KR960004436B1 - Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography - Google Patents

Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography Download PDF

Info

Publication number
KR960004436B1
KR960004436B1 KR1019910020198A KR910020198A KR960004436B1 KR 960004436 B1 KR960004436 B1 KR 960004436B1 KR 1019910020198 A KR1019910020198 A KR 1019910020198A KR 910020198 A KR910020198 A KR 910020198A KR 960004436 B1 KR960004436 B1 KR 960004436B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
photosensitive drum
light
illuminance measuring
amount
illuminance
Prior art date
Application number
KR1019910020198A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR930010651A (en
Inventor
히로끼 고바야시
사또시 나까지마
고오이찌 모찌즈끼
유우지 고오노
Original Assignee
신덴겐 고교 가부시끼가이샤
후나꾸보 미쯔오
야마나시 덴시 고교 가부시끼가이샤
사이끼 레이지로
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 신덴겐 고교 가부시끼가이샤, 후나꾸보 미쯔오, 야마나시 덴시 고교 가부시끼가이샤, 사이끼 레이지로 filed Critical 신덴겐 고교 가부시끼가이샤
Priority to KR1019910020198A priority Critical patent/KR960004436B1/en
Publication of KR930010651A publication Critical patent/KR930010651A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR960004436B1 publication Critical patent/KR960004436B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R5/00Instruments for converting a single current or a single voltage into a mechanical displacement

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

내용 없음.No content.

Description

전자 사진 감광드럼용 특성 평가장치의 노광 광량 감시방법Method for monitoring exposure light quantity of characteristic evaluation device for electrophotographic photosensitive drum

제1도는 감광드럼의 특성 평가장치 구성의 개략도.1 is a schematic diagram of a configuration of a characteristic evaluation device for a photosensitive drum.

제2a 및 b도는 종래의 감광드럼의 투사광의 감시 기구의 설명도.2A and 2B are explanatory diagrams of a monitoring mechanism for projecting light of a conventional photosensitive drum.

제3도는 본 발명의 설명도.3 is an explanatory diagram of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 감광드럼 A : 프로세서 구동부1: photosensitive drum A: processor drive unit

2a : 감광드럼의 지지체 2b : 감광드럼의 구동원2a: support of photosensitive drum 2b: driving source of photosensitive drum

2c : 대.제전부 2d : 전위 측정 프로브2c: antistatic part 2d: potential measuring probe

2e,2e1,2e2: 조도 측정 프로브 B : 노광 광원부2e, 2e 1 , 2e 2 : illuminance measuring probe B: exposure light source part

3a : 광원 3b : 모노크로미터3a: light source 3b: monochromator

3c : 조광 조리개 3d : 모노크로미터 반사미러3c: Dimmable Aperture 3d: Monochrome Reflector

4 : 간막이판 4a : 광로4: partition plate 4a: optical path

5 : 연산부 6 : 표시부5: calculation unit 6: display unit

[산업상의 이용분야][Industrial use]

본 발명은 전자사진 감광드럼용 특성 평가장치의 노광 광량 감시방법에 관한 것으로, 특히 감광드럼으로서의 광 투사용 미러의 위치 어긋남을 검출 및 조정하는 것에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for monitoring exposure light quantity of a characteristic evaluation device for electrophotographic photosensitive drums, and more particularly, to detecting and adjusting positional deviation of a mirror for optical projection as a photosensitive drum.

[종래의 기술][Prior art]

제조된 전자사진용 감광드럼의 각종 특성, 예컨대 대전, 암감쇠, 피로특성 등을 측정하고 이것들이 정해진 기준 범위내에 있는지 아닌지를 평가하기 위한 장치가 제조현장 등에서 사용되어 있다.Apparatuses for measuring various characteristics of the manufactured electrophotographic photosensitive drums, such as charging, darkening and fatigue characteristics, and for evaluating whether they are within a predetermined reference range or the like are used in manufacturing sites.

이 장치는 예컨대 제1도에 도시된 개략 구성도와 같은 각부를 갖는다. 1 프로세서 구동부(A) 즉 피특성 측정 감광드럼(1)을 착탈될 수 있게 한 지지체(2a)와, 여기에 장착된 감광드럼(1)을 회전시킴과 동시에 X-Y축 방향의 좌우로 이동시키기 위한 구동원(2b), 감광드럼(1)의 표면에 대향하도록 고정해서 설치한 대,제전부(2c), 전위 측정 프로브(2d), 조도 측정용 프로브(2e) 등을 구비한 프로세스 구동부(A), 2 노광 광원부(B), 즉 광원 (3a), 모노크로미터(3b), 조광 트로틀(3c), 반사미러(3d) 등을 구비한 노광 광원부(B), 3상기 각부의 도시하지 않는 제어부 및 상기 각부에 측정 조건 등을 지령함과 함께 측정 결과를 받아서 기준값과 비교하고 그 결과를 표시하는 도시하지 않는 컴퓨터 시스템부 등으로 된다.The apparatus has, for example, a corner like the schematic diagram shown in FIG. 1 processor (A), that is, for rotating the support 2a, which allows the characteristic measurement photosensitive drum 1 to be detached, and the photosensitive drum 1 mounted thereon, to move left and right in the XY axis direction. Process driving unit A having a driving source 2b and a stand fixed to face the surface of the photosensitive drum 1, a static eliminator 2c, a potential measurement probe 2d, a roughness measurement probe 2e, and the like. 2 exposure light source part B, that is, light source part 3 provided with light source 3a, monochromator 3b, dimming throttle 3c, reflecting mirror 3d, etc. And a computer system unit (not shown) which instructs each of the measurement conditions and the like, receives the measurement result, compares it with the reference value, and displays the result.

[발명이 해결하려는 과제 ][Problem to Solve Invention]

그리고 예컨대 노광 광원부(B)에서의 광을 간막이 판(4)에 설치한 광로(도시생략)를 거쳐서 대전된 감광드럼(1)면에 투사해서 노광한 다음, 전위 측정용 프로브(2d)에 의해 감광드럼면의 전위 측정을 한 끝단에서 다른 끝단을 향해서 순차 실시하고 그 결과의 평가를 행하는 것이다.For example, the light from the exposure light source portion B is projected on the surface of the photosensitive drum 1 charged through an optical path (not shown) provided on the partition plate 4, and then exposed, and then the potential measurement probe 2d is used for exposure. The potential measurement of the photosensitive drum surface is performed sequentially from one end to the other, and the result is evaluated.

그런데 정확한 전위의 측정을 행하기 위해선 노광 광원부(B)에서 감광드럼(1)의 면에 투사되는 광량이 전위 측정점에 있어서 늘 일정하게 되는 것이 필요하다.In order to accurately measure the potential, however, it is necessary that the amount of light projected from the exposure light source portion B to the surface of the photosensitive drum 1 is always constant at the potential measurement point.

그러므로 종래에 있어서는 예를 들어 제2a도에 도시한 구성 개략도와 같은 광원(3a)에서의 광을 1개내지 복수개의 반사미러(3d)(도면에서 1개)에 의해 반사 굴절시켜서 감광드럼(1)의 면위에 투사함과 더불어 감광드럼(1) 면위의 조도가 가장 강한 부분 부근에 조도 측정 프로브(2e)를 설치해서 제2b도의 관계도와 같이 양 조도가 동일하게 되도록 반사미러(3d)의 각도를 설정하여 조도 측정 프로브(2e)의 검출 출력에서 감광드럼(1)으로의 투사 광량을 감시하는 일이 행해지고 있다.Therefore, in the related art, for example, the light from the light source 3a as shown in FIG. 2A is refracted and refracted by one or more reflective mirrors 3d (one in the drawing) to expose the photosensitive drum 1. Projection on the surface of the photosensitive drum (1) and the illuminance measuring probe (2e) in the vicinity of the strongest portion on the surface of the photosensitive drum (1), so that both illuminance is the same as in the relationship diagram of FIG. Is set to monitor the amount of projection light from the detection output of the illuminance measurement probe 2e to the photosensitive drum 1.

그러나 이 구성에선 노광 광원부(B)의 점검시나 불예측의 외력 예컨대 진동 등에 의해 반사미러(3d)의 각도에 어긋남이 생기면 조도 측정 프로브(2e)로의 투사광량이 변화한다. 이 때문에 상기 감광드럼(1)과 조도 측정 프로브(2e)로의 투사 광량의 설정 조건이 흐뜨러져서 조도측정 프로브(2e)의 검출 출력에 의해선 감광드럼(1)의 투사 광량의 감시를 할 수 없게 된다. 또, 반사미러(3d)의 각도의 어긋남이 작을 경우에는 이것을 육안으로 발견하기는 곤란하며 투사 광량의 다름을 발견하는데에도 곤란하기 때문에 각도 변화를 느끼지 못하고 잘못된 측정을 행하는 결과가 된다.In this configuration, however, the deviation of the angle of the reflection mirror 3d due to the inspection of the exposure light source B or the unforeseen external force such as vibration causes the amount of projection light to the illuminance measurement probe 2e to change. Therefore, the setting condition of the amount of projection light to the photosensitive drum 1 and the illuminance measuring probe 2e is disturbed, so that the output of the photoluminescent drum 1 cannot be monitored by the detection output of the illuminance measuring probe 2e. do. In addition, when the difference of the angle of the reflection mirror 3d is small, it is difficult to find this visually, and since it is difficult to detect the difference of the projection light quantity, it becomes a result of making an incorrect measurement without feeling an angle change.

[과제를 해결하기 위한 수단][Means for solving the problem]

본 발명의 목적으로서는 반사미러의 각도 어긋남을 간단하게 검출할 수 있고 거기에다가 간단하게 교정할 수 있는 수단의 제공에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a means for easily detecting an angle shift of a reflecting mirror and easily correcting it.

제3도는 본 발명의 한 실시예의 설명도이며 본 발명의 특징으로는 다음과 같은 점이 있다. 즉, 감광드럼(1)으로의 조사광이 가장 강한 부분을 사이에 끼도록 제1 및 제2개의 조도 측정 프로브(2e1),(2e2)를 설치하고, 감광드럼(1)으로의 광 투사시 각각의 조도 측정 프로브(2e1,2e2)에 상기한 감광드럼(1)으로의 투사 광량과 동일한 광량이 각각에 투사되게 하며, 반사미러의 각도변화시 생기는 제1 및 제2의 조도 측정 프로브(2e1,2e2)의 검출 출력의 상이함에서 반사미러(3d)의 각도 어긋남을 검출토록 한 것을 특징으로 하는 것이다.3 is an explanatory diagram of one embodiment of the present invention, and features of the present invention are as follows. That is, the first and second illuminance measuring probes 2e 1 and 2e 2 are provided so as to sandwich the strongest portion of the irradiated light to the photosensitive drum 1, and the light to the photosensitive drum 1 is provided. Each of the illuminance measuring probes 2e 1 and 2e 2 is projected to the same amount of light to the photosensitive drum 1 during projection, and the first and second illuminances generated when the angle of the reflecting mirror changes. The difference between the detection outputs of the measuring probes 2e 1 and 2e 2 is characterized in that the angle shift of the reflection mirror 3d is detected.

[작용효과][Effect]

이상 상술한 바에 의하면 반사미러(3d)의 각도 어긋남의 발생 이전에 있어서의 제1 및 제2조도 측정 프로브(2e1,2e2)의 검출 출력은 동일하다. 그러나 반사미러(3d)에 각도 어긋남이 생겼을 때에는 제 1조도 측정 프로브(2e1)와 제 2조도 측정 프로브(2e2)로의 투사 광량은 상이하게 된다. 따라서, 제1, 제2조도 측정 프로브의 검출 출력을 각각 표시하든가, 그 차이를 제 3도와 같이 연산부(5)에 의해서 연산해서 표시부 (6)에 의해서 표시하면 그 결과에서 반사미러(3d)의 각도 어긋남의 발생을 간단하게 알 수 있다.As described above, the detection outputs of the first and second illuminance measurement probes 2e 1 and 2e 2 before the occurrence of the angle shift of the reflection mirror 3d are the same. However, when an angle shift occurs in the reflection mirror 3d, the amount of projection light to the first illuminance measuring probe 2e 1 and the second illuminance measuring probe 2e 2 is different. Therefore, when the detection outputs of the first and second illuminance measuring probes are respectively displayed or the difference is calculated by the calculation unit 5 and displayed by the display unit 6 as shown in FIG. 3, the result of the reflection mirror 3d It is easy to see the occurrence of the angle shift.

또, 반사미러(3d)의 각도 어긋남을 검출했을 때 제 1 및 제 2조도 측정 프로브(2e1,2e2)의 검출 출력이 동일해지게 즉, 그 차이가 영이 되게 반사미러(3d)의 각도를 조정하므로서 각도 어긋남을 간단하게 교정할 수 있다.When the angle shift of the reflection mirror 3d is detected, the angle of the reflection mirror 3d is such that the detection outputs of the first and second illuminance measuring probes 2e 1 and 2e 2 are the same, that is, the difference is zero. You can easily correct the angle misalignment by adjusting.

