KR970077762A - Manufacturing method of optical path control device - Google Patents

Manufacturing method of optical path control device Download PDF

Info

Publication number
KR970077762A
KR970077762A KR1019960018392A KR19960018392A KR970077762A KR 970077762 A KR970077762 A KR 970077762A KR 1019960018392 A KR1019960018392 A KR 1019960018392A KR 19960018392 A KR19960018392 A KR 19960018392A KR 970077762 A KR970077762 A KR 970077762A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer
insulating layer
patterning
forming
sacrificial layer
Prior art date
Application number
KR1019960018392A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR100220585B1 (en
Inventor
민용기
Original Assignee
배순훈
대우전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 배순훈, 대우전자 주식회사 filed Critical 배순훈
Priority to KR1019960018392A priority Critical patent/KR100220585B1/en
Priority to US08/858,885 priority patent/US5930025A/en
Priority to JP54206197A priority patent/JP3881697B2/en
Priority to AU27935/97A priority patent/AU716242B2/en
Priority to CN97195061A priority patent/CN1220067A/en
Priority to PCT/KR1997/000089 priority patent/WO1997046025A1/en
Priority to DE69706762T priority patent/DE69706762T2/en
Priority to IDP971711A priority patent/ID16958A/en
Priority to ARP970102296A priority patent/AR007778A1/en
Publication of KR970077762A publication Critical patent/KR970077762A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100220585B1 publication Critical patent/KR100220585B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0816Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0833Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
    • G02B26/0858Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting means being moved or deformed by piezoelectric means

Abstract

본 발명은 절연막을 형성하여 변형부에서의 크랙(Crack) 발생 방지 및 상부 전극과 하부 전극의 숏트(short)를 방지할 수 있는 광로 조절 장치에 관한 것으로서, 능동 소자가 매트릭스 구조로 형성된 구동 기판상에 보호막, 식각 스톱층, 희생층을 순차적으로 형성하는 공정과, 상기 희생층의 표면을 평탄화 시킨후 소정 형상으로 패터닝하는 공정과, 상기 희생층 및 희생층의 패터닝으로 노출된 식각 스톱층상에 멤브레인, 하부전극 및 변형부를 순차적으로 형성하는 공정과, 상기 변형부 및 하부 전극을 각각 소정 형상으로 패터닝 시키는 공정과, 상기 멤브레인, 식각 스톱층, 보호막을 순차적으로 식각시켜 소정 형상의 비아 홀(VIA-Hole)을 형성하는 공정과, 상기 비아 홀(VIA-Hole)의 상부에 비아 콘택(VIA-Contact)층을 형성하는 공정과, 상기 비아 콘택(VIA-Contact)층 상부에 절연층을 형성하는 공정과, 상기 절연층을 소정 형상으로 패터닝하는 공정과, 상기 절연층 및 절연층의 패터닝으로 노출된 상기 변형부의 상부에 상부 전극을 형성하는 공정과, 상기 상부 전극 및 멤브레인을 순차적으로 픽셀 형상으로 패터닝 하는 공정과, 상기 픽셀형상으로 패터닝된 기판의 전면에 보호막을 도포하는 공정과, 상기 희생층을 식각하여 전체적으로 제거하는 공정과, 상기 보호막의 일부분을 제거하여 상부전극을 노출시키는 공정으로 이루어진 광로 조절 장치의 제조 방법을 사용함으로써, 변형부에 발생하는 크랙을 방지하고 상부 전극과 하부 전극간의 쇼트를 방지하여 신뢰성이 높고 성능이 향상된 광로 조절 장치를 제조할 수 있다.The present invention relates to an optical path control device capable of forming an insulating film to prevent cracks in the deformed portion and to prevent short of upper and lower electrodes, wherein the active element is formed on a driving substrate having a matrix structure. Sequentially forming a protective film, an etch stop layer, and a sacrificial layer, planarizing the surface of the sacrificial layer, and patterning the sacrificial layer to a predetermined shape; and forming a membrane on the etch stop layer exposed by patterning the sacrificial layer and the sacrificial layer. And sequentially forming the lower electrode and the deformable part, patterning the deformable part and the lower electrode into a predetermined shape, and sequentially etching the membrane, the etch stop layer, and the protective film to form a via hole (VIA-). Forming a hole, forming a via contact layer (VIA-Contact) on the via hole (VIA-Hole), and the via contact layer (VIA-Contact) layer Forming an insulating layer on the upper surface; patterning the insulating layer into a predetermined shape; forming an upper electrode on the deformable portion exposed by patterning the insulating layer and the insulating layer; Patterning the membrane sequentially in a pixel shape, applying a protective film to the entire surface of the pixel-patterned substrate, etching the sacrificial layer to remove the entire layer, and removing a portion of the protective film to form an upper electrode. By using the manufacturing method of the optical path control device made of a step of exposing the light, it is possible to manufacture a light path control device with high reliability and improved performance by preventing cracks occurring in the deformed portion and preventing short between the upper electrode and the lower electrode.

Description

광로 조절 장치의 제조 방법Manufacturing method of optical path control device

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음Since this is an open matter, no full text was included.

제4도(가) 내지 (타)는 본 발명에 따라 광로 조절 장치를 제조하는 공정을 순차적으로 도시한 단면도.4 (a) to 4 (a) are cross-sectional views sequentially illustrating a process of manufacturing an optical path control apparatus according to the present invention.

Claims (19)

능동 소자가 매트릭스 구조로 형성된 구동 기판과 복수의 층으로 이루어진 액츄에이터을 포함하는 광로 조절 장치의 제조 방법에 있어서, 상기 능동 소자가 매트릭스 구조로 형성된 구동 기판의 상부에 보호층(410), 식각 스톱층(420), 희생층(430)을 순차적으로 형성하는 공정; 상기 희생층(430)의 표면을 평탄화 시킨후 상기 희생층(430)을 소정 형상으로 패터닝하는 공정; 상기 희생층(430) 및 희생층(430)의 패터닝으로 노출된 식각 스톱층(420)의 상부에 멤브레인(440), 하부 전극(450) 및 변형부(460)를 순차적으로 형성하는 공정; 상기 변형부(460) 및 하부 전극(450)을 각각 소정 형상으로 패터닝하는 공정; 상기 멤브레인(440), 식각 스톱층(420), 보호층(410)을 순차적으로 식각하여 소정 형상의 비아 홀을 형성하는 공정; 상기 비아 홀의 상부에 비아 콘택층(470)을 형성하는 공정; 상기 비아 콘택층(470)의 상부에 절연층(480)을 형성하는 공정; 상기 절연층(480)을 소정 형상으로 패터닝하는 공정; 상기 절연층(480) 및 절연층(480)의 패터닝으로 노출된 변형부(460)의 상부에 상부전극(490)을 형성하는 공정; 상기 상부 전극(490) 및 멤브레인(440)을 순차적으로 픽셀형상으로 패터닝하는 공정; 상기 픽셀형상으로 패터닝된 액츄에이터(400′)의 전면에 보호막을 도포하는 공정; 상기 희생층(430)을 식각하여 제거하는 공정; 상기 보호막의 일부분을 제거하여 상부 전극을 노출시키는 공정으로 이루어진 광로 조절 장치의 제조 방법.In the method of manufacturing an optical path control device comprising a drive substrate formed of a matrix structure and an actuator consisting of a plurality of layers, the active element is a protective layer 410, the etch stop layer (top) on the drive substrate formed of a matrix structure ( 420, sequentially forming the sacrificial layer 430; Flattening the surface of the sacrificial layer 430 and patterning the sacrificial layer 430 into a predetermined shape; Sequentially forming the membrane 440, the lower electrode 450, and the deformable portion 460 on the etch stop layer 420 exposed by the patterning of the sacrificial layer 430 and the sacrificial layer 430; Patterning the deformable portion (460) and the lower electrode (450) into predetermined shapes, respectively; Sequentially etching the membrane 440, the etch stop layer 420, and the protective layer 410 to form via holes having a predetermined shape; Forming a via contact layer (470) over the via hole; Forming an insulating layer (480) on top of the via contact layer (470); Patterning the insulating layer (480) to a predetermined shape; Forming an upper electrode 490 on the deformable portion 460 exposed by patterning the insulating layer 480 and the insulating layer 480; Patterning the upper electrode 490 and the membrane 440 sequentially in a pixel shape; Applying a protective film to the entire surface of the actuator (400 ') patterned in the pixel shape; Etching to remove the sacrificial layer (430); And removing a portion of the protective film to expose the upper electrode. 제1항에 있어서, 상기 희생층은(430)은, 화학적 기계 연마(CMP) 공정으로 평탄화 되는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 1, wherein the sacrificial layer is planarized by a chemical mechanical polishing (CMP) process. 제1항에 있어서, 상기 멤브레인(440)은, 저압 화학 기상 증착(LPCVD)로 형성되는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 1, wherein the membrane (440) is formed by low pressure chemical vapor deposition (LPCVD). 제3항에 있어서, 상기 멤브레인(440)은, 가스 비율(Gas Ratio)을 시간별로 변화시켜 박막의 스트레스(Stress)를 조절하는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 3, wherein the membrane 440 adjusts the stress of the thin film by changing a gas ratio over time. 제1항에 있어서, 상기 변형부(460)는, 급가열 공정(RTA)로 열처리하여 상변이 시키는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method according to claim 1, wherein the deformable portion (460) is subjected to heat treatment by a rapid heating process (RTA) to cause phase shift. 제1항에 있어서, 상기 비아 홀(VIA-Hole)은, 상기 구동 기판(400)에 내장된 능동 소자가 노출되도록 상기 능동 소자의 상부 표면까지 연장되어서 위치되는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 1, wherein the via hole VIA-Hole is positioned to extend to an upper surface of the active element so that the active element embedded in the driving substrate 400 is exposed. Way. 제1항에 있어서, 상기 비아 컨택(470)은, 전기 전도성을 갖는 금속으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 1, wherein the via contact (470) is made of a metal having electrical conductivity. 제7항에 있어서, 상기 비아 컨택(470)은, 리프트 오프(Lift-off) 방법으로 형성되는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.8. The method of claim 7, wherein the via contact (470) is formed by a lift-off method. 상기 제7항 또는 제8항에 있어서, 상기 비아 컨택(470)은, 하부 전극과 능동 소자를 전기적으로 연결하는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 7 or 8, wherein the via contact (470) electrically connects the lower electrode and the active element. 제1항에 있어서, 상기 절연층(480)은, 옥사이드(Oxide)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 1, wherein the insulating layer (480) is made of oxide (Oxide). 제1항에 있어서, 상기 절연층(480)은, 니트라이드(Nitride)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 1, wherein the insulating layer (480) is formed of nitride. 제10항 또는 11항에 있어서, 상기 절연층(480)은, 증착(Evaporation)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of manufacturing an optical path control apparatus according to claim 10 or 11, wherein the insulating layer (480) is formed by evaporation. 제12항에 있어서, 상기 절연층(480)은, 비아 컨택(470)의 상부에만 형성되는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 12, wherein the insulating layer (480) is formed only on the top of the via contact (470). 제10항 또는 11항에 있어서, 상기 절연층(480)은, 스퍼터링(Sputtering)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of manufacturing an optical path adjusting device according to claim 10 or 11, wherein the insulating layer (480) is made of sputtering. 제14항에 있어서, 상기 절연층(480)은, 비아 컨택(470)의 상부에만 형성되는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.15. The method of claim 14, wherein the insulating layer (480) is formed only over the via contact (470). 제10항 또는 11항에 있어서, 상기 절연층은, 프라즈마 화학 기상 증착(PCVD)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of manufacturing an optical path control apparatus according to claim 10 or 11, wherein the insulating layer is made of plasma chemical vapor deposition (PCVD). 제16항에 있어서, 상기 절연층(480)은, 비아 컨택(470)의 상부에만 형성되는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.17. The method of claim 16, wherein the insulating layer (480) is formed only on the top of the via contact (470). 제1항에 있어서, 상기 상부 전극(490)은, 소정 부위가 수평절단(Stripe)되어 있는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of claim 1, wherein a predetermined portion of the upper electrode (490) is horizontally cut (Stripe). 제1항에 있어서, 상기 보호막은, 포토레지스터(PR : Photo Resist)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광로 조절 장치의 제조 방법.The method of manufacturing an optical path control apparatus according to claim 1, wherein the protective film is made of a photo resist (PR). ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.※ Note: This is to be disclosed by the original application.
KR1019960018392A 1996-05-29 1996-05-29 The fabrication method for thin film actuated mirror array KR100220585B1 (en)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960018392A KR100220585B1 (en) 1996-05-29 1996-05-29 The fabrication method for thin film actuated mirror array
US08/858,885 US5930025A (en) 1996-05-29 1997-05-19 Array of thin film actuated mirrors and method for the manufacture thereof
AU27935/97A AU716242B2 (en) 1996-05-29 1997-05-20 Array of thin film actuated mirrors and method for the manufacture thereof
CN97195061A CN1220067A (en) 1996-05-29 1997-05-20 Array of thin film actuated mirrors and method for manufacture thereof
JP54206197A JP3881697B2 (en) 1996-05-29 1997-05-20 Thin film actuated mirror array and manufacturing method thereof
PCT/KR1997/000089 WO1997046025A1 (en) 1996-05-29 1997-05-20 Array of thin film actuated mirrors and method for the manufacture thereof
DE69706762T DE69706762T2 (en) 1996-05-29 1997-05-20 Arrangement of controlled thin-film mirrors and process for their production
IDP971711A ID16958A (en) 1996-05-29 1997-05-23 LINES OF MIRRORS MOVED BY THIN LAYERS AND THE PRODUCTION METHOD
ARP970102296A AR007778A1 (en) 1996-05-29 1997-05-29 SET OF M X N THIN FILM DRIVEN MIRRORS AND METHOD FOR THE MANUFACTURE OF THE SAME

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960018392A KR100220585B1 (en) 1996-05-29 1996-05-29 The fabrication method for thin film actuated mirror array

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970077762A true KR970077762A (en) 1997-12-12
KR100220585B1 KR100220585B1 (en) 1999-09-15

Family

ID=19459997

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960018392A KR100220585B1 (en) 1996-05-29 1996-05-29 The fabrication method for thin film actuated mirror array

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100220585B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100710235B1 (en) * 2006-03-02 2007-04-20 엘지전자 주식회사 Method and apparatus for compensating frequency offset

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100710235B1 (en) * 2006-03-02 2007-04-20 엘지전자 주식회사 Method and apparatus for compensating frequency offset

Also Published As

Publication number Publication date
KR100220585B1 (en) 1999-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950034492A (en) Direct Wafer Bonding Structure and Manufacturing Method Thereof
KR890015376A (en) Electrical connection method for electronic device
EP0222668A1 (en) Method of producing by stepwise etching a thin-film transistor with a self-aligned gate in regard to source and drain, and transistor so obtained
KR970077762A (en) Manufacturing method of optical path control device
KR970060384A (en) Method for manufacturing capacitor of semiconductor device
KR940022801A (en) Contact formation method of semiconductor device
KR970054559A (en) Manufacturing method of optical path control device
KR970077763A (en) Manufacturing method of optical path control device
KR970008408A (en) Multilayer wiring flattening method of optical path control device
KR0160892B1 (en) Method for conductor through a control hall of the otpcial projection system
KR0171142B1 (en) Contact hole wiring method of optical path control device
JP2522014B2 (en) Method of forming transparent electrode
KR970077708A (en) Manufacturing method of optical path control device
KR100212564B1 (en) A fabrication method and actuator of the optical projection system
KR100313942B1 (en) Method for Forming Contact Hole of Semiconductor Device
JPH01268149A (en) Manufacture of semiconductor device
KR0170956B1 (en) Method for fabricating contact hall for optical projection system
KR0177228B1 (en) Method for fabricating an optical projection system
KR100260521B1 (en) Method of manufacturing a semiconductor device
KR970054076A (en) Capacitor of Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof
KR100196833B1 (en) Contact hole fabrication method for optical projection system
FR2744565A1 (en) Manufacture of cold cathode with sharp edges on emitter
KR970077709A (en) Planarization method of optical path control device
KR20050037712A (en) Method of manufacturing a semiconductor device
KR960026820A (en) Capacitor Manufacturing Method of Semiconductor Device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20090601

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee