KR970010005B1 - Apparatus for testing a wave form - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것이다.The present invention is to solve the above problems.
따라서, 본 발명의 목적은 측정 파라메터를 설정할 수 있는 기능키를 파형이 표시되는 화면에 동시에 표시하는 파형 검사장치를 제공하는 것이다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a waveform inspection apparatus for simultaneously displaying function keys for setting measurement parameters on a screen on which waveforms are displayed.
본 발명의 다른 목적은 모니터 화면에 표시된 기능키를 화면에 설치된 터치스크린을 터치함으로서 동작시킬 수 있는 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide an apparatus capable of operating a function key displayed on a monitor screen by touching a touch screen installed on the screen.
제1도는 VME버스시스템을 이용한 파형 검사장치의 외부상태를 보이는 도면이다.1 is a view showing the external state of the waveform inspection apparatus using the VME bus system.
제2도는 고속 A/D변환모드를 사용시 설정해 주어야할 파레메터 메뉴를 표시하는 화면이다.2 is a screen for displaying a parameter menu to be set when using the high speed A / D conversion mode.
제3도는 본 발명에 의한 파형검사장치 구성을 보이는 블록도이다.3 is a block diagram showing the configuration of a waveform inspection apparatus according to the present invention.
제4도는 본 발명에 의한 파형검사 장치의 모니터의 화면을 보이는 도면이다.4 is a view showing a screen of the monitor of the waveform inspection apparatus according to the present invention.
제5도는 본 발명에 의한 파형검사 장치의 모니터의 화면에 부메뉴가 겹친 것을 보이는 도면이다.5 is a view showing that the sub-menu overlaps the screen of the monitor of the waveform inspection apparatus according to the present invention.
제6도는 본 발명에 의한 장치의 화면에 표시된 전압기 Vtg를 터치한 경우의 동작을 보이는 플로우챠트이다.6 is a flowchart showing an operation in the case of touching the voltage Vtg displayed on the screen of the apparatus according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
30 : 제어부 31 : 고속 A/D변환부30 control unit 31 high speed A / D conversion unit
32 : 영상이득 선택부 33 : 영상트리거부32: image gain selection unit 33: image trigger rejection
34 : 메모리 35 : 주파수 카운터34: memory 35: frequency counter
36 : 피측정체 37 : 키보드부36: measuring object 37: keyboard portion
38 : 터치스크린 40 : 모니터38: touch screen 40: monitor
본 발명은 상기한 목적을 달성하기 위한 기술적으로 수단으로서, 본 발명의 장치는 전면이 개구된 선반을 구비되고, 각부와 제어부간에 신호버스를 제공하는 VME버스장치와, 피측정체의 검출신호를 디지탈신호로 변환하는 고속 A/D변환부와, 상기 고속 A/D변환부의 샘플링 시점을 결정하는 영상트리거부와, 상기 고속 A/D변환부의 채널선택용 영상이득 선택부와, 상기 고속 A/D 변환부로부터의 디지탈신호의 주파수를 카운트하는 주파수카운터부를 포함하는 파형검사장치에 있어서, 상기 VME버스를 통한 제어부로부터 제공되는 파라메터를 변환시킬 수 있도록 된 기능키를 표시함과 동시에, 피측정체의 측정파형을 화면에 표시하는 모니터; 상기 VME버스를 통해 상기 모니터와 제어부간의 데이타 인터페이싱을 수행하는 모니터 인터페이스부; 상기 모니터의 화면에 설치되어, 터치시 그 터치좌표를 출력하는 터치스크린; 상기 VME버스를 통해 상기 터치스크린으로부터의 좌표데이타를 제어부로 전송하는 직렬 통신부; 상기 VME버스를 통해 각부를 제어하고, 상기 모니터로 파라메터 변경용 기능키출력과 측정파형의 출력을 제어하며, 상기 모니터에 표시된 기능키에 대응하는 터치스크린의 터치좌표를 제공받아, 그 기능키에 해당하는 루틴을 실행하도록 제어하는 제어부; 를 구비하는 것을 특징으로 한다.The present invention is a technical means for achieving the above object, the apparatus of the present invention is provided with a shelf having an open front, a VME bus device for providing a signal bus between each part and the control unit, and the detection signal of the object under measurement A high speed A / D converter for converting a digital signal, an image trigger unit for determining a sampling time of the high speed A / D converter, a video gain selector for channel selection of the high speed A / D converter, and the high speed A / D converter A waveform inspection apparatus comprising a frequency counter unit for counting a frequency of a digital signal from a D conversion unit, wherein the function key is configured to convert a parameter provided from the control unit via the VME bus, and at the same time, A monitor displaying a measurement waveform of the screen; A monitor interface unit for performing data interfacing between the monitor and the control unit through the VME bus; A touch screen installed on the screen of the monitor and outputting touch coordinates when touched; A serial communication unit which transmits coordinate data from the touch screen to a control unit through the VME bus; Control each part through the VME bus, and control the output of the function key for changing parameters and the output of the measurement waveform to the monitor, receiving the touch coordinates of the touch screen corresponding to the function key displayed on the monitor, A control unit controlling to execute a corresponding routine; Characterized in having a.
이하, 본 발명에 따른 터치스크린을 이용한 파형 검사장치의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 본 발명에 참조된 도면에서 실질적으로 동린한 구성과 기능을 가진 구성요소들은 동일한 부호를 사용할 것이다.Hereinafter, a preferred embodiment of a waveform inspection apparatus using a touch screen according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings referred to in the present invention, components having substantially the same configuration and function will use the same reference numerals.
제3도는 본 발명에 의한 터치스크린을 이용한 파형검사장치의 구성을 보이는 블록도로서, 제3도에 도시된 각부의 기능은 제1도에 도시된 대응보드와 같으며, 제1도에 없는 터치스크린(38)은 사용자가 접촉한 부분의 전위가 변하게 되며, 그 부분에 해당하는 좌표와 전위변화가 직렬 통신부(39)로 부터 VME버스(28)를 거쳐 제어부(30)에 전달된다.3 is a block diagram showing the configuration of a waveform inspection apparatus using a touch screen according to the present invention, wherein the functions of the respective parts shown in FIG. 3 are the same as those of the corresponding board shown in FIG. The screen 38 changes the potential of the portion touched by the user, and the coordinates and the potential change corresponding to the portion are transmitted from the serial communication unit 39 to the control unit 30 via the VME bus 28.
제4도는 본 발명에 의한 파형검사 장치의 모니터 화면을 도시한 화면으로서, 41은 본 화면의 로고표시, 42는 파형측정 표시하면, 43은 피측정체로 부터 입력된 영상 신호를 표시하는 파형, 44는 Y축의 한 눈금당 전압을 표시하는 VOLT/DIV과 X축의 한 눈금당 시간을 표시하는 ms/div이다. 45는 측정하고자 하는 기능선택부이고, 46은 전압선택키, 47은 시간선택키, 48은 커서 이동키이다. 49는 파형의 저장과 지연표시부이고, 50은 파형의 저장, 불러오기 기능을 선택하는 키이고, 51은 파형을 시간적으로 지연시켜 표시하는 키이다. 그리고, 52는 현재 화면에 표시되는 파형을 프린트하는 기능을 선택하는 키이다. 53은 시간 및 전압 스케일 변환부이고 54은 volt/div을 설정하는 키이고, 55는 volt/div의 전압조정 표시 바이며, 이것에 대응하는 터치스크린 부분을 터치함으로써 전압 스케일을 변경시킬 수 있다. 56은 Time/div설정키이고, 시간 고정 표시바(57)를 터치하여 시간스케일을 변환시킬 수 있다. 58은 채널 선택부이며, 59-62는 채널 선택키이며, 각각 CH1, CH2, CH3, CH4를 선택한다.4 is a screen showing a monitor screen of the waveform inspection apparatus according to the present invention, 41 is a logo display of this screen, 42 is a waveform measurement display, 43 is a waveform for displaying an image signal input from the object under test, 44 Are VOLT / DIV for the voltage per division on the Y axis and ms / div for the time per division on the X axis. 45 is a function selector to measure, 46 is a voltage selection key, 47 is a time selection key, and 48 is a cursor movement key. 49 is a waveform storage and delay display section, 50 is a key for selecting a waveform storage and recall function, and 51 is a key for delaying and displaying the waveform in time. 52 is a key for selecting a function for printing a waveform displayed on the current screen. 53 is a time and voltage scale converter, 54 is a key for setting volts / div, 55 is a voltage adjustment bar of volts / div, and the voltage scale can be changed by touching a corresponding touch screen portion. 56 is a time / div setting key, and the time scale may be converted by touching the time fixing display bar 57. 58 is a channel selector, 59-62 are channel select keys, and selects CH1, CH2, CH3, and CH4, respectively.
또한, 63은 파형 측정표시화면(42)에서 X축의 특정점(t1, t2)에 대한 시간과 그 사이의 시간간격(△t)를 표시해주고 Y축이 특정점(V1, V2)에 대한 전압과 그 사이의 전압간격(△V)을 표시해주는 시간 또는 전압표시부이다. 64-68는 단축기능키이며, 64은 기능선택부(45)를 선택하고, 65는 파형의 저장과 지연표시부(49)를 선택하고, 66은 프린트키(52)를 선택하고, 67은 시간 및 전압 스케일 변환부(53)를 선택하고, 68은 채널 선택부(58)를 선택한다. 69는 측정화면 탈출키이고, 70은 측정파형의 파일(File) 이름이다.In addition, 63 indicates the time for the specific points t1 and t2 of the X axis and the time interval Δt therebetween on the waveform measurement display screen 42, and the Y axis indicates the voltage for the specific points V1 and V2. It is a time or voltage display unit that displays the voltage gap ΔV therebetween. 64-68 is a hotkey, 64 is a function selector 45, 65 is a waveform storage and delay display 49, 66 is a print key 52, 67 is a time And the voltage scale converter 53, and 68 selects the channel selector 58. 69 is the measurement screen escape key, and 70 is the file name of the measurement waveform.
제5도는 본 발명에 의한 파형검사 장치의 모니터의 화면에 부메뉴가 겹친 것을 보이는 도면이고, 제6도는 본 발명에 의한 장치의 화면에 표시된 전압기 Vtg를 터치한 경우의 동작을 보이는 플로우차트이다.FIG. 5 is a view showing sub-menus overlapping the screen of the monitor of the waveform inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 6 is a flowchart showing the operation when the voltage transformer Vtg displayed on the screen of the device according to the present invention is touched. .
이와 같이 구성된 본 발명의 장치에 따른 동작을 첨부도면에 의거하여 하기에 상세히 설명한다.Operation according to the device of the present invention configured as described above will be described in detail below based on the accompanying drawings.
먼저, 본 장치에 전원이 인가되면 피측정체(36)에 대한 데이타가 측정입력 신호선을 통해 영상이득 선택부(33)에 의해 채널별로 선택되고, 이 선택된 신호는 영상트리거부(34)에 의해 설정된 샘플링 시점에 고속 A/D변환부(31)를 통해 피측정체(36)로 부터의 영상신호가 디지탈 신호로 변환되며, 이 디지탈 신호는 메모리(34)에 저장되고, 다시 읽혀져서 모니터 인터페이스부(29)를 통해 제4도와 같이 표시된다.First, when power is applied to the device, data for the subject under test 36 is selected for each channel by the image gain selecting unit 33 through the measurement input signal line, and the selected signal is selected by the image triggering unit 34. At a set sampling time point, the video signal from the target object 36 is converted into a digital signal through the high-speed A / D converter 31, and the digital signal is stored in the memory 34 and read back to monitor the interface. The part 29 is displayed as shown in FIG.
이와 같이 피측정체(36)로 부터 입력된 영상신호가 모니터(40)에 표시된 후, 필요한 파라메터들을 제4도에 도시된 키를 손으로 접촉하며 모니터(40)의 전면에는 터치스크린(38)이 설치되어 있기 때문에 그 키에 대응되는 터치스크린 부분이 전위가 변화하고, 그 해당좌표가 제어부(31)에 VME버스(28)를 통해 전달된다. 이 좌표와 전위변화에 따라 제어부(31)는 그 좌표에 대응하는 키 기능을 수행하게 된다.After the video signal input from the object under test 36 is displayed on the monitor 40, the necessary parameters are touched by hand with the keys shown in FIG. 4 and the touch screen 38 is displayed on the front of the monitor 40. FIG. Since the potential is changed in the touch screen portion corresponding to the key, the corresponding coordinate is transmitted to the controller 31 via the VME bus 28. According to the coordinate and the potential change, the control unit 31 performs a key function corresponding to the coordinate.
이와 같은 동작을 전압기 Vtg(46)를 터치했을 경우에 대해 설명한다.This operation will be described when the voltage transformer Vtg 46 is touched.
제6도는 본 발명에 의한 장치의 화면에 표시된 전압기 Vtg를 터치한 경우의 동작을 보이는 플로우차트로서, 제6도를 참조하면, 단계 S58에서, 본 발명에 의한 장치가 동작상태를 시작한다. 단계 S59에서, 터치스크린(38)이나 키보드부(37)에서의 입력을 받는다. 이때, 피측정체로부터 측정된 신호는 디폴트(Default)설정상태에 의해 화면에 표시되고 있다.FIG. 6 is a flowchart showing an operation in the case where the voltage voltage Vtg displayed on the screen of the device according to the present invention is touched. Referring to FIG. 6, in step S58, the device according to the present invention starts to operate. In step S59, an input from the touch screen 38 or the keyboard unit 37 is received. At this time, the signal measured from the object under test is displayed on the screen by the default setting state.
단계 S60에서, 터치스크린(38)이 터치되었는가를 판단하여, 터치하지 않은 경우 단계 S61로 진행한다. 단계 S61에서, 키보드부(37)의 키입력이 있는가를 판단하여 키입력이 없는 경우, 단계 S59로 되돌아되고, 키입력이 있는 경우 단계 S62에서, 그 키에 해당하는 루틴을 실행한다. 터치된 경우, 단계 S63에서, 첫번째, 터치좌표를 저장하고, 단계 S64에서, 터치좌표가 유효영역인지를 판단한다. 유효영역이 아닌 경우, 단계 S65에서, 모니터(40)에서 에러 멧세지를 출력하고 단계 S59로 되돌아 간다. 유효영역인 경우, 단계 S66에서, Vtg(46)의 부메뉴(VPP, VRMS, VAVG, VTOP, VMIN등)를 제5도와 같이 표시한다.In step S60, it is determined whether the touch screen 38 has been touched, and if it is not touched, the process proceeds to step S61. In step S61, it is determined whether there is a key input by the keyboard unit 37, and when there is no key input, the process returns to step S59, and when there is a key input, in step S62, a routine corresponding to the key is executed. If it is touched, in step S63, first, the touch coordinate is stored, and in step S64, it is determined whether the touch coordinate is an effective area. If it is not the valid area, an error message is output from the monitor 40 in step S65, and the process returns to step S59. In the case of the effective area, the submenus (VPP, VRMS, VAVG, VTOP, VMIN, etc.) of the Vtg 46 are displayed as shown in FIG. 5 in step S66.
단계 S67에서 상기 부메뉴들중 어느것이 터치되었는가를 판단하고, 터치되지 않은 경우, 단계 S68에서 키보드부(37)의 키입력이 있는가를 판단한다. 키입력이 없는 경우 단계 S66으로 되돌아가고, 키입력이 있는 경우 단계 S69로 진행하여 그 키에 해당하는 루틴을 실행한다. 터치된 경우, 단계 S70으로 진행하여, 두번째 터치좌표를 저장하고 단계 S71로 진행한다.In step S67, it is determined which of the submenus has been touched. If not, in step S68, it is determined whether there is a key input of the keyboard unit 37. If there is no key input, the flow returns to step S66, and if there is a key input, the flow advances to step S69 to execute a routine corresponding to the key. If touched, the flow advances to step S70 to store the second touch coordinate and proceeds to step S71.
단계 S71에서, 터치좌표가 유효영역인가를 판단하고, 유효영역이 아닌 경우, 단계 S71로 진행하여 에러를 모니터(40)에 표시하고, 단계 S66으로 되돌아간다. 유효영역인 경우, 단계 S73으로 진행하여, 시간(time) 또는 전압(Voltage) 표시부(63)에 측정값(Vpp)을 표시하고 단계 S59로 되돌아간다.In step S71, it is determined whether the touch coordinate is an effective area. If it is not the valid area, the flow advances to step S71 to display an error on the monitor 40, and returns to step S66. In the case of the effective area, the flow advances to step S73 to display the measured value Vpp on the time or voltage display portion 63 and returns to step S59.
이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 파형검사장치의 키보드 조작량이 적어지고, 측정할 파라메터를 모니터에 표시된 설정키에 의해 간편하게 변경할 수 있으므로 전문가가 아니라도 파라메터를 쉽게 변경할 수 있으며, 설정시간도 단축할 수 있는 특별한 효과가 있다.As described above, according to the present invention, since the keyboard operation amount of the waveform inspection apparatus is reduced, and the parameter to be measured can be easily changed by the setting key displayed on the monitor, the parameter can be easily changed even by an expert, and the setting time can be shortened. Has a special effect.
발명이 속하는 기술분야 및 그 분야의 종래기술The technical field to which the invention belongs and the prior art in that field
본 발명은 파형검사 장치에 관한 것으로, 특히 모니터 화면에 측정 파라메터 설정용 키가 표시되고, 모니터 화면의 전면에 터치스크린이 설치되어 상기 파라메터 설정키에 해당하는 터치스크린 부분을 터치함으로써 그 대응키에 해당하는 기능이 수행되도록 한 터치스크린이 이용한 파형검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a waveform inspection apparatus, and in particular, a key for setting measurement parameters is displayed on a monitor screen, and a touch screen is installed on a front surface of the monitor screen to touch a corresponding touch screen portion corresponding to the parameter setting key. It relates to a waveform inspection apparatus used by the touch screen to perform a corresponding function.
일반적으로, 생산라인에 이용되는 VME(Versa Module Eurocard) 버스시스템상의 파형검사 장치는 어떤키의 누름에 의해 파형이 표시되고 사용자가 원하는 모드대로 자유자재로 변환된다.In general, a waveform inspection device on a Versa Module Eurocard (VME) bus system used in a production line displays waveforms by pressing a key and is freely converted to a desired mode.
제1도에 VME버스시스템을 이용한 파형검사 장치의 외부상태가 도시된다. 1은 VME버스시스템이며, 직육면체의 상자 형태이며, 그 전면에 선반이 형성되어 그 선반에 소정의 기능을 수행하는 보드(예 ; 고속 A/D변환기 보드, 카운터 보드등)를 장착하여 기능확장이 가능하다. 2는 플로피 디스크 드라이버이며, 플로피디스크에 데이타를 저장하거나 재생한다. 3은 중앙제어 보드이며, 시스템 전체를 제어한다. 4는 CRT인터페이스 보드이며, CRT모니터(10)에 데이타를 출력하여 표시한다. 5는 프린터 제어보드이며, 프린터에 데이타를 출력한다.The external state of the waveform inspection apparatus using the VME bus system is shown in FIG. 1 is a VME bus system. It is a rectangular parallelepiped box, and a shelf is formed in front of it, and a board (e.g., high-speed A / D converter board, counter board, etc.) that performs a predetermined function is mounted on the shelf. It is possible. 2 is a floppy disk drive, which stores and plays data on a floppy disk. 3 is the central control board, which controls the whole system. 4 is a CRT interface board, which outputs and displays data on the CRT monitor 10. 5 is a printer control board, which outputs data to the printer.
또한, 6는 고속 A/D변환모드이며, 입력된 아날로그 신호를 A/D변환한다. 7은 영상이득 선택기이며, 연속해서 들어오는 아날로그 신호의 이득을 선택한다. 8은 영상트리거 보드이며, 고속 A/D변환모드(6)에서 디지탈화된 파형을 트리거한다. 9는 카운터 보드이 파형이 주파수를 카운트하거나 필요에 따라 펄스의 수를 카운트한다. 10은 CRT모니터이며, CRT인터페이스 보드(4)에서 데이타를 받아 화면에 표시한다. 11은 키보드이며, 사용자가 명령이나 데이타를 입력한다. 12는 CRT신호선, 13은 키보드선, 14는 피측정체, 15는 피측정체선이다.6 is a high speed A / D conversion mode, and performs A / D conversion of the input analog signal. 7 is an image gain selector, which selects the gain of a continuous incoming analog signal. 8 is an image trigger board, which triggers a digitized waveform in the fast A / D conversion mode 6. 9 the counter board waveform counts the frequency or counts the number of pulses as needed. 10 is a CRT monitor, which receives data from the CRT interface board 4 and displays it on the screen. 11 is a keyboard, where the user enters commands or data. 12 is a CRT signal line, 13 is a keyboard line, 14 is a to-be-tested object, and 15 is a to-be-tested line.
상기와 같이 구성된 VME버스시스템을 이용한 파형검사기는 피측정체(14)로 부터 입력받는 영상신호를 영상이득 선택보드(7)에 의해 적절히 선택하여 고속 A/D변환보드(6)로 입력하며, 영상트리거 보드(8)에 설정된 대로 고속 A/D변환보드(6)는 영상신호를 샘플링한다. 상기 고속 A/D변환보드(6)로 부터 최종 출력되는 신호는 CRT인터페이스보드(4)를 통해 CRT모니터(10)에 표시된다. 이렇게 영상신호의 파형이 CRT모니터(10)의 화면에 표시되게 하기 위해, 제2에 도시된 바와 같이 여러 가지 파라메터를 키보드를 이용하여 설정해 주어야 한다. 그리고 제2도는 고속 A/D변환모드 사용시 설정해 주어야 할 파라메터들을 표시한다.The waveform inspector using the VME bus system configured as described above selects an image signal received from the target object 14 by the image gain selection board 7 and inputs it to the high speed A / D conversion board 6. As set in the image trigger board 8, the high speed A / D conversion board 6 samples the video signal. The final output signal from the high speed A / D conversion board 6 is displayed on the CRT monitor 10 through the CRT interface board 4. In order for the waveform of the image signal to be displayed on the screen of the CRT monitor 10, various parameters must be set using the keyboard as shown in FIG. 2 shows parameters to be set when using the fast A / D conversion mode.
이러한 파라메터 설정작업은 전문가가 아닌 이상 정확하고 바르게 설정할 수 없는 사항이며, 측정대상체가 바뀔 때마다 일일히 재설정해야 하기 때문에 시간이 많이 소요된다.This parameter setting work cannot be set correctly and correctly unless you are an expert, and it takes a lot of time because you have to reset it every time the measurement object changes.
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| KR101570017B1 (en) | 2011-12-28 | 2015-11-17 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | Grain-oriented electrical steel sheet and method for manufacturing the same |
-
1994
- 1994-10-31 KR KR1019940028421A patent/KR970010005B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR960014945A (en) | 1996-05-22 |
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