KR980003622A - MAT applications for testing equipment - Google Patents

MAT applications for testing equipment Download PDF

Info

Publication number
KR980003622A
KR980003622A KR1019960023883A KR19960023883A KR980003622A KR 980003622 A KR980003622 A KR 980003622A KR 1019960023883 A KR1019960023883 A KR 1019960023883A KR 19960023883 A KR19960023883 A KR 19960023883A KR 980003622 A KR980003622 A KR 980003622A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
input terminal
reference voltage
output
match
Prior art date
Application number
KR1019960023883A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김관호
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019960023883A priority Critical patent/KR980003622A/en
Publication of KR980003622A publication Critical patent/KR980003622A/en

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

장비 스펙(spec)에 상관없이 출력되는 하이 또는 로우레벨을 정확히 측정하기 위한 장비 테스트를 위한 맷치응용장치를 개시한다. 장비테스트를 위한 맷치응용장치에 있어서, 클럭을 입력하는 클럭입력단; 매치선택신호를 입력하는 매치선택신호입력단; 매치 인에이블 신호를 입력하는 매치 인에이블 신호 입력단; 소정의 기준전압을 입력하는 기준전압입력단; 장비의 출력신호를 버퍼링하는 버퍼; 장비의 출력신호와 기준전압입력단으로부터 입력된 기준전압을 비교하는 제1비교기; 장비의 출력신호와 기준전압입력단으로부터 입력된 기준전압을 비교하는 제2비교기; 매치선택신호입력단으로부터 공급된 신호가 논리적으로 '하이'값이면 제1비교기로부터 출력된 신호를 턴온시키는 제1선택기; 매치선택신호입력단으로부터 공급된 신호가 논리적으로 '로우'값이면 제2비교기로부터 출력된 신호를 턴온시키는 제2선택기; 제1선택기 또는 제2선택기로부터 출력된 신호와 매치인에이블 신호 입력단으로부터 공급된 신호를 입력신호로 하여 논리곱을 수행하는 논리곱게이트; 및 논리곱게이트로부터 출력된 신호에 응답하여 클럭입력단으로부터 공급된 신호를 턴온시키는 제3선택기를 포함한다. 따라서, 장비에서 출력되는 하이 또는 로우레벨의 레벨치를 정확히 측정할 수 있는 효과를 제공한다.Disclosed are mating applications for testing equipment to accurately measure the high or low level output, regardless of equipment specifications. A device for testing equipment, comprising: a clock input terminal for inputting a clock; A match selection signal input stage for inputting a match selection signal; A match enable signal input terminal for inputting a match enable signal; A reference voltage input terminal for inputting a predetermined reference voltage; A buffer for buffering the output signal of the equipment; A first comparator for comparing an output signal of the equipment with a reference voltage input from the reference voltage input terminal; A second comparator comparing the output signal of the equipment with a reference voltage input from the reference voltage input terminal; A first selector for turning on a signal output from the first comparator if the signal supplied from the match select signal input terminal is a logically 'high' value; A second selector for turning on the signal output from the second comparator if the signal supplied from the match select signal input terminal is logically 'low'; A logical AND gate for performing an AND operation using a signal supplied from a match enable signal input terminal as a signal output from the first or second selector as an input signal; And a third selector for turning on the signal supplied from the clock input terminal in response to the signal output from the AND. Therefore, it provides the effect of accurately measuring the level value of the high or low level output from the equipment.

Description

장비 테스트를 위한 맷치응용장치MAT applications for testing equipment

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음Since this is an open matter, no full text was included.

제2도는 본 발명에 따른 장비 테스트 개념도이다.2 is a conceptual diagram of equipment testing according to the present invention.

제3a도는 제2도의 맷치응용회로의 상세도이다.FIG. 3A is a detailed view of the mat application circuit of FIG.

Claims (1)

장비 테스트를 위한 맷치응용장치에 있어서, 외부의 클럭을 입력하는 클럭입력단; 외부의 매치선택신호를 입력하는 매치선택신호입력단; 외부의 매치 인에이블 신호를 입력하는 매치 인에이블 신호 입력단; 소정의 기준전압을 입력하는 기준전압입력단; 상기 장비의 출력신호를 버퍼링하는 버퍼; 상기 장비의 출력신호와 상기기준전압입력단으로부터 입력된 기준진압을 비교하여, 상기 장비의 출력신호의 레벨이 상기 기준전압의 레벨보다 크면 논리적으로 '하이'값을 출력하고, 작으면 '로우'값을 출력하는 제1비교기; 상기 장비의 출력신호와 상기 기준전압입력단으로부터 입력된 기준전압을 비교하여, 상기 장비의 출력신호의 레벨이 상기 기준전압의레벨보다 크면 논리적으로 '로우'값을 출력하고, 작으면 '하이'값을 출력하는 제2비교기; 상기 매치선택신호입력단으로부터 공급된 신호가 논리적으로 '하이'값이면 상기 제1비교기로부터 출력된 신호를 턴온시키는 제1선택기; 상기 매치선택신호입력단으로부터 공급된 신호가 논리적으로 '로우'값이면 상기 제2비교기로부터 출력된 신호를 턴온시키는 제2선택기; 상기 제1선택기 또는 제2선택기로부터 출력된 신호와 상기 매치 인에이블신호 입력단으로부터 공급된 신호를 입력신호로 하여 논리곱을 수행하는 논리곱게이트; 및 상기 논리곱게이트로부터 출력된 신호에 응답하여 상기 클럭입력단으로부터 공급된 게이트 턴온시키는 제3선택기를 포함하는 장비 테스트를 위한 맷치응용장치.A match application for testing equipment, comprising: a clock input terminal for inputting an external clock; A match selection signal input stage for inputting an external match selection signal; A match enable signal input terminal for inputting an external match enable signal; A reference voltage input terminal for inputting a predetermined reference voltage; A buffer for buffering the output signal of the equipment; By comparing the output signal of the equipment and the reference voltage inputted from the reference voltage input terminal, if the level of the output signal of the equipment is greater than the level of the reference voltage logically outputs a 'high' value, if the value is 'low' value A first comparator for outputting a; By comparing the output signal of the equipment and the reference voltage input from the reference voltage input terminal, if the level of the output signal of the equipment is greater than the level of the reference voltage logically outputs a 'low' value, if the value is 'high' value A second comparator for outputting a; A first selector for turning on a signal output from the first comparator if a signal supplied from the match selection signal input terminal is logically 'high'; A second selector for turning on the signal output from the second comparator if the signal supplied from the match select signal input terminal is logically 'low'; A logical AND gate for performing an AND operation using a signal output from the first selector or the second selector and a signal supplied from the match enable signal input terminal as an input signal; And a third selector for turning on the gate supplied from the clock input terminal in response to the signal output from the AND gate. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.
KR1019960023883A 1996-06-26 1996-06-26 MAT applications for testing equipment KR980003622A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960023883A KR980003622A (en) 1996-06-26 1996-06-26 MAT applications for testing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960023883A KR980003622A (en) 1996-06-26 1996-06-26 MAT applications for testing equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR980003622A true KR980003622A (en) 1998-03-30

Family

ID=66288416

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960023883A KR980003622A (en) 1996-06-26 1996-06-26 MAT applications for testing equipment

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR980003622A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900005472A (en) Check buffer / register
KR920005172A (en) Semiconductor memory with clocked call code to enter test mode
KR900013523A (en) Semiconductor memory
KR860006837A (en) Semiconductor integrated circuit with inspection circuit for internal circuit inspection
KR860009420A (en) Semiconductor integrated circuit with operation mode switching function of internal circuit
US5111136A (en) Semiconductor circuit
KR900002553A (en) Phase detection circuit
KR960012761A (en) Load termination detection circuit
KR900019364A (en) Integrator circuit
DE69522663D1 (en) BYPASS CONTROL FOR SCAN TEST WITH AUTOMATIC RESET
KR920018487A (en) Instrument with continuity measurement characteristics
KR910017734A (en) Electronic device
KR980003622A (en) MAT applications for testing equipment
KR900013609A (en) Event Limit Inspection Structures for Integrated Circuits
KR900002177A (en) Compression circuit
KR970029744A (en) Reference voltage generator
KR960024426A (en) Microcontroller Test Circuit
KR930018426A (en) Curing Screening Device
KR940019073A (en) Floating detection circuit
KR930003179Y1 (en) Kr/ circuit for testing dc output
KR0119736Y1 (en) Source voltage selecting circuit
KR940006067Y1 (en) Input dc current testing circuit
KR920004857A (en) Integrated Circuit Inspection Device
DE60103154D1 (en) AUTOMATIC DEVICE FOR TESTABILITY ANALYSIS
KR970068162A (en) A data output buffer selector of a semiconductor memory device

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination