KR970068692A - 전전자교환기의 테스트패널 - Google Patents

Abstract

본 발명은 전전자교환기의 각 서브시스템에 구비된 프로세서에 대한 비정상 여부의 테스트를 위해 그 프로세서들로 부터 분기된 모듈러잭이 집중배치된 테스트패널을 갖추어 테스트용 단말기로 부터의 테스트 모듈러잭을 용이하게 연결할 수 있도록 하는 전전자교환기의 테스트패널을 제공한다.

그에 따라 본 발명은 테스트 출력포트(b1~bn)를 각각 갖춘 다수의 프로세서가 구비된 서브시스템을 실장한 전전자교환기(2)에 대한 이상발생여부를 테스트하기 위하여 그 단말기 입력포트(18)로 부터 분기된 연결수단(14, 16, 20)을 갖춘 테스트용 단말기(12)를 구비한 전전자교환기의 테스트장치에 있어서; 상기 전전자교환기(2)의 프로세서에 갖추어진 테스트 출력포트(b1~bn)에 각각 연결되어 상기 단말기(12)의 연결수단(14, 16,20)에 연결되는 다수의 테스트 연결수단과, 상기 전전자교환기(2)의 각 서브시스템에 구비된 프로세서에 대응하는 패널부(6, 8, 10)가 구획되어 상기 다수의 테스트연결수단이 상기 전전자교환기(2)의 각 프로세서에 대응하도록 그 패널부(6, 8, 10)의 구획부분에 고정적으로 결합되고서, 상기 단말기(12)로 부터의 연결수단(14, 16, 20)이 선택적으로 연결가능하도록 하는 텟트패널(4)을 구비하여 구성된 것을 특징으로 한다.

Description

전전자교환기의 테스트패널

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제 1도는 본 발명에 따른 테스트패널이 전전자교환기에 채용된 상태를 나타낸 도면, 제 2도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 모듈러잭이 전전자교환기의 포트로 부터 텟트패널에 연결되고 단말기로 부터의 컨넥터가 테스트패널의 모듈러잭에 연결되는 상태를 나타낸 도면.

Claims (2)

1. 테스트 출력포트(b1~bn)를 각각 갖춘 다수의 프로세서가 구비된 서브시스템을 실장한 전전자교환기(2)에 대한 이상발생여부를 테스트하기 위하여 그 단말기 입력포트(18)로 부터 분기된 연결수단(14, 16, 20)을 갖춘 텟트용 단말기(12)를 구비한 전전자교환기의 테스트장치에 있어서, 상기 전전자교환기(2)의 프로세서에 갖추어진 테스트 출력포트(b1~bn)에 각각 연결되어 상기 단말기(12)의 연결수단(14, 16, 20)에 연결되는 다수의 테스트연결수단과, 상기 전전자교환기(2)의 각 서브시스템에 구비된 프로세서에 대응하는 패널부(6, 8, 10)가 구획되어 상기 다수의 테스트연결수단이 상기 전전자교환기(2)의 각 프로세서에 대응하도록 그 패널부(6, 8, 10)의 구획부분에 고정적으로 결합되고서, 상기 단말기(12)로 부터의 연결수단(14, 16, 20)이 선택적으로 연결가능하도록 하는 테스트패널(4)을 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 전전자교환기의 테스트패널.
2. 제 1항에 있어서, 상기 다수의 테스트연결수단은 그 테스트 입력컨넥터(B1~Bn)가 상기 테스트 출력포트(b1~bn)에 각각 연결되고, 그 테스트 입력 컨넥터(B1~Bn)로 부터 각각 연장된 연결케이블(A1~An)을 매개로 그 테스트 모듈러잭(C1~Cn)이 고정구멍(C1~Cn-A2, C1~Cn-B2)과 테스트패널(4)에 형성된 통공을 통해서 고정나사(C1~Cn-A1, C1~Cn-B1)와 고정너트(C1~Cn-A3, C1~Cn-B3)를 나사결합함에 의해 상기 테스트패널(4)에 고정적으로 결합되는 것을 특징으로 하는 전전자교환기의 테스트패널.

   ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.