KR970007073Y1 - 기억소자 검사회로 - Google Patents

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KR970007073Y1
KR970007073Y1 KR2019910000175U KR910000175U KR970007073Y1 KR 970007073 Y1 KR970007073 Y1 KR 970007073Y1 KR 2019910000175 U KR2019910000175 U KR 2019910000175U KR 910000175 U KR910000175 U KR 910000175U KR 970007073 Y1 KR970007073 Y1 KR 970007073Y1
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김관우
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금성일렉트론 주식회사
문정환
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Abstract

내용없음

Description

기억소자 검사회로
제1도는 기억소자 검사장비에 사용되는 로드보드 구성도.
제2도는 종래의 로드보드 일부 구성회로도.
제3도는 본 고안에 따른 기억소자 검사회로도.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
1 : DUT2 : 로드보드
3 : 검사장비에 연결된 케이블4 : 가변저항
5 : 테스트장비R1,R2 : 저항
본 고안은 기억소자 검사장비 J386A에 사용되는 로드보드에 관한 것으로, 특히 출력값들이 다른 기억소자들을 검사하기에 적당하도록 한 기억소자 검사회로에 관한 것이다.
종래의 기억소자 검사장비인 J386A(5)를 사용하여 기억소자를 검사할 때 각 소자별로 출력값들이 상이하여 그 출력값에 적당한 저항을 로드보드(2)상에 부착하여서 사용을 하고 있다. 이때 이 저항(R1)은 사용자가 직접 로드보드(2)상에 부착을 하여 사용한다.
즉, 종래의 로드보드(2)는 제1도 "A"부분에 기억소자의 검사시에 출력값들이 다른 기억소자의 출력(OP)값에 맞는 저항(R1)을 제2도와 같이 각 소자별로 각각 다른 로드보드(2)에 연결하여 사용을 한다.
이로 인하여 출력값이 다른 기억소자들의 검사시에는 여러개의 로드보드(2)가 필요하게 된다.
그런, 종래 로드보드의 구조상 사용자가 출력값이 다른 기억소자의 검사를 할 때 그 출력값에 맞는 저항을 연결하여서 사용함으로 인하여 하나의 로드보드로 한 종류의 소자만을 검사할 수 밖에 없어서 출력값들이 다른 소자들을 검사하기 위해서는 여러장의 로드보드가 필요하게 된다.
그리고 이렇게 여러장의 로드보드로 검사를 하게 된다면 그 소자의 특성을 볼 때 검사조건이 달라(각 로드보드의 차이점을 식별할 수 없음) 정확한 특성 비교가 어렵게 되는 문제점이 있었다.
이에 따라 본 고안은 기억소자(MEMORY DEVICE)를 검사하기 위한 검사장비 J386A에 사용되는 로드보드(LOAD BOARD)의 구성을 변화시켜 효율적인 검사를 위한 것으로 제3도와 같이 기억소자의 출력단(OP)부분(A)에 가변저항(4)을 연결한다.
즉 이 부분(A)의 연결은 기억소자에서 나오는 로드보드 패턴의 끝부분과 검사장비(5)에서 나오는 로드보드(1)의 패턴 끝부분 사이에 가변저항(4)을 연결하여 사용을 한다.
기억소자의 출력값에 따른 출력단(OP) 저항을 출력값에 따라 사용자가 임의로 조정하여 사용을 한다.
즉, 본 고안은 기억소자의 검사를 위한 검사장비 J386A에 사용되는 로드보드(ROAD BOARD)(2)에 가변저항(4)을 연결하여 소자의 출력값에 따라 이 가변저항의 값을 변화시킨다.
예로 소자의 출력 전압이 high가 2.4V Low가 0.4V일 경우(이때 각각의 전류는 high일 경우 -1.0mA, Low일 경우 2.1mA; - 부호는 전류가 검사장비로 들어가는 방향을 의미함, 이 전류와 전압은 소자의 특성에 관련된 것으로 소자가 개발되면 이 값들은 미리 나와 있음) 다음식에 의거하여 연결되어야 하는 저항의 값은 645Ω이 된다. 그러나 J386A 장비는 장비 내부에 100Ω의 저항이 실장되어 있어 로드보드에 연결되어야 하는 저항은 545Ω이 된다. 이 장비와 소자간의 회로도는 제3도와 같다. 이때 이 회로도(제3도)에서 VT값은 장비가 소자의 출력값을 읽어서 그 값이 정확한지를 알아내기 위하여 가해주는 장비 내부에 있는 전압을 가해주는 값이다.
식) VOH+IOH×R=VT
VOL+IOL×R=VT
2.4-1.0×10-3×R=VT
0.4+2.1×10-3×R=VT
∴ R=645Ω
이와 같이 로드보드에 가변저항을 연결하여 사용하면 하나의 로드보드로서 기억소자의 출력값들이 다른 소자들을 이 가변저항의 저항값만을 변화시켜 검사를 가능하게 할 수 있고, 이 하나의 로드보드만을 이용하여 출력값들이 다른 소자들을 검사하면 동일한 조건으로 검사가 가능하여 특성을 조사할때 좀더 정확한 값들을 얻을 수 있게 되는 효과를 갖는다.

Claims (1)

  1. 기억소자 검사장비에 사용되는 로드보드상의 출력단에 가변저항을 연결하여 기억소자의 출력값에 맞게 조절가능토록 한 것을 특징으로 하는 기억소자 검사회로.
KR2019910000175U 1991-01-09 1991-01-09 기억소자 검사회로 KR970007073Y1 (ko)

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