KR980012040A - Drain cup device - Google Patents
Drain cup device Download PDFInfo
- Publication number
- KR980012040A KR980012040A KR1019960031310A KR19960031310A KR980012040A KR 980012040 A KR980012040 A KR 980012040A KR 1019960031310 A KR1019960031310 A KR 1019960031310A KR 19960031310 A KR19960031310 A KR 19960031310A KR 980012040 A KR980012040 A KR 980012040A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- cup
- wafer
- guide ring
- spindle chuck
- solution
- Prior art date
Links
Landscapes
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
본 발명은 드레인 컵 장치의 컵 가이드 링 상부면으로 코팅액이 튀어 올라 일정시간 경과 후 미세 분진을 유발시키는 것을 방지하기 위해서 컵 가이드 링의 높이를 상승시키기 위해서 연결링 또는 컵측벽부의 길이를 상측 방향으로 상승시켜 용액이 컵 가이드 링 상부면으로 튀어 올라오는 것을 방지하므로 웨이퍼의 수율을 증가시킬 수 있다.In order to increase the height of the cup guide ring in order to prevent fine particles from being generated after a predetermined time after the coating liquid is spilled on the upper surface of the cup guide ring of the drain cup device, So that the solution is prevented from protruding from the upper surface of the cup guide ring, thereby increasing the yield of the wafer.
Description
본 발명은 도포(coating) 설비인 드레인 컵 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 가이드 링의 높이를 상승시켜 도포 용액이 컵 가이드 링 상부면으로 튀어 올라 컵 가이드 링 표면을 오염시키는 것을 방지하기 위한 드레인 컵 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a drain cup apparatus which is a coating apparatus, and more particularly, to a drain cup apparatus for preventing a coating solution from rising on the upper surface of the cup guide ring to contaminate the cup guide ring surface by raising the height of the guide ring. Cup device.
일반적인 드레인 컵 장비는 웨이퍼 표면에 IPA(Isopropyl Alcohol)와 Si (Silicon)가 혼합된 OCD 코팅액을 분사하여 스핀들 척(Spindle Chuck)을 고속으로 회전시켜 웨이퍼 표면을 OCD액으로 도포하여 웨이퍼 표면을 평탄하게 하는 장치이다.Typical drain cup equipment is spraying OCD coating liquid mixed IPA (Isopropyl Alcohol) and Si (Silicon) on the wafer surface, spinning the spindle chuck at a high speed and applying the wafer surface with OCD solution to flatten the wafer surface .
도1은 종래의 드레인 컵 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 단면도이다.1 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a conventional drain cup device.
종래의 드레인 컵 장치는 웨이퍼(5)를 회전시켜 웨이퍼(5) 표면에 OCD 액을 도포시키는 원형의 스핀들 척(1)과, 스핀들 척(1) 외측에는 스핀들 척(1)과 일정간격 이격되어 스핀들 척(1)을 에워싸고 있는 컵부(10)로 구성되어 있다.The conventional drain cup device has a circular spindle chuck 1 for rotating the wafer 5 to apply the OCD liquid to the surface of the wafer 5 and a spindle chuck 1 spaced apart from the spindle chuck 1 And a cup portion (10) surrounding the spindle chuck (1).
여기서, 스핀들 척(1) 상부면에는 웨이퍼(5)를 고정시키기 위한 흡착판(3)이 형성되어 있고, 흡착판(3) 상부면에는 OCD 용액이 도포될 웨이퍼(5)가 놓여져 있다.A suction plate 3 for fixing the wafer 5 is formed on the upper surface of the spindle chuck 1 and a wafer 5 to be coated with the OCD solution is placed on the upper surface of the suction plate 3.
또한, 원형으로 형성된 컵부(10) 내부는 원심력에 의해서 외부로 튀어나온 OCD 용액과 IPA 용액이 흘러들어 저장되는 컵(7)이 형성되어 있고, 컵(7) 하부 일정영역에는 원심력에 이해서 컵(7) 벽면을 따라 흘러들어온 용액을 배출시켜 주기 위한 제 1 배출관(9)과 용액이 응고되어 미세 분진으로 존재하는 파티클을 외부로 배출하기 위한 제 2 배출관(11)가 형성되어 있다.The inside of the cup portion 10 formed in a circular shape is formed with a cup 7 through which the OCD solution and the IPA solution protruding outward due to the centrifugal force flows and is stored. A first discharge pipe 9 for discharging the solution flowing along the wall surface of the discharge port 7 and a second discharge pipe 11 for discharging particles existing in the fine particle state to the outside.
또한 컵(7)의 외측에는 웨이퍼(5) 외측을 둘러싸고 있고 용액이 외부로 튀어 나가는 것을 방지하기 위한 컵 가이드 링(13)이 형성되어 있고, 컵 가이드 링(13)을 연결링(15)이 둘러싸고 있으며, 연결링(15) 하부에는 연결링(15)을 지지해 주는 컵측벽부(17)가 형성되어 있다.A cup guide ring 13 is formed on the outer side of the cup 7 to prevent the solution from protruding to the outside and the cup guide ring 13 is connected to the connection ring 15 And a cup side wall portion 17 for supporting the connecting ring 15 is formed in the lower portion of the connecting ring 15.
여기서, 드레인 컵 상부에는 OCD 용액을 분사하는 OCD 분사 노즐(19)과 웨이퍼 가장자리 OCD 용액을 식각해주는 IPA(21) 분사 노즐이 형성되어 있다.Here, an OCD spraying nozzle 19 for spraying the OCD solution and an IPA (21) spraying nozzle for etching the wafer edge OCD solution are formed above the drain cup.
이와 같이 구성된 드레인 컵의 작용을 설명하면 다음과 같다.The operation of the drain cup thus constructed will be described below.
먼저, 선행 공정이 끝난 웨이퍼(5)를 로봇 암(도시안됨)이 드레인 컵 장치로 운반하면 스핀들 척(1)이 상승되어 운반된 웨이퍼(5)가 스핀들 척(1) 상부면에 놓여지고, 웨이퍼(5)가 스핀들 척(1) 상부면에서 이탈하는 것을 방지하기 위해서 진공 펌프를 구동시켜 흡착판(3)이 웨이퍼(5)를 고정시키게 한다.First, when the robot arm (not shown) carries the wafer 5 after the preceding process to the drain cup device, the spindle chuck 1 is lifted and the transferred wafer 5 is placed on the upper surface of the spindle chuck 1, The vacuum pump is driven to prevent the wafer 5 from separating from the upper surface of the spindle chuck 1 so that the attracting plate 3 fixes the wafer 5. [
웨이퍼(5)가 흡착판(3)에 의해서 스핀들 척(1)에 고정되면 공정을 진행하기 위해서 스핀들 척(1)이 하강되고 OCD 용액 분사 노즐(19)이 OCD 혼합 용액을 웨이퍼(5) 중심부에 분사한 후에 모터를 구동시켜 스핀들 척(1)을 고속으로 회전시키면 웨이퍼(5) 중앙에 분산된 OCD 용액이 회전하는 스핀들 척(1)의 원심력에 의하여 웨이퍼(5) 표면에 고르게 도포되고 용액이 일부는 밖으로 튀어나가 컵(7) 내부 벽면을 타고 흘러내리거나 컵 가이드 링(13) 상부면으로 튀어 오르게 된다.When the wafer 5 is fixed to the spindle chuck 1 by the chucking plate 3, the spindle chuck 1 is lowered and the OCD solution jetting nozzle 19 moves the OCD mixed solution to the center of the wafer 5 The OCD solution dispersed in the center of the wafer 5 is evenly applied to the surface of the wafer 5 by the centrifugal force of the rotating spindle chuck 1, A part of which protrudes out and flows down on the inner wall surface of the cup 7 or springs up to the upper surface of the cup guide ring 13. [
이렇게 컵(7) 내부 벽면을 타고 흘러내린 용액들은 컵(7) 하부에 형성되어 있는 제 1 배출관(9)으로 배출되게되고, 일정 시간이 경과되면 컵(7)내부에 잔존해 있는 용액이 응고되어 미세 분진이 유발되기 때문에 미세 분진을 제거하기 위해서 제 2 배출관(11) 하부에 형성되어 있는 모터(도시안됨)를 구동시켜 미세 분진을 외부로 배출시킨다.The solution flowing down through the inner wall surface of the cup 7 is discharged to the first discharge pipe 9 formed at the lower portion of the cup 7. When a predetermined time has elapsed, (Not shown) formed under the second discharge pipe 11 to discharge the fine dust to the outside in order to remove the fine dust because fine dust is generated.
그러나, 컵 가이드 링의 상부면으로 튀어 오른 용액은 일정시간이 경과되면 응고되어 미세 분진을 유발시키므로 웨이퍼 표면을 오염시켜 수율이 저하되는 문제점이 있었다.However, the solution spouted on the upper surface of the cup guide ring solidifies when a certain period of time has elapsed to cause fine dust, thereby contaminating the surface of the wafer, thereby lowering the yield.
따라서, 본 발명의 목적은 코팅 용액이 공정 진행중에 컵 가이드 링 상부면으로 용액이 튀어 올르는 것을 방지하여 용액이 응고되어 미세 분진을 유발시키는 것을 방지하여 웨이퍼 수율을 향상시킨 드레인 컵 장치를 제공하는데 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a drain cup device which prevents the solution from jumping up to the upper surface of the cup guide ring during the coating process, thereby preventing the solution from coagulating and causing fine dust, thereby improving wafer yield have.
제1도는 종래의 드레인 컵 장치의 구조를 개략적으로 나타낸 단면도.FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the structure of a conventional drain cup device. FIG.
제2도는 본 발명에 의한 드레인 컵 장치의 구조를 개략적으로 나타낸 단면도.FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the structure of a drain cup device according to the present invention. FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS
1, 31 : 스핀들 척 5, 35 : 웨이퍼1, 31: spindle chuck 5, 35: wafer
7, 37 : 컵 9, 39 : 제1 배출관7, 37: cup 9, 39: first discharge pipe
11, 41 : 제2 배출관 13, 43 : 컵 가이드링11, 41: second discharge pipe 13, 43: cup guide ring
15, 45 : 연결링 17, 47 : 컵측벽부15, 45: connecting ring 17, 47: cup side wall portion
이와 같은 목적을 달성하기 위해서 본 발명은 컵 가이드 링의 높이를 도포 용액이 튀어오르지 않도록 상승시키기 위해서 연결링의 길이 또는 컵측벽부의 길이를 상측 방향으로 상승시켜 웨이퍼에 분사된 도포 용액이 컵 가이드 링 상부면으로 튀어 올라오지 않게 한 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, according to the present invention, in order to raise the height of the cup guide ring so that the coating solution does not jump, the length of the connection ring or the length of the cup side wall portion is raised upward, So that it does not protrude to the upper surface.
이하, 본 발명에 의한 드레인 컵 장치를 도2를 참조하여 실시예를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an embodiment of the drain cup device according to the present invention will be described with reference to FIG.
도 2 는 본 고안에 의한 드레인 컵 장치의 구조를 개략적으로 나타낸 단면도이다.2 is a cross-sectional view schematically showing the structure of a drain cup device according to the present invention.
본 발명에 이한 드레인 컵 장치는 웨이퍼(35)를 회전시켜 웨이퍼(35) 표면에 OCD 액을 도포시키는 원형의 스핀들 척(31)과, 스핀들 척(31) 외측에는 스핀들 척(31)과 일정간격 이격되어 스핀들 척(31)을 에워싸고 있는 컵부(3))로 구성되어 있다.The drain cup device according to the present invention includes a circular spindle chuck 31 for rotating the wafer 35 to coat the surface of the wafer 35 with the OCD liquid and a spindle chuck 31 outside the spindle chuck 31, And a cup part (3) surrounding the spindle chuck (31).
여기서, 스핀들 척(31) 상부면에는 웨이퍼(35)를 고정시키기 위한 흡착판(33)이 형성되어 있고, 흡착판(33) 상부면에는 OCD 용액이 도포될 웨이퍼(35)가 놓여져 있다.A suction plate 33 for fixing the wafer 35 is formed on the upper surface of the spindle chuck 31 and a wafer 35 to be coated with the OCD solution is placed on the upper surface of the suction plate 33.
또한, 원형의 드레인 컵부에는 원심력에 의해서 외부로 튀어나온 OCD 용액과 IPA 용액이 모아지는 컵(37)이 형성되어 있고, 컵(37) 하부 일정영역에는 원심력에 의해서 컵(37) 벽면을 따라 흘러들어온 용액을 배출시켜 주기 위한 제 1 배출관(39)과 용액이 응고되어 미세 분진으로 존재하는 파티클을 외부로 배출하기 위한 제 2 배출관(41)이 형성되어 있다.The circular drain cup portion is provided with a cup 37 for collecting the OCD solution and IPA solution protruding outward due to the centrifugal force and flows along the wall surface of the cup 37 by a centrifugal force in a certain lower region of the cup 37 A first discharge pipe 39 for discharging the introduced solution and a second discharge pipe 41 for discharging particles existing in the form of fine dust to the outside are formed.
또한, 컵(37)의 외측에는 웨이퍼(35) 외측을 둘러싸고 있는 컵 가이드 링(43)이 형성되어 있고, 컵 가이드 링(43) 원주 외측에는 컵 가이드 링(43)을 둘러싸고 있는 연결링(45)이 형성되어 있으며, 연결링(45) 하부에는 연결링(45)을 지지해 주는 컵측벽부(47)가 형성되어 있다.A cup guide ring 43 surrounding the outside of the wafer 35 is formed on the outside of the cup 37. A cup ring 43 surrounding the cup guide ring 43 is formed outside the circumference of the cup guide ring 43 And a cup side wall portion 47 for supporting the connecting ring 45 is formed at a lower portion of the connecting ring 45.
여기서, 컵 가이드 링(43)의 높이를 상승시키기 위해서 상기 연결링(45)의 길이나 컵측벽부(47)의 길이를 상측 방향으로 약 3mm 정도 상승시켜 웨이퍼(35) 도포 공정시 용액이 컵 가이드 링(43) 상부면으로 튀어 오르지 않도록 한다.In order to raise the height of the cup guide ring 43, the length of the connection ring 45 or the length of the cup side wall portion 47 is raised by about 3 mm in the upward direction, So that it does not protrude from the upper surface of the guide ring 43.
또한, 드레인 컵 장치 상부에는 OCD 용액을 분사하는 OCD 분사 노즐(49)과 웨이퍼(35) 가장자리 OCD 용액을 식각해주는 IPA 분사 노즐(51)이 형성되어 있다.An OCD spray nozzle 49 for spraying the OCD solution and an IPA spray nozzle 51 for etching the OCD solution at the edge of the wafer 35 are formed on the drain cup device.
이와 같이 구성된 드레인 컵의 작용을 설명하면 다음과 같다.The operation of the drain cup thus constructed will be described below.
먼저, 선행 공정이 끝난 웨이퍼(35)를 로봇 암에 의해서 드레인 컵 장치로 운반되면 스핀들 척(31)이 상승되어 운반된 웨이퍼(35)가 스핀들 척(31) 상부면에 올려진 후에 웨이퍼(35)가 스핀들 척(31) 상부면에서 이탈하는 것을 방지하기 위해서 진공 펌프를 구동시켜 흡착판(33)이 웨이퍼(35)를 고정시키게 한다.First, when the wafer 35 having been subjected to the preceding process is transferred to the drain cup device by the robot arm, the spindle chuck 31 is raised so that the transferred wafer 35 is placed on the upper surface of the spindle chuck 31, The vacuum pump is driven so that the suction plate 33 fixes the wafer 35 in order to prevent the wafer 35 from being separated from the upper surface of the spindle chuck 31. [
웨이퍼(35)가 흡착판(33)에 의해서 스핀들 척(31)에 고정되면 공정을 진행하기 위해서 스핀들 척(31)을 하강시켜 OCD 분사 노즐(49)을 이용하여 OCD 혼합 용액을 웨이퍼(35) 중심부에 분사한 후에 모터를 구동시켜 스핀들 척(31)을 고속으로 회전시키면 웨이퍼(35) 중앙에 분사된 OCD 용액이 회전하는 스핀들 척(31)의 원심력으로 웨이퍼 표면에 고르게 도포되고 용액의 일부는 웨이퍼(35) 밖으로 튀어나가 컵(37) 내부 벽면을 타고 흘러내리게 된다.When the wafer 35 is fixed to the spindle chuck 31 by the chucking plate 33, the spindle chuck 31 is lowered to move the OCD mixed solution to the center of the wafer 35 by using the OCD injection nozzle 49, The OCD solution sprayed to the center of the wafer 35 is uniformly applied to the surface of the wafer by the centrifugal force of the rotating spindle chuck 31 and a part of the solution is sprayed onto the wafer 35 (35) and flows down along the inner wall surface of the cup (37).
