KR0139728B1 - 8단자 가변임피던스 전자파 발생장치와 이를 이용한 복사전자장내성측정 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 전기장 강도 측정기 교정용, 자기장 강도 측정기 교정용, 안테나 교정용 및 전기 전자 장비의 불요 전자파 간섭 및 내성 (EMI/EMS) 측정용 등으로 사용되는 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치 및 이를 이용한 복사 전자장 내성 측정 시스템에 관한 것이다.

종래의 시험장치는 주파수에 따라 각기 다른 전파 임피던스를 갖기 때문에 펄스 자기장 내성처럼 광대역 신호에 대한 시험을 지원할 수가 없고 자기장 혹은 전기장 측정용 안테나 고정시, 매 주파수에 따라 위치를 변경해야 하는 문제점들이 있었다.

본 발명은 상술한 문제점들을 극복하기 위한 것으로 주파수와 독립적으로 균일한 임의의 전파 임피던스를 갖는 수평 수직 전자파를 형성하도록 한 것이다.

Description

8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치와 이를 이용한 복사 전자장 내성 측정 시스템

제 1 도는 본 발명에 의한 8단자 가변 임시던스 전자파 발생장치의 구성을 개략적으로 나타낸 사시도.

제 2 도는 본 발명에 의한 8단자 가변 임시던스 전자파 발생장치의 요부 구성도로서,

(a)는 평 단면도,

(b)는 정 단면도,

(c)는 측 단면도.

제 3 도는 본 발명 8단자 가변 임피던스 전자파 발생장치를 이용하여 임의의 전파 임피던스를 발생시키기 복사 전자장 내성 측성 시스템의 구성도.

제 4 도 (A)는 8단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 균일장영역,

(B)는 종래 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 균일장영역.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 피시험체 영역 2 : 테이퍼 영역

3 : 동축코넥터 접속 영역 4 : 제 1 외부도체

5,6,7 : 제 1,2,3 내부본체 8 : 제 4 외부본체

9,11,13,14 : 좌단 제 1,2,3,4 N형 코넥터

10,12,14,16 : 우단 제 1,2,3,4 N형 코넥터

17 : 문 18 : 차폐창

21 : 제 5 내부도체 25 : 제 2 외부도체

30 : 제어 박스 31,32,33,34 : 스위치

35,36,37 : T연결자

본 발명은 결합 전송 선로 (Couplde Transmission Line) 내부에서 서로 반대 방향의 전력을 전송할 때, 동위상으로 만나는 지점에서는 저임피던스 전자파(자기장)를, 180도의 위상차를 갖고 만나는 지점에서는 고임피던스 전자파(전기파)를 발생시키는 특성을 이용하여, 전기장 강도 측정기 교정용, 자기장 강도 측정기 교정용, 안테나 교정용 및 전기 전자 장비의 불요 전자파 간섭 및 내성 (EMI/EMS) 측정용 등으로 사용되는 8단자 가변 임피던스 전자파 발생장치(8P-VWIG : 8 Port Variable Wave Impedance Generator) 에 관한 것이다.

종래 전파임피던스를 임의로 조절이 되지않고 단지 고임피던스 전자파 만을 발생시키는 시설로는 루프 안테나가 있다.

그러나 이러한 시설은 외부에 노출되므로서 외부 전자파 환경에 의해 영향을 받기도 하고 주기도 한다.

그러므로 펄스 자기장 내성 (IEC1000-4-9)과 같은 시험을 실시할 경우 차폐실과 같이 외부로 전자파 누설이 되지 않는 장소에서 시험을 실시해야만 하는 문제점을 지니고 있다.

또한 기존 티이엠 셀을 이용한 방법이 있는데, 이는 한쪽단은 가변 저항기를 설치하고 한쪽단은 전력을 급전시켜 반사되어 오는 전자파를 이용하는 방법이다.

그러나 이는 피시험체가 놓이는 시험 영역에서 주파수에 따라 각기 다른 전파 임피던스를 갖기 때문에 펄스자기장 내성처럼 광대역 신호에 대한 시험을 지원할 수가 없고 자기장 혹은 전기장 측정용 안테나 교정시, 매 주파수에 따른 위치를 변경해야 하는 문제점을 내포하고 있다.

이러한 문제점을 해결하기 위해 외부의 전자파 환경에 무관하게 시험을 실시할 수 있도록 하고, 피시험체가 위치하는 시험 영역에서 주파수와 독립적으로 임의의 전파 임피던스를 가질 수 있도록 한 것이 종래의 가변 임피던스 전자파 발생장치이다.

이는 피시험체가 놓이는 균일장 영역에서 균일도가 매우 높고, 분극분포가 매우 좋으므로 매우 정밀한 교정 혹은 내성 측정 분야에서 활용이 바람직한 반면, 피시험체를 한번 설치시 분극 조정이 불가능하여 피시험체(혹은 피교정체)를 재배치 해야 하는 문제점을 갖고 있다.

또한 구형 판 구조를 갖는 내부도체가 상하 대칭적으로 놓이는 구조로 인해, 균일장 영역이 좁아지는 문제점을 함께 지니고 있다.

본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로서 내부 전자계의 분극을 자유롭게 조정 가능하도록 4개의 내부도체를 설치하였다.

즉 4개의 단자 중에 급전 단자를 두 개씩 다르게 선택하므로서 분극 조정이 가능하도록 하였다.

또한 내부 도체간의 결합양을 줄이고 보다 넓은 균일장 영역을 확보하기 위해 구형 혹은 원형의 단면을 갖는 내부도체를 외부도체의 각 모서리 부위에 삽입 장착하는 구조를 갖는 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치를 제공함에 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기위한 본 발명의 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치의 특징으로는 전기 전자장비의 불요 전자파 간섭 및 내성(EMI/EMS) 측정용 등으로 사용되는 임피던스 전자파 발생장치에 있어서, 피시험체가 놓이는 공간을 갖는 피시험체 역역부와, 서로 다른 동축 코넥터의 단면구조와 상기 피시험체 영역부의 구조를 임피던스 정합과 고전력 전송되도록 연결하는 동축 코넥터 접속 영역부와, 상기 피시험체 영역부와 상기 동축코넥터 접속 영역부를 연결하기 위한 테이퍼 영역부를 포함한다.

본 발명 복사 전자장 내성 측정 시스템의 특징으로는 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치의 좌단 제 4 N 형 코넥터와 우단 제 1 N 형 코넥터는 종단시키고, 좌단 제 1 N 형 코넥터는 제 1 T 연결자에 연결하고, 좌단 제 2,3 N 형 코넥터는 각각 스위치 S3 에 연결하고, 이 스위치 S3 의 한 출력단은 종단시키고 다른 한단은 제 1 T 연결자에 연결하고, 상기 제 1 T 연결자는 가변감쇠기를 거쳐 다시 제 3 T연결자에 연결하며, 우단 제 4 N 형 코넥터는 제 3 연결자에 연결하고 우단 제 3,4 N 형 코넥터는 각각 스위치 S4 에 연결되며 이 스위치 S4 의 한 출력단은 종단 시키고 다른 한단은 제 2 T 연결자에 연결하고, 이 제 2 T 연결자는 다시 스위치를 S2를 통해 직접 또는 180°지연기를 거쳐 스위치 S1 에 연결하여 다시 제 3 T 연결자에 연결되는 구조를 갖는다.

이하, 제 1 도로부터 제 4 도의 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.

제 1 도는 본 발명에 의한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 사시도이고, 제 2 도는 본 발명에 의한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 요부 구성도로서 (A) 는 평 단면도, (B) 정 단면도, (C) 는 측 단면도를 나타낸 것이다.

제 3 도는 본 발명에 의한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치를 이용하여 임의의 전파 임피던스를 발생시키기 위한 시스템의 구조를 나타낸 것이다.

제 4 도는 기존 가변 임피던스 전자파 발생 장치와 본 발명에 의한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 균일장 영역의 크기를 비교한 것이다.

제 2 도에서 처럼 피시험체 영역 (1) 의 구조는 결합 전송 선로의 형태를 갖는데, 4개의 내부도체 (5,6,7,8) 가 내부에서 상하 대칭으로 놓이고 이를 지지하는 지지대 (20), 이러한 지지대를 고정시키는 나사 (24) 그리고 문 (17), 차폐창 (18) 으로 구성되어 있다.

상기 나사 (24) 는 내부 전자장의 영향을 줄이기 위해 단단한 플라스틱같은 비도전성 물질로 만든다.

상기 피시험체 영역 (1) 내의 균일장 영역(uniform field region)은 국제 규격인 IEC 1000-4-3, CISPR 24 등에서 내부 도체 혹은 외부 도체 사이의 1/3인 중심영역으로 정의하고 있으며, 피시험체의 크기는 이러한 영역의 크기를 초과해서는 안된다고 규정하고 있다.

이러한 영역 설정은 피시험체와 내부 및 외부 도체 사이의 상호 결합에 의한 영향을 줄이기 위함이다.

제 4 도 (A) 에 본 발명에 의한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 균일장 영역 (▒ 친 부분)을 나타내고 있으며, 제 4 도 (B) 에 동일크기의 종래 가변 임피던스 전자파 발생 장치의 균일장 영역 (▒ 친 부분)을 비교하였다.

도시한 바와 같이 종래 방식보다도 매우 넓은 균일장 영역을 확보할 수 있음을 볼 수가 있다.

그러나 종래의 가변 임피던스 전자파 발생 장치와는 달리 내부도체가 외부도체 모서리에 위치하므로서 균일도가 이보다는 떨어지는 문제점이 있으나 서로 반대면에 위치하는 내부도체를 동시에 급전시키므로서 내부 전자장의 균일도를 저해하는 성분인 좌우방향의 전계 성분이 서로 상쇠되는 효과로 인해 균일도가 개선된다.

이로서 IEC, CISPR 등에서 요구되는 전계 절대치 분포에 대한 균일도 평가를 충족시키는 전계 분포도를 갖는다.

(예, 1m * 1m 인 외부도체를 갖고 반경이 0.057m인 50Ω 8 단자 티이엠셀의 6㏈ 점유 영역비가 96%를 가짐.)

제 2 도 (C) 측면도에서 처럼 제 1,2,3,4 내부도체 (5,6,7,8) 는 단면이 원형인 구조를 갖고 있으나 보다 높은 캐패시턴스 결합양을 증가시켜 보다 가느다란 내부 도체를 갖게 하기 위해서 구형의 구조로 구성시킬 수가 있다.

또한 이 영역에서는 피시험체를 내부에 설치할 수 있도록 문 (17) 이 설치되어 있으며, 피시험체의 정사동작을 확인하기 위해 차폐 효과가 높은 차폐창 (18)을 3면에 하나씩 설치하였다.

상기 차폐창(18)의 소재로는 유리, 플라스틱 같은 투명 물질에 얇게 금, 은 등으로 코팅처리하거나, 가느다란 금속 망인 와이어 매쉬 등을 사용한다.

동축 코넥터 영역(3) 에서는 피시험체 영역의 단면구조(제 2 도 (C) 측면도 참조) 와 동축 코넥터의 단면 구조가 다르기 때문에 이들이 임피던스 정합이 유지되면서 고전력 전송이 가능하도록 구성하였다.

구성 소자로는 제 5 내부도체 (21), 제 2 외부도체 (25), 내부 유전체 (23), N형 코넥터 (9,10,11,12,13,14,15,16) 가 있다.

즉 제 5 내부도체 (21) 의 단면은 테이퍼 영역부 (2) 의 제 1,2,3,4 내부도체 (5,6,7,8) 구조가 원형이므로 그대로 원형을 유지하게 하고, 제작하기 쉽도록 조립식으로 분리 제작한다.

제 2 외부도체 (25) 는 제 5 내부도체 놓이는 4 개의 구멍을 갖고 있는데, 각각의 단면구조는 내부도체와 같이 원형 (제 2 도 (C) 측단면도 참조) 으로 제작한다.

이때 제 5 내부도체는 중심에 구멍을 내어 제 1,2,3,4 내부도체를 삽입 장착하도록 하고, 반대 방향에 역시 구멍을 내어 내부도체 핀(22) 으로 N형 동축 코넥터와 연결하게 하였다.

또한 내부도체(5,6,7,8,21)를 지지할 수 있도록 유전율이 낮은 비도전성(테프론 등) 유전체 (23)를 삽입 장착하였다.

모서리진 부위에서 많이 나타나는 쑈트페스 (short pass) 현상을 줄이기 위해 각진 부위 (26)를 곡면으로 만들 수 있다.

테이퍼 영역(2) 에서는 동축 코넥터 영역과 피시험체 영역을 연결하는 부분으로써, 단면은 피시험체의 영역과 같으며, 동축코넥터 영역으로 갈수록 점점 줄어드는 구조를 갖는다.

이러한 구조는 피시험체 영역의 구조와 함께 가용 주파수와 매우 밀접한 관계를 갖고 있다.

이 테이퍼 영역 (2) 는 크기 및 길이가 작을수록 피시험체 공간은 작아지나 가용 주파수 범위가 넓어진다.

그러므로 이러한 영역에서는 유효길이 (effective length)를 작게 만들어야 할 것이다.

유효길이를 작게 하는 방법으로서 곡선형으로 대치할 수가 있다(특허 출원 번호 93-29386 참조).

유효 길이를 작게 하는 방법으로 즉 피시험체 영역부 쪽에서는 중심이 내부방향에 위치하는 원 곡면으로 만들고 이와는 반대로 동축 코넥터 이음매 영역부 쪽에는 외부 방향에 중심이 위치하는 원곡면으로 만들어 구현할 수가 있다.

제 3 도는 상술한 구성을 갖는 본 발명 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치를 이용하여 임의의 전파 임피던스를 발생시키기 위한 시스템의 구성을 나타낸 것이다.

좌단 제 4 N 형 코넥터 (15), 우단 제 1 N 형 코넥터 (10) 은 종단 (termination) 시키고 좌단 제 1 N 형 코넥터 (9) 은 전송선로 L3를 통해 제 1 연결자 (35) 에 연결한다.

좌단 제 2 N 형 코넥터 (11), 좌단 제 3 N 형 코넥터 (13) 은 각각 L5, L4를 통해 스위치 S3(33)에 연결되고 S3(33)의 한 출력단은 종단시키고 다른 한단은 전송선로 L6를 통해 제 1 T 연결자 (35)에 연결한다.

이때 제 1 T 연결자(35)에 도달한 총 전송길이는 같아야 한다.

즉 L3, L5+L6, L4+L6 의 길이는 동일해야 한다

제 1 T 연결자 (35)은 가변 감쇠기(38)를 거쳐 다시 제 3 T 연결자(37)에 연결한다.

우단 제 4 N 형 코넥터 (16) 은 전송라인 L11를 통해 제 2 T 연결자 (36)에 연결하고, 우단 제 3 N 형 코넥터(14), 우단 제 2 N 형 코넥터(12) 은 각각 L9, L10을 통해 스위치 S4(34)에 연결되고 이때 스위치 S4(34)의 한 출력단은 종단시키고 다른 한단은 전송선로 L12를 통해 제 2 T 연결자(36)에 연결한다.

이때도 제 2 T 연결자(36)에 도달한 총 전송길이는 같아야 한다.

즉 L11, L9+L12, L10 의 길이는 같아야 한다.

제 2 T 연결자 (36)은 다시 스위치 S2(32)를 통해 직접 혹은 180도 위상 지연기(39)를 거쳐 스위치 S1(31)에 연결하고 다시 전송선로 L14를 거쳐 제 3 T 연결자 (37) 에 연결한다.

이때도 중심영역에서 주파수와 독립적으로 임의의 전파임피던스를 갖는 전자파를 발생시키기 위해서 제 3 T 연결자 (37) 의 좌우단으로부터 N 형 코넥터까지 도달하는 총길이를 같게 해야 한다.

제 3 T 연결자 (37)는 전력증폭기(40) 및 신호발생기 (50)에서 공급된 전력을 각각 2 등분하여 양측으로 전송시키는 역할을 한다.

피시험체 영역에서 제 1,3 내부 도체 (5,7) 와 제 2,4 내부도체 (6,8)가 각각 외부도체와의 위상차가 동위상이고 전압이 같으면, 이들은 각각 피시험체 영역의 중심에서 크기는 같으면서 방향이 서로 반대 방향의 수직전계를 형성시켜 상쇠된다.

반면, 전파의 진행 방향 서로 반대 방향으로 급전되므로 수평 자계는 크기가 같으면서 방향이 서로 같아 2 배의 값을 갖는다.

이때 한쪽단의 전압을 조절하면 낮은 수직 전계, 높은 수평 자계를 갖는 전자파의 전파 임피던스 (377Ω 이하)를 임의대로 조절할 수가 있다.

또한 피시험체 영역에서 동위상인 제 1,3 내부 도체 (5,7) 와 동위상인 제 2,4 내부 도체 (6,8)일 때, 이들 두 그룹간의 위상차가 180도 이고 전압이 같으면, 이들은 각각 피시험체 영역의 중심에서 크기는 같으면서 방향이 서로 반대 방향의 수평 자계를 발생시켜 상쇠된다.

전파의 진행 방향이 서로 반대 방향이므로 수직 전계는 크기가 같으면서 서로 같아 2 배의 전계값을 갖는다.

이때 한쪽단의 전압을 조절하면 높은 수직 전계, 낮은 수평 자계를 갖는 전자파의 전파 임피던스 (377Ω 이상)를 임의대로 조절할 수가 있다.

이러한 원리를 이용한 본 발명의 실시예는 다음과 같다.

Ⅰ) 피시험체 영역에서 낮은 수직 전계, 높은 수평 자계를 갖는 저임피던스 전자파(자기파)를 만들기 위해서, 제 3 도의 시스템에서 스위치 S1(31) 및 스위치 S1(31)를 L1으로 연결하고 스위치 S3(33)를 조절하여 L5는 종단기쪽으로, L4는 L6쪽으로 연결한다.

그리고 스위치 S4(34)를 조작하여 L10 은 종단기쪽으로 L9는 L12쪽으로 연결한 후 가변 감쇠기(38)를 조절하여 원하는 저 임피던스 전자파를 발생시킬 수 있다.

Ⅱ) 피시험체 영역에서 높은 수직 전계, 낮은 수평 자계를 갖는 고임피던스 전자파(전기파)를 만들기 위해서는 Ⅰ)의 상태에서 단지 스위치 S1(31)과 스위치 S2(32)를 직접 연결하면 얻을 수 있다.

Ⅲ) 피시험체 영역에서 낮은 수평 전계, 높은 수직 자계를 갖는 저임피던스 전자파(자기파)를 만들기 위해서는 제 3 도의 시스템에서 스위치 S1(31) 및 스위치 S2(32)를 L1으로 연결하고 스위치 S3(33)를 조절하여 L4는 종단기쪽으로, L5는 L6쪽으로 연결한다.

그리고 스위치 S4(34)를 조작하여 L10은 종단기쪽으로 L9 는 L12 쪽으로 연결하고난 뒤 가변 감쇠기(38)를 조절하여 원하는 저임피던스 전자파를 발생시킬 수 있도록 하였다.

Ⅳ) 피시험체 영역에서 높은 수직 전계, 낮은 수평 자계를 갖는 고임피던스 전자파(전기파)를 만들기 위해서는, Ⅲ)의 상태에서 단지 스위치 S1(31)과 스위치 S2(32)를 직접 연결하면 얻을 수 있다.

Ⅰ),Ⅱ),Ⅲ),Ⅳ) 의 과정은 각각 수평 자기파, 수직 전기파, 수직 자기파, 수평 전기파를 조성시키는 방법을 나타낸 것으로, 주파수와 독립적으로 내부 균일장 영역에서 임의의 전파임피던스 및 수직 수평 분극을 갖는 전자파의 조성이 가능하여 전자파 내성은 물론 각종 안테나 교정시험을 실시할 수가 있다.

본 발명에 의한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치를 구현시키므로서 내부도체 양단의 공급전압을 조절하여 임의의 전파 임피던스를 갖는 수직 수평 전자파 조성이 가능하다.

또한 피시험체 영역에서 주파수와 독립적으로 임의의 전파임피던스를 갖게 할 수 있으므로, 광대역 전자파 (IEC 100-4-9 와 같은 펄스성 지기파 내성 등) 내성 시험이 가능하게 되었다.

그리고 본 발명은 구조 특성상 외부 전자파 환경에 무관하고 좁은 공간에서 설치가 용이하며, 시설의 이동이 자유로우며 3면에 설치된 차폐창으로 피조사체의 동작상태를 관찰하기가 용이하다.

그 외에도 본 발명은 시설에 비해 넓은 시험 공간을 확보하게 되어 보다 다양한 피시험체에 대한 전자파 내성, 교정 시험이 가능하게 되었으며, 8 단자 구조 특성에 의해 특히 전자파 내성 및 전자파 장해 측정시 요구되는 피시험체의 방위 변화 횟수를 줄여 높은 재현성을 갖는 효과가 있다.

Claims (8)

1. 전기 전자장비의 불요 전자파 간섭 및 내성(EMI/EMS)측정용 등으로 사용되는 임피던스 전자파 발생장치에 있어서, 피시험체가 놓이는 공간으로 결합 전송 선로의 형태를 갖되 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 내부도체가 내부 모서리에 상하. 좌우 대칭으로 위치하고 이를 지지하는 지지대와 상기 피시험체의 설치 및 동작상태를 관찰하기 위한 문 및 차폐창을 구비한 피시험체 영역부와; 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 내부도체의 우측에 위치한 우단 N 형 코넥터와, 좌측에 위치하는 좌단 N 형 코넥터를 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 내부도체와 연결하는 연결부재와, 이들을 고정하는 구멍을 갖는 제 2 외부도체 및 유전체를 구성되어 서로 다른 동축코넥터의 단면구조와 상기 피시험체 영역부의 구조를 임피던스 정합과 고전력 전송되도록 연결하는 동축 코넥터 접속 영역부와; 상기 피시험체 영역부에서 동축코넥터 접속 영역부로 갈수록 점차 좁아지는 구조를 갖되 피시험체 영역부 쪽을 중심이 내부방향에 위치하는 원 곡면으로 형성하거나 동축 코넥터 접속 영역부쪽을 중심이 외부방향에 위치하는 원곡면으로 형성 대치하는 것 중 어느하나로 구성되어 상기 피시험체 영역부와 상기 동출코넥터 접속 영역부를 연결하는 테이퍼 영역부를 포함하는 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 내부도체는 단면이 원형 또는 구형 중 어느 하나의 구조를 갖는 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 도축코넥터 접속 영역부의 내부도체가 접하는 상기 제 2 외부도체의 모서리부분은 곡면처리하여 쇼트 페스(Short pass)현상을 줄이도록 한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치.
4. 제1항 또는 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 제 1,2,3,4, 내부도체는 적어도 2개 이상의 부분이 조립되어 형성된 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치.
5. 제1항에 있어서, 상기 테이퍼 영역부는 상기 피시험체 영역부에서 동축코넥터 접속 영역부 쪽으로 갈수록 점차 좁아지는 구조를 갖되 피시험체 영역부 쪽을 중심이 내부 방향에 위치하는 원 곡면을 형성하고 동축코넥터 접속 영역부쪽을 중심이 외부방향에 위치하는 원곡면으로 형성 대치하도록 한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치.
6. 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치의 좌단 제 4 N 형 코넥터와 우단 제 1 N 형 코넥터는 종단 시키고, 좌단 제 1 N 형 코넥터는 제 1 T 연결자에 연결하고, 좌단 제 2, 제 3 N 형 코넥터는 각각 스위치 S3 에 연결하고, 이 S3 의 한 출력단은 종단시키고 다른 한단은 제 1 T 연결자에 연결하고 상기 제 1 T 연결자는 가변 감쇠기를 거쳐 다시 제 3 T 연결자에 연결하며, 우단 제 4 N 형 코넥터는 제 3 T 연결자에 연결하고 우단 제 3, 4, N 형 코넥터는 각각 스위치 S4 에 연결되며 이 스위치 S4 의한 출력단은 종단시키고 다른 한 단은 제 2 T 연결자에 연결하고, 이 제 2 T 연결자는 다시 스위치 S2를 통해 직접 또는 180°지연기를 거쳐 스위치 S1 에 연결되고 다시 제 3 T 연결자에 연결되는 구조를 갖는 8 단자 가변임피던스 전자파 발생장치를 이용한 복사 전자장 내성측정 시스템.
7. 제6항에 있어서, 상기 좌단 각 N 형 코넥터에서 상기 제 1 T 연결자에 도달하는 전송 길이가 동일하도록 형성한 8 단자 가변임피던스 전자파 발생장치를 이용한 복사 전자장 내성측정 시스템
8. 제7항에 있어서, 상기 우단 각 N 형 코넥터에서 상기 제 2 T 연결자에 도달하는 전송길이가 동일하도록 형성한 8 단자 가변임피던스 전자파 발생장치를 이용한 복사 전자장 내성측정 시스템.