NL1030618C2 - Equipment is used to test insulation layer of minimal invasive surgical instruments and comprises test unit in which instrument to be tested is positioned - Google Patents
Equipment is used to test insulation layer of minimal invasive surgical instruments and comprises test unit in which instrument to be tested is positioned Download PDFInfo
- Publication number
- NL1030618C2 NL1030618C2 NL1030618A NL1030618A NL1030618C2 NL 1030618 C2 NL1030618 C2 NL 1030618C2 NL 1030618 A NL1030618 A NL 1030618A NL 1030618 A NL1030618 A NL 1030618A NL 1030618 C2 NL1030618 C2 NL 1030618C2
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- instrument
- test
- tested
- test element
- insulation layer
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B17/00—Surgical instruments, devices or methods, e.g. tourniquets
- A61B2017/00681—Aspects not otherwise provided for
- A61B2017/00725—Calibration or performance testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/14—Measuring resistance by measuring current or voltage obtained from a reference source
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
Description
Testinrichting voor het testen van de isolatielaag van minimaal-invasieve chirurgische instrumenten 5 BESCHRIJVING:Test device for testing the insulation layer of minimally invasive surgical instruments 5 DESCRIPTION:
Gebied van de uitvinding.FIELD OF THE INVENTION
De uitvinding heeft betrekking op een testinrichting voor het testen van de 10 isolatielaag van minimaal-invasieve chirurgische instrumenten, omvattende een van een opening voorzien testelement dat tijdens gebruik om de isolatielaag van het te testen instrument aanwezig is, alsmede een spanningsbron voorzien van twee aansluitpolen waarvan tijdens gebruik een pool is aangesloten op het te testen instrument en de andere pool op het testelement, en detectiemiddelen die lekstromen detecteren tussen het te testen 15 instrument en het testelement door de isolatielaag van het te testen instrument heen.The invention relates to a test device for testing the isolation layer of minimally invasive surgical instruments, comprising an apertured test element which is in use around the isolation layer of the instrument to be tested, and a voltage source provided with two terminal poles of which during use one pole is connected to the instrument to be tested and the other pole to the test element, and detection means that detect leakage currents between the instrument to be tested and the test element through the insulation layer of the instrument to be tested.
In ziekenhuizen worden steeds meer operaties minimaal invasief uitgevoerd.More and more operations are being performed minimally invasively in hospitals.
Via enkele kleine openingen worden minimaal-invasieve chirurgische (MIC) instrumenten in de patiënt gestoken om van afstand chirurgische ingrepen te kunnen doen en te kunnen volgen met endoscopische (optische) systemen.Minimally invasive surgical (MIC) instruments are inserted into the patient through a few small openings in order to be able to perform surgical procedures from a distance and to follow them with endoscopic (optical) systems.
20 Bij een groot aantal van deze MIC-instrumenten wordt gebruik gemaakt van hoge, elektrische spanningen (typisch 3.000 tot 8.000 Volt). Bij het uiteinde van deze instrumenten, het deel dat in de patiënt zit, kan de chirurg met behulp van elektrische stromen snijden (diatemie) of juist dichtschroeien (coaguleren).A large number of these MIC instruments use high electrical voltages (typically 3,000 to 8,000 volts). At the end of these instruments, the part that is in the patient, the surgeon can use electrical currents to cut (diatom) or sear close (coagulate).
Een dunne isolatielaag om een groot deel van deze instrumenten, zorgt 25 ervoor dat de hoge spanningen niet op een verkeerde plek in het lichaam van de patiënt naar buiten kunnen treden en daar schade kunnen aanrichten. Deze isolatielaag degradeert echter onder invloed van ouderdom, veelvuldig en soms onjuist gebruik (bijv. door een instrument teveel te buigen) en niet op de laatste plaats door het reinigen ervan. Het reinigen gebeurt vaak in ultrasone wasmachines, het desinfecteren en steriliseren vindt bij hoge temperatuur 30 en druk plaats.A thin insulating layer around a large part of these instruments ensures that the high voltages cannot come out in the wrong place in the body of the patient and can cause damage there. However, this insulation layer degrades under the influence of age, frequent and sometimes incorrect use (for example, by bending an instrument too much) and not least by cleaning it. Cleaning is often done in ultrasonic washing machines, disinfecting and sterilizing takes place at high temperature and pressure.
Dat deze isolatielaag degradeert en tot gevaarlijke situaties zou kunnen leiden blijkt ook uit de inventarisatie die door de Werkgroep Endoscopische Chirurgie j 1030618 2 gedaan is. Van in totaal 1170 instrumenten uit 27 ziekenhuizen bleken ruim 18% ervan isolatiedefecten te vertonen, op een of meer plaatsen bij die instrumenten [Nederlands Tijdschrift Heelkunde, jaargang 12, nr. 5 oktober 2003].That this insulation layer degrades and could lead to dangerous situations is also apparent from the inventory made by the Endoscopic Surgery Working Group j 1030618 2. Of a total of 1170 instruments from 27 hospitals, more than 18% of them were found to have insulation defects at one or more places near those instruments [Nederlands Tijdschrift Heelkunde, volume 12, no. 5 October 2003].
5 Stand van de techniek.5 State of the art.
Een dergelijke testinrichting is algemeen bekend. Bij het bekende apparaat is het testelement ringvormig en dient tijdens gebruik het te testen instrument handmatig door de ring gestoken worden. Hierbij kan een isolatiefout niet ontdekt worden als het 10 instrument te snel door de ring bewogen wordt, bijvoorbeeld door haast of tijdsdruk of onachtzaamheid.Such a test device is generally known. With the known apparatus, the test element is annular and the instrument to be tested must be pushed through the ring manually during use. An isolation error cannot be detected here if the instrument is moved too quickly through the ring, for example due to rush or time pressure or negligence.
Samenvatting van de uitvinding.Summary of the invention.
15 Een doel van de uitvinding is het verschaffen van een testinrichting van de in de aanhef omschreven soort waarbij de gebruiker het testresultaat niet kan beïnvloeden.An object of the invention is to provide a test device of the type described in the preamble in which the user cannot influence the test result.
Hiertoe is de testinrichting volgens de uitvinding gekenmerkt, doordat het testelement buis-; of doosvormig is, waarbij de vorm van het testelement op het te testen instrument is afgestemd, zodanig dat bij aanwezigheid van het geïsoleerde deel van het te testen j | 20 instrument in het testelement een kleine luchtspleet tussen het testelement en het j geïsoleerde deel van het te testen instrument aanwezig is of het geïsoleerde deel van het te testen instrument nauw passend in het testelement aanwezig is.To this end, the test device according to the invention is characterized in that the test element is tubular; or box-shaped, the shape of the test element being matched to the instrument to be tested, such that in the presence of the insulated part of the test element | The instrument has a small air gap between the test element and the insulated part of the instrument to be tested or the insulated part of the instrument to be tested is closely fitted in the test element.
Het MIC-instrument wordt in de testinrichting volgens de uitvinding getest door het in een testelement te brengen dat met een kleine luchtspleet past om het 25 instrument, waarbij de isolatielaag geheel in het testelement verdwijnt. Het MIC-instrument wordt vervolgens aangesloten op de testspanning en het testelement wordt met aarde verbonden. Op deze manier wordt de isolatielaag over het gehele oppervlakte gedurende een in te stellen periode (typisch 5 seconden) aan een testspanning onderworpen. Zodra er door de isolatielaag een lekstroom gaat lopen, boven een instelbare drempelwaarde, wordt 30 deze gedetecteerd. Doordat het te testen instrument over de hele te testen lengte nauw passend in een testelement gebracht en met een afschermkap afgesloten wordt, kan de gebruiker het testresultaat niet beïnvloeden.The MIC instrument is tested in the test device according to the invention by inserting it into a test element that fits around the instrument with a small air gap, the insulation layer disappearing completely into the test element. The MIC instrument is then connected to the test voltage and the test element is connected to ground. In this way the insulating layer is subjected to a test voltage over the entire surface for a period to be set (typically 5 seconds). As soon as a leakage current starts to flow through the insulation layer, above an adjustable threshold value, this is detected. Because the instrument to be tested is tightly fitted into a test element over the entire length to be tested and closed with a protective cap, the user cannot influence the test result.
3 i j3 i j
Bij voorkeur is de spanningsbron van de testinrichting volgens de uitvinding gevormd door een hoogspanningsgenerator die voorzien is van een instelknop om de maximale gebruiksspanning in te stellen. Hoe hoger de spanning des te eerder worden de microscopisch kleine gaatjes ontdekt die (snel) daarna tot een isolatiedefect kunnen leiden.The voltage source of the test device according to the invention is preferably formed by a high-voltage generator which is provided with an adjusting knob for adjusting the maximum operating voltage. The higher the voltage, the sooner the microscopic holes are discovered that (soon) afterwards can lead to an insulation defect.
5 Met de instelknop kan de maximale gebruiksspanning, die voor het te testen instrument in de praktijk gebruikt wordt, ingesteld worden. Op basis hiervan wordt de daaraan gerelateerde testspanning berekend en ingesteld.5 The maximum operating voltage used for the instrument under test can be set with the adjustment knob. Based on this, the related test voltage is calculated and set.
Voorts heeft de testinrichting volgens de uitvinding bij voorkeur een verdere instelknop waarmee een drempelwaarde voor de te meten lekstroom ingesteld kan worden. 10 Lekstromen die kleiner zijn dan deze drempelwaarde vormen geen indicatie van een defecte isolatie.Furthermore, the test device according to the invention preferably has a further adjustment knob with which a threshold value for the leakage current to be measured can be set. Leakage currents that are smaller than this threshold value do not constitute an indication of defective insulation.
De testinrichting volgens de uitvinding heeft verder bij voorkeur een stroombegrenzer. Dankzij deze stroombegrenzing worden de lekstromen door kleine gaatjes in de te testen isolatielaag zodanig begrensd dat een aankomend lek wel gevonden wordt 15 maar niet tot definitief groot gat gebrand wordt.The test device according to the invention furthermore preferably has a current limiter. Thanks to this current limitation, the leakage currents are limited through small holes in the insulation layer to be tested so that an impending leak is found but is not burned to a definite large hole.
Voorts is het testelement van de testinrichting volgens de uitvinding bij voorkeur uitwisselbaar met een verder testelement met een andere vorm, bijvoorbeeld rechthoekig. Hierdoor kunnen instrumenten met verschillende vormen getest worden, bijvoorbeeld pincetten of het schaarhandvat van een MIC-instrument of het MIC-instrument 20 zelf.Furthermore, the test element of the test device according to the invention is preferably interchangeable with a further test element with a different shape, for example rectangular. This allows instruments with different shapes to be tested, such as tweezers or the scissors handle of an MIC instrument or the MIC instrument itself.
Een uitvoeringsvorm van de testinrichting volgens de uitvinding is gekenmerkt, doordat de testinrichting een afschermkap omvat, die tijdens gebruik de van een opening voorziene zijde van het testelement met een daaruit stekend, eventueel niet geïsoleerd, deel van het te testen instrument afschermt. Gedurende de test wordt het gehele 25 MIC-instrument afgeschermd door de afschermkap, zodat de gebruiker niet in contact kan komen met het instrument of de aangebrachte hoogspanning.An embodiment of the test device according to the invention is characterized in that the test device comprises a shielding cap which, during use, shields the side of the test element provided with an opening with a protruding, possibly uninsulated, part of the instrument to be tested. During the test, the entire MIC instrument is shielded by the shield, so that the user cannot come into contact with the instrument or the applied high voltage.
Bij de hierboven beschreven testmethode moet het (metalen) uiteinde van het MIC-instrument afgeschermd worden om te voorkomen dat er elektrische doorslag plaatsvindt omdat er anders een elektrische stroom ontstaat die onbedoeld als lekstroom 30 waargenomen zou worden. Daartoe wordt een nauw passend, elektrisch isolerend siliconen rubberslangetje (of iets vergelijkbaars) over het niet-geïsoleerde uiteinde geschoven. Omdat bij hoge testspanning (typisch 15 kV en hoger) elektrische doorslag plaatsvindt langs iedere 4 denkbare (kruip)weg door lucht, moet het siliconen slangetje niet alleen over het niet-geïsoleerde uiteinde geschoven worden maar ook nog 15 mm verder over de isolatielaag zelf. Hierdoor worden de laatste 15 mm niet getest.In the test method described above, the (metal) end of the MIC instrument must be shielded to prevent electrical breakdown because otherwise an electric current is created that would be inadvertently detected as leakage current. To this end, a tightly fitting, electrically insulating silicone rubber tube (or something similar) is slid over the non-insulated end. Because at high test voltage (typically 15 kV and higher) electrical breakdown occurs along every 4 conceivable (creep) path through air, the silicone tube must not only be slid over the non-insulated end but also 15 mm further over the insulation layer itself. As a result, the last 15 mm are not tested.
Een verdere uitvoeringsvorm van de testinrichting volgens de uitvinding die 5 een oplossing biedt voor het hiervoor genoemde nadeel is gekenmerkt, doordat de testinrichting voorts een teststaaf omvat waaromheen de van een te testen instrument afgenomen isolatielaag aangebracht kan worden, en die tijdens gebruik, in plaats van het te testen instrument, in het testelement gebracht wordt en op de spanningsbron aangesloten wordt. Bij voorkeur is de lengte van de teststaaf korter dan de lengte van de te testen 10 isolatielaag, en wel zoveel korter dat bij de ingestelde spanning geen lekstroom groter dan de ingestelde drempelwaarde gaat lopen via het open uiteinde van de isolatielaag.A further embodiment of the test device according to the invention which offers a solution for the aforementioned drawback is characterized in that the test device furthermore comprises a test rod around which the insulation layer taken from an instrument to be tested can be applied, and which during use, instead of the instrument to be tested is introduced into the test element and connected to the voltage source. The length of the test rod is preferably shorter than the length of the insulation layer to be tested, and so much shorter that no leakage current greater than the set threshold value will run via the open end of the insulation layer at the set voltage.
Dus in plaats van het metalen binnengedeelte van het MIC-instrument zelf wordt er een metalen teststaaf in de door de isolatielaag gevormde huls gestoken. Deze teststaaf is zoveel korter dan de isolatiehuls (typisch 15 mm) dat er net geen doorslag zal 15 optreden tussen het uiteinde van deze teststaaf en het holle metalen testelement van de testinrichting. Mocht er nu een isolatiedefect in het laatste deel van de isolatiehuls aanwezig zijn dan zal er alsnog een lekstroom geconstateerd worden die gaat lopen tussen het einde van de teststaaf, via het isolatiedefect naar het testelement toe.Thus, instead of the metal inner portion of the MIC instrument itself, a metal test rod is inserted into the sleeve formed by the insulating layer. This test rod is so much shorter than the insulating sleeve (typically 15 mm) that just no breakdown will occur between the end of this test rod and the hollow metal test element of the test device. If there is now an insulation defect present in the last part of the insulation sleeve, a leakage current will still be observed which will run between the end of the test rod and via the insulation defect to the test element.
Nog een verdere uitvoeringsvorm van de testinrichting volgens de uitvinding 20 is gekenmerkt, doordat de vorm van de teststaaf op de vorm van de isolatielaag van het te testen instrument aangepast is. De teststaaf kan dus elke gewenste vorm hebben. Bij voorkeur is er voor elk soort MIC-instrument een daarop aangepaste teststaafA still further embodiment of the test device according to the invention is characterized in that the shape of the test rod is adapted to the shape of the insulating layer of the instrument to be tested. The test rod can therefore have any desired shape. Preferably, there is a test rod adapted for each type of MIC instrument
Beknopte omschrijving van de tekeningen.Brief description of the drawings.
2525
Hieronder zal de uitvinding nader worden toegelicht aan de hand van een in de tekeningen weergegeven uitvoeringsvoorbeeld van de testinrichting volgens de uitvinding. Hierbij toont:The invention will be explained in more detail below with reference to an exemplary embodiment of the test device according to the invention shown in the drawings. Hereby shows:
Figuur 1 een uitvoeringsvorm van de testinrichting volgens de uitvinding in 30 doorsnede tijdens het testen van een MIC-instrument;Figure 1 shows an embodiment of the test device according to the invention in section during the testing of an MIC instrument;
Figuur 2 de testinrichting tijdens het testen met behulp van een teststaaf;Figure 2 shows the test device during testing using a test rod;
Figuur 3 de testinrichting in perspectief met geopende afschermkap; en 5Figure 3 shows the test device in perspective with the cover open; and 5
Figuur 4 de testinrichting in perspectief met gesloten afschermkap. Gedetailleerde omschrijving van de tekeningen.Figure 4 shows the test device in perspective with the protective cover closed. Detailed description of the drawings.
5 In figuur 1 is een uitvoeringsvorm van de testinrichting 1 volgens de uitvinding in doorsnede weergegeven tijdens het testen van een MIC-instrument 3. Het MIC-instrument heeft een schaarhandvat 5 met daaraan een lange metalen pen 7 voorzien van een dunne, elektrische isolatielaag 9 en aan het uiteinde een gebogen draad 11, zonder isolatielaag. Het niet geïsoleerde uiteinde van het MIC-instrument is afgedekt door een 10 rubberen kous 13 die tot over het einde van de isolatielaag 9 is aangebracht om te voorkomen dat lekstromen via het niet geïsoleerde einde gaan lopen.Figure 1 shows an embodiment of the test device 1 according to the invention in cross section during testing of an MIC instrument 3. The MIC instrument has a scissor handle 5 with a long metal pin 7 provided with a thin, electrical insulating layer 9 thereon and at the end a curved wire 11, without an insulating layer. The uninsulated end of the MIC instrument is covered by a rubber sleeve 13 which is arranged over the end of the insulation layer 9 to prevent leakage currents from running through the uninsulated end.
De testinrichting 1 heeft een behuizing 15 in de vorm van een kast en een daarin aanwezige aan de bovenzijde open bak 17 waarin een testruimte 19 aanwezig is. In de testruimte is een testelement 23 aanwezig dat aan het deksel is opgehangen en waarin 15 tijdens gebruik het te testen MIC-instrument 3 aanwezig is.The test device 1 has a housing 15 in the form of a cabinet and a container 17 present therein at the top, in which a test space 19 is present. A test element 23 is present in the test space, which element is suspended from the cover and in which the MIC instrument 3 to be tested is present during use.
Het testelement 23 is buisvormig, hier in de vorm van een aan de bovenzijde open cilinder, de vorm ervan is op het te testen instrument 3 afgestemd, zodanig dat een kleine luchtspleet 25 tussen het testelement 23 en het geïsoleerde deel 7 van het te testen instrument aanwezig is. Het testelement is uitwisselbaar met andere testelementen met een 20 andere vorm voor het testen van andersvormige MIC-instrumenten.The test element 23 is tubular, here in the form of a cylinder open at the top, its shape is adapted to the instrument 3 to be tested, such that a small air gap 25 between the test element 23 and the insulated part 7 of the instrument to be tested is present. The test element is interchangeable with other test elements with a different shape for testing differently shaped MIC instruments.
In de behuizing 15 is een spanningsbron aanwezig in de vorm van een hoogspanningsgenerator 27, die voorzien is van een instelknop 29 om de maximale gebruiksspanning in te stellen. Het MIC-instrument 3 is aangesloten op de testspanning en het testelement is met aarde verbonden. De isolatielaag 9 is geheel in het testelement 23 25 aanwezig en wordt over het gehele oppervlak gedurende een ingestelde periode van bijvoorbeeld 5 seconden aan de testspanning onderworpen.A voltage source is present in the housing 15 in the form of a high-voltage generator 27, which is provided with an adjusting knob 29 for adjusting the maximum operating voltage. The MIC instrument 3 is connected to the test voltage and the test element is connected to ground. The insulating layer 9 is entirely present in the test element 23 and is subjected to the test voltage over the entire surface for a set period of, for example, 5 seconds.
Zodra er door de isolatielaag een lekstroom gaat lopen, boven een instelbare drempelwaarde, wordt deze gedetecteerd door detectiemiddelen 31. Deze detecteren de lekstromen tussen het te testen MIC-instrument 3 en het testelement 23, door de isolatielaag 30 9 van het te testen MIC-instrument heen. De detectiemiddelen 31 zijn voorzien van een verdere instelknop 33 waarmee een drempelwaarde voor de te meten lekstroom ingesteld kan worden. Dankzij een energiebegrenzing 35 in de testinrichting worden de lekstromen 6 door kleine gaatjes in de isolatielaag zodanig begrensd, dat een aankomend lek wel gevonden wordt maar niet tot definitief groot gat gebrand wordt.As soon as a leakage current starts to flow through the insulation layer, above an adjustable threshold value, it is detected by detection means 31. These detect the leakage currents between the MIC instrument 3 to be tested and the test element 23, through the isolation layer 30 of the MIC to be tested. instrument. The detection means 31 are provided with a further setting button 33 with which a threshold value for the leakage current to be measured can be set. Thanks to an energy limitation 35 in the test device, the leakage currents 6 are limited by small holes in the insulating layer such that an upcoming leak is found but is not burned to a definitively large hole.
Om te voorkomen dat de gebruiker tijdens gebruik in contact kan komen met het MIC-instrument 3 of de aangebrachte hoogspanning is een afschermkap 37 aanwezig, 5 die tijdens gebruik de van een opening voorziene zijde van het testelement 23 met het daaruit stekend, niet geïsoleerd deel van het te testen MIC-instrument 3 afschermt.In order to prevent the user from coming into contact with the MIC instrument 3 or the applied high voltage during use, a protective cap 37 is present which, during use, the opening side of the test element 23 with the non-insulated part protruding from it from the MIC instrument 3 to be tested.
De goede werking van de isolatielaag 9 kan getest worden met behulp van de testinrichting 1 die met zeer hoge elektrische spanning naar scheurtjes en gaatjes zoekt.The proper functioning of the insulation layer 9 can be tested with the aid of the test device 1 which searches for cracks and holes with very high electrical voltage.
Hoe hoger de spanning des te eerder worden de microscopisch kleine gaatjes ontdekt die 10 daarna tot een isolatiedefect kunnen leiden.The higher the voltage, the sooner the microscopically small holes are discovered that can subsequently lead to an insulation defect.
In figuur 2 is de testinrichting 1 weergegeven tijdens het testen van de isolatiehuls die de isolatielaag 9 van het in figuur 1 geteste MIC-instrument vormt. Echter, in plaats van het langwerpige metalen deel van het MIC-instrument is nu een teststaaf 39 in de isolatiehuls aangebracht die 15 mm korter is dan de isolatiehuls. De spanning en de 15 drempelwaarde van de kleinst detecteerbare lekstroom worden hierbij zodanig ingesteld dat net geen lekstroom gaat lopen via het open uiteinde van de isolatiehuls.Figure 2 shows the testing device 1 during testing of the insulating sleeve that forms the insulating layer 9 of the MIC instrument tested in Figure 1. However, instead of the elongated metal part of the MIC instrument, a test rod 39 is now arranged in the insulating sleeve which is 15 mm shorter than the insulating sleeve. The voltage and the threshold value of the smallest detectable leakage current are hereby set such that just no leakage current starts to flow via the open end of the insulation sleeve.
In de figuren 3 en 4 is de testinrichting 1 in perspectief weergegeven met geopende respectievelijk gesloten afschermkap 37.Figures 3 and 4 show the test device 1 in perspective with opened and closed protective cover 37, respectively.
Hoewel in het voorgaande de uitvinding is toegelicht aan de hand van de 20 tekeningen, dient te worden vastgesteld dat de uitvinding geenszins tot de in de tekeningen getoonde uitvoeringsvorm is beperkt. De uitvinding strekt zich mede uit tot alle van de in de tekeningen getoonde uitvoeringsvorm afwijkende uitvoeringsvormen binnen het door de conclusies gedefinieerde kader.Although in the foregoing the invention has been elucidated with reference to the drawings, it should be noted that the invention is by no means limited to the embodiment shown in the drawings. The invention also extends to all embodiments deviating from the embodiment shown in the drawings within the scope defined by the claims.
jj
Claims (7)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL1030618A NL1030618C2 (en) | 2005-12-08 | 2005-12-08 | Equipment is used to test insulation layer of minimal invasive surgical instruments and comprises test unit in which instrument to be tested is positioned |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL1030618A NL1030618C2 (en) | 2005-12-08 | 2005-12-08 | Equipment is used to test insulation layer of minimal invasive surgical instruments and comprises test unit in which instrument to be tested is positioned |
| NL1030618 | 2005-12-08 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL1030618C2 true NL1030618C2 (en) | 2007-06-11 |
Family
ID=36778919
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL1030618A NL1030618C2 (en) | 2005-12-08 | 2005-12-08 | Equipment is used to test insulation layer of minimal invasive surgical instruments and comprises test unit in which instrument to be tested is positioned |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| NL (1) | NL1030618C2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103901276A (en) * | 2012-12-27 | 2014-07-02 | 中国石油天然气股份有限公司 | Measurement device and method for detecting oilpaper conductivity in high-voltage DC electric field |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09167637A (en) * | 1995-12-15 | 1997-06-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Short circuit detecting method of cylindrical battery |
| US5936536A (en) * | 1997-04-08 | 1999-08-10 | Medicor Corporation | Electrical insulation testing device and method for electrosurgical instruments |
-
2005
- 2005-12-08 NL NL1030618A patent/NL1030618C2/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09167637A (en) * | 1995-12-15 | 1997-06-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Short circuit detecting method of cylindrical battery |
| US5936536A (en) * | 1997-04-08 | 1999-08-10 | Medicor Corporation | Electrical insulation testing device and method for electrosurgical instruments |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 1997, no. 10 31 October 1997 (1997-10-31) * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103901276A (en) * | 2012-12-27 | 2014-07-02 | 中国石油天然气股份有限公司 | Measurement device and method for detecting oilpaper conductivity in high-voltage DC electric field |
| CN103901276B (en) * | 2012-12-27 | 2016-09-07 | 中国石油天然气股份有限公司 | A kind of measurement Apparatus and method in high-voltage dc detection oilpaper electrical conductivity |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7422589B2 (en) | System and method for performing an electrosurgical procedure | |
| US20060041251A1 (en) | Electrosurgical system and method | |
| US20110077642A1 (en) | Plasma applicators for plasma-surgical methods | |
| US8758336B2 (en) | System and method for monitoring electrosurgical systems | |
| JP4658929B2 (en) | Electrosurgical instrument for endoscope or catheter | |
| US20020177848A1 (en) | Electrosurgical working end for sealing tissue | |
| US8100897B2 (en) | Laparoscopic electrosurgical electrical leakage detection | |
| JP2017521188A (en) | Electrosurgical system and electrosurgical method with enhanced arc prevention | |
| KR20180040670A (en) | Electrosurgical generator and method | |
| JP2017529977A (en) | Determination of tissue type | |
| KR100603777B1 (en) | Endoscope Power Supplying Appliance | |
| KR20010006173A (en) | An electrical insulation testing device and method for electrosurgical instruments | |
| CN110609218A (en) | Partial discharge synthesizer | |
| EP3192467B1 (en) | Bipolar sphincterotome | |
| WO1996019144A1 (en) | Biopsy forceps for obtaining tissue specimen and optionally for coagulation | |
| Vanpoucke et al. | Assessing the placement of a cochlear electrode array by multidimensional scaling | |
| NL1030618C2 (en) | Equipment is used to test insulation layer of minimal invasive surgical instruments and comprises test unit in which instrument to be tested is positioned | |
| JP7348194B2 (en) | Devices and methods for testing and inspecting the integrity of autoinjectors | |
| JP2017525531A (en) | Surgical instruments | |
| US20220257105A1 (en) | Methods and systems for providing plasma treatments to optical surfaces | |
| JP2020520717A5 (en) | ||
| US7611510B2 (en) | APC dual mode LEEP apparatus and method | |
| CN108348290B (en) | Device for receiving a specimen in an extraction bag | |
| JP7254089B2 (en) | Recurrence prediction technology for cancerous cells using impedance detection | |
| US20140257036A1 (en) | Method And Device For Detecting Thermal Effects Of Tissue Ablation On A Tissue Of A Patient |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PD2B | A search report has been drawn up | ||
| V1 | Lapsed because of non-payment of the annual fee |
Effective date: 20110701 |