LU86332A1 - CROSS-SECTION THICKNESS PROFILE MEASUREMENT ASSEMBLY - Google Patents
CROSS-SECTION THICKNESS PROFILE MEASUREMENT ASSEMBLY Download PDFInfo
- Publication number
- LU86332A1 LU86332A1 LU86332A LU86332A LU86332A1 LU 86332 A1 LU86332 A1 LU 86332A1 LU 86332 A LU86332 A LU 86332A LU 86332 A LU86332 A LU 86332A LU 86332 A1 LU86332 A1 LU 86332A1
- Authority
- LU
- Luxembourg
- Prior art keywords
- product
- detectors
- profile
- detection device
- measuring assembly
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/04—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
- G01B15/045—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures by measuring absorption
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Paper (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
; .. . ‘ *; ... ‘*
Ensemble de mesure du profil transversal d'épaisseur d'un produitSet for measuring the transverse thickness profile of a product
La présente invention concerne la mesure du profil transversal d'épaisseur d'un produit.The present invention relates to the measurement of the transverse thickness profile of a product.
05 Le domaine d'application de l'invention est plus particulièrement, nais non exclusivement, celui de la mesure en continu du profil d'épaisseur de produits plats en défilement, tels que des produits métallurgiques laminés en bandes ou en plaques.05 The field of application of the invention is more particularly, but not exclusively, that of the continuous measurement of the thickness profile of flat products in movement, such as metallurgical products rolled into strips or plates.
10 Dans le cas de bandes laminées à chaud, il est particulièrement important de disposer d'informations relatives à la forme générale du profil d'épaisseur, c'est-à-dire de savoir si le profil a une forme en bosse, en creux ou en coin. Il est également important de connaître la forme particulière du profil 15 en rives, ceci afin de déterminer la chute de rives. De plus, la détection d'accidents du profil, tels que les lignes brillantes dues à des surépaisseurs locales présente m intérêt certain.10 In the case of hot-rolled strips, it is particularly important to have information relating to the general shape of the thickness profile, that is to say whether the profile has a bump, hollow shape. or in the corner. It is also important to know the particular shape of the profile 15 on the banks, this in order to determine the fall of the banks. In addition, the detection of profile accidents, such as shiny lines due to local excess thickness is of certain interest.
Dans le passé, les mesures de profil d'épaisseur étaient réalisées sur des échantillons du produit, en dehors de la ligne 20 de laminage, au moyen de prcfilomètres manuels à contact.In the past, thickness profile measurements were made on product samples, outside of the rolling line, using manual contact precometers.
Compte-tenu de 1'intérêt évident de disposer d'informations rapides en vue de contrôles et de réglages, des appareils ont été développés pour permettre une mesure de profil d'épaisseur sans contact sur une bande laminée à chaud en 25 défilement.In view of the obvious advantage of having rapid information available for checks and adjustments, devices have been developed to allow a measurement of thickness profile without contact on a hot-rolled strip in movement.
Un appareil connu de ce type comporte une source de rayons X et un détecteur correspondant placés en regard l'un de l'autre sur les deux branches d'un support en forme de C déplacé transversalement par rapport à la bande défilant entre les 30 branches du support. Le signal de cette jauge mobile est corrigé au moyen de celui fourni par une jauge fixe comprenant une source et un détecteur fixes de rayons X placés sensiblement à mi-largeur de la bande.A known device of this type comprises an X-ray source and a corresponding detector placed opposite one another on the two branches of a C-shaped support moved transversely relative to the strip running between the 30 branches support. The signal of this movable gauge is corrected by means of that provided by a fixed gauge comprising a fixed source and a detector of X-rays placed substantially at mid-width of the strip.
Cet appareil constitue bien entendu un progrès important 35 par rapport aux techniques pré-existantes, mais il est d'un coût t ï ' . 2 très élevé et ne répond encore qu'imparfaitement aux besoins. Ainsi, un compromis entre sensibilité et temps de réponse conduit à une résolution en largeur de 6 mm avec une vitesse de déplacement transversal inférieure à 0,3 m/s. Or, les bandes 05 laminées à chaud font typiquement de 700 à 2100 mm de large et sortent du train à bandes à une vitesse par exemple de 15 m/s. Aussi, l'appareil précité n'autorise que quelques mesures de profil le long d'une bande. De plus, l'épaisseur en rives ne peut être mesurée à moins de 25 mm des bords et la détection des bandes 10 brillantes formées par des surépaisseurs de moins de 10 μπι reste problématique. Enfin, et ce n'est pas le moindre problème, le déplacement alternatif de l'appareil par rapport à la bande n'est pas simple à réaliser.This device is of course an important advance over the pre-existing techniques, but it is costly. 2 very high and still meets imperfect needs only. Thus, a compromise between sensitivity and response time leads to a width resolution of 6 mm with a transverse displacement speed of less than 0.3 m / s. However, the hot-rolled strips 05 are typically 700 to 2100 mm wide and exit the strip train at a speed of, for example, 15 m / s. Also, the above-mentioned device only allows a few profile measurements along a strip. In addition, the thickness on the edges cannot be measured within 25 mm of the edges and the detection of the shiny strips 10 formed by excess thicknesses of less than 10 μπι remains problematic. Finally, and this is not the least problem, the alternative movement of the device relative to the tape is not easy to achieve.
Il a été proposé de perfectionner ces appareils connus en 15 remplaçant le détecteur mobile par un scintillateur fixe s'étendant sur toute la largeur de la bande. Toutefois, il reste nécessaire de mouvoir la source de rayons >" et le niveau de résolution obtenu reste encore insuffisant.It has been proposed to improve these known devices by replacing the mobile detector with a fixed scintillator extending over the entire width of the strip. However, it remains necessary to move the ray source> "and the level of resolution obtained is still insufficient.
Le besoin de mesure du profil transversal d'épaisseur ne 20 se fait pas uniquement sentir pour les bandes laminées à chaud. Ainsi, il est utile d'effectuer cette mesure sur des bandes laminées à froid bien qu'un contrôle du profil soit réalisé en amont, sur le train à chaud, où une action correctrice est possible. Par exemple, dans le cas de lignes à décapage, il peut 25 être préféré de contrôler le produit à l'entrée, dans des conditions plus favorables à la mesure que sur un train à chaud.The need to measure the transverse thickness profile is not only felt for the hot-rolled strips. Thus, it is useful to carry out this measurement on cold rolled strips although a control of the profile is carried out upstream, on the hot train, where a corrective action is possible. For example, in the case of pickling lines, it may be preferred to control the product on entry, under conditions more favorable to measurement than on a hot train.
La -esure du profil peut aussi être nécessaire dans des cas particuliers tels que : existence de tolérances serrées sur le profil de tôles vendues décapées, besoin de connaître le profil 30 d'entrée pour le réglage du train ou mesure en sortie d'un train-tandem en complément d'une mesure de planéité. Il est également souhaitable de pouvoir détecter les lignes brillantes et ce avec plus de finesse qu'à chaud puisqu'elles ont une épaisseur plus , limitée, par exemple jusqu'à 3 pm et une largeur plus faible, par 35 exemple jusqu'à 5 mm. Enfin, d'une façon générale, un contrôle de 3 * > 1 1 profil du produit fini peut constituer un argument commercial efficace.Profile measurement may also be necessary in special cases such as: existence of tight tolerances on the profile of sheets sold pickled, need to know the input profile for adjusting the train or measuring at the output of a train -tandem in addition to a flatness measurement. It is also desirable to be able to detect the shiny lines and this with more finesse than with heat since they have a more, limited thickness, for example up to 3 μm and a narrower width, for example up to 5 mm. Finally, in general, a control of 3 *> 1 1 profile of the finished product can constitute an effective commercial argument.
Peur la mesure du profil transversal d'épaisseur de bandes laminées à froid, on utilise généralement un profilomètre à 05 contact, la bande étant à l'arrêt. Il existe aussi des appareils utilisant une jauge à rayons X avec une source et un détecteur déplacés d'une rive à l'autre de la bande, de part et d'autre de celle-ci. Avec ces appareils connus, la mesure est effectuée sur la bande à l'arrêt, par exemple devant une fosse à boucle. Ainsi, 10 ces techniques connues présentent-elles l'inconvénient majeur de ne pas autoriser une mesure en continu sur les bandes en défilement.In order to measure the transverse thickness profile of cold-rolled strips, a 05 contact profilometer is generally used, the strip being stopped. There are also devices using an X-ray gauge with a source and a detector moved from one bank to the other of the strip, on either side of it. With these known devices, the measurement is carried out on the stationary tape, for example in front of a loop pit. Thus, these known techniques have the major drawback of not allowing continuous measurement on the moving bands.
La mesure du profil transversal en épaisseur est encore utile en tôlerie forte, c'est-à-dire pour des tôles pouvant 15 atteindre 100 ron d'épaisseur et 4500 mm de largeur. A cet effet, il est actuellemnt utilisé des jauges à rayonnement, souvent à rayons gamma, qui sont doublées et qui réalisent simultanément deux mesures à des distances prédéterminées du bord. Le profil est estimé par une approximation parabolique, :e qui ne permet pas une 20 précision élevée.The measurement of the transverse thickness profile is still useful in heavy sheet metal, that is to say for sheets up to 100 ron thick and 4500 mm wide. For this purpose, it is currently used radiation gauges, often gamma rays, which are doubled and which simultaneously perform two measurements at predetermined distances from the edge. The profile is estimated by a parabolic approximation,: e which does not allow high precision.
La présente invention a pour objet de fournir un ensemble de mesure qui offre, par rapport aux systèmes existants évoqués plus haut, des avantages essentiels parmi lesquels, notamment : mesure effectuée en continu sur des bandes ou tôles en défilement 25 avec une précision élevée, jauge de mesure entièrement statique, ccûts de fabrication et d'exploitation sensiblement abaissés, étant entendu que cet ensemble de mesure est susceptible d'être utilisé pour la mesure du profil transversal d'épaisseurs de produits autres que des bandes laminées à chaud ou à froid ou des 30 tôles fortes.The object of the present invention is to provide a measurement system which offers, compared to the existing systems mentioned above, essential advantages among which, in particular: measurement carried out continuously on moving strips or sheets 25 with high precision, gauge fully static measurement, considerably lower manufacturing and operating costs, it being understood that this measuring assembly is capable of being used for the measurement of the transverse profile of thicknesses of products other than hot or cold rolled strips or 30 heavy plates.
Cet objet est atteint grâce à un ensemble de mesure comportant une source de rayonnement située d'un côté du produit et un dispositif de détection fixe s'étendant transversalement par rapport au produit, de l'autre côté de celui-ci, ensemble dans 35 lequel, conformément à l'invention : w * . 4 - la source de rayonnement est fixe et est associée à un collimateur agencé de manière à produire un faisceau divergent en direction transversale par rapport au produit, pour intercepter celui-ci sur la partie de profil à mesurer, et 05 - le dispositif de détection comporte au moins une rangée de détecteurs élémentaires juxtaposés qui produisent chacun un signal fonction de la quantité de rayonnement reçu, et un circuit de traitement recevant les signaux des détecteurs pour élaborer une information représentative du profil recherché.This object is achieved thanks to a measuring assembly comprising a radiation source situated on one side of the product and a fixed detection device extending transversely with respect to the product, on the other side of the latter, together in 35 which, in accordance with the invention: w *. 4 - the radiation source is fixed and is associated with a collimator arranged so as to produce a diverging beam in a transverse direction relative to the product, to intercept the latter on the profile part to be measured, and 05 - the detection device comprises at least one row of juxtaposed elementary detectors which each produce a signal as a function of the quantity of radiation received, and a processing circuit receiving the signals from the detectors in order to produce information representative of the profile sought.
10 Par rapport aux systèmes existants dans lesquels au moins la source doit être déplacée transversalement par rapport au produit, l'ensemble de mesure conforme à l'invention est entièrement statique et a une structure beaucoup plus simple et des coûts de fabrication et d'installation bien inférieurs. Aussi, 15 alors que les appareils connus à jauges X mobiles ne sont utilisés, en raison de leur coût, que dans les cas où le besoin se fait le plus sentir, comme pour la mesure un continu du profil transversal de bandes laminées à chaud, l'utilisation de 1'ensemble de mesure conforme a l'invention peut être envisagée 20 raisonnablement dans un domaine plus étendu, englobant notamment la mesure en continu du profil transversal pour des bandes laminées à chaud, des bandes laminées à froid et des tôles fortes.10 Compared to existing systems in which at least the source must be moved transversely relative to the product, the measuring system according to the invention is entirely static and has a much simpler structure and costs of manufacture and installation much lower. Also, while the known devices with movable X gauges are used, because of their cost, only in cases where the need is most felt, as for the measurement of a continuous transverse profile of hot-rolled strips, the use of the measuring assembly according to the invention can be reasonably envisaged in a wider field, including in particular the continuous measurement of the transverse profile for hot-rolled strips, cold-rolled strips and heavy plates .
En raison de la divergence du faisceau qui illumine le produit, 1'inclinaison par rapport à la normale de la direction 25 suivant laquelle le rayonnement traverse le produit varie le long du orofil transversal du produit. Aussi, selon une particularité de l'ensemble de mesure conforme à l'invention, le dispositif de détection comprend des moyens pour compenser cette variation d’inclinaison en agissant sur les signaux produits par les 30 détecteurs élémentaires selon les positions de ceux-ci le long du profil transversal du produit.Due to the divergence of the beam which illuminates the product, the inclination from normal of the direction in which the radiation passes through the product varies along the transverse orofil of the product. Also, according to a particular feature of the measuring assembly according to the invention, the detection device comprises means for compensating for this variation in inclination by acting on the signals produced by the 30 elementary detectors according to the positions thereof. along the transverse profile of the product.
Selon une autre particularité de l'ensemble de mesure conforme à l'invention, le dispositif de détection comprend des moyens pour intégrer les signaux des différents détecteurs sur une 35 période de temps prédéterminée. Cette intégration est souhaitable * * 11 ' - 5 dans la mesure où la source a une puissance limitée par rapport à la sensibilité des détecteurs.According to another particular feature of the measuring assembly according to the invention, the detection device comprises means for integrating the signals from the various detectors over a predetermined period of time. This integration is desirable * * 11 '- 5 insofar as the source has a limited power compared to the sensitivity of the detectors.
Le temps d'intégration ne doit pas être choisi trop long pour ne pas pénaliser la précision de la mesure. D1 autres facteurs 05 ont également une influence sur la précision, en particulier les dimensions des détecteurs et les positions relatives de la source, du produit et de la rangée de détecteurs. Un choix adéquat de ces différents paramètres permet d'atteindre un niveau de précision suffisant pour répondre aux exigences qui existent dans le cas de 10 l'application envisagée plus haut à la mesure du profil transversal d'épaisseur de produits métallurgiques plats en défilement.The integration time should not be chosen too long so as not to penalize the accuracy of the measurement. Other factors 05 also influence the accuracy, in particular the dimensions of the detectors and the relative positions of the source, the product and the row of detectors. An adequate choice of these different parameters makes it possible to achieve a level of precision sufficient to meet the requirements which exist in the case of the application envisaged above for measuring the transverse thickness profile of flat metallurgical products in movement.
On notera encore que, par sa conception modulaire, la rangée de détecteurs élémentaires peut être adaptée à toute 15 largeur de produit.It will also be noted that, by its modular design, the row of elementary detectors can be adapted to any width of product.
D'autres particularités et avantages de l'ensemble de mesure conforme à l'invention ressortiront à la lecture de la description faite ci-après, à titre indicatif mais non limitatif, en référence aux dessins annexés sur lesquels : 20 - la figure 1 est une vue très schématique d'un mode de réalisation d'un ensemble de mesure selon l'invention ; - la figure 2 est une vue de côté de l'ensemble de mesure de la figure 1 ; - la figure 3 est une vue plus détaillée du dispositif de 25 défection de l'ensemble de mesure des figures 1 et 2 ; et - la figure 4 est une vue de dessus d'un autre mode de réalisation d'un ensemble de mesure selon l'invention.Other particularities and advantages of the measuring assembly in accordance with the invention will emerge on reading the description given below, by way of indication but not limitation, with reference to the appended drawings in which: FIG. 1 is a very schematic view of an embodiment of a measuring assembly according to the invention; - Figure 2 is a side view of the measurement assembly of Figure 1; - Figure 3 is a more detailed view of the device for defecting the measuring assembly of Figures 1 and 2; and - Figure 4 is a top view of another embodiment of a measuring assembly according to the invention.
Les figures 1 à 3 illustrent schématiquement un ensemble selon l'invention pour la mesure du profil transversal d'épaisseur 30 d'un produit en mouvement tel qu'une bar.de B sortant d'un train de laminoir à chaud.Figures 1 to 3 schematically illustrate an assembly according to the invention for measuring the transverse thickness profile 30 of a moving product such as a bar.de B leaving a hot rolling mill train.
Une source 10 de rayons X est située d'un côté de la bande B, par exemple du côté inférieur, sensiblement au niveau du milieu de la bande. La source 10 est fixe et produit un faisceau 11 de 35 rayons X qui est conformé au moyen d'un collimateur 12. Comme ' . 6 illustré sur les figures 1 et 2 en traits mixtes, le faisceau 11 a une forme en éventail en divergeant en direction transversale par rapport à la bande B. Dans la direction longitudinale de la bande B, le faisceau est de préférence resserré afin de diverger aussi 05 peu que possible.A source 10 of X-rays is situated on one side of the strip B, for example on the lower side, substantially at the level of the middle of the strip. The source 10 is fixed and produces a beam 11 of 35 X-rays which is shaped by means of a collimator 12. As'. 6 illustrated in FIGS. 1 and 2 in phantom, the beam 11 has a fan shape by diverging in a transverse direction relative to the band B. In the longitudinal direction of the band B, the beam is preferably tightened in order to diverge as little 05 as possible.
De l’autre côté de la bande B, c'est-à-dire ici du côté supérieur, est disposé un dispositif de détection 20. Celui-ci comprend un capteur formé d'une rangée de détecteurs élémentaires juxtaposés identiques. Cette rangée est fixe, s'étend en direction 10 transversale par rapport à la bande et est disposé de manière à recevoir le rayonnement produit par la source 10 et ayant traversé la bande B.On the other side of the strip B, that is to say here on the upper side, a detection device 20 is arranged. This comprises a sensor formed by a row of identical juxtaposed elementary detectors. This row is fixed, extends in a direction 10 transverse to the strip and is arranged so as to receive the radiation produced by the source 10 and having passed through the strip B.
Comme le montre plus particulièrement la figure 3, les détecteurs 21 sont formés chacun par une photodiode sur laquelle 15 est déposée une couche formant scintillateur et sont regroupés dans des modules 22 comprenant chacun N détecteurs élémentaires juxtaposés, les modules 22 étant assemblés sans discontinuité pour former une rangée de longueur voulue.As shown more particularly in FIG. 3, the detectors 21 are each formed by a photodiode on which 15 is deposited a layer forming a scintillator and are grouped together in modules 22 each comprising N elementary detectors juxtaposed, the modules 22 being assembled without discontinuity to form a row of desired length.
Les différents modules 22 sont assemblés dans un boîtier 20 23 muni d'un collimateur 24 sur sa face d'attaque (figures 1 et 2).The different modules 22 are assembled in a housing 20 23 provided with a collimator 24 on its leading face (FIGS. 1 and 2).
Dans chaque module 22, les détecteurs 21 sont montés sur une carte de circuit imprimé 25 et leurs sorties sont multiplexées au moyen d'un ou plusieurs multiplexeurs 26.In each module 22, the detectors 21 are mounted on a printed circuit board 25 and their outputs are multiplexed by means of one or more multiplexers 26.
25 Un circuit de traitement 27 est connecté aux différents modules 22. Le circuit 27 fournit à chaque module les tensions de référence de polarisation des photodiodes, ainsi que les tensions de fonctionnement et les signaux de commande des multiplexeurs 26. Le circuit 27 reçoit de chaque module les signaux de sortie des 30 multiplexeurs 26.25 A processing circuit 27 is connected to the various modules 22. The circuit 27 supplies to each module the polarization reference voltages of the photodiodes, as well as the operating voltages and the control signals of the multiplexers 26. The circuit 27 receives from each modulates the output signals of the 30 multiplexers 26.
Les signaux de sortie des détecteurs 21 sont lus successivement, dans l'ordre suivant lequel sont rangés les détecteurs. Ces signaux de sortie sont corrigés des courants d'obscurité des détecteurs et sont normalisés pour compenser la 35 non-conformité du capteur et 1'"effet de biais".The output signals of the detectors 21 are read successively, in the order in which the detectors are arranged. These output signals are corrected for the dark currents of the detectors and are normalized to compensate for the non-conformity of the sensor and the "bias effect".
' · 7 * ‘ i.'· 7 * ‘i.
Les courants d'obscurité des détecteurs sont les signaux arparaissant en sortie des détecteurs 21 lorsque la source 10 v n'émet pas. La non conformité du capteur, c'est-à-dire le fait que les détecteurs ont des sensibiltés différentes, est due à 05 l'impossibilité de réaliser ces composants avec des caractéristiques rigoureusement identiques ; la correction de non conformité revient donc à aligner les sensibilités des détecteurs pour compenser des défauts du capteur. L'"effet de biais" provient de ce que la direction suivant laquelle est traversée par le 10 rayonnement provenant de la source varie d'une extrémité à l'autre de la partie de profil analysée ; avec la source disposée au niveau du milieu de la bande, plus l'on s'éloigne de ce milieu et plus la valeur de la distance parcourue par les rayons X à travers la bande diffère de la valeur de l'épaisseur recherchée.The dark currents of the detectors are the signals appearing at the output of the detectors 21 when the source 10 v is not emitting. The non-conformity of the sensor, that is to say the fact that the detectors have different sensitivities, is due to the impossibility of producing these components with strictly identical characteristics; the correction of nonconformity therefore amounts to aligning the sensitivities of the detectors to compensate for sensor faults. The "bias effect" stems from the fact that the direction in which the radiation from the source passes through varies from one end to the other of the profile part analyzed; with the source disposed at the middle of the strip, the further one moves away from this medium and the more the value of the distance traveled by the X-rays through the strip differs from the value of the desired thickness.
15 La correction des courants d'obscurité est réalisée en retranchant de chaque signal produit par un détecteur une composante de correction de zéro, le cas échéant propre à ce détecteur. La compensation de la non confermite du capteur et de l'effet de biais est réalisée en affectant chaque signal produit 20 par un détecteur d'un coefficient de compensation propre à ce détecteur. Les coefficients de compensation et les composantes de correction de zéro, lorsque ces dernières diffèrent selon les détecteurs, sont lus dans une mémoire de référence en synchronisme avec la lecture des signaux des détecteurs élémentaires 25 successifs. Les opérations de correction et compensation des si.-naux des détecteurs sont effecutées avant ou après numérisation de ces signaux.The correction of the dark currents is carried out by subtracting from each signal produced by a detector a zero correction component, if necessary specific to this detector. Compensation for the nonconfirmity of the sensor and of the bias effect is achieved by assigning each signal produced by a detector to a compensation coefficient specific to this detector. The compensation coefficients and the zero correction components, when the latter differ according to the detectors, are read in a reference memory in synchronism with the reading of the signals of the successive elementary detectors. The correction and compensation operations of the detector signals are carried out before or after digitization of these signals.
Dans l'exemple illustré, les signaux des détecteurs sont d'abord numérisés au moyen d'un convertisseur analogique-numérique 30 27a puis corrigés dans un circuit de correction 27c recevant les composantes de correction de zéro et les coefficients de compensation bus dans la mémoire de référence 27r. Les signaux numérisés et corrigés correspondant à chaque détecteur sont cumulés dans une mémoire de ligne 271_ pendant la durée d'une 35 période d'intégration prédéterminée. A la fin de chacune de ces * . 8 * * ' * périodes, le contenu de la mémoire de ligne 2Ί1 est transféré dans une mémoire d'image 27i et l'enregistrement d'une nouvelle ligne » peut être effectué. La mémoire d'image 27i est ensuite lue point par point, par exemple pour convertir le contenu de cette mémoire 05 sous forme d'un signal vidéo permettant d'afficher le profil sur un moniteur de contrôle 28. En variante, ou simultanément, le contenu de la mémoire 27i peut être converti sous forme analogique pour effectuer le tracé du profil sur un enregistreur graphique (non représenté). Il est également possible de stocker dans une 10 mémoire de masse les images correspondant aux contenus successifs de la mémoire d'image 271, ou de transférer ces informations à un ensemble de traitement pour les exploiter en temps réel. Un circuit logique de commande 27n fournit les signaux de commande d.'échantillonnage au convertisseur 27a, les signaux de commande de 15 lecture et/ou écriture dans les mémoires 27r, 271_ et 27i et les signaux de commande du circuit de correction 27c et les signaux d'alimentation et de commmande pour les cartes 25. Les valeurs des composantes de correction de zéro et des coefficients de compensation sont déterminées expérimentalement ; peur les 20 coefficients de compensation, on utilise une bande étalon fixe ou mobile.In the example illustrated, the signals of the detectors are first digitized by means of an analog-digital converter 30 27a then corrected in a correction circuit 27c receiving the zero correction components and the bus compensation coefficients in the memory reference 27r. The digitized and corrected signals corresponding to each detector are accumulated in a line memory 271 for the duration of a predetermined integration period. At the end of each of these *. 8 * * '* periods, the content of the line memory 2Ί1 is transferred to an image memory 27i and the recording of a new line ”can be carried out. The image memory 27i is then read point by point, for example to convert the content of this memory 05 in the form of a video signal making it possible to display the profile on a control monitor 28. As a variant, or simultaneously, the content of the memory 27i can be converted into analog form in order to trace the profile on a graphic recorder (not shown). It is also possible to store in a mass memory the images corresponding to the successive contents of the image memory 271, or to transfer this information to a processing unit for processing in real time. A control logic circuit 27n supplies the sampling control signals to the converter 27a, the read and / or write control signals in the memories 27r, 271 and 27i and the control signals of the correction circuit 27c and the supply and control signals for the cards 25. The values of the zero correction components and of the compensation coefficients are determined experimentally; For the 20 compensation coefficients, a fixed or mobile standard band is used.
Pour réaliser en pratique le dispositif de détection décrit ci-dessus, on pourra utiliser le dispositif commercialisé sous la référence "THX 1454" par la Sté française THOMSON-C.S.F.To carry out in practice the detection device described above, it is possible to use the device sold under the reference "THX 1454" by the French company THOMSON-C.S.F.
25 Comme le montre la figure 1, les positions relatives de la source 10, de la rangée de détecteurs 21 et de la bande B déterminent la partie du profil transversal de celle-ci dont l'épaisseur est mesurée.As shown in FIG. 1, the relative positions of the source 10, the row of detectors 21 and the strip B determine the part of the transverse profile of the latter whose thickness is measured.
Pour une distance donnée entre la bande et les détecteurs, 30 si l'on rapproche la source de la bande la précision de la mesure est améliorée, mais l'on voit une plus petite partie de la largeur de la bande.For a given distance between the strip and the detectors, if the source of the strip is brought closer the accuracy of the measurement is improved, but a smaller part of the width of the strip is seen.
Pour une distance donnée entre la source et la bande, si l'on éloigne les détecteurs de la bande, la définition de la 35 mesure est augmentée (à chaque détecteur élémentaire correspond 9 * # * * une plus petite partie de la largeur de la bande ), mais 1 ' énergie captée diminue en fonction inverse du carré de la distance, entraînant une détérioration du rapport signal sur bruit.For a given distance between the source and the band, if the detectors are moved away from the band, the definition of the measurement is increased (to each elementary detector corresponds 9 * # * * a smaller part of the width of the band), but the energy captured decreases as a function of the square of the distance, leading to a deterioration in the signal to noise ratio.
A titre indicatif, pour l'application aux bandes laminées 05 à chaud, un bon compromis consiste à avoir la bande B au tiers de la distance entre la source et la rangée de détecteurs, cette distance étant par exemple d'environ 0,5 à 1,5 m.As an indication, for application to hot rolled strips 05, a good compromise consists in having strip B at one third of the distance between the source and the row of detectors, this distance being for example approximately 0.5 to 1.5 m.
L'intégration des signaux des détecteurs est souhaitable compte-tenu de la limite de puissance de la source par rapport à 10 la sensibilité de chaque détecteur. Ce temps d'intégration doit toutefois rester limité pour ne pas affecter la précision de la mesure, cette précision étant déjà fonction d'autres paramètres tels que la dynamique en réception (rapport entre le signal maximum avant saturation et le signal minimum détectable), le 15 bruit propre de la source (fluctuations dans le temps du rayonnement émis), la dimension des détecteurs élémentaires et l'efficacité de la conversion des rayons X en photons lumineux.Integration of the detector signals is desirable given the power limit of the source with respect to the sensitivity of each detector. This integration time must however remain limited so as not to affect the precision of the measurement, this precision already being a function of other parameters such as the reception dynamics (ratio between the maximum signal before saturation and the minimum detectable signal), the 15 source noise (fluctuations in time of the emitted radiation), the size of the elementary detectors and the efficiency of the conversion of X-rays into light photons.
‘ A titre indicatif, le temps d'intégration peut être choisi égal à environ 1 s pour obtenir une précision de 0,2 % avec le 20 dispositif précité "THS 1454" de la Sté THOMSON-C.S.F. Aux vitesses usuelles des bandes laminées a chaud, un temps d'intégration de 1 s correspond à environ 20 m de bande. Selon une variante de réalisation de l'ensemble de mesure conforme à l'invention, l'on peut se passer de la nécessité d'intégrer les 25 signaux des détecteurs en utilisant plusieurs rangées 30 de détecteurs comme illustré sur la figure 4.‘As an indication, the integration time can be chosen equal to approximately 1 s to obtain an accuracy of 0.2% with the above-mentioned device" THS 1454 "from the THOMSON-C.S.F. At the usual speeds of hot-rolled strips, an integration time of 1 s corresponds to approximately 20 m of strip. According to an alternative embodiment of the measuring assembly according to the invention, it is possible to dispense with the need to integrate the signals of the detectors by using several rows 30 of detectors as illustrated in FIG. 4.
Chaque rangée s'étend transversalement par rapport à la bande B et les rangées sont espacées les unes des autres dans la direction longitudinale de la bande avec les détecteurs occupant 30 les mêmes positions dans les différentes rangées alignées dans cette direction longitudinale.Each row extends transversely with respect to the strip B and the rows are spaced from one another in the longitudinal direction of the strip with the detectors occupying the same positions in the different rows aligned in this longitudinal direction.
Une source particulière (non représentée) est associée à chaque rangée de détecteurs.A particular source (not shown) is associated with each row of detectors.
= Les signaux produits par les détecteurs alignés en 35 direction longitudinale sont sommés.= The signals produced by the detectors aligned in the longitudinal direction are summed.
• · 10 • & ' ^• · 10 • & '^
Il a été envisagé ci-avant l'application de l'ensemble de mesure selon 1'invention à la mesure du profil transversal de produits plats. Toutefois, il apparaitra immédiatement à l'homme de 1'art que 1'invention est également applicable dans le cas de 05 produits présentant un profil transversal courbe.The application of the measuring assembly according to the invention to the measurement of the transverse profile of flat products has been considered above. However, it will be immediately apparent to those skilled in the art that the invention is also applicable in the case of products having a curved transverse profile.
Claims (4)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8503380A FR2578643B1 (en) | 1985-03-07 | 1985-03-07 | CROSS-SECTION THICKNESS PROFILE MEASUREMENT ASSEMBLY |
| FR8503380 | 1985-03-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| LU86332A1 true LU86332A1 (en) | 1986-06-10 |
Family
ID=9316972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| LU86332A LU86332A1 (en) | 1985-03-07 | 1986-02-28 | CROSS-SECTION THICKNESS PROFILE MEASUREMENT ASSEMBLY |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61207912A (en) |
| KR (1) | KR860007534A (en) |
| BE (1) | BE904362A (en) |
| BR (1) | BR8600965A (en) |
| DE (1) | DE3607593A1 (en) |
| ES (1) | ES8706258A1 (en) |
| FR (1) | FR2578643B1 (en) |
| LU (1) | LU86332A1 (en) |
| NL (1) | NL8600456A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2704643B1 (en) * | 1993-04-26 | 1995-06-23 | Lorraine Laminage | CALIBRATION METHOD AND DEVICE FOR A CROSS-SECTION THICKNESS PROFILE MEASUREMENT ASSEMBLY. |
| DE19913929A1 (en) * | 1999-03-26 | 2000-09-28 | Voith Sulzer Papiertech Patent | Equipment determining properties of band of paper, comprises source of electromagnetic or particulate radiation passing through or reflected by band to detector array with irregular subdivision |
| DE102006054716A1 (en) * | 2006-11-19 | 2008-05-29 | Heraeus Kulzer Gmbh | Arrangement for detecting surface contours on objects, in particular in the dental field |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7705788A (en) * | 1977-05-26 | 1978-11-28 | Philips Nv | DEVICE FOR COMPUTER TOMOGRAPHY. |
| DE3140714A1 (en) * | 1981-10-14 | 1983-04-28 | Paul Ing.(Grad.) Flormann | Device for measuring the thickness of flat sections |
| JPS5890112A (en) * | 1981-11-26 | 1983-05-28 | Toshiba Corp | Radiation ray thickness meter |
-
1985
- 1985-03-07 FR FR8503380A patent/FR2578643B1/en not_active Expired - Fee Related
-
1986
- 1986-02-24 NL NL8600456A patent/NL8600456A/en not_active Application Discontinuation
- 1986-02-28 LU LU86332A patent/LU86332A1/en unknown
- 1986-03-06 JP JP61049515A patent/JPS61207912A/en active Pending
- 1986-03-06 BE BE6/48197A patent/BE904362A/en not_active IP Right Cessation
- 1986-03-06 ES ES552718A patent/ES8706258A1/en not_active Expired
- 1986-03-06 BR BR8600965A patent/BR8600965A/en not_active IP Right Cessation
- 1986-03-06 KR KR1019860001585A patent/KR860007534A/en not_active Application Discontinuation
- 1986-03-07 DE DE19863607593 patent/DE3607593A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| BE904362A (en) | 1986-06-30 |
| NL8600456A (en) | 1986-10-01 |
| FR2578643B1 (en) | 1990-03-09 |
| BR8600965A (en) | 1986-11-18 |
| ES8706258A1 (en) | 1987-06-01 |
| DE3607593A1 (en) | 1986-09-11 |
| FR2578643A1 (en) | 1986-09-12 |
| ES552718A0 (en) | 1987-06-01 |
| KR860007534A (en) | 1986-10-13 |
| JPS61207912A (en) | 1986-09-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0651881B1 (en) | Fibrous material defect detection device | |
| FR2600191A1 (en) | PAPER COINS DISCRIMINATOR | |
| FR2513607A1 (en) | METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING THE STATUS OF TICKETS IN A PAPER-CURRENT DISPENSER | |
| EP0165850B1 (en) | Method for controlling the focal position in an x-ray tube and control system for carrying out this method | |
| FR2596165A1 (en) | IONIZING RADIATION DETECTOR | |
| EP2456613A1 (en) | Device for analysing the topography of a surface of a substrate | |
| WO1999064816A1 (en) | Method and device for optoelectric acquisition of shapes by axial illumination | |
| LU86332A1 (en) | CROSS-SECTION THICKNESS PROFILE MEASUREMENT ASSEMBLY | |
| FR2704643A1 (en) | Calibration method and device for a set for measuring the transverse thickness profile of a flat product. | |
| EP1174927B1 (en) | Auto-compensation device for an imaging system with a substraction architecture | |
| FR2630705A1 (en) | METHOD FOR SCANNING OBSERVATION OF A CELESTIAL BODY AND MEASUREMENT OF AN ANGULAR SPEED OF A SPATIAL VEHICLE, OBSERVATION SYSTEM FOR ITS IMPLEMENTATION, AND SPATIAL VEHICLE COMPRISING SAME | |
| FR2548058A1 (en) | METHOD OF FRICTION COMPENSATION IN A ROLLING MILL WITH AUTOMATIC CALIBER CONTROL | |
| Gross et al. | A precise method to determine the angular distribution of backscattered light to high angles | |
| FR2642903A1 (en) | RADIATION DETECTOR | |
| EP0136238A1 (en) | Device for measuring the proximity of a metallic conductive surface | |
| JPH09178666A (en) | Surface inspection device | |
| FR2651331A1 (en) | METHOD FOR CORRECTING THE SIGNALS OF A LINEAR RADIATION DETECTOR AND CORRECTION DEVICE IMPLEMENTING SAID METHOD. | |
| FR2923619A1 (en) | DEVICE FOR FAULT MEASUREMENT OF AN OPTOELECTRONIC SENSOR IMAGING INSTRUMENT AND CORRECTION DEVICE COMPRISING SAME | |
| FR2693793A1 (en) | Method and installation for measuring the thickness of a continuous web while traveling | |
| FR2729751A1 (en) | DEVICE AND NUMERICAL MEASUREMENT OF SHEET THICKNESS | |
| FR2803916A1 (en) | Method and device for digitally processing images of an object or patient, obtained using ionizing radiation, in which the signal is optimized whether the signal obtained is of high or low intensity | |
| FR2749086A1 (en) | Optical odometer for measuring object velocity | |
| CA2163884C (en) | Method and device for identifying designated materials in the composition of an object | |
| FR2746705A1 (en) | Contactless measurement device for shifts of continuous sheet | |
| JPH09159621A (en) | Surface inspection device |