KR960024449A - 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치와 이를 이용한 복사 전자장 내성 측정 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 전기장 강도 측정기 교정용, 자기장 강도 측정기 교정용, 안테나 교정용 및 전기 전자 장비의 불요 전자파 간섭 및 내성(EMI/EMS) 측정용 등으로 사용되는 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치 및 이를 이용한 복사 전자장 내성 측정 시스템에 관한 것이다.

종래의 시험장치는 주파수에 따라 각기 다른 전파 임피던스를 갖기 때문에 펄스 자기장 내성처럼 광대역 신호에 대한 시험을 지원할 수가 없고 자기장 혹은 전기장 측정용 안테나 고정시, 매 주파수에 따라 위치를 변경해야 하는 문제점들이 있었다.

본 발명은 상술한 문제점들을 극복하기 위한 것으로 주파수와 독립적으로 균일한 임의의 전파 임피던스를 갖는 수평 수직 전자파를 형성하도록 한 것이다.

Description

8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치와 이를 이용한 복사 전자장 내성 측정 시스템

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 본 발명에 의한 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 사시도, 제2도는 본 발명에 의한 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 요부 구성도로서, (A)는 평단면도, (B)는 정단면도, (C)는 측단면도.

Claims (11)

1. 전기 전자 장비의 불요 전자파 간섭 및 내성(EMI/EMS) 측정용 등으로 사용되는 임피던스 전자파 발생 장치에 있어서, 피시험체가 놓이는 공간을 갖는 피시험체 영역부와, 서로 다른 동축코넥터의 단면구조와 상기 피시험체 영역부의 구조를 임피던스 정합과 고전력 전송되도록 연결하는 동축 코넥터 접속 영역부와, 상기 피시첨체 영역부와 상기 동축코넥터 접속 영역부를 연결하기 위한 테이퍼 영역부를 포함하는 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 피시험체 영역부는 결합 전송 선로의 형태를 갖되 제1, 제2, 제3, 제4내부도체가 내부 모서리에 상하.좌우 대칭으로 위치하고 이를 지지하는 지지대와 상기 피시험체의 설치 및 동작상태를 관찰하기 위한 문 및 차폐창을 구비한 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치.
3. 제2항에 있어서, 상기 제1, 제2, 제3, 제4내부도체는 단면이 원형 또는 구형 중 어느 하나의 구조를 갖는 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치.
4. 제1항에 있어서, 상기 동축코넥터 접속 영역부는 상기 제1, 제2, 제3, 제4내부도체의 우측에 위치한 우단 N형 코넥터와 좌측에 위치하는 좌단 N형 코넥터를 상기 제1, 제2, 제3, 제4내부도체와 연결하는 연결부재와 이들을 고정하는 구멍을 갖는 제2외부도체 및 유전체를 구성된 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치.
5. 제4항에 있어서, 상기 상기 동축코넥터 접속 영역부의 내부도체가 접하는 상기 제2외부도체의 모서리부분은 곡면처리하여 쇼트 페스(Short pass)현상을 줄이도록 한 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치.
6. 제2항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1, 제2, 제3, 제4내부도체는 적어도 2개 이상의 부분이 조립되어 형성된 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치.
7. 제1항에 있어서, 상기 테이퍼 영역부는 피시험체 영역부에서 동축코넥터 접속 영역부로 갈수록 점차 좁아지는 구조를 갖되 피시험체 영역부 쪽을 중심이 내부방향에 위치하는 원 곡면으로 형성하거나 동축 코넥터접속 영역부쪽을 중심이 외부 방향에 위치하는 원 곡면으로 형성 대치하는 것 중 어느 하나로 구성된 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치.
8. 제1항에 있어서, 상기 테이퍼 영역부는 피시험체 영역부에서 동축 코넥터 접속 영역부 쪽으로 갈수록 점차 좁아지는 구조를 갖되 피시험체 영역부 쪽을 중심이 내부방향에 위치하는 원 곡면으로 형성하고 동축 코넥터 접속 영역부쪽을 중심이 외부방향에 위치하는 원 곡면으로 형성 대치하도록 한 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치.
9. 상기 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 좌단 제4N형 코넥터와 우단 제1N형 코넥터는 종단시키고, 좌단 제1N형 코넥터는 제1T연결자에게 연결하고, 좌단 제2, 제3N형 코넥터는 각각 스위치 S3에 연결하고, 이 S3의 한 출력단은 종단시키고 다른 한단은 제1T연결자에게 연결하고 상기 제1T연결자는 가변 감쇠기를 거쳐 다시 제3T연결자에 연결하며, 우단 제4N형 코넥터는 제3T연결자에게 연결하고 우단 제3, 제4N형 코넥터는 각각 스위치 S4에 연결되며 이 스위치 S4의 한 출력단은 종단시키고 다른 한 단은 제2T연결자에 연결하고, 이 제2T연결자는 다시 스위치 S2를 통해 직접 또는 180。 지연기를 거쳐 스위치 S1에 연결되고 다시 제3T연결자에 연결되는 구조를 갖는 복수 전자장 내성 측정 시스템.
10. 제9항에 있어서, 상기 좌단 각 N형 코넥터에서 상기 제1T연결자에 도달하는 전송길이가 동일하도록 형성한 복수 전자장 내성 측정 시스템.
11. 제10항에 있어서, 상기 우단 각 N형 코넥터에서 상기 제2T연결자에 도달하는 전송 길이가 동일하도록 형성한 복수 전자장 내성 측정 장치.

    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.