여기서, 스핀들 척(31)이 회전할 때 원심력에 의해서 컵 가이드 링(43) 상부면으로 튀어 오르던 용액을 연결링(45)이나 컵측벽부(47)의 높이를 용액이 컵 가이드 링 상부면으로 튀어 오르지 않을 정도로 상승시킴으로 컵 가이드 링 상부면으로 용액이 튀어 오르는 것을 방지한다.When the spindle chuck 31 rotates, the solution that has sprung to the upper surface of the cup guide ring 43 due to the centrifugal force is returned to the upper surface of the cup guide ring by the height of the connecting ring 45 or the cup side wall portion 47 It prevents the solution from splashing onto the upper surface of the cup guide ring by raising it so that it does not protrude.
이렇게 컵(37) 내부 벽면을 타고 흘러내린 용액들은 컵(37) 하부에 형성되어 있는 제 1 배출관(39)으로 배출되게 되고, 일정 시간이 경과되면 컵(37) 내부에 잔존해 있는 용액이 응고되어 미세 분진이 유발되기 때문에 미세 분진을 제거하기 위해서 제 2 배출관(41) 하부에 형성되어 있는 모터를 구동시켜 미세 분진을 외부로 배출시킨다.The solution flowing down through the inner wall surface of the cup 37 is discharged to the first discharge pipe 39 formed at the lower portion of the cup 37. When a predetermined time has elapsed, In order to remove fine dust, since fine dust is generated, the motor formed below the second discharge pipe 41 is driven to discharge the fine dust to the outside.
이상에서 설명한 바와 같이 연결링 또는 컵측벽부의 길이를 상측방향으로 상승시켜 컵 가이드 링 표면에 도포될 용액이 튀어 오르지 않도록 함으로서 미세 분진에 의해 웨이퍼가 오염되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.As described above, since the length of the connecting ring or the side wall of the cup is raised in the upward direction, the solution to be coated on the surface of the cup guide ring is prevented from splashing, thereby preventing contamination of the wafer by fine dust.
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960031310A KR980012040A (en) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | Drain cup device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960031310A KR980012040A (en) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | Drain cup device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR980012040A true KR980012040A (en) | 1998-04-30 |
Family
ID=66250036
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960031310A KR980012040A (en) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | Drain cup device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR980012040A (en) |
-
1996
- 1996-07-29 KR KR1019960031310A patent/KR980012040A/en not_active Application Discontinuation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5677000A (en) | Substrate spin treating method and apparatus | |
US6793769B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
US6149727A (en) | Substrate processing apparatus | |
US6793764B1 (en) | Chemical dispensing system for semiconductor wafer processing | |
JP3388628B2 (en) | Rotary chemical processing equipment | |
US5829156A (en) | Spin dryer apparatus | |
US5001084A (en) | Method for applying a treatment liquid on a semiconductor wafer | |
JP5420222B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP5208666B2 (en) | Substrate processing equipment | |
CN108028191B (en) | Substrate processing method and substrate processing apparatus | |
CN108701605B (en) | Substrate processing method and substrate processing apparatus | |
US20190217344A1 (en) | Cup wash disk with shims | |
US4600463A (en) | Treatment basin for semiconductor material | |
WO2021205994A1 (en) | Substrate processing method and substrate processing device | |
JPH11102882A (en) | Substrate cleaning device | |
JP3774951B2 (en) | Wafer cleaning equipment | |
KR980012040A (en) | Drain cup device | |
JP3876059B2 (en) | Substrate processing apparatus and peripheral member cleaning method | |
JP3574790B2 (en) | Method and apparatus for processing a substrate | |
TWI803755B (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
WO2007127201A2 (en) | Apparatus for single-substrate processing with multiple chemicals and method of use | |
JP3808719B2 (en) | Substrate processing equipment | |
KR100745482B1 (en) | Apparatus for treating backside of substrate | |
JP2916409B2 (en) | Spin cleaning method and apparatus therefor | |
US20240145292A1 (en) | Single wafer spin cleaning apparatus with soaking, cleaning, and etching functions |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |