MD689Z - Bolometru supraconductor - Google Patents
Bolometru supraconductor Download PDFInfo
- Publication number
- MD689Z MD689Z MDS20130029A MDS20130029A MD689Z MD 689 Z MD689 Z MD 689Z MD S20130029 A MDS20130029 A MD S20130029A MD S20130029 A MDS20130029 A MD S20130029A MD 689 Z MD689 Z MD 689Z
- Authority
- MD
- Moldova
- Prior art keywords
- superconducting
- sensitive element
- bolometer
- semiconductor material
- xgaxte
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Invenţia se referă la receptoare de radiaţie cu răcire pentru măsurarea fluxurilor slabe de radiaţie din diapazonul de lungimi de unde milimetrice şi submilimetrice.Bolometrul supraconductor conţine un criostat de heliu, în care este amplasat un regulator de temperatură şi un element sensibil, executat dintr-un semiconductor supraconductor, la care este conectat un dispozitiv de înregistrare. Elementul sensibil este executat în formă de peliculă monocristalină din telurură de staniu dopată cu galiu Sn1-xGaxTe, unde x=0,01...0,0225, obţinută prin depunerea materialului semiconductor supraconductor pe un substrat de fluorură de bariu BaF2.
Description
Invenţia se referă la receptoare de radiaţie cu răcire pentru măsurarea fluxurilor slabe de radiaţie din diapazonul de lungimi de unde milimetrice şi submilimetrice.
Este cunoscut un bolometru, care conţine un criostat de heliu cu un regulator de temperatură, în care este amplasat un element sensibil supraconductor în formă de fir monocristalin, executat dintr-un semiconductor de telurură de plumb dopată cu taliu Pb1-xTlxTe, unde x=0,01…0,0225, la care este conectat un dispozitiv de înregistrare. Funcţionarea dispozitivelor de acest tip se bazează pe faptul că sub influenţa radiaţiei are loc încălzirea elementului supraconductor şi, astfel, se modifică rezistenţa în regiunea trecerii materialului în starea supraconductibilă [1].
Dezavantajele acestui bolometru constau în faptul că acesta, fiind fabricat pe baza unui fir monocristalin, necesită aplicarea unor metode speciale de fixare a contactelor pentru excluderea plesnirii firului de-a lungul planului de clivaj [100] din cauza valorii mari a coeficientului de dilatare termică, totodată taliul folosit în calitate de dopant este un material toxic.
Problema pe care o rezolvă invenţia constă în fabricarea unui bolometru rezistent la dilatări termice, precum şi în excluderea utilizării materialului toxic.
Bolometrul supraconductor, conform invenţiei, înlătură dezavantajele menţionate mai sus prin aceea că conţine un criostat de heliu, în care este amplasat un regulator de temperatură şi un element sensibil, executat dintr-un semiconductor supraconductor, la care este conectat un dispozitiv de înregistrare. Elementul sensibil este executat în formă de peliculă monocristalină din telurură de staniu dopată cu galiu Sn1-xGaxTe, unde x=0,01...0,0225, obţinută prin depunerea materialului semiconductor supraconductor pe un substrat de fluorură de bariu BaF2.
În dispozitivul propus pentru detectarea fluxurilor de radiaţie infraroşie se foloseşte proprietatea interioară specifică a Sn1-xGaxTe, unde x=0,01...0,0225, din care este fabricat elementul sensibil, şi anume apariţia stării supraconductoare în materialul semiconductor SnTe<Ga>, care este determinată de următoarele: doparea telururii de staniu cu galiu duce la formarea benzii cvasilocale cu densitatea mare a stărilor în zona de valenţă (îndepărtată de vârf la 0,1 eV cu lăţimea de 5...10 meV) pe fondul spectrului permis. Anume existenţa benzii cvasilocale cu densitatea mare a stărilor în zona de valenţă şi explică toată gama, inclusiv starea supraconductoare în telurura de staniu dopată cu galiu.
Invenţia se explică prin desenele din fig. 1-2, care reprezintă:
– fig. 1, schema-bloc a bolometrului supraconductor;
– fig. 2, graficul dependenţei rezistenţei de temperatura elementului sensibil.
În fig. 1 este prezentată schema-bloc a bolometrului supraconductor propus. În criostatul de heliu 1 este amplasat elementul sensibil 2 în formă de peliculă monocristalină de telurură de staniu dopată cu galiu Sn1-xGaxTe, unde x=0,01...0,0225, obţinută prin depunerea materialului semiconductor supraconductor SnTe<Ga> pe substratul de fluorură de bariu BaF2, conectat cu dispozitivul de înregistrare 4. Elementul sensibil este plasat în sistemul 3, pentru reglarea şi controlul temperaturii lui de lucru.
Funcţionarea bolometrului este bazată pe dependenţa rezistenţei electrice de temperatura elementului sensibil, şi anume se foloseşte trecerea elementului sensibil în starea supraconductibilă cu alegerea punctului de lucru la mijlocul acestei treceri, care se atinge prin micşorarea temperaturii până la T ≈ 3,25K, când dR/dT este de sute de ori mai mare decât mărimea dR/dT în regimul semiconductor şi, prin urmare, creşte de sute de ori sensibilitatea elementului sensibil.
Trecerea din starea supraconductoare în cea normală a elementului sensibil poate fi folosită ca semnal de trecere a mărimii puterii radiaţiei peste valoarea critică. În domeniul stării normale a elementului sensibil dispozitivul se foloseşte de asemenea pentru măsurarea radiaţiei, deoarece rezistenţa lui are dependenţa rezistenţei de temperatură caracteristică pentru semiconductori.
În fig. 2 este prezentată dependenţa caracteristică rezistenţei de temperatură R(T) a elementului sensibil de Sn1-xGaxTe, unde x=0,01...0,0225, cu evidenţierea punctului de lucru al dispozitivului propus.
A fost executat un prototip experimental, care conţine elementul sensibil în formă de peliculă monocristalină din Sn0,98Ga0,02Te, obţinut prin depunerea materialului semiconductor supraconductor SnTe<Ga> pe substratul de fluorură de bariu BaF2, care include următoarele proceduri tehnologice:
– depunerea materialului semiconductor supraconductor SnTe<Ga> se execută pe substratul de fluorură de bariu BaF2, cu orientarea cristalină selectată, de exemplu, (111), (100) sau (110), în camera de creştere a instalaţiei de epitaxie moleculară cu fascicul (vid la nivelul de 10-11mm ai coloanei de mercur);
– depunerea materialului semiconductor supraconductor SnTe<Ga> se execută prin evaporarea din trei celule de tipul Knudsen, care au fost încărcate cu SnTe, Ga şi Te;
– controlul compoziţiei şi al grosimii stratului se execută cu ajutorul aparatelor, cu care este dotată instalaţia;
– studiul proprietăţilor electrofizice ale probelor de material semiconductor supraconductor SnTe<Ga> se execută la temperaturi joase în intervalul 0,4...4,2K;
– fabricarea elementului sensibil se efectuează prin scribing (incizia şi ruperea ulterioară).
În calitate de sursă a radiaţiei infraroşii se foloseşte rezistorul, radiaţia căruia se determină prin curentul care se scurge prin el. Totodată unicul parametru de lucru al dispozitivului este rezistenţa elementului sensibil.
Datorită gamei largi de detectare a radiaţiei infraroşii a bolometrului supraconductor este posibil de a folosi bolometrul în scopul înregistrării semnalelor infraroşii, obţinerii imaginii termice a diferitelor obiecte cu o variaţie mare a intensităţii, de exemplu, la filmarea suprafeţei pământului, apei, în diferite reţele opto-electronice de măsurare, circuite de comandă automată şi monitorizare a radiaţiei, etc.
1. MD 3436 B2 2007.11.30
Claims (1)
- Bolometru supraconductor, care conţine un criostat de heliu, în care este amplasat un regulator de temperatură şi un element sensibil, executat dintr-un semiconductor supraconductor, la care este conectat un dispozitiv de înregistrare, caracterizat prin aceea că elementul sensibil este executat în formă de peliculă monocristalină din telurură de staniu dopată cu galiu Sn1-xGaxTe, unde x=0,01...0,0225, obţinută prin depunerea materialului semiconductor supraconductor pe un substrat de fluorură de bariu BaF2.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20130029A MD689Z (ro) | 2013-02-22 | 2013-02-22 | Bolometru supraconductor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20130029A MD689Z (ro) | 2013-02-22 | 2013-02-22 | Bolometru supraconductor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| MD689Y MD689Y (ro) | 2013-10-31 |
| MD689Z true MD689Z (ro) | 2014-05-31 |
Family
ID=49549979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| MDS20130029A MD689Z (ro) | 2013-02-22 | 2013-02-22 | Bolometru supraconductor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| MD (1) | MD689Z (ro) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MD3436B2 (ro) * | 2005-04-25 | 2007-11-30 | Institutul De Inginerie Electronica Si Tehnologiiindustriale Al Academiei De Stiinte A Moldovei | Bolometru |
| MD340Z (ro) * | 2010-04-23 | 2011-09-30 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий | Bolometru |
| MD471Z (ro) * | 2011-05-17 | 2012-08-31 | ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ | Bolometru pe tranziţia metal-izolator |
-
2013
- 2013-02-22 MD MDS20130029A patent/MD689Z/ro not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MD3436B2 (ro) * | 2005-04-25 | 2007-11-30 | Institutul De Inginerie Electronica Si Tehnologiiindustriale Al Academiei De Stiinte A Moldovei | Bolometru |
| MD340Z (ro) * | 2010-04-23 | 2011-09-30 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий | Bolometru |
| MD471Z (ro) * | 2011-05-17 | 2012-08-31 | ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ | Bolometru pe tranziţia metal-izolator |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| MD689Y (ro) | 2013-10-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Nakagomi et al. | β‐Ga2O3/p‐type 4H‐SiC heterojunction diodes and applications to deep‐UV photodiodes | |
| EP0177918A2 (en) | UV detector and method for fabricating it | |
| Yu et al. | MgZnO avalanche photodetectors realized in Schottky structures | |
| Ding et al. | Ultraviolet photodetector based on heterojunction of n-ZnO microwire/p-GaN film | |
| Zhang et al. | Gas source MBE grown wavelength extended 2.2 and 2.5 μm InGaAs PIN photodetectors | |
| Bhardwaj et al. | Sb-doped $ p $-MgZnO/$ n $-Si heterojunction UV photodetector fabricated by dual ion beam sputtering | |
| Roul et al. | Highly responsive ZnO/AlN/Si heterostructure-based infrared-and visible-blind ultraviolet photodetectors with high rejection ratio | |
| Zhang et al. | Wavelength extended 2.4 μm heterojunction InGaAs photodiodes with InAlAs cap and linearly graded buffer layers suitable for both front and back illuminations | |
| Al-Hardan et al. | Low power consumption UV sensor based on n-ZnO/p-Si junctions | |
| Barros et al. | Electrical and optical properties of PbTe pn junction infrared sensors | |
| Rakhshani et al. | Deep energy levels and photoelectrical properties of thin cuprous oxide films | |
| Cherroun et al. | Study of a solar-blind photodetector based on an IZTO/β-Ga2O3/ITO Schottky diode | |
| Placzek-Popko et al. | Deep traps and photo-electric properties of p-Si/MgO/n-Zn1− xMgxO heterojunction | |
| Pan et al. | A ZnO-based programmable UV detection integrated circuit unit | |
| Hernandez-Como et al. | Low-temperature processed ZnO and CdS photodetectors deposited by pulsed laser deposition | |
| MD689Z (ro) | Bolometru supraconductor | |
| Sorianello et al. | Spin‐on‐dopant phosphorus diffusion in germanium thin films for near‐infrared detectors | |
| Dalapati et al. | Influence of temperature on tunneling-enhanced recombination in Si based p—i—n photodiodes | |
| Averin et al. | Selectively‐sensitive metal‐semiconductor‐metal photodetectors based on AlGaN/AlN and ZnCdS/GaP heterostructures | |
| Voitsekhovskii et al. | Special Features of Admittance in Mis Structures Based on Graded-Gap MBE n-Hg1–x Cd x Te (x= 0.31–0.32) in a Temperature Range OF 8–300 K | |
| Zebbar et al. | Properties of ZnO thin films grown on Si substrates by ultrasonic spray and ZnO/Si heterojunctions | |
| Matthus et al. | Implementation of 4H-SiC PiN-diodes as nearly linear temperature sensors up to 800 K towards SiC multi-sensor integration | |
| Bertram et al. | Electrical Characterization of Defects in Cu-Rich Grown CuInSe $ _ {\text {2}} $ Solar Cells | |
| Mazzillo et al. | Impact of the epilayer doping on the performanceof thin metal film Ni2Si/4H-SiC Schottky photodiodes | |
| Zhang et al. | Characterization of CdMnTe crystal grown with vertical Bridgman method under Te‐rich conditions |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG9Y | Short term patent issued | ||
| KA4Y | Short-term patent lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration) |