KR960009937B1 - Method and apparatus of micom performance - Google Patents

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KR960009937B1 KR1019930008724A KR930008724A KR960009937B1 KR 960009937 B1 KR960009937 B1 KR 960009937B1 KR 1019930008724 A KR1019930008724 A KR 1019930008724A KR 930008724 A KR930008724 A KR 930008724A KR 960009937 B1 KR960009937 B1 KR 960009937B1
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한덕석
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대우전자 주식회사
배순훈
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  • Cold Air Circulating Systems And Constructional Details In Refrigerators (AREA)

Abstract

generating an output to turning off all LEDs (9) with a LED driver (8) when a LED test switch (SW1) is pressed; outputting a defined signal to a defect detector (3) and a relay driver (4) when an electric control equipment test switch (SW2) is selected; and checking the function of the microcomputer (1) by reducing the output of the microcomputer (1) in proportion to the time.

Description

마이컴기능검사와 제어전장물 불량검출 방법 및 장치Microcomputer function test and control electronics defect detection method and device

제1도는 본 발명에 의한 제어 블럭도.1 is a control block diagram according to the present invention.

제2도는 제1도의 마이컴, 테스트 키이입력부, 고장검출부, 릴레이 구동부, 구동전장물을 나타내는 상세회로도.FIG. 2 is a detailed circuit diagram showing a microcomputer, a test key input unit, a fault detection unit, a relay driver unit, and a drive electronic device of FIG.

제3도는 본 발명에 따른 전장물 고장검출시의 플로우 챠트.3 is a flow chart at the time of detecting failure of the electric equipment according to the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 마이컴2 : 테스트 키이 입력부1: microcomputer 2: test key input unit

3 : 고장검출부4 : 릴레이 구동부3: fault detection unit 4: relay driving unit

5 : 구동전장물6 : 키이입력부5: driving electrical equipment 6: key input unit

7 : 도어열림 감지부8 : LED 구동부7: door open detection unit 8: LED driving unit

9 : 커스텀 LED10 : 온도감지 신호처리부9: custom LED10: temperature detection signal processing unit

11 : 온도 감지 소자12 : 전원부11: temperature sensing element 12: power supply

R7, R8, R9: 저항Q1: 트랜지스터R 7 , R 8 , R 9 : Resistor Q 1 : Transistor

L1~L4: 램프.L 1 to L 4 : lamps.

본 발명은 마이컴(MICOM : MICRO COMPUTER)의 중요기능의 이상유무를 빠른 시간내에 테스트하여 파악하고, 마이컴제어에 종속되어 구동되는 전장물을 테스트하여 그 고장유무도 신속히 검출할 수 있도록 한 마이컴기능검사와 제어전장물 불량검출 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention is to test the microcomputer (MICOM: MICRO COMPUTER) to check the presence or absence of important functions in a short time, and to test the electrical equipment driven subordinate to the microcomputer control to detect the failure of the microcomputer function quickly The present invention relates to a method and an apparatus for detecting defective control electronics.

본 발명은 일 실시예로 마이컴제어로 구동되는 전자식 냉장고를 중심으로 설명한다. 종래, 냉장고를 제어하는 마이컴의 기능을 테스트 하기 위해서는 장시간 동안 냉장고의 상태를 살표 보아야만 했다, 예를 들어 도어의 열림누적시간(냉장고 도어가 열려있던 시간을 합산하여 제상시기를 판단하는 기능)이 1시간, 프리쿨(PRECOOL : 제상시간 일정시간전에 압축기를 구동시켜 제상후 고내의 온도를 보상하는 기능) 기능이 40분, 제상히터 구동시간이 90분, 휴지기가 7분, 냉동실 팬 지연시간이 5분, 센서 감지 온도 디스플레이 시간이 8분, 냉동팬 지연시간이 다시 5분등 보통시의 냉장고 구동처럼 상기와 같은 오랜 시간들을 기다리며 마이컴기능의 이상유무를 확인해야만 됐다.The present invention will be described with reference to an electronic refrigerator driven by a microcomputer control in one embodiment. Conventionally, in order to test the function of the microcomputer to control the refrigerator, the state of the refrigerator had to be monitored for a long time, for example, the cumulative time of the door opening (the function of determining the defrosting time by summing the time that the refrigerator door was opened). 1 hour, pre-cooling (PRECOOL: function to compensate the temperature in the air after defrosting by operating the compressor before the defrost time) function 40 minutes, defrost heater driving time 90 minutes, rest period 7 minutes, freezer fan delay time 5 minutes, sensor detection temperature display time is 8 minutes, refrigeration fan delay time is 5 minutes again.

또한, 다수개의 커스텀(CUSTOM) LED(발광 다이오드), 중요전장물인 압축기, 히터, 팬등의 고장유무를 체크하기 위해서는 일일히 소정 테스터 기기(지그 : JIG)로 검사해야되는 관계로 많은 시간이 소요되어, 고장체크에 어려움이 많았으며 그 고장부위도 신속히 알아내기 어려운 문제점이 있었다.In addition, a large number of CUSTOM LEDs (light emitting diodes), compressors, heaters, and fans, which are important electric appliances, need to be inspected by a predetermined tester (jig: JIG) in order to check for failures. In addition, there were a lot of difficulties in checking the failure, and there was a problem that the failure site was difficult to find out quickly.

본 발명은 상기한 문제점을 감안하여 안출된 것이다.The present invention has been made in view of the above problems.

따라서 본 발명의 목적은 빠른시간내에 마이컴의 특정제어기능을 테스트 할수 있도록 하여주어 그 고장유무를 신속히 판별할 수 있도록 하며, 마이컴 제어대상 전장물의 고장여부로 신속히 판별하여 고장수리시 용이하도록 한 마이컴 기능 검사와 제어전장물 불량검출방법을 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to enable a specific control function of the microcomputer to be tested in a short time so as to quickly determine whether there is a failure, and to quickly determine whether the electronic device to be controlled is a microcomputer function for easy troubleshooting. The present invention provides a method for inspecting and inspecting defective control electronics.

본 발명의 또 다른 목적은 마이컴 제어 전장물의 불량여부를 테스트할 수 있도록한 제어 전장물 고장검출장치를 제공하는 데에 있다.Still another object of the present invention is to provide a control equipment failure detection apparatus capable of testing whether a microcomputer control equipment is defective.

이와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 마이컴의 기능검사와 이 마이컴에 의해 제어 구동되는 전장물의 불량검출 방법에 있어서, LED 테스트 스위치 키이 입력시, LED 구동부로 모든 커스텀 LED가 점등되도록 소정 출력을 행하는 과정과, 전장물 테스트 스위치 키이 입력시, 고장검출부로 일정신호로 출력하고, 구동 전장물로 순차적인 구동출력을 행하여 상기 고장검출부에 구비된 램프의 점소등으로 구동전장물의 고장유무를 판단하도록 한 과정과, 시간단축 테스트 스위치 키이 입력시, 마이컴의 통상출력을 시간 비례적으로 단축하여 출력할 수 있도록하여 그 기능의 이상유무를 판단할 수 있도록한 과정을 구비하여 된 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a function test of a microcomputer and a failure detection method of an electronic device controlled by the microcomputer. When the LED test switch key is input, a predetermined output is performed so that all the custom LEDs are turned on by the LED driver. Process, and when the electric field test switch key is input, it outputs a predetermined signal to the fault detection unit and performs a sequential drive output to the drive electric unit to determine whether the electric field is faulty by turning on or off the lamp provided in the fault detection unit. Process, and when the time-saving test switch key is input, the normal output of the microcomputer can be shortened proportionally and outputted so as to determine whether there is an abnormality of the function.

또한, 마이컴의 제어로 구동되는 제어전장물의 고장검출 장치에 있어서, LED 테스트 스위치, 전장물 테스트 스위치, 시간단축 테스트 스위치등을 구비하여 각각의 특정키이를 입력하여 주는 테스트 키이 입력부가 마이컴의 입력에 접속되고, 상기 마이컴의 출력포트에 저항, 트랜지스터, 램프로 이루어진 고장검출부를 접속하되, 상기 램프의 일단이 릴레이구동부의 인버터 출력측에 각각 연결되도록하여 구성한 것을 특징으로 한다.In addition, in the fault detection device of the control electronics driven by the control of the microcomputer, a test key input unit including an LED test switch, a electrical equipment test switch, a time-saving test switch, and the like to input each specific key is input to the microcomputer input. It is connected, and the fault detection unit consisting of a resistor, a transistor, a lamp is connected to the output port of the microcomputer, one end of the lamp is characterized in that configured to be connected to the inverter output side of the relay driver.

이하 첨부된 도면에 의거하여 본 발명을 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

제1도는 본 발명을 냉장고에 적용한 것에 따른 제어 블럭도를 나타낸 것으로, 본 발명에 따른 일정 프로그램을 내장하고, 시계기능, A/D 콘버팅(아날로그-디지탈 변환) 기능등을 내장하여 각종신호를 처리하는 원 칩마이컴(1)과, 후술하는 LED 테스트 스위치, 전장물 테스트스위치, 시간단축 테스트스위치등을 구비하여 상기 마이컴(1) 기능테스트시나 전장물 테스트시에 일정키입력을 마이컴(1)으로 하여주는 테스트 키이입력부(2)와, 전장물(압축기, 히터, 팬...)에 상응하는 램프(LED)를 구비하여 전장물 고장검출시 램프(LED)의 점소등으로 불량여부를 판별할 수 있도록 하여주는 고장검출부(3)와, 상기 전장물을 구동시키는 릴레이 구동부(4)와, 압축기, 히터 팬등으로 이루어진 구동전장물(4), 냉동실 및 냉장실의 온도설정 및 시계기능등을 위해 마련된 통상의 키이 입력부(6)와, 도어 스위치의 감지로 도어 열림을 감지 할수 있도록하여 제상시기의 산출변수로 활용하기 위한 도어열림감지부(7)와, 전자식냉장고의 특징이랄만큼 많이 쓰이는 각종 커스텀 LED(9)(단일 LED 및 숫자표시용 LED)와, 이 커스텀을 구동하는 전용 드라이버 집적회로로 이루어진 LED 구동부(8)와, 냉동실 또는 냉장실에 설치되어 각각의 온도를 감지하는 온도감지소자(11)와, 이 온도감지소자(11)의 센싱(SENSING)을 일정신호로 변환하여 상기 마이컴(1)에 입력하여주는 온도감지 신호처리부(10)와, 상기 마이컴(1) 및 그 주변회로에 일정 직류전원 및 교류전원을 공급하여 주는 전원부(12)로 본 발명은 구성되어 있다.1 is a control block diagram showing the application of the present invention to a refrigerator, and includes a schedule program according to the present invention, a clock function, an A / D converting function (analog-to-digital conversion) function, and the like. One chip microcomputer (1) to be processed, LED test switch, electrical equipment test switch, time-saving test switch, etc. to be described later, and the microcomputer (1) to input a constant key during the functional test or electrical equipment test of the microcomputer (1). The test key input unit 2 and a lamp (LED) corresponding to the electrical equipment (compressor, heater, fan ...) are used to determine whether there is a defect by turning off the lamp (LED) when detecting the failure of the electrical equipment. Fault detection unit (3) that enables to do so, the relay drive unit (4) for driving the electrical equipment, the drive electronics (4) consisting of a compressor, a heater fan, etc. for the temperature setting and clock function of the freezer and refrigerating chamber Ordinary Key input unit 6, door opening detection unit 7 to detect the door opening by the detection of the door switch to use as a calculation variable of the defrost time, and various custom LEDs (9) that are used as many features of the electronic refrigerator (Single LED and LED for number display), an LED driver 8 consisting of a dedicated driver integrated circuit for driving the custom, a temperature sensing element 11 installed in a freezing compartment or a refrigerating compartment for sensing respective temperatures, The temperature sensing signal processing unit 10 converts the sensing of the temperature sensing element 11 into a predetermined signal and inputs it to the microcomputer 1, and the constant DC power supply to the microcomputer 1 and its peripheral circuit. This invention is comprised by the power supply part 12 which supplies AC power.

제2도는 제1도의 제어블럭도 중 마이컴(1), 테스트 키이 입력부(2), 고장검출부(3), 릴레이 구동부(4), 구동전장물(5) 등 중요부분의 상세회로도를 나타낸 것으로, 마이컴(1)의 입력포트(PI1~PI3)에는 LED 테스트 스위치(SW1), 전장물 테스트 스위치(SW2), 시간단축 테스트 스위치(SW3), 저항(R1~R6), 콘덴서(C1~C3)로 구성된 테스트 키이 입력부(2)가 접속되어 있으며, 또한 마이컴(1)의 출력포트(PO1)에는 저항(R7~R9), 트랜지스터(Q1), 램프(L1~L4)로 이루어진 고장검출부(3)가 접속되어 있으며, 마이컴(1)의 출력포트(PO1)에는 인버터(IC) 다이오드(D1~D4), 릴레이(RY1~RY4)로 이루어진 릴레이 구동부(4)가 접속되어 있으며, 상기 고장검출부(3)의 램프(L1~L4)의 일단이 인버터(IC)의 출력단에 각각 연결 되어 있다. 또한, 압축기(CP), 제상용히터(HT), 냉동실 팬(FF), 냉장실 팬(RF) 등의 구동전장물(5)이 상기 릴레이(RY1~RY4)의 통전으로 구동하게 된다.FIG. 2 is a detailed circuit diagram of important parts of the control block diagram of FIG. 1, such as the microcomputer 1, the test key input unit 2, the fault detection unit 3, the relay driver 4, and the drive electronics 5. Input ports (PI 1 to PI 3 ) of the microcomputer (1) include an LED test switch (SW 1 ), an electrical equipment test switch (SW 2 ), a shortened test switch (SW 3 ), a resistor (R 1 to R 6 ), A test key input 2 composed of condensers C 1 to C 3 is connected, and the output ports PO 1 of the microcomputer 1 are resistors R 7 to R 9 , transistors Q 1 , and lamps. The fault detection part 3 consisting of (L 1 to L 4 ) is connected, and the inverter (IC) diode (D 1 to D 4 ) and the relay (RY 1 to RY) are connected to the output port PO 1 of the microcomputer 1. The relay driver 4 made of 4) is connected, and one end of the lamps L 1 to L 4 of the fault detection unit 3 is connected to the output terminal of the inverter IC, respectively. In addition, the drive electronics 5 such as the compressor CP, the defrost heater HT, the freezer compartment fan FF, and the refrigerating compartment fan RF are driven by energization of the relays RY 1 to RY 4 .

제3도는 부하전장물(5)의 고장검출시의 플로우 챠트이다.3 is a flow chart at the time of fault detection of the load electric component 5.

상기와 같이 구성 시켜서된 본 발명의 작용 및 효과를 제1도 내지 제3도를 통하여 설명한다.The operation and effects of the present invention configured as described above will be described with reference to FIGS. 1 to 3.

본 발명에 따른 회로에 전원이 인가되고, 먼저, 커스텀 LED(9)의 불량여부를 테스트 하기위해 테스트 키이입력부(2)의 LED 테스트 스위치(SW1)를 누르게되면 그에 따른 일정신호(로우레벨신호)가 마이컴(1)의 입력포트(PI1)로 입력된다. 따라서 마이컴(1)은 이때 입력되는 신호를 검출하여 LED 구동부(8)로 모든 커스텀 LED(9)가 점등할 수 있도록 소정출력을 하여준다.When power is applied to the circuit according to the present invention, first, the LED test switch SW 1 of the test key input unit 2 is pressed in order to test whether the custom LED 9 is defective. ) Is input to the input port PI 1 of the microcomputer 1. Therefore, the microcomputer 1 detects a signal input at this time and outputs a predetermined output to the LED driver 8 so that all the custom LEDs 9 can be turned on.

따라서 이때 점등되지 아니하는 커스텀 LED(9)를 발견함으로서 불량의 커스텀 LED(9)를 쉽게 발견할 수 있는 것이다.Therefore, by discovering a custom LED (9) that is not lit at this time, it is possible to easily find a custom LED (9) defective.

또한, 테스트 키이 입력부(2)의 전장물 테스트 스위치(SW2)가 온되어 마이컴(1)의 입력포트(PI2)로 로우신호가 입력되면 마이컴(1)은 출력포트(PO1)로 로우신호를 출력한다. 따라서 이때 출력된 로우신호는 저항(R7)을 통해 트랜지스터(Q1)를 턴 온 시키게 되고, 이 트랜지스터(Q1)의 컬렉터는 하이레벨상태가 된다. 동시에 마이컴(1)은 출력포트(PO2)로 하이신호로 출력하며 이때 출력된 하이신호는 인버터(IC)를 통해 반전되고, 릴레이(RY1)에 인가되어 릴레이(RY1)는 통전된다. 따라서 압축기(CP)는 구동되며 동시에 램프(L1)는 점등된다. 제3도는 이와 같은 과정을 나타낸 플로우 챠트로서 상기 압축기(CP) 구동 및 램프(L1) 점등시를 확인하여 램프(L1)가 점등함에도 불구하고 압축기(CP)가 구동하지 아니하면 압축기(CP)의 불량이나 이를 구동하는 릴레이(RY1)의 불량으로 판단할 수 있는 것이다. 또한 상기 압축기(CP) 구동후 일정시간(1초)이 경과하면 출력포트(PO2)로의 출력을 중지하여 압축기(CP) 및 램프(L1)의 구동을 정지시키고 전술한 바와 같이 동일하게 출력포트(PO3)로 하이신호를 출력하여 출력하여 제상용 히터(HT) 및 램프(L2)를 구동시키되, 출력포트(PO4)(PO5)로도 순차적인 출력을 행하여 램프(L3)(L4)의 점소등으로 불량여부를 판단할 수 있도록하여 준다.In addition, when the electrical test switch SW 2 of the test key input unit 2 is turned on and a low signal is input to the input port PI 2 of the microcomputer 1, the microcomputer 1 is low to the output port PO 1 . Output the signal. Therefore, the output low signal turns on the transistor Q 1 through the resistor R 7 , and the collector of the transistor Q 1 is in a high level state. At the same time, the microcomputer (1) outputs a high signal to the output port (PO 2) wherein the output high signal is inverted through the inverter (IC), is applied to the relay (RY 1) the relay (RY 1) is energized. The compressor CP is thus driven and at the same time the lamp L 1 is turned on. The third turning According to this not a flowchart showing a process of identifying the compressor (CP) driving and a lamp (L 1) lights up when the Although the indicator lamps (L 1) and drive the compressor (CP) compressor (CP ) Or the relay (RY 1 ) that drives it. In addition, when a predetermined time (1 second) elapses after driving the compressor CP, the output to the output port PO 2 is stopped to stop the driving of the compressor CP and the lamp L 1 , and the same output as described above. Outputs a high signal to the port (PO 3 ) to drive the defrost heater (HT) and the lamp (L 2 ), but also outputs the output port (PO 4 ) (PO 5 ) to sequentially output the lamp (L 3 ) (L 4 ) Turn on or off to determine if there is any defect.

또한, 마이컴(1)의 기능검사를 위하여 테스트 키이 입력부(2)의 시간단축 테스트 스위치(SW3)를 온하여 마이컴(1)의 입력포트(PI3)로 로우신호가 입력되면, 마이컴(1)은 이 로우신호의 입력에 따라 아래의 〈표〉와 같은 단축 제어기능을 실행한다.In addition, when a low signal is input to the input port PI 3 of the microcomputer 1 by turning on the time-saving test switch SW 3 of the test key input unit 2 to check the function of the microcomputer 1, the microcomputer 1 ) Executes the short-axis control function as shown in the following <Table> according to this low signal input.

[표][table]

따라서, 도어열림 누적시간을 도어열림 감지부(7)로부터 10초 동안을 감지하고, 제상모드에 진입하는데 프리쿨기능을 2초로 줄여 압축기(CP)를 구동하고, 제상히터(HT)를 20초 구동, 휴지기 3초, 냉동실팬(FF)을 3초간 지연, LED(9)로 센서온도를 3초간 디스플레이하며, 다시 팬(FF)을 3초 지연시키는 단축기능을 행한다. 따라서 이와 같은 단축시간 동안의 마이컴(1) 기능을 체크하여 그 불량 또는 고장유무를 판단한다.Therefore, the cumulative door open time is detected for 10 seconds from the door open detection unit 7, and the compressor (CP) is driven by reducing the precooling function to 2 seconds to enter the defrost mode, and the defrost heater (HT) is 20 seconds. The drive, rest period 3 seconds, the freezer fan (FF) delay for 3 seconds, the LED (9) to display the sensor temperature for 3 seconds, and performs a shortening function to delay the fan (FF) for 3 seconds again. Therefore, by checking the function of the microcomputer (1) during such a short time, it is determined whether the failure or failure.

이상에서와 같이 본 발명은 다수의 칩(CHIP)으로 구성된 커스톰(CUSTOM) LED(9)를 별도의 검사지그(JIG) 없이 점검함으로서 이상유무를 용이하게 판별할 수 있다.As described above, the present invention can easily determine whether there is an abnormality by checking the CUSTOM LED 9 having a plurality of chips (CHIP) without a separate inspection jig.

또한, 본 발명은 실제 필드에서 제어전장물의 기능을 보다쉽게 작동시켜 고장유무를 판단하고, 숙련된 기술자가 아니더라도 누구나 쉽게 이상을 판단하고 신속히 대처할 수 있는 잇점이 있다.In addition, the present invention has the advantage that it is easier to operate the function of the control electronics in the actual field to determine the presence of a failure, and anyone can easily determine the abnormality and cope quickly, even if the skilled person.

또한, 마이컴(1)기능을 체크할 때 이 설정된 기능들을 모두 체크하는 데에는 오랜간이 소요될뿐아니라 비능률적이 된다. 그러나 단축기능을 사용함으로서 생산성을 향상시키고 시간을 단축할 수 있는 잇점이 있다.In addition, when checking the microcomputer (1) function, it is not only a long time but also inefficient to check all of these set functions. However, using the shortcut function has the advantage of improving productivity and saving time.

Claims (2)

마이컴(1)의 기능검사와 이 마이컴(1)에 의해 제어구동되는 전장물의 불량검출 방법에 있어서, LED 테스트 스위치(SW1) 키이 입력시, LED 구동부(8)로 모든 커스텀 LED(9)가 점등되도록 소정 출력을 행하는 과정과, 전장물 테스트 스위치(SW2) 키이 입력시, 고장검출부(3)로 일정신호를 출력하고, 릴레이 구동부(4)로 순차적인 구동출력을 행하여 상기 고장검출부(3)에 구비된 램프(L1~L4)의 점소등으로 구동전장물(5)의 고장유무를 판단하도록 한 과정과, 시간단축 테스트 스위치(SW3) 키이 입력시, 마이컴(1)의 통상출력을 시간 비례적으로 단축하여 출력할 수 있도록하여 그 기능의 이상유무를 판단 할수 있도록한 과정을 구비하여 된 것을 특징으로 하는 마이컴기능검사와 제어전장물 불량검출 방법.In the functional inspection of the microcomputer 1 and the failure detection method of the electrical equipment controlled by the microcomputer 1, when the LED test switch SW 1 is pressed, all the custom LEDs 9 are turned on by the LED driver 8. A predetermined output is made to be turned on, and when the electric field test switch SW 2 is input, a predetermined signal is output to the fault detection unit 3, and a sequential drive output is performed to the relay drive unit 4 to perform the fault detection unit 3. ) To determine the failure of the drive electronics 5 by turning on the lamps L 1 to L 4 of the lamps), and when the time-saving test switch SW 3 is pressed, the microcomputer 1 normally operates. Micom function inspection and control electronics defect detection method characterized in that it has a process to determine the abnormality of the function by shortening the output in proportion to the output time. 마이컴(1)의 제어로 구동되는 제어전장물의 고장검출 장치에 있어서, LED 테스트 스위치(SW1), 전장물 테스트 스위치(SW2), 시간단축 테스트 스위치(SW3)등을 구비하여 각각의 특정키이명령을 입력하여 주는 테스트 키이 입력부(2)가 마이컴(1)의 입력에 접속되고, 상기 마이컴(1)의 출력포트에 저항(R7~R9), 트랜지스터(Q1), 램프(L1~L4)로 이루어진 고장검출부(3)를 접속하되, 상기 램프(L1~L4)의 일단이 릴레이구동부(4)의 인버터 출력측에 각각 연결되도록하여 구성한 것을 특징으로 하는 마이컴의 제어전장물 불량검출 장치.In the failure detection apparatus of the control electric equipment driven by the control of the microcomputer 1, the LED test switch (SW 1 ), the electrical equipment test switch (SW 2 ), the time-saving test switch (SW 3 ), etc. are provided for each specific A test key input unit 2 for inputting a key command is connected to the input of the microcomputer 1, and the resistors R 7 to R 9 , the transistor Q 1 , and the lamp L are connected to the output ports of the microcomputer 1. 1 to L 4 ) is connected to the fault detection unit 3, and one end of the lamp (L 1 ~ L 4 ) is configured to be connected to the inverter output side of the relay driver 4, respectively, the control electric field of the microcomputer Water failure detection device.
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