KR960032573A - 스캐닝 원자력 마이크로스코피에 의해 화학적으로 분화된 화상을 제조하는 방법 - Google Patents
스캐닝 원자력 마이크로스코피에 의해 화학적으로 분화된 화상을 제조하는 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR960032573A KR960032573A KR1019960003671A KR19960003671A KR960032573A KR 960032573 A KR960032573 A KR 960032573A KR 1019960003671 A KR1019960003671 A KR 1019960003671A KR 19960003671 A KR19960003671 A KR 19960003671A KR 960032573 A KR960032573 A KR 960032573A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- functional group
- imaging
- tip
- additional
- mode
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
- G01Q60/38—Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
- G01Q60/42—Functionalisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/28—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y15/00—Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0009—RRAM elements whose operation depends upon chemical change
- G11C13/0014—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0009—RRAM elements whose operation depends upon chemical change
- G11C13/0014—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material
- G11C13/0019—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material comprising bio-molecules
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
본 발명은 정상 모드, 탄성 모드, 테이핑 모드 또는 비접촉 모드에서 화상처리를 수행하는 단계를 포함하며, 호학적으로 변형된 프로브를 사용하여 스캐닝 원자력 마이크로스코피에 의해 화학적으로 분화된 화상 제조 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 방법은 기술적인 표면을 영상화하는데 적합하다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 스캐닝 원자력 마이크로스코피의 원리를 도시한 도면.
제2도는 액상으로부터 흡착에 의해 코팅된 팁을 도시한 도면.
제3도는 아미노 또는 메틸기를 포함하는 영역을 가지고 있는 체스보드-같은 모델 표면을 도시한 도면.
제4도는 변형되지 않은 팁을 사용하여 스캐닝 원자력 마이크로스코피의 정상 모드에서 샘플을 영상화한 도면.
제5도는 코팅한 팁을 사용하여 샘플을 영상화한 도면.
Claims (11)
- 정상 모드, 탄성 모드, 테이핑 모드 또는 비접촉 모드에서 화상처리를 수행하는 단계를 포함하며, 화학적으로 변형된 프로브를 사용하여 스캐닝 원자력 마이크로스코피에 의해 화학적으로 분화된 화상을 제조하는 방법.
- 제1항에 있어서, 화학적으로 변형된 프로브로 사용되는 스캐닝 원자력 마이크로스코프 팁이 분석될 표면과 선택적으로 상호작용하는 하나 이상의 물질에 의해 금속 또는 산화물 층을 도포한 후에 또는 직접 코팅되는 것을 특징으로 하는 화학적으로 분화된 화상 제조 방법.
- 제2항에 있어서, 팁 변형 물질이 부가적인 산성 또는 염기성 작용기를 가지는 티올, 부가적인 핵염기 작용기를 가지는 티올, 부가적인 산성 또는 염기성 작용기를 가지는 이황화물 또는 부가적인 핵염기 작용기를 가지는 이황물인 것을 특징으로 하는 화학적으로 분화된 화상 제조 방법.
- 제2항에 있어서, 팁 변형 물질이 산성 또는 염기성 작용기 또는 부가적인 핵염기 작용기를 가지는 실란 또는 부가적인 핵염기 작용기를 가지는 실란인 것을 특징으로 하는 화학적으로 분화된 화상 제조 방법.
- 제2항에 있어서, 스캐닝 원자력 마이크로스코프의 팁이 산 또는 염기도 중합체 형태일 수 있는 다가양이온, 다가 음이온, 유기 또는 무기산, 유기 또는 무기 염기 또는 루이스산으로 코팅되는 것을 특징으로 하는 화학적으로 분화된 화상 제조 방법.
- 제1항 내지 5항 중 어느 한 항에 있어서, 화산제조가 물리적인 조건하에서 유기용매 또는 물에서 행해지는 것을 특징으로 하는 화학적으로 분화된 화상 제조 방법.
- 제1항 내지 6항 중 어느 한 항에 따른 방법을 공업적인 표면의 영상화에 사용하는 방법.
- 제1항 내지 6항 중 어느 한 항에 따른 방법을 점착성을 가지는 표면의 영상화에 사용하는 방법.
- 제1항 내지 6항 중 어느 한 항에 따른 방법을 생물학적 샘플의 영상화에 사용하는 방법.
- 제1항 내지 6항 중 어느 한 항에 따른 방법을 활성 성분 섹터에서의 스크리닝 또는 질량 스크리닝에 사용하는 방법.
- 제1항 내지 6항 중의 어느 한 항에 따른 방법을 공업적인 표면의 영상화에 사용하는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19504855A DE19504855A1 (de) | 1995-02-15 | 1995-02-15 | Verfahren zur chemisch differenzierenden Abbildung mittels Rasterkraftmikroskopie |
DE19504855.5 | 1995-02-15 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960032573A true KR960032573A (ko) | 1996-09-17 |
Family
ID=7753904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960003671A KR960032573A (ko) | 1995-02-15 | 1996-02-15 | 스캐닝 원자력 마이크로스코피에 의해 화학적으로 분화된 화상을 제조하는 방법 |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0727639B1 (ko) |
JP (1) | JPH095338A (ko) |
KR (1) | KR960032573A (ko) |
CN (1) | CN1083105C (ko) |
CA (1) | CA2169522A1 (ko) |
CZ (1) | CZ44796A3 (ko) |
DE (2) | DE19504855A1 (ko) |
ES (1) | ES2148603T3 (ko) |
HU (1) | HUP9600335A3 (ko) |
PL (1) | PL312807A1 (ko) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19631326A1 (de) * | 1996-08-02 | 1998-02-05 | Basf Ag | Verfahren zum Wirkstoff-Screening unter Einsatz der Rasterkraft-Mikroskopie |
US6635311B1 (en) * | 1999-01-07 | 2003-10-21 | Northwestern University | Methods utilizing scanning probe microscope tips and products therefor or products thereby |
CN1187596C (zh) | 2000-09-21 | 2005-02-02 | 松下电器产业株式会社 | 扫描探针显微镜,及其探针和制造方法,及使用其的分子加工法 |
CN1322323C (zh) * | 2005-04-22 | 2007-06-20 | 清华大学 | 一种多模式原子力探针扫描系统 |
JP2007147365A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 成形品表面の官能基分析方法 |
WO2008081044A1 (de) | 2007-01-05 | 2008-07-10 | Technische Universität München | Vorrichtung und verfahren für die erfassung von kräften im submicronewton-bereich |
WO2009001220A2 (en) * | 2007-06-26 | 2008-12-31 | Universitetet I Oslo | Functionalization of microscopy probe tips |
JP4910949B2 (ja) * | 2007-08-29 | 2012-04-04 | 株式会社島津製作所 | 液中試料の分析方法 |
EP2208044B1 (de) * | 2007-11-15 | 2018-11-14 | Forschungszentrum Jülich GmbH | Verfahren zur untersuchung einer probe durch rastertunnelmikroskopie mit anwendung eines kontrastmittels |
JP5907484B2 (ja) * | 2010-07-08 | 2016-04-26 | 国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学 | 高速走査型プローブ顕微鏡を用いる合成高分子の観測方法 |
CN102043070B (zh) * | 2010-10-22 | 2013-04-17 | 中国科学技术大学 | 反馈稳幅的调幅测力梯度仪及其扫描力显微镜和测频仪 |
CN104713670B (zh) * | 2013-12-11 | 2017-02-22 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 探针型压力传感器及其制作方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5144833A (en) * | 1990-09-27 | 1992-09-08 | International Business Machines Corporation | Atomic force microscopy |
JPH0518742A (ja) * | 1991-07-10 | 1993-01-26 | Olympus Optical Co Ltd | 原子プローブ顕微鏡 |
US5289004A (en) * | 1990-03-27 | 1994-02-22 | Olympus Optical Co., Ltd. | Scanning probe microscope having cantilever and detecting sample characteristics by means of reflected sample examination light |
KR950012094A (ko) * | 1993-10-04 | 1995-05-16 | 가나이 쯔또무 | 미소부 물성정보 측정장치 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2235049A (en) * | 1989-06-20 | 1991-02-20 | Rosser Roy J | Chemical bond microscopy |
EP0511662B1 (en) * | 1991-04-30 | 1996-07-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Scanning probe microscope, molecular processing method using the scanning probe microscope and DNA base arrangement detecting method |
DE4126380A1 (de) * | 1991-08-09 | 1993-02-11 | Basf Ag | Verfahren zur durchfuehrung ortsselektiver katalytischer reaktionen mit oder auf festkoerperoberflaechen im nanometer- und subnanometer-bereich |
JP2992141B2 (ja) * | 1991-09-26 | 1999-12-20 | 松下電器産業株式会社 | 走査型トンネル電子顕微鏡用原子間力顕微鏡の探針及び3−チエニル基含有珪素化合物 |
-
1995
- 1995-02-15 DE DE19504855A patent/DE19504855A1/de not_active Withdrawn
-
1996
- 1996-02-06 EP EP96101636A patent/EP0727639B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-02-06 DE DE59605528T patent/DE59605528D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-02-06 ES ES96101636T patent/ES2148603T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1996-02-09 JP JP8023758A patent/JPH095338A/ja active Pending
- 1996-02-14 CA CA002169522A patent/CA2169522A1/en not_active Abandoned
- 1996-02-14 PL PL96312807A patent/PL312807A1/xx unknown
- 1996-02-14 HU HU9600335A patent/HUP9600335A3/hu unknown
- 1996-02-15 KR KR1019960003671A patent/KR960032573A/ko not_active Application Discontinuation
- 1996-02-15 CN CN96107366A patent/CN1083105C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-02-15 CZ CZ96447A patent/CZ44796A3/cs unknown
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5289004A (en) * | 1990-03-27 | 1994-02-22 | Olympus Optical Co., Ltd. | Scanning probe microscope having cantilever and detecting sample characteristics by means of reflected sample examination light |
US5144833A (en) * | 1990-09-27 | 1992-09-08 | International Business Machines Corporation | Atomic force microscopy |
JPH0518742A (ja) * | 1991-07-10 | 1993-01-26 | Olympus Optical Co Ltd | 原子プローブ顕微鏡 |
KR950012094A (ko) * | 1993-10-04 | 1995-05-16 | 가나이 쯔또무 | 미소부 물성정보 측정장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19504855A1 (de) | 1996-08-22 |
HUP9600335A3 (en) | 2000-03-28 |
HUP9600335A2 (en) | 1997-05-28 |
EP0727639A1 (de) | 1996-08-21 |
CN1083105C (zh) | 2002-04-17 |
PL312807A1 (en) | 1996-08-19 |
JPH095338A (ja) | 1997-01-10 |
CN1211811A (zh) | 1999-03-24 |
CZ44796A3 (en) | 1996-09-11 |
ES2148603T3 (es) | 2000-10-16 |
CA2169522A1 (en) | 1996-08-16 |
HU9600335D0 (en) | 1996-04-29 |
DE59605528D1 (de) | 2000-08-10 |
EP0727639B1 (de) | 2000-07-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR960032573A (ko) | 스캐닝 원자력 마이크로스코피에 의해 화학적으로 분화된 화상을 제조하는 방법 | |
Morra et al. | Bacterial adhesion to polymer surfaces: a critical review of surface thermodynamic approaches | |
Yu et al. | Surface gradient material: from superhydrophobicity to superhydrophilicity | |
Sorribas et al. | Photolithographic generation of protein micropatterns for neuron culture applications | |
Milionis et al. | Engineering fully organic and biodegradable superhydrophobic materials | |
Gupta et al. | Mixed self-assembled monolayers of alkanethiolates on ultrasmooth gold do not exhibit contact-angle hysteresis | |
Woodward et al. | Kinetics of self-assembled monolayer growth explored via submonolayer coverage of incomplete films | |
Eriksson et al. | Direct observation of gas meniscus formation on a superhydrophobic surface | |
Tatemichi et al. | Protein-templated organic/inorganic hybrid materials prepared by liquid-phase deposition | |
Jung et al. | Surfactant activated dip-pen nanolithography | |
Ederth et al. | Influence of wetting properties on the long-range “hydrophobic” interaction between self-assembled alkylthiolate monolayers | |
Pan et al. | Fluorinated metal–organic coatings with selective wettability | |
Kinser et al. | Conductive atomic force microscope nanopatterning of hydrogen-passivated silicon in inert organic solvents | |
Grassi et al. | The conservation of the Vecchietta's wall paintings in the Old Sacristy of Santa Maria della Scala in Siena: The use of nanotechnological cleaning agents | |
Haimov et al. | Shape of water–air interface beneath a drop on a superhydrophobic surface revealed: Constant curvature that approaches zero | |
Eriksson et al. | Wetting transition on liquid-repellent surfaces probed by surface force measurements and confocal imaging | |
Janiszewska et al. | Dewetting of polymer films controlled by protein adsorption | |
Kramer et al. | Serial and parallel dip-pen nanolithography using a colloidal probe tip | |
Cho et al. | Covalent attachment of TAT peptides and thiolated alkyl molecules on GaAs surfaces | |
Eckert et al. | UNDERSTANDING INTERCELLULAR INTERACTIONS AND CELL ADHESION: LESSONS FROM STUDIES ON PROTEIN—METAL INTERACTIONS | |
Bunk et al. | Guiding molecular motors with nano-imprinted structures | |
Qaqish et al. | Structural and Compositional Mapping of a Phase-Separated Langmuir− Blodgett Monolayer by Atomic Force Microscopy | |
Ohnishi et al. | Characterization of fluorocarbon monolayer surfaces for direct force measurements | |
Hansson et al. | Effect of surface depressions on wetting and interactions between hydrophobic pore array surfaces | |
Knapp et al. | Effect of orientation and wetting properties on the behavior of Janus particles at the air–water interface |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |