanddiktes. Het eerste gebied beslaat weer 25% van het totale gebied van het voorwerp dat door een meting met de inrichting 1 wordt bestreken en een tweede gebied beslaat weer 75% van het 10 totale gebeid van het voorwerp dat door een meting met de inrichting 1 wordt bestreken. Het signaal Si(t) geeft de situatie weer wanneer het tweede gebied i=2 nog 100% heeft van de nominale wanddikte dO en dus een zelfde wanddikte heeft als het eerste gebied. Het signaal S2(t) betreft een situatie waarbij het tweede gebied 1=2 25% van de nominale wanddikte dO 15 heeft en waarbij de afstanden Ml en M2 elk een nominale waarde Mn hebben. Het signaal Ss(t) betreft een situatie waarbij het tweede gebied i=2 de nominale wanddikte dn heeft (en dus geen defect) maar waarbij de afstanden Ml en M2 elk gelijk zijn aan tweemaal de nominale waarde Mn. Hierbij geldt voorts dat het niet bekend is wat de grootte van de afstanden 20 Mien M2 is. Een ander probleem is dat het signaal S(t) in het grijze gebied niet goed meetbaar is, hetgeen kan worden veroorzaakt doordat bijvoorbeeld boven op de afdeklaag nog een dunne metalen laag is aangebracht en door interferentie tussen de antennes. Het probleem dat hierbij ontstaat is dat buiten het grijze gebied, dat wil zeggen voor waarden van t> 5 msec geen 25 onderscheid kan worden gemaakt tussen het signaal S2(t) en het signaal Ss(t). Hierbij zij opgemerkt dat het signaal S.j(t) correspondeert met de situatie waarbij het voorwerp overal de nominale wanddikte dO heeft en dus geen defect omvat terwijl dit bij het signaal S2(t) niet het geval is. Immers, bij het signaal S2(t) omvat het tweede gebied i=2 wel een gereduceerde 30 wanddikte die gelijk is aan 0.25 dO. Om dit probleem op te lossen wordt in 16 een stap d. een eerste maat Ml voor de afstand Ml tussen de zendantenne en een oppervlak van het voorwerp bepaald. Tevens wordt in de stap d. een tweede maat M2 voor de afstand M2 tussen de ontvangantenne en een oppervlak van het voorwerp bepaald. In dit voorbeeld zijn de eerste maat 5 Ml en de tweede maat M2 aan elkaar gebjk. Indien de eerste maat Ml en de tweede maat M2 aan elkaar gebjk zijn, wordt vervolgens het signaal S2(t) geanalyseerd in afhankelijkheid van de eerste maat en de tweede maat voor het bepalen van de wanddiktes di.5 If we now look at the situation in Figure 4, this is different. In Figure 4 there is again a situation where the object 2 has areas with mutually different wall thicknesses. The first area again covers 25% of the total area of the object that is covered by a measurement with the device 1 and a second area again covers 75% of the total area of the object covered by a measurement with the device 1 . The signal Si (t) indicates the situation when the second area i = 2 still has 100% of the nominal wall thickness d0 and thus has the same wall thickness as the first area. The signal S2 (t) relates to a situation in which the second area 1 = 2 has 25% of the nominal wall thickness d0 and wherein the distances M1 and M2 each have a nominal value Mn. The signal Ss (t) relates to a situation in which the second area i = 2 has the nominal wall thickness dn (and therefore no defect) but in which the distances M1 and M2 are each equal to twice the nominal value Mn. It further holds that it is not known what the size of the distances is 20 Mien M2. Another problem is that the signal S (t) in the gray area is not easily measurable, which can be caused by, for example, a thin metal layer on top of the cover layer and by interference between the antennas. The problem that arises here is that outside the gray area, ie for values of t> 5 msec, no distinction can be made between the signal S2 (t) and the signal Ss (t). It is to be noted that the signal S.j (t) corresponds to the situation where the object has the nominal wall thickness d0 everywhere and thus does not comprise a defect, while this is not the case with the signal S2 (t). After all, with the signal S2 (t), the second area i = 2 does have a reduced wall thickness that is equal to 0.25 dO. To solve this problem, a step d is taken in 16. a first measure M1 for the distance M1 between the transmitting antenna and a surface of the object determined. Also in step d. a second measure M2 for the distance M2 between the receiving antenna and a surface of the object determined. In this example, the first measure 5 M1 and the second measure M2 are used together. If the first measure M1 and the second measure M2 are interconnected, then the signal S2 (t) is analyzed in dependence on the first measure and the second measure for determining the wall thicknesses di.

In dit voorbeeld kan dit als volgt worden uitgevoerd. Wanneer de 10 eerste maat Ml en de tweede maat M2 een nominale waarde hebben die gebjk is aan Mn ontstaat het signaal Si(t). Wanneer daarentegen de eerste maat Ml en de tweede maat M2 een waarde hebben die gebjk is aan 2Mn ontstaat het signaal S3(t). In beide gevallen is er geen defect in het materiaal aanwezig en is de wanddikte van in het eerste gebied gebjk aan 15 wanddikte in het tweede gebied. Indien bekend is dat de eerste maat Ml en de tweede maat M2 gelijk is aan de nominale waarde Mn en er wordt een signaal S(t) gemeten dat voor t> 5msec overeenkomt met S2(t) en Ss(t) dan is het duidebjk dat het gaat om het signaal S2(t) en dat er dus sprake is van een tweede gebied met een gereduceerde wanddikte. Wordt daarentegen een 20 signaal S(t) gemeten voor t> 5msec. dat overeenkomt met S2(t) en Ss(t) waarbij bekend is dat de eerste maat Ml en de tweede maat M2 gelijk zijn aan 2Mn dan is bekend dat het gaat om het signaal S3(t) en dat er dan dus geen sprake is van een gebied met een gereduceerde wanddikte. De wanddikte is dan voor alle bestreken gebieden de nominale wanddikte dO.In this example, this can be done as follows. When the first measure M1 and the second measure M2 have a nominal value that is used for Mn, the signal Si (t) is produced. On the other hand, when the first measure M1 and the second measure M2 have a value that is 2 Mn, the signal S3 (t) is produced. In both cases there is no defect in the material and the wall thickness of wall thickness in the first region is different from that in the second region. If it is known that the first measure M1 and the second measure M2 are equal to the nominal value Mn and a signal S (t) is measured that corresponds to S2 (t) and Ss (t) for t> 5 msec then it is obvious that it concerns the signal S2 (t) and that there is therefore a second area with a reduced wall thickness. Conversely, a signal S (t) is measured for t> 5 msec. that corresponds to S2 (t) and Ss (t) where it is known that the first measure M1 and the second measure M2 are equal to 2 Mn, then it is known that the signal S3 (t) is involved and that there is therefore no question of of an area with a reduced wall thickness. The wall thickness is then the nominal wall thickness dO for all areas covered.

25 Men kan dan een onderscheid maken tussen enerzijds de situatie waarbij er wel een gebied is met een gereduceerde wanddikte en anderzijds de situatie waarbij er geen gebied is met een gereduceerde wanddikte maar waarbij de lagere amplitude van het signaal S(t) wordt veroorzaakt door een grotere waarde van de eerste maat Ml en de tweede maat M2 dan de nominale 30 waarde Mn. Er geldt dus in dit voorbeeld dat aan de hand van de eerste 17 maat en/of tweede maat een amplitude van een te verwachten signaal V(t) bij een voorwerp met een gegeven wanddikte wordt bepaald aan de hand van een vooraf bepaald referentiemodel en waarbij door een vergelijken van de amplitude van V(t) en de amplitude van S(t) wordt bepaald of het 5 voorwerp een wanddikte heeft die kleiner is dan gegeven wanddikte. Hierbij is in dit voorbeeld V(t), afhankelijk van de waarden van Ml, M2 en de wanddikte dl en d2 van het voorwerp, gelijk aan Si(t), S2(t), of Sa(t).A distinction can then be made between on the one hand the situation where there is an area with a reduced wall thickness and on the other hand the situation where there is no area with a reduced wall thickness but where the lower amplitude of the signal S (t) is caused by a greater value of the first measure M1 and the second measure M2 than the nominal value Mn. In this example it therefore holds that on the basis of the first 17 measure and / or second measure an amplitude of an expected signal V (t) at an object with a given wall thickness is determined on the basis of a predetermined reference model and wherein by comparing the amplitude of V (t) and the amplitude of S (t), it is determined whether the object has a wall thickness that is smaller than given wall thickness. Here, in this example, V (t), depending on the values of M1, M2 and the wall thickness d1 and d2 of the object, is equal to Si (t), S2 (t), or Sa (t).

In dit voorbeeld geldt dat de zendantenne en de ontvangantenne zich op althans nagenoeg een zelfde positie bevinden en waarbij de 10 zendantenne en de ontvangantenne dusdanig ten opzichte van elkaar zijn gericht dat de eerste maat althans nagenoeg gelijk is aan de tweede maat.In this example, it holds that the transmitting antenna and the receiving antenna are in at least substantially the same position and wherein the transmitting antenna and the receiving antenna are oriented relative to each other such that the first measure is at least substantially equal to the second measure.

Het bepalen van de eerste maat en/of de tweede maat kan op diverse manieren worden uitgevoerd. Indien de eerste maat gelijk is aan de tweede maat, kan bijvoorbeeld alleen de eerste maat of alleen de tweede 15 maat worden bepaald. Dit kan het geval zijn wanneer de zendantenne en de ontvangantenne deel uitmaken van een probe. Het is echter ook mogelijk dat de zendantenne en de ontvangantenne één en dezelfde antenne vormen. Dan zullen ze in stap a en stap b op een zelfde positie staan. Zoals gezegd kunnen de eerste maat en de tweede maat op diverse wijzen worden 20 bepaald. Zo kan bijvoorbeeld de dikte van de afdeklaag worden bepaald door deze simpelweg met een meetlint te meten. Er zou een gat kunnen worden geboord in de afdeklaag teneinde te bepalen wat de afstand is tot het geleidende voorwerp 2. In het geval van een pijpleiding kan men een buitendiameter van de pijpleiding bepalen, hetgeen dan een maat is voor de 25 dikte van de afdeklaag indien de dikte van de pijpleiding zelf ook bekend is. Indien in stap a. en stap b. de zendantenne en de ontvangantenne tegen de afdeklaag zijn geplaatst, dan zijn de eerste maat Ml en de tweede maat M2 ook bekend. Wanneer het niet mogelijk is op een dergelijke eenvoudige wijze een dikte van de afdeklaag en daarmee een waarde voor de eerste maat Ml 30 en een waarde voor de tweede maat M2 te bepalen wanneer de zendantenne 18 en de ontvangantenne zich op of nabij de afdeklaag bevinden dan wel op een vooraf bepaalde afstand ten opzichte van de afdeklaag bevinden kan de eerste maat en de tweede maat ook op een andere wijze worden bepaald.Determining the first measure and / or the second measure can be performed in various ways. If the first measure is equal to the second measure, for example, only the first measure or only the second measure can be determined. This may be the case when the transmitting antenna and the receiving antenna are part of a probe. However, it is also possible that the transmitting antenna and the receiving antenna form one and the same antenna. Then they will be in the same position in step a and step b. As stated, the first measure and the second measure can be determined in various ways. For example, the thickness of the cover layer can be determined by simply measuring it with a measuring tape. A hole could be drilled in the cover layer to determine the distance to the conductive object 2. In the case of a pipeline, an outer diameter of the pipeline can be determined, which is then a measure of the thickness of the cover layer if the thickness of the pipeline itself is also known. If in step a. And step b. if the transmitting antenna and the receiving antenna are placed against the covering layer, then the first measure M1 and the second measure M2 are also known. If it is not possible to determine a thickness of the cover layer and thus a value for the first measure M1 and a value for the second measure M2 in such a simple manner when the transmitting antenna 18 and the receiving antenna are on or near the cover layer then indeed, being at a predetermined distance from the cover layer, the first measure and the second measure can also be determined in a different way.

In figuur 5.1 wordt een meetopstelling getoond voor het op een 5 andere wijze bepalen van de eerste maat Ml en de tweede maat M2 waarbij M1=M2 + C, waarbij C een bekende constante is. Hiertoe wordt in dit voorbeeld gebruik gemaakt van een magnetische veldsensor 14, in dit voorbeeld een Hall-sensor, die dusdanig is opgesteld dat deze een magnetisch veld kan meten bij een zendantenne 4’ die op een zelfde positie 10 staat als de zendantenne 4 die in stap a. wordt gebruikt. In dit voorbeeld is de zendantenne 4’ gelijk aan de zendantenne 4. Hierbij wordt met behulp van de zendantenne 4 een statisch of een variërend magnetische veld in het voorwerp 2 gegenereerd. Met behulp van de magneetsensor 14 wordt het magnetische veld gemeten bij de zendantenne 4. De eerste maat Ml kan nu 15 worden bepaald door meting van het betreffende magnetische veld door de sensor 14. Hiertoe kan gebruik worden gemaakt van een op zich bekend vooraf bepaald model voor het magnetische veld ter plaatse van de sensor 14 voor verschillende waarden van de eerste maat Ml. Aldus kan de eerste maat Ml (en daarmee de tweede maat M2) worden bepaald. Opgemerkt 20 wordt dat deze meting zowel kan worden uitgevoerd wanneer met behulp van de zendantenne 4 een statisch magnetisch veld wordt opgewekt dan wel een (langzaam)variërend magnetisch veld wordt opgewekt.Figure 5.1 shows a measuring arrangement for determining the first measure M1 and the second measure M2 in a different way, where M1 = M2 + C, where C is a known constant. For this purpose use is made in this example of a magnetic field sensor 14, in this example a Hall sensor, which is arranged such that it can measure a magnetic field at a transmitting antenna 4 'which is in the same position 10 as the transmitting antenna 4 which in step a. is used. In this example, the transmitting antenna 4 "is the same as the transmitting antenna 4. A static or varying magnetic field is generated in the object 2 with the aid of the transmitting antenna 4. With the aid of the magnetic sensor 14, the magnetic field is measured at the transmitting antenna 4. The first measure M1 can now be determined by measuring the relevant magnetic field by the sensor 14. For this purpose use can be made of a per se known predetermined model for the magnetic field at the location of the sensor 14 for different values of the first measure M1. Thus, the first measure M1 (and thus the second measure M2) can be determined. It is noted that this measurement can be performed both when a static magnetic field is generated with the aid of the transmitting antenna 4 or a (slowly) varying magnetic field is generated.

Wanneer de sensor 14 een andere positie zou hebben, zoals aangeduid met referentienummer 14’ in figuur 5.1 waarbij de positie van de 25 magnetische veldsensor 14’ ten opzicht van de zendantenne 4 bekend zou zijn in dit voorbeeld doordat bekend is dat de magnetische veldsensor 14’ gelegen is op een axiale as A van de zendantenne 4 en op een afstand 11 ten opzichte van een vlak van de zendantenne 4 het eveneens mogelijk is om de waarde van Ml en M2 (M1=M2 + C) te bepalen. In dat geval kan 30 bijvoorbeeld het ontvangen magnetische veld door de sensor 14’ aan de hand 19 van het vooraf bepaald model worden omgerekend naar de waarde van het magnetische veld dat heerst bij de zendantenne 4 waarna aan de hand van de waarde van dit laatste magnetische veld de waarde van Ml kan worden berekend aan de hand van het vooraf bepaalde model. Dergelijke varianten 5 behoren tot de uitvinding.If the sensor 14 were to have a different position, as indicated by reference numeral 14 'in Figure 5.1, the position of the magnetic field sensor 14' relative to the transmitting antenna 4 would be known in this example because it is known that the magnetic field sensor 14 ' is located on an axial axis A of the transmitting antenna 4 and at a distance 11 relative to a plane of the transmitting antenna 4, it is also possible to determine the value of M1 and M2 (M1 = M2 + C). In that case, for example, the received magnetic field can be converted by the sensor 14 'on the basis of the predetermined model to the value of the magnetic field prevailing at the transmitting antenna 4, after which on the basis of the value of the latter magnetic field the value of M1 can be calculated based on the predetermined model. Such variants belong to the invention.

Wanneer in dit voorbeeld de waarde van Ml bekend is, is eveneens de waarde van M2 bekend omdat de zendantenne en de ontvangantenne in eikaars nabijheid zijn geplaatst, bijvoorbeeld in één en dezelfde probe. Er geldt hier dat de eerste maat en/of de tweede maat in stap d wordt bepaald 10 door: dl. het met behulp van een zendantenne genereren van een statisch of variërend magnetisch veld in het voorwerp waarbij de zendantenne in stap a. een zelfde positie heeft als de zendantenne in stap dl en waarbij in het bijzonder de zendantenne in stap a. dezelfde antenne is als in stap dl; d2. het met behulp van een magnetische veldsensor meten van het 15 magnetische veld bij de zendantenne van stap dl; d3 het bepalen van de eerste maat en/of tweede maat aan de hand van het met de magnetische veldsensor gemeten magnetische veld en aan de hand van een vooraf bepaald model voor het magnetische veld ter plaats van de magnetische veldsensor voor verschillende waarden van de eerste maat 20 en/of de tweede maat.If in this example the value of M1 is known, the value of M2 is also known because the transmitting antenna and the receiving antenna are placed in each other's proximity, for example in one and the same probe. It holds here that the first measure and / or the second measure in step d is determined by: dl. generating a static or varying magnetic field in the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the transmitting antenna in step a. has the same position as the transmitting antenna in step d1 and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same antenna as in step d1; d2. measuring the magnetic field at the transmitting antenna of step d1 with the aid of a magnetic field sensor; d3 determining the first measure and / or second measure on the basis of the magnetic field measured with the magnetic field sensor and on the basis of a predetermined model for the magnetic field instead of the magnetic field sensor for different values of the first measure 20 and / or the second measure.

Een ander voorbeeld voor het bepalen van de eerste maat Ml waarbij Ml = M2 + C is ook getoond in figuur 5.1.Another example for determining the first measure M1 where M1 = M2 + C is also shown in Figure 5.1.

In deze variant volgens figuur 5.1 wordt zowel gebruikt gemaakt van de magnetische veldsensor 14 als de magnetische veldsensor 14’. In dit 25 voorbeeld is de afstand 12 ongeveer gelijk aan 1,5 centimeter. Met behulp van de zendantenne 4’ (die weer gelijk is aan de antenne 4) wordt in dit voorbeeld een variërend magnetisch veld gegenereerd. In het bijzonder wordt een magnetisch veld gegenereerd dat vervolgens wordt uitgeschakeld. De magnetische veldsensor 14 en de magnetische veldsensor 14’ genereren 30 elk een signaal dat het gemeten magnetische veld ter plekke van de 20 magnetische veldsensoren representeert. De signalen worden van elkaar afgetrokken. Wanneer het magnetische veld dat wordt opgewekt door de zendantenne wordt uitgeschakeld, wordt het verschil in magnetische velden ter plaatse van de verschillende magneetsensoren gemeten. Wanneer 5 vervolgens het magnetische veld dat door de zendantenne 4 wordt opgewekt, weer wordt aangeschakeld, wordt door de magnetische veldsensoren een extra verschil gemeten ten gevolge van het magnetische veld dat wordt opgewekt door de zendantenne en de aanwezigheid van het voorwerp 2. Het verschil tussen de verschillen die met de eerste magnetische veldsensor en 10 de tweede magnetische veldsensor worden gemeten tussen de momenten waarop met behulp van de zendantenne 4 wel respectievelijk geen magnetisch veld wordt opgewekt, worden veroorzaakt door de geleiding van de magneetvelden in het voorwerp 2. Het aldus bepaalde verschilsignaal heeft een amplitude H. Deze amplitude H wordt gedeeld door de grootte van 15 de stroom door de zendantenne 4 in stap dl ter verkrijging van een amplitude H’. In dat geval is deze amplitude H’ die aldus wordt verkregen, onafhankelijk van de grootte van de stroom. Het signaal H’ is vervolgens gemeten voor verschillende waarden van Ml. Het resultaat hiervan is getoond in figuur 5.2. Er blijkt een functioneel (meestal exponentieel) 20 verband te zijn tussen het signaal H’ en de waarde van Ml. Aldus kan door bepaling van het signaal H’ de waarde van Ml worden bepaald. Het is duidelijk dat er een systematische afhankelijkheid is van het signaal H’ en de waarde van Ml. De exacte vorm van afhankelijkheid is afhankelijk van de exacte positie van de sensoren 14’ en 14. Het is echter niet afhankelijk 25 van de materiaaleigenschappen van het voorwerp. In dit specifieke geval kan de in figuur 5.2 getoonde functie worden benaderd volgens (indien Ml= M2 + C, waarbij C de bekende constante is).In this variant according to Figure 5.1, use is made of both the magnetic field sensor 14 and the magnetic field sensor 14 ". In this example, the distance 12 is approximately equal to 1.5 centimeters. With the aid of the transmitting antenna 4 "(which is again the same as the antenna 4) a varying magnetic field is generated in this example. In particular, a magnetic field is generated which is subsequently switched off. The magnetic field sensor 14 and the magnetic field sensor 14 "each generate a signal that represents the measured magnetic field at the location of the magnetic field sensors. The signals are subtracted from each other. When the magnetic field generated by the transmitting antenna is switched off, the difference in magnetic fields at the location of the different magnet sensors is measured. Subsequently, when the magnetic field generated by the transmitting antenna 4 is switched on again, an additional difference is measured by the magnetic field sensors due to the magnetic field generated by the transmitting antenna and the presence of the object 2. The difference between the differences which are measured with the first magnetic field sensor and the second magnetic field sensor between the moments at which no magnetic field is generated with the aid of the transmitting antenna 4, respectively, are caused by the conduction of the magnetic fields in the object 2. The thus determined difference signal has an amplitude H. This amplitude H is divided by the magnitude of the current through the transmitting antenna 4 in step d1 to obtain an amplitude H '. In that case, this amplitude H "thus obtained is independent of the magnitude of the current. The signal H "is then measured for different values of M1. The result of this is shown in Figure 5.2. There appears to be a functional (usually exponential) relationship between the signal H "and the value of M1. Thus, the value of M1 can be determined by determining the signal H ". It is clear that there is a systematic dependence on the signal H "and the value of M1. The exact form of dependence is dependent on the exact position of the sensors 14 'and 14. However, it is not dependent on the material properties of the object. In this specific case, the function shown in Figure 5.2 can be approximated according to (if M1 = M2 + C, where C is the known constant).

f fHSSref v. ff hss \ \ M, =MW) ln ln -f-M, +C))-ln ln ) ) 21f fHSSref v. ff hss \ M, = MW) ln ln -f-M, + C)) - ln ln)) 21

Hierbij geldt dat M (ref) de lift-off is bij een referentiemeting, M (scale) de schaalfactor is (in dit voorbeeld 4,4 mm), HSSref het signaal H’ is gedurende de referentiemeting en HSSind het signaal H’ is gedurende de veldmeting. De waarde van C is verdisconteerd in HSS ref. Analyse toont 5 aan dat de nauwkeurigheid van de meting voldoende is om Ml binnen 0,1 mm te bepalen.It holds that M (ref) is the lift-off for a reference measurement, M (scale) is the scaling factor (in this example 4.4 mm), HSSref is the signal H 'during the reference measurement and HSSind is the signal H' during the field measurement. The value of C is discounted in HSS ref. Analysis shows that the accuracy of the measurement is sufficient to determine M1 within 0.1 mm.

Er geldt dus dat bij deze variant de eerste maat en/of de tweede maat in stap d wordt bepaald door: dl. het met behulp van een zendantenne genereren van een statisch of 10 variërend magnetisch veld in het voorwerp waarbij de zendantenne in stap a. een zelfde positie heeft als de zendantenne in stap dl en waarbij in het bijzonder de zendantenne in stap a. dezelfde antenne is als in stap dl; d2. het met behulp van een eerste magnetische veldsensor meten van het magnetische veld dat is opgewekt in stap dl. bij de zendantenne van 15 stap dl; d3. het met behulp van een tweede magnetische veldsensor meten van het magnetische veld dat is opgewekt in stap dl. waarbij de tweede magnetische veldsensor een bekende positie ten opzichte van de eerste magnetische veldsensor heeft; 20 d4. het bepalen van de eerste maat en/of tweede maat aan de hand van het met de eerste magnetische veldsensor gemeten magnetische veld, het met de tweede magnetische veldsensor gemeten magnetische veld, de vooraf bepaalde positie van de tweede magnetische veld sensor ten opzichte van de eerste magnetische veldsensor en aan de hand van een vooraf bepaald model 25 voor het magnetische veld ter plaatse van de eerste magnetische veldsensor en het magnetische veld terplaatste van de tweede magnetische veldsensor voor verschillende waarden van de eerste maat en/of de tweede maat.Therefore, in this variant, the first measure and / or the second measure in step d is determined by: dl. generating a static or varying magnetic field in the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the transmitting antenna in step a. has the same position as the transmitting antenna in step d1 and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same antenna as in step d1; d2. measuring with the aid of a first magnetic field sensor the magnetic field generated in step dl. at the transmitting antenna of step d1; d3. measuring the magnetic field generated in step d1 with the aid of a second magnetic field sensor. wherein the second magnetic field sensor has a known position relative to the first magnetic field sensor; D4. determining the first measure and / or second measure on the basis of the magnetic field measured with the first magnetic field sensor, the magnetic field measured with the second magnetic field sensor, the predetermined position of the second magnetic field sensor relative to the first magnetic field sensor and on the basis of a predetermined model for the magnetic field at the location of the first magnetic field sensor and the magnetic field at the location of the second magnetic field sensor for different values of the first measure and / or the second measure.

Aan de hand van figuur 6 wordt thans een alternatieve werkwijze besproken voor het bepalen van de eerste maat en/of de tweede maat Ml 30 waarbij wederom geldt dat Ml= M2 + C, waarbij C een bekende constante 22 is. Hierbij wordt met een zendantenne 4’ in een stap dl. wederom een wervelstroom opgewekt zoals hiervoor besproken met betrekking tot stap a. De zendantenne 4 in stap dl staat op dezelfde plaats als in stap a. Voorts geldt dat de zendantenne 4’ en de zendantenne 4 dezelfde antennes zijn.With reference to Figure 6, an alternative method for determining the first measure and / or the second measure M1 is now discussed, wherein again it holds that M1 = M2 + C, where C is a known constant 22. Hereby, with a transmitting antenna 4 ’in a step dl. again an eddy current as discussed above with respect to step a. The transmitting antenna 4 in step d1 is in the same location as in step a. Furthermore, it holds that the transmitting antenna 4 'and the transmitting antenna 4 are the same antennas.

5 Voorts wordt in stap d2. met behulp van een ontvangantenne 6' een signaal S’(t) ontvangen dat de wervelstromen representeert zoals besproken bij stap b.. De ontvangantenne 6 in stap b. staat hierbij op een zelfde positie als de ontvangantenne 6’ in stap d2. Ook hier geldt dat de ontvangantenne 6 en de ontvangantenne 6’ dezelfde antennes zijn. Voorts wordt in een stap d3. met 10 behulp van een zendantenne 20 een elektromagnetisch veld aan het voorwerp 2 toegevoerd waarbij het elektromagnetisch veld in de tijd verandert voor het opwekken van wervelstromen in het voorwerp. Verder wordt in een stap d4. met behulp van een ontvangantenne 22 een signaal S”(t) ontvangen dat de wervelstromen representeert die zijn opgewekt in 15 stap d3. Hierbij geldt voorts dat de zendantenne in stap dl. op een andere afstand staat tot het voorwerp dan de zendantenne in stap d3. en/of dat de ontvangantenne 22 in stap d2. op een andere afstand staat tot het voorwerp dan de ontvangantenne in stap d4. In dit voorbeeld geldt dat de zendantenne in stap dl. op een andere afstand staat tot het voorwerp dan 20 een zendantenne in d3. en dat de ontvangantenne in stap d2. op een andere afstand staat tot het voorwerp dan de zendantenne in stap d4. Vervolgens wordt in een stap d5. onderlinge afstanden tussen de zendantenne in stap dl, de ontvangantenne in stap d2., de zendantenne in stap d3., en de ontvangantenne in stap d4. bepaald.Furthermore, in step d2. receive a signal S '(t) with the aid of a receiving antenna 6' representing the eddy currents as discussed in step b. The receiving antenna 6 in step b. is in this case at the same position as the receiving antenna 6 "in step d2. Here too, the receiving antenna 6 and the receiving antenna 6 "are the same antennas. Furthermore, in a step d3. an electromagnetic field is supplied to the object 2 with the aid of a transmitting antenna 20, the electromagnetic field changing in time for generating eddy currents in the object. Furthermore, in a step d4. receive, by means of a receiving antenna 22, a signal S '(t) representing the eddy currents generated in step d3. It further holds that the transmitting antenna in step dl. is at a different distance from the object than the transmitting antenna in step d3. and / or that the receiving antenna 22 in step d2. is at a different distance from the object than the receiving antenna in step d4. In this example, it holds that the transmitting antenna in step dl. is at a different distance from the object than a transmitting antenna in d3. and that the receiving antenna in step d2. is at a different distance from the object than the transmitting antenna in step d4. Then in a step d5. mutual distances between the transmitting antenna in step d1, the receiving antenna in step d2., the transmitting antenna in step d3., and the receiving antenna in step d4. determined.

25 Tenslotte wordt in een stap d6. door analyse van het signaal S’(t), S”(t) en de bepaalde onderlinge afstanden in stap d5. de eerste maat Ml en tweede maat M2 bepaald. Eén en ander is gebaseerd op het inzicht dat de amplitude van de signalen S’(t) en S”(t) afhankelijk is van de afstand van de zendantennes 4’, 20 en de ontvangantennes 6’, 22 tot het oppervlak van het 30 voorwerp 2 , alsmede van de verhouding tussen de permeabiliteit μ en de 23 geleiding σ van het voorwerp. Dit brengt met zich dat op basis van de verhouding van de signaalsterktes van de signalen S’(t) en S”(t) alsmede de bepaalde onderlinge afstanden van de gebruikte antennes, de eerste maat Ml en de tweede maat M2 kunnen worden bepaald.Finally, in a step d6. by analyzing the signal S "(t), S" (t) and the determined mutual distances in step d5. the first measure M1 and second measure M2 determined. All this is based on the insight that the amplitude of the signals S '(t) and S' (t) is dependent on the distance of the transmitting antennas 4 ', 20 and the receiving antennas 6', 22 to the surface of the signals. object 2, as well as the ratio between the permeability μ and the 23 conductivity σ of the object. This implies that on the basis of the ratio of the signal strengths of the signals S "(t) and S" (t) as well as the determined mutual distances of the antennas used, the first measure M1 and the second measure M2 can be determined.

5 Het is mogelijk dat de zendantenne 4 die in stap dl. wordt gebruikt dezelfde zendantenne 20 is die in stap d3. wordt gebruikt. Zo is het ook mogelijk dat de ontvangantenne die in stap d2. wordt gebruikt dezelfde ontvangantenne 22 is die in stap d4. wordt gebruikt.It is possible that the transmitting antenna 4 used in step dl. is used is the same transmitting antenna 20 as in step d3. is used. It is thus also possible for the receiving antenna to be used in step d2. is used is the same receiving antenna 22 as in step d4. is used.

Voorts is het mogelijk dat de zendantenne in stap dl. op een zelfde 10 afstand staat tot het voorwerp als de zendantenne in stap d3. In dat geval kunnen de zendantenne in stap dl. en de zendantenne in stap d3. wederom gemakkelijk dezelfde antenne zijn. Noodzakelijk is dan wel dat de ontvangantenne in stap d2. op een andere afstand staat tot het voorwerp dan de ontvangantenne in stap d4.Furthermore, it is possible that the transmitting antenna in step dl. is at the same distance from the object as the transmitting antenna in step d3. In that case, the transmitting antenna in step dl. and the transmitting antenna in step d3. easily be the same antenna again. It is then necessary that the receiving antenna in step d2. is at a different distance from the object than the receiving antenna in step d4.

15 Het is ook mogelijk dat de ontvangantenne in stap d2. op een zelfde afstand staat tot het voorwerp als de ontvangantenne in stap d4. Het is dan wel noodzakelijk dat de zendantenne in stap dl. op een andere afstand staat tot het voorwerp dan de zendantenne in stap d3. Ook hier geldt dat de zendantenne in stap dl. dezelfde zendantenne kan zijn als die in stap d3.It is also possible that the receiving antenna in step d2. is at the same distance from the object as the receiving antenna in step d4. It is then necessary that the transmitting antenna in step dl. is at a different distance from the object than the transmitting antenna in step d3. Here too, the transmitting antenna in step dl. can be the same transmitting antenna as in step d3.

20 wordt gebruikt. Eveneens geldt dat de ontvangantenne in stap d2. dezelfde antenne kan zijn die in stap d4. wordt gebruikt. Dergelijke varianten worden elk geacht binnen het kader van de uitvinding te vallen.20 is used. It also holds that the receiving antenna in step d2. the same antenna can be that in step d4. is used. Such variants are each understood to fall within the scope of the invention.

Het is bekend uit WO 98/34104 dat de signaalsterkte voor korte tijden van een bepaalde combinatie van zend- en ontvangstspoel varieert 25 volgens: F=(a/p)A0.5 * Δ. Δ hangt af van de geometrie en dus van de lift-off en dus van Ml en M2. Hierbij is μ de magnetische permeabiliteit en σ de elektrische geleidbaarheid van het materiaal van het voorwerp 2. Dit materiaal is hier homogeen verondersteld. Een eenvoudige afhankelijkheid is dat Δ(Μ1,Μ2) = aO(M2)+al(M2)*Ml+a2(M2)*MlA2 . De coëfficiënten 24 aO(M2); al(M2) en a2(M2) hangen dus af van M2, maar niet van Ml. Door Δ(Μ1,Μ2) te meten met bekende materiaaleigenschappen (σ en μ) voor verschillende bekende Ml en een constante, bekende M2, kunnen de coëfficiënten aO(M2); al(M2) en a2(M2) door middel van fitten, of 5 anderszins, worden bepaald. Deze bekende coëfficiënten kunnen dan gebruikt worden om uit meting van F voor twee verschillende meetsituaties de waarde van Ml te bepalen op bijvoorbeeld de volgende wijze. Laat Ml de te bepalen lift-off zijn en F1 de waarde van F die bij deze lift-off is gemeten. Laat F2 de waarde van F zijn die wordt gemeten door de lift-off van de 10 ontvangstspoel kunstmatig te verhogen met C2 door middel van het plaatsen van een niet geleidend plaatje niet magnetisch materiaal met dikte C2 tussen de eerdere positie van de ontvangstspoel en de nieuwe positie. Er geldt nu (voor het gemak is de M2 afhankelijkheid weggelaten): F1 = (σ/μ)Λ0.5 *( aO+al*Ml+a2*MlA2) 15 F2 = (σ/μ)Λ0.5 *( aO+al*(Ml+C2)+a2*(Ml+C2)A2)It is known from WO 98/34104 that the signal strength for short times of a certain combination of transmit and receive coil varies according to: F = (a / p) A0.5 * Δ. Δ depends on the geometry and therefore on the lift-off and therefore on M1 and M2. Here, μ is the magnetic permeability and σ is the electrical conductivity of the material of the object 2. This material is assumed to be homogeneous here. A simple dependency is that Δ (Μ1, Μ2) = aO (M2) + a1 (M2) * M1 + a2 (M2) * M1A2. The coefficients 24 aO (M2); a1 (M2) and a2 (M2) therefore depend on M2, but not on M1. By measuring Δ (Μ1, Μ2) with known material properties (σ and μ) for different known M1 and a constant, known M2, the coefficients aO (M2); a1 (M2) and a2 (M2) are determined by fitting, or otherwise. These known coefficients can then be used to determine the value of M1 from measurement of F for two different measurement situations, for example in the following manner. Let M1 be the lift-off to be determined and F1 the value of F measured at this lift-off. Let F2 be the value of F that is measured by artificially increasing the lift-off of the receiving coil by C2 by placing a non-conductive plate of non-magnetic material with thickness C2 between the previous position of the receiving coil and the new one position. The following now applies (for convenience the M2 dependence has been omitted): F1 = (σ / μ) Λ0.5 * (aO + a1 * M1 + a2 * MlA2) 15 F2 = (σ / μ) Λ0.5 * (aO + a1 * (M1 + C2) + a2 * (M1 + C2) A2)

Uit de bovenste vergelijking volgt: (o/p)A0.5=Fl/(a0+al*Ml+a2*MlA2) Invullen in onderste vergelijking levert: F2 = Fl/(aO+al*Ml+a2*MlA2)*( aO+al*(Ml+C2)+a2*(Ml+C2)A2), waaruit Ml kan worden bepaald: 20 Ml=-al/2/a2-c2*Fl/(Fl-F2)+(alA2/4/a2A2-a0/a2+C2*Fl*F2/(Fl-F2)A2)A0.5From the top equation it follows: (o / p) A0.5 = F1 / (a0 + a1 * M1 + a2 * M1A2) Entering in the bottom equation yields: F2 = F1 / (a0 + a1 * M1 + a2 * M1A2) * (aO + a1 * (M1 + C2) + a2 * (M1 + C2) A2), from which M1 can be determined: M1 = -a1 / 2 / a2-c2 * F1 / (F1-F2) + (a1 A2) / 4 / a2A2-a0 / a2 + C2 * F1 * F2 / (F1-F2) A2) A0.5

Het is ook mogelijk dat Δ(Μ1,Μ2) wordt bepaald door middel van numerieke modelberekeningen via de eindige elementenmethoden, of via theoretische beschouwingen (zie bijvoorbeeld de publicatie van Victor).It is also possible that Δ (Μ1, Μ2) is determined by means of numerical model calculations via the finite element methods, or via theoretical considerations (see, for example, Victor's publication).

Aan de hand van figuur 7 wordt een alternatieve werkwijze 25 omschreven voor het bepalen van de eerste maat Ml en/of de tweede maat M2. Hierbij zijn met figuur 1 en 6 overeenkomende onderdelen van en zelfde referentienummer voorzien.With reference to figure 7, an alternative method is described for determining the first measure M1 and / or the second measure M2. Parts corresponding to Figures 1 and 6 are provided with the same reference number.

Allereerst wordt met behulp van een zendantenne 4’ aan het voorwerp een elektromagnetisch veld toegevoerd waarbij het 25 elektromagnetisch veld in de tijd veranderd voor het opwekken van wervelstromen in het voorwerp. Dit gebeurt in een stap dl. Hierbij geldt dat de zendantenne in stap a. en de zendantenne in stap dl. op een zelfde positie staan. In het bijzonder geldt dat de zendantenne 4 in stap a. dezelfde 5 antenne is als de zendantenne 4’ in stap dl. Voorts wordt in een stap d2. met behulp van een ontvangantenne 6’ een signaal S’(t) ontvangen dat de wervelstromen representeert. Hierbij geldt dat de ontvangantenne 6 in stap b. en de ontvangantenne 6’ in stap d2. op een zelfde positie staan. In het bijzonder geldt dat de ontvangantenne 6 in stap b. dezelfde ontvangantenne 10 6’ is als in stap d2. Verder wordt in een stap d3. met behulp van tenminste een zendantenne 24 aan het voorwerp een elektromagnetisch veld toegevoerd waarbij het elektromagnetisch veld in de tijd verandert voor het opwekken van wervelstromen in het voorwerp 2. Verder geldt dat in een stap d4. met behulp van een ontvangantenne 26 een signaal S”(t) wordt 15 ontvangen dat de wervelstromen representeert die zijn opgewekt in stap d3. Hierbij geldt dat de zendantenne 4’ in stap dl. en de zendantenne 24 in stap d3. een van elkaar verschillende en bekende configuratie hebben en/of dat de ontvangantenne 6’ in stap d2. een ontvangantenne 26 in stap d4. een van elkaar verschillende en bekende configuratie hebben. In dit voorbeeld geldt 20 dat enerzijds de zendantenne in stap dl. en de zendantenne in stap d3. een van elkaar verschillende en bekende configuratie hebben en dat voorts de ontvangantenne in stap d2. en de ontvangantenne in stap d4. een van elkaar verschillende en bekende configuratie hebben. Vervolgens wordt in een stap d5. de onderlinge afstanden tussen de zendantenne in stap dl., de 25 ontvangantenne in stap d2., de zendantenne in stap d3. en de ontvangantenne in stap d4. bepaald. In dit voorbeeld geldt dat deze antennes elk een zelfde afstand tot het voorwerp 2 hebben. Noodzakelijk is dit echter niet. Tenslotte wordt in een stap d6. door analyse van het signaal S’(t), S”(t) alsmede de in stap d5. bepaalde onderlinge afstanden en op basis 30 van de bekende configuraties van de zendantenne in stap dl., de 26 ontvangantenne in stap (12., de zendantenne in stap d3., en de ontvangantenne in stap d4., de eerste maat Ml en de tweede maat M2 bepaald. Als alternatief kan in een stap d6. door analyse van het signaal S’(t), S”(t) alsmede de in stap d5. bepaalde onderlinge afstanden en op basis 5 van de bekende verschillen in configuraties van de zendantenne in stap dl. en de zendantenne in stap d3. en op basis van bekende verschillen in configuratie tussen de ontvangantenne in stap d2. en de ontvangantenne in stap d4., de eerste maat Ml en de tweede maat M2 bepaald. Ook deze bepaling volgens stap 6 zijn gebaseerd op het inzicht dat de signaalsterkte, 10 dat wil zeggen de amplitude van de signalen S’(t) en S”(t) afhankelijk is van de afstand van de antennes tot het oppervlak van het voorwerp 2, de bekende configuratie of configuratieverschillen van de antennes alsmede de verhouding tussen de permeabiliteit μ en de geleiding σ van het voorwerp. Met behulp van de verhouding van de signaalsterktes enerzijds en de 15 bekende configuraties van de antennes kan de eerste maat Ml of de tweede maat M2 worden bepaald.First of all, an electromagnetic field is applied to the object with the aid of a transmitting antenna 4 ', the electromagnetic field changing over time to generate eddy currents in the object. This is done in a step dl. Here, it holds that the transmitting antenna in step a. And the transmitting antenna in step dl. are in the same position. In particular, it holds that the transmitting antenna 4 in step a. Is the same antenna as the transmitting antenna 4 "in step dl. Furthermore, in a step d2. receive a signal S "(t) with the aid of a receiving antenna 6" representing the eddy currents. Here, it holds that the receiving antenna 6 in step b. and the receiving antenna 6 "in step d2. are in the same position. In particular, it holds that the receiving antenna 6 in step b. is the same receiving antenna 10 6 "as in step d2. Furthermore, in a step d3. an electromagnetic field is supplied to the object with the aid of at least one transmitting antenna 24, the electromagnetic field changing in time for generating eddy currents in the object 2. Furthermore, in a step d4 it holds. a signal S '(t) is received by means of a receiving antenna 26 representing the eddy currents generated in step d3. Here, it applies that the transmitting antenna 4 ’in step dl. and the transmitting antenna 24 in step d3. have a different and known configuration and / or that the receiving antenna 6 ’in step d2. a receiving antenna 26 in step d4. have a different and known configuration. In this example it holds that on the one hand the transmitting antenna in step dl. and the transmitting antenna in step d3. have a different and known configuration from each other and furthermore the receiving antenna in step d2. and the receiving antenna in step d4. have a different and known configuration. Then in a step d5. the mutual distances between the transmitting antenna in step d1., the receiving antenna in step d2., the transmitting antenna in step d3. and the receiving antenna in step d4. determined. In this example, it holds that these antennas each have the same distance to the object 2. However, this is not necessary. Finally, in a step, d6. by analyzing the signal S "(t), S" (t) as well as the signal in step d5. determined mutual distances and based on the known configurations of the transmitting antenna in step d1., the 26 receiving antenna in step (12., the transmitting antenna in step d3., and the receiving antenna in step d4., the first measure M1 and the second measure M2. Alternatively, in a step d6, by analyzing the signal S '(t), S' (t) as well as the mutual distances determined in step d5 and based on the known differences in configurations of the transmitting antenna in step d1. and the transmitting antenna in step d3. and on the basis of known differences in configuration between the receiving antenna in step d2 and the receiving antenna in step d4, the first measure M1 and the second measure M2. 6 are based on the insight that the signal strength, i.e. the amplitude of the signals S '(t) and S' (t) is dependent on the distance of the antennas from the surface of the object 2, the known configuration or configuration differences of the antennas as well as the ratio between the permeability μ and the conductivity σ of the object. With the aid of the ratio of the signal strengths on the one hand and the known configurations of the antennas, the first measure M1 or the second measure M2 can be determined.

Het is bekend uit WO 98/34104 dat de signaalsterkte voor korte tijden van een bepaalde combinatie van zend- en ontvangstspoel varieert volgens: F=(o/p)A0.5 * Δ. Δ hangt af van de geometrie en dus van de lift-off 20 en dus van Ml en M2. Hierbij is μ de magnetische permeabiliteit en σ de elektrische geleidbaarheid van het materiaal van het voorwerp 2. Dit materiaal is hier homogeen verondersteld. Een eenvoudige afhankelijkheid is dat Δ(Μ1) = aO+al*Ml+a2*MlA2 en dat vanwege de constructie van de zend- en ontvangstspoel M2 = Ml+C. Door Δ(Μ1) te meten met bekende 25 materiaaleigenschappen (σ en μ) voor verschillende bekende Ml, kunnen de coëfficiënten aO, al en a2 door middel van fitten, of anderszins, worden bepaald. Deze bekende coëfficiënten kunnen dan gebruikt worden om uit meting van F voor twee verschillende meetsituaties de waarde van Ml te bepalen op bijvoorbeeld de volgende wijze. Laat Ml de te bepalen lift-off zijn 27 en F1 de waarde van F die bij deze lift-off is gemeten. Laat F2 de waarde van F zijn die wordt gemeten door de lift-off van de zend- en ontvangstspoel kunstmatig te verhogen met C2 door middel van het plaatsen van een niet geleidend plaatje niet magnetisch materiaal met dikte C2 tussen de eerdere 5 positie van zend- en ontvangstspoel en de nieuwe positie. Er geldt nu: F1 = (σ/μ)Λ0.5 *( aO+al*Ml+a2*MlA2) F2 = (σ/μ)Λ0.5 *( aO+al*(Ml+C2)+a2*(Ml+C2)A2)It is known from WO 98/34104 that the signal strength for short times of a certain combination of transmit and receive coil varies according to: F = (o / p) A0.5 * Δ. Δ depends on the geometry and therefore on the lift-off 20 and therefore on M1 and M2. Here, μ is the magnetic permeability and σ is the electrical conductivity of the material of the object 2. This material is assumed to be homogeneous here. A simple dependence is that Δ (Μ1) = a0 + a1 * M1 + a2 * M1A2 and that because of the construction of the transmitting and receiving coil M2 = M1 + C. By measuring Δ (Μ1) with known material properties (σ and μ) for different known M1, the coefficients a0, a1 and a2 can be determined by fitting, or otherwise. These known coefficients can then be used to determine the value of M1 from measurement of F for two different measurement situations, for example in the following manner. Let M1 be the lift-off to be determined 27 and F1 the value of F measured at this lift-off. Let F2 be the value of F measured by artificially increasing the lift-off of the transmit and receive coil by C2 by placing a non-conductive wafer of non-magnetic material with thickness C2 between the previous position of transmit and receiving coil and the new position. Now applies: F1 = (σ / μ) Λ0.5 * (aO + a1 * M1 + a2 * M1A2) F2 = (σ / μ) Λ0.5 * (aO + a1 * (M1 + C2) + a2 * (M1 + C2) A2)

Uit de bovenste vergelijking volgt: (a/p)A0.5=Fl/(a0+al*Ml+a2*MlA2)From the top equation it follows: (a / p) A0.5 = F1 / (a0 + a1 * M1 + a2 * M1A2)

Invullen in onderste vergelijking levert: 10 F2 = F l/(aO+a 1*M l+a2*M 1A 2)* (a0+al*(Ml+C2)+a2*(Ml+C2)A2), waaruit Ml kan worden bepaald:Entering the lower equation yields: F2 = F1 / (aO + a 1 * M1 + a2 * M 1A 2) * (a0 + a1 * (M1 + C2) + a2 * (M1 + C2) A2), from which Ml can be determined:

Ml=-al/2/a2-c2*Fl/(Fl-F2)+(alA2/4/a2A2-a0/a2+C2*Fl*F2/(Fl-F2)A2)A0.5 Het is ook mogelijk dat Δ(Μ1) wordt bepaald door middel van numerieke modelberekeningen via de eindige elementenmethoden, of via 15 theoretische beschouwingen (zie bijvoorbeeld de publicatie van Victor).M1 = -al1 / 2 / a2-c2 * F1 / (F1-F2) + (a1A2 / 4 / a2A2-a0 / a2 + C2 * F1 * F2 / (F1-F2) A2) A0.5 It is also possible that Δ (Μ1) is determined by means of numerical model calculations via the finite element methods, or via theoretical considerations (see for example Victor's publication).

Een mogelijke nadere uitwerking van de methode volgens figuur 6 wordt hierna gegeven. Hierbij geldt voor de methode volgens figuur 6 dat de zendantenne in stap dl en de zendantenne in stap d3 dezelfde antennes zijn die ook op dezelfde plaats staan.A possible further elaboration of the method according to Figure 6 is given below. For the method according to Figure 6 it holds that the transmitting antenna in step d1 and the transmitting antenna in step d3 are the same antennas that are also in the same place.

20 Een ronde probe, bestaande uit drie boven elkaar geplaatste spoelen, wordt geplaatst op een kleine afstand van een plaat met de windingen van de spoelen parallel aan de plaat. Twee van drie spoelen zijn ontvangstspoelen (5000 wikkelingen, inwendige straal 16 mm, uitwendige straal 26 mm, lengte 5 mm) en de middelste spoel is een zendspoel (400 wikkelingen, zelfde dimensies).A round probe, consisting of three coils placed one above the other, is placed at a small distance from a plate with the turns of the coils parallel to the plate. Two of three coils are receiving coils (5000 windings, internal radius 16 mm, external radius 26 mm, length 5 mm) and the middle coil is a transmission coil (400 windings, same dimensions).

25 De afstand van het centrum van de middelste spoel tot het centrum van de buitenste spoelen is 9 mm. De minimale afstand van het centrum van de middelste spoel tot de plaat is 15.5 mm. Dit komt overeen met een lift-off van 0 mm. Een afbeelding van de probe is weergegeven in figuur 8. De signaalsterkte Su(t) in figuur 9 werd gemeten als functie van de lift-off voor de onderste 28 ontvangstspoel. Deze signaalsterkte Su(t) werd ook gemeten voor de bovenste ontvangstspoel (Si(t) in figuur 9). Beide signaalsterktes Su(t) en Si(t) werden gecorrigeerd voor de grootte van de zendstroom. De resultaten zijn weergegeven in figuur 9.The distance from the center of the middle coil to the center of the outer coils is 9 mm. The minimum distance from the center of the middle coil to the plate is 15.5 mm. This corresponds to a lift-off of 0 mm. An image of the probe is shown in Figure 8. The signal strength Su (t) in Figure 9 was measured as a function of the lift-off for the lower receiving coil. This signal strength Su (t) was also measured for the upper receiving coil (Si (t) in Figure 9). Both signal strengths Su (t) and Si (t) were corrected for the magnitude of the transmission current. The results are shown in Figure 9.

5 De verhouding van de signaalsterkten van de onderste en bovenste ontvangstspoel is (in eerste orde) niet afhankelijk van de materiaaleigenschappen. Deze verhouding is weergegeven in figuur 10. Hieruit kan de lift-off worden bepaald. In de figuur is ook een fit weergegeven van een parabool met de meetpunten. Uit de fit kan nu met behulp van de meetgegevens 10 van de onderste en bovenste spoel de lift-off worden berekend. Dit is weergegeven in figuur 11. De correlatie tussen de berekende lift-off en de werkelijke lift-off is goed. De nauwkeurigheid waarmee de lift-off gemeten kan worden bedraagt op deze manier ongeveer 0.5 mm. Zodra de lift-off bekend is van de probe kan men uit de signaalsterkte ook de verhouding tussen de 15 permeabiliteit en de geleiding bepalen vergeleken met een referentieplaat met bekende verhouding. Met behulp van deze methode zijn er metingen verricht met de vier testplaten voor drie verschillende lift-offs. De resultaten zijn weergegeven in tabel 1.The ratio of the signal strengths of the lower and upper receiving coil is (in first order) not dependent on the material properties. This ratio is shown in Figure 10. The lift-off can be determined from this. The figure also shows a fit of a parabola with the measurement points. The lift-off can now be calculated from the fit using the measurement data of the lower and upper coil. This is shown in Figure 11. The correlation between the calculated lift-off and the actual lift-off is good. The accuracy with which the lift-off can be measured in this way is approximately 0.5 mm. As soon as the lift-off of the probe is known, the ratio between the permeability and the conductivity can also be determined from the signal strength compared to a reference plate with a known ratio. Using this method, measurements were made with the four test plates for three different lift-offs. The results are shown in Table 1.

Plaat Lift-off Signaalsterkte Signaalsterkte Berekende Berekende Gemeten bic. 100 nr, onder boven Lift-off ί.μφ/σ ομτμα/σ [mm] [μν/Α] [μν/Α] [mm] [s.(V/A)2] [s.^V/A)2] T 0 670638 349656 3t(2) 1.08(2) 69(2) “~L57 12 350439 211431 14.4(3) 1.03(3) 1.49 24 195399 129626 23.6(4) 1.30(7) 1.89 2 ö 664076 331960 0.9(2) 1.59(5) 108(5) 1.47 12 317089 189864 13.7(2) 1.35(6) 1.25 24 172297 116715 26.3(5) 1.28(7) 1.19 ë Ö 811404 394285 ^1.0(2) 1.35(4) 89(3) Τδ2 12 360434 210414 11.7(2) 1.33(6) 1.49 24 188491 124391 23.0(4) 1.47(7) 1.65 1 0 1074703 524757 -0.6(2) 0.74(1) 61(2) Ίϋϊ 12 478159 280153 12.0(2) 0.73(2) 1.20 24 248290 160735 20.9(3) 1.03(3) 1.69 29Plate Lift-off Signal strength Signal strength Calculated Calculated Measured bic. 100 nr, bottom top Lift-off ί.μφ / σ ομτμα / σ [mm] [μν / Α] [μν / Α] [mm] [s. (V / A) 2] [s. ^ V / A) 2] T 0 670638 349656 3t (2) 1.08 (2) 69 (2) L57 12 350439 211431 14.4 (3) 1.03 (3) 1.49 24 195399 129626 23.6 (4) 1.30 (7) 1.89 2 ö 664076 331960 0.9 (2) 1.59 (5) 108 (5) 1.47 12 317089 189864 13.7 (2) 1.35 (6) 1.25 24 172297 116715 26.3 (5) 1.28 (7) 1.19 ë Ö 811404 394285 ^ 1.0 (2) 1.35 (4) 89 (3) 2δ2 12 360434 210414 11.7 (2) 1.33 (6) 1.49 24 188491 124391 23.0 (4) 1.47 (7) 1.65 1 0 1074703 524757 -0.6 (2) 0.74 (1) 61 (2) 47 12 478159 280153 12.0 (2) 0.73 (2) 1.20 24 248290 160735 20.9 (3) 1.03 (3) 1.69 29

Tabel 1Table 1

Uit de vergelijking van de berekende lift-off met de werkelijke lift-off 5 volgt dat de gebruikte methode een minder goede nauwkeurigheid heeft dan verwacht. Hierdoor wordt de nauwkeurigheid van de verhouding van de permeabiliteit en de geleiding ook minder groot. Hoewel er duidelijk een correlatie is tussen kolom 6 en 7, zit er nog een grote spreiding van de resultaten voor verschillende lift-off. Dit kan worden verminderd door een 10 nauwkeuriger lift-off meting uit te voeren.From the comparison of the calculated lift-off with the actual lift-off, it follows that the method used has a less good accuracy than expected. As a result, the accuracy of the ratio of the permeability and the conductivity also becomes less great. Although there is clearly a correlation between columns 6 and 7, there is still a large spread of the results for different lift-offs. This can be reduced by performing a more accurate lift-off measurement.

Een mogelijke uitwerking van de methode volgens figuur 7 gaat geheel analoog als hiervoor omschreven waarbij echter bijvoorbeeld de ontvangspoelen een van elkaar verschillende configuratie hebben en eventueel een zelfde positie hebben (dus niet op afstand van elkaar zijn 15 geplaatst zoals omschreven volgens de nadere uitwerking van figuur 6). De nadere uitwerking volgens de figuren 9-11 en de tabel 1 voor de methode volgens figuur 7 is verder geheel analoog.A possible elaboration of the method according to figure 7 is entirely analogous to that described above, however, for example, the receiving coils having a different configuration from one another and possibly having the same position (i.e. not placed at a distance from each other as described according to the further elaboration of figure 6). The further elaboration according to figures 9-11 and the table 1 for the method according to figure 7 is furthermore entirely analogous.

De uitvinding is geenszins beperkt tot de hiervoor geschetste uitvoeringsvormen.The invention is in no way limited to the embodiments outlined above.

20 Zoals hiervoor besproken zijn er diverse methoden bekend om uit het signaal S(t) de dikte di van een voorwerp te bepalen. Een eenvoudige methode betreft zoals hiervoor reeds besproken, het bepalen van een moment waarop het signaal S(t) sneller gaat afvallen. Dit moment x is een maat voor een dikte van het voorwerp. Voorts kan, zoals uiteengezet, aan de 25 hand van de amplitude van het signaal wanneer de eerste maat en/of de tweede maat bekend zijn, worden bepaald of er wellicht nog sprake is van een gebied met een gereduceerde wanddikte. Meer in het algemeen geldt dat aan de hand van de eerste maat en/of tweede maat een amplitude van een te verwachten signaal V(t) bij een voorwerp met een gegeven wanddikte wordt 30 bepaald aan de hand van een vooraf bepaald referentiemodel en waarbij 30 door een vergelijken van de amplitude van V(t) en de amplitude van S(t) wordt bepaald of het voorwerp een wanddikte heeft die kleiner is dan gegeven wanddikte.As discussed above, various methods are known for determining the thickness di of an object from the signal S (t). As already discussed above, a simple method involves determining a moment at which the signal S (t) will fall off more quickly. This moment x is a measure of a thickness of the object. Furthermore, as explained, on the basis of the amplitude of the signal when the first measure and / or the second measure are known, it can be determined whether there may still be an area with a reduced wall thickness. More generally it holds that on the basis of the first measure and / or second measure an amplitude of an expected signal V (t) at an object with a given wall thickness is determined on the basis of a predetermined reference model and wherein by comparing the amplitude of V (t) and the amplitude of S (t), it is determined whether the object has a wall thickness that is smaller than given wall thickness.

Volgens een alternatieve methode geldt dat aan de hand van de 5 eerste maat Ml en/of tweede maat M2, informatie over de geometrie van de antenne in stap a. en de antenne in stap b., de permeabiliteit μϊ en de geleidbaarheid σι van een gebied i van het voorwerp, een te verwachten signaal V(t) wordt bepaald dat de som is van signalen Vi(t, di, Ml en/of M2, μϊ, σί) voor althans nagenoeg alle gebieden i waarvan met de 10 ontvangantenne in stap b signalen worden ontvangen, waarbij vervolgens waarden van di dusdanig worden bepaald dat het signaal S(t) overeenkomt met de som van signalen Vi(t, di, Ml en/of M2„ μι, σί) voor althans nagenoeg alle gebieden i waarvan met de ontvangantenne in stap b signalen worden ontvangen. De functie Vi(t, di, Ml en/of M2, μϊ, σΐ) kan op zich 15 bekende wijze door middel van calibratie aan een veelvoud van voorwerpen met bekende wanddiktes en materiaaleigenschappen worden vastgesteld.According to an alternative method, on the basis of the first measure M1 and / or second measure M2, information about the geometry of the antenna in step a. And the antenna in step b., The permeability μϊ and the conductivity σι of a region i of the object, an expected signal V (t) is determined to be the sum of signals Vi (t, di, M1 and / or M2, μϊ, σί) for at least practically all regions i of which with the receiving antenna in signals are received in step b, subsequently values of di are determined such that the signal S (t) corresponds to the sum of signals Vi (t, di, M1 and / or M2 'μι, σί) for at least substantially all areas i of which signals are received with the receiving antenna in step b. The function Vi (t, di, M1 and / or M2, μϊ, σΐ) can be determined in a manner known per se by means of calibration to a plurality of objects with known wall thicknesses and material properties.

Het is bekend uit WO 98/34104 dat de signaalsterkte van een bepaalde combinatie van zend- en ontvangstspoel voor een gebied i varieert volgens: 20 Vi(t)=theta i * Δ(Μ1,Μ2)*(σ i /μ i )A0.5 *Gi(t) Δ hangt af van de geometrie en dus van de lift-off en dus van Ml en M2. Hierbij is μ de magnetische permeabiliteit en σ de elektrische geleidbaarheid van het materiaal van het voorwerp 2. Dit materiaal is hier homogeen verondersteld. Een eenvoudige afhankelijkheid is dat M2=M1+C 25 en daardoor Δ(Μ1,Μ2)=Δ(Μ1) = aO+al*Ml+a2*MlA2 .It is known from WO 98/34104 that the signal strength of a certain combination of transmit and receive coil for an area i varies according to: Vi (t) = theta i * Δ (Μ1, Μ2) * (σ i / μ i) A0.5 * Gi (t) Δ depends on the geometry and therefore on the lift-off and therefore on M1 and M2. Here, μ is the magnetic permeability and σ is the electrical conductivity of the material of the object 2. This material is assumed to be homogeneous here. A simple dependency is that M2 = M1 + C and therefore Δ (Μ1, Μ2) = Δ (Μ1) = aO + a1 * M1 + a2 * M1A2.

Δ(Μ1) kan worden bepaald door middel van de voorheen beschreven methoden. Nu kunnen er bijvoorbeeld twee gebiedjes worden genomen i=l en i=2 en verder worden genomen voor τι =pnondn2, waarbij subscript n de nominale- of referentiewaarden zijn, en 02=1-01 en X2 worden gefit. Door het 31 bepalen van δ uit de extra meting voor de fit uitgevoerd, wordt een betrouwbaardere waarde voor fee η X2 gevonden en wordt de correlatie tussen deze parameters sterk verminderd. Hierdoor wordt een betere schatting van de wanddikte van het 2e gebiedje gevonden via Τ2 =μησηά^.Δ (Μ1) can be determined by the methods previously described. Now, for example, two areas can be taken i = 1 and i = 2 and further taken for τι = pnondn2, where subscript n are the nominal or reference values, and 02 = 1-01 and X2 are fitted. By determining 31 from the extra measurement for the fit, a more reliable value for fee η X2 is found and the correlation between these parameters is greatly reduced. This results in a better estimate of the wall thickness of the 2nd area via Τ2 = μησηά ^.

5 Een voorbeeld is gegeven in figuur 12A en 12B voor 02=0.5 en d,2=0.25dn.An example is given in Figures 12A and 12B for O 2 = 0.5 and d, 2 = 0.25 dn.

Figuur 12A laat de kwaliteit van het model zien volgens deze methode, zonder signaal amplitude informatie uit de onafhankelijke lift-off. De kwaliteit van een model kan bijvoorbeeld worden gedefinieerd als de met de meetnauwkeurigheid gewogen kwadratische afwijking tussen de waarde 10 van de meetpunten en de waarden berekend via het bovenstaande model (som van i=l tot 2 van Vi). Het is duidelijk dat er sterke correlatie is tussen de fractie 02 en de defect wanddikte d2. Het gemiddelde van deze waarden wijken sterk af van de werkelijke waarden. Figuur 12B laat de kwaliteit van het model volgens deze methode zien, met signaal amplitude informatie uit 15 de onafhankelijke lift-off. Het horizontaal gearceerde gebied is slechte kwaliteit en het schuin gearceerde gebied is goede kwaliteit. De correlatie tussen de parameters is sterk beperkt, waardoor de uitkomst betrouwbaarder is.Figure 12A shows the quality of the model according to this method, without signal amplitude information from the independent lift-off. The quality of a model can be defined, for example, as the quadratic deviation weighted by the measurement accuracy between the value of the measurement points and the values calculated via the above model (sum of i = 1 to 2 of Vi). It is clear that there is a strong correlation between the fraction O2 and the defective wall thickness d2. The average of these values deviate greatly from the actual values. Figure 12B shows the quality of the model according to this method, with signal amplitude information from the independent lift-off. The horizontally shaded area is poor quality and the obliquely shaded area is good quality. The correlation between the parameters is strongly limited, making the outcome more reliable.

In dit voorbeeld zijn in stap a. en in stap b. de zend- en 20 ontvangantenne bij voorkeur op het isolerende deklaagmateriaal dat zich over het voorwerp uitstrekt, gepositioneerd. Noodzakelijk is dit echter niet. De zendantenne in stap a. en de ontvangantenne in stap b. kunnen ook op enige afstand van het isolatiemateriaal worden geplaatst. Dergelijke varianten worden elk geacht binnen het kader van de uitvinding te vallen 25 Bij elk van de hiervoor besproken methoden geldt dat praktisch gezien het mogelijk is om indien de eerste maat Ml ongelijk is aan de tweede maat M2 een gemiddelde maat te bepalen volgens bijvoorbeeld de formule MO = λΙμl2 +M22 waarbij dan vervolgens aan de hand van de maat MO, dat wil zeggen een gemiddelde lift-off van de zendantenne en 32 ontvangantenne in stap a. en b. de signalen Si(t), S2(t), Ss(t) van figuur 4 kunnen worden geanalyseerd zoals hiervoor besproken. Dat wil zeggen dat aan de hand van de maat MO kan worden bepaald of een signaal S(t) voor t> 5msec het signaal S2(t) of het signaal Ss(t) betreft. Ook het hierboven 5 gegeven modelsignaal voor Vi kan aldus herschreven worden tot Vi(t, di, MO, μί, σΐ).In this example, in step a. And in step b. the transmitting and receiving antenna is preferably positioned on the insulating cover material that extends over the object. However, this is not necessary. The transmitting antenna in step a. And the receiving antenna in step b. can also be placed at some distance from the insulation material. Such variants are each considered to fall within the scope of the invention. With each of the methods discussed above, it is practically possible to determine, if the first measure M1 is unequal to the second measure M2, an average measure according to, for example, the formula MO = λΙμl2 + M22 where then based on the measure MO, that is an average lift-off of the transmitting antenna and 32 receiving antenna in step a. And b. the signals S1 (t), S2 (t), Ss (t) of Figure 4 can be analyzed as discussed above. That is, it can be determined on the basis of the measure MO whether a signal S (t) for t> 5 msec relates to the signal S2 (t) or the signal Ss (t). The model signal for Vi given above can thus also be rewritten to Vi (t, di, MO, μί, σΐ).

Dergelijke varianten worden elk geacht binnen het kader van de uitvinding te vallen.Such variants are each understood to fall within the scope of the invention.

3333

Re fentie lijst RM = Ontvangstmiddelen 5 TM = Zendmiddelen HS = Hall Sensor HS1 = Hall Sensor 1 HS2 = Hall Sensor 2 10Reference list RM = Receiving means 5 TM = Transmitting means HS = Hall Sensor HS1 = Hall Sensor 1 HS2 = Hall Sensor 2 10

Claims

A method for determining at least one property of an electrically conductive object, the method comprising at least the following steps: a. Applying an electromagnetic field to the object with the aid of at least one transmitting antenna, the electromagnetic field changing over time for generating eddy currents in the object; b. receiving a signal S (t) representing the eddy currents with the aid of at least one receiving antenna; c. determining the at least one property of the object by analyzing the signal S (t), characterized in that 15 d. a first measure of the distance between the transmitting antenna and a surface of the object and a second measure of the distance between the receiving antenna and a surface of the object are determined; wherein in step c. the analysis of the signal S (t) is carried out in dependence on the first measure and the second measure for determining the at least one property of the object.

2. Method as claimed in claim 1, characterized in that the first measure is a smallest distance between the transmitting antenna and a surface of the object and that the second measure is a smallest distance between the receiving antenna and a surface of the object, preferably a smallest distance is the length of a segment that is perpendicular to the surface.

Method according to claim 1 or 2, characterized in that in step c. The at least one property of the object is determined by processing the signal S (t), the first measure and the second measure in combination.

Method according to one of the preceding claims, characterized in that the transmitting antenna in step a. And the receiving antenna in step b. 5 are at a substantially identical position and wherein the transmitting antenna and receiving antenna are oriented relative to each other such that the first measure is at least substantially equal to the second measure.

5. Method as claimed in claim 4, characterized in that the first measure is equal to the second measure, wherein in step d. only the first measure or second measure is determined.

Method according to claim 5, characterized in that the transmitting antenna and the receiving antenna form part of a probe. 15

Method according to claim 4, 5 or 6, characterized in that the transmitting antenna and the receiving antenna form one and the same antenna.

8. Method as claimed in any of the foregoing claims 1-3, characterized in that a measure MO is determined in step c which is a weighted average of the first measure and the second measure and preferably equal to + M22 where M1 is equal the first measure and M2 is equal to the second measure.

A method according to any one of claims 5-8, characterized in that the first measure and / or the second measure in step d is determined by: dl. applying an electromagnetic field to the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the electromagnetic field changes in time to generate eddy currents in the object and wherein the transmitting antenna in step a and the transmitting antenna in step d1 are in the same position and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same antenna as in step dl .; d2. receiving a signal 5 S '(t) with the aid of a receiving antenna, representing the eddy currents generated in step d1, wherein the receiving antenna in step b and the receiving antenna in step d2 are in the same position, and in particular the receiving antenna in step d2 is the same antenna as in step b .; d3. applying an electromagnetic field to the object 10 with the aid of at least one transmitting antenna, the electromagnetic field changing over time to generate eddy currents in the object; d4. receiving a signal S '(t) with the aid of at least one receiving antenna, representing the eddy currents generated in step d3, wherein the transmitting antenna in step d1 is at a different distance from the object than the transmitting antenna in step d3 and / or wherein receiving antenna in step d2 is at a different distance from the object than receiving antenna in step d4; d5. determining the mutual distances between the transmitting antenna in step d1, the receiving antenna in step d2, the transmitting antenna in step d3 and the receiving antenna in step d4; d6 determining the first measure or second measure by analyzing the signal S "(t), the signal S" (t) and the determined mutual distances in step d5. 25

The method according to any of claims 5-8, characterized in that the first measure and / or the second measure in step d is determined by: dl. applying an electromagnetic field to the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the electromagnetic field changes over time to generate eddy currents in the object and wherein the transmitting antenna in step a and the transmitting antenna in step d1 are in the same position and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same antenna as in step d1; d2. receiving a signal 5 S '(t) with the aid of a receiving antenna, which represents the eddy currents, wherein the receiving antenna in step b and the receiving antenna in step d2 are in the same position and in particular the receiving antenna in step d2 is the same antenna as in step b .; d3. applying an electromagnetic field to the object 10 with the aid of at least one transmitting antenna, the electromagnetic field changing over time to generate eddy currents in the object; d4. receiving with the aid of at least one receiving antenna a signal S '(t) representing the eddy currents generated in step d3, wherein it holds that the transmitting antenna in step d1 and the transmitting antenna in step d3 have different configurations, said configurations whether differences between these configurations are known and / or wherein the receiving antenna in step d2 and the receiving antenna in step d4 have mutually different configurations, said configurations or differences between these configurations being known; d5. determining the mutual distances between the transmitting antenna in step d1, the receiving antenna in step d2, the transmitting antenna in step d3 and the receiving antenna in step d4; d6 analyzing the signal S '(t), the signal S' (t), the mutual distances determined in step 25 d5, the known configurations of the transmitting antenna in step d1 and the known configuration of the receiving antenna in step d2, the known configurations of the transmitting antenna in step d3 and the known configurations of the receiving antenna in step d4 or the known differences of configurations of the antennas in steps d1, d2, d3 and d4 determine the first measure or the second measure.

A method according to claim 10, characterized in that the transmitting antenna in step a, the receiving antenna in step b, the transmitting antenna in step 5 d1 and the receiving antenna in step d2 have at least substantially the same position and thus an at least substantially the same distance to the have an object.

12. Method as claimed in any of the claims 5-8, characterized in that the first measure and / or the second measure in step d is determined by: dl. generating a static or varying magnetic field in the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the transmitting antenna in step a. has the same position as the transmitting antenna in step d1 and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same antenna as in step d1; D2. measuring the magnetic field at the transmitting antenna of step d1 using a magnetic field sensor; d3 determining the first measure and / or second measure on the basis of the magnetic field measured with the magnetic field sensor and on the basis of a predetermined model for the magnetic field instead of the magnetic field sensor for different values of the first size and / or the second size.

A method according to any one of claims 5-8, characterized in that the first measure and / or the second measure in step d is determined by: dl. generating a static or varying magnetic field in the object with the aid of a transmitting antenna, wherein the transmitting antenna in step a. has the same position as the transmitting antenna in step d1 and wherein in particular the transmitting antenna in step a. is the same antenna as in step d1; d2. measuring the magnetic field generated in step d1 with the aid of a first magnetic field sensor. at the transmitting antenna of step d1; d3 measuring with the aid of a second magnetic field sensor the magnetic field generated in step d1 wherein the second magnetic field sensor has a known position relative to the first magnetic field sensor; d4 determining the first measure and / or second measure on the basis of the magnetic field measured with the first magnetic field sensor, the magnetic field measured with the second magnetic field sensor, the predetermined position of the second magnetic field sensor relative to the magnetic field sensor first magnetic field sensor and on the basis of a predetermined model for the magnetic field at the location of the first magnetic field sensor and the magnetic field at the location of the second magnetic field sensor for different values of the first measure and / or the second measure.

A method according to any one of the preceding claims, characterized in that the first measure and / or the second measure are determined by performing distance measurements with the aid of a measuring means for measuring a distance between two points along a predetermined path between these points such as a tape measure or a laser distance meter. 20

Method according to one of the preceding claims, characterized in that in step c. a wall thickness of the object is determined.

Method according to claim 15, characterized in that in step c, 25 an amplitude of an expected signal V (t) in an object with a given wall thickness is determined on the basis of the first measure and / or second measure using a predetermined reference model and comparing the amplitude of V (t) and the amplitude of S (t) to determine whether the object has a wall thickness that is smaller than given wall thickness.

A method according to claim 15, characterized in that in step c. on the basis of the first measure M1 and / or second measure M2, information about the geometry of the antennas in step a. and the antenna in step b., the permeability μι and the conductivity σι of an area i (i = 1 , 2, ... n) of the object, an expected signal is determined to be the sum of signals Vi (t, di, M1 and / or M2, p1, ai) for at least substantially all n regions i (i = 1, 2, ... n) whose signals are received with the receiving antenna in step b, n values of di (i = 1, 2, ... n) being subsequently determined such that the signal S (t) corresponds with the sum of signals Vi (t, di, M1 and / or M2.1, μΐ, ai) for at least almost all n areas i (i = 1, 2, ... n) of which with the receiving antenna in step b be received. 15

A method according to any one of the preceding claims, characterized in that the object is provided with an electrically conductive part and an electrically insulating cover layer, wherein in step a the transmitting antenna is placed against or just above the cover layer and in step b the receiving antenna 20 is placed against or is placed just above the cover layer so that the first measure and the second measure are determined by a thickness of the cover layer.

19. Method as claimed in claim 18, characterized in that the first object is formed by a metal pipe with a covering layer arranged around the object or in that the object is formed by a metal road surface of, for example, a bridge with an object on the object. cover layer is applied such as asphalt.