Claims (1)

반사미러(3d)에 의해 반사 굴절시킨 노광 광원부(B)에서의 광을 감광드럼(1)과 조도 측정 프로브(2e)에 투사하여 조도 측정 프로브(2e)의 검출 출력에 의해서 감광 드럼면으로의 투사광량을 감시토록 한 전자사진 감광드럼용 특성 평가장치의 노광 광원 광량 감시방법에 있어서, 상기 제 1조도 측정 프로브(2e1) 이외에 감광드럼(1)으로의 조사광이 가장 강한 부분을 사이에 끼이도록 제 2조도 측정 프로브(2e2)를 설치하는 단계와, 상기 감광드럼(1)으로의 광 투사시 각각의 조도 측정 프로브(2e1,2e2)에 상기 감광드럼(1)으로의 투사 광량과 동일한 광량을 투사하는 단계와, 상기 반사미러(3d)의 각도 변화시 발생하는 상기 제1, 제2 조도 측정 프로브(2e1,2e2) 출력의 차이를 검출하는 단계와, 상기 제1, 제2 조도 측정 프로브(2e1,2e2) 출력의 차이에 의해 반사미러(3d)의 각도변화를 검출하는 단계로 구성된 것을 특징으로 하는 전자 사진 감광드럼용 특성 평가장치의 노광 광량 감시방법.The light from the exposure light source portion B reflected and refracted by the reflection mirror 3d is projected onto the photosensitive drum 1 and the illuminance measuring probe 2e, and the light output to the photosensitive drum surface is detected by the detection output of the illuminance measuring probe 2e. In the exposure light source light quantity monitoring method of the electrophotographic photosensitive drum characteristic evaluation apparatus for monitoring the amount of projection light, in addition to the first illuminance measuring probe (2e 1 ) between the portion of the strongest irradiation light to the photosensitive drum (1). Installing a second illuminance measuring probe 2e 2 so as to be pinched, and projecting the respective illuminance measuring probes 2e 1 and 2e 2 onto the photosensitive drum 1 when light is projected onto the photosensitive drum 1; Projecting an amount of light equal to an amount of light, detecting a difference between outputs of the first and second illuminance measurement probes 2e 1 and 2e 2 generated when the angle of the reflection mirror 3d is changed, and the first Reflected by the difference in output of the second illuminance measuring probes 2e 1 and 2e 2 And a method for monitoring the exposure light amount of the characteristic evaluation device for electrophotographic photosensitive drums, characterized by detecting an angle change of the roller 3d.
KR1019910020198A 1991-11-14 1991-11-14 Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography KR960004436B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910020198A KR960004436B1 (en) 1991-11-14 1991-11-14 Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910020198A KR960004436B1 (en) 1991-11-14 1991-11-14 Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR930010651A KR930010651A (en) 1993-06-23
KR960004436B1 true KR960004436B1 (en) 1996-04-03

Family

ID=19322791

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910020198A KR960004436B1 (en) 1991-11-14 1991-11-14 Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960004436B1 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
KR930010651A (en) 1993-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970005758B1 (en) An automatic measurement system of electrode gap in the electron gun
KR960004436B1 (en) Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography
JP2593100B2 (en) Method of monitoring the amount of exposure light of a characteristic evaluation device for an electrophotographic photosensitive drum
JPH08219999A (en) Method and apparatus for calibrating surface defect-inspection optical system
JP2012058309A (en) Gap measurement method and developing device including retroreflective member for gap measurement
US5181071A (en) Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography
JP3578672B2 (en) Image forming device
JP2003005578A (en) Characteristic evaluation device and characteristic evaluation method for photoreceptor
JPH05333645A (en) Image forming device
JP3606693B2 (en) Surface defect detector
JPH0416958A (en) Abnormal vibration detecting device for image forming device
JP2601369B2 (en) Characteristic evaluation device for photosensitive drum for electrophotography
KR100281594B1 (en) Automatic lighting control device for image inspection system and method
JP2000214100A (en) Defect inspection apparatus
JPS6052862A (en) Detector for defective adhesion of unit structural body
JPH032402B2 (en)
KR100409204B1 (en) Apparatus and method for measuring diffusion coefficient of metal surface
JPH10111256A (en) Method and equipment for measuring intensity of scanning light
JP5105836B2 (en) Photosensitive drum characteristic evaluation device
JPH06236090A (en) Device for measuring characteristic of photo drum
KR960004437B1 (en) Apparatus for evaluating characteristics of photosensitive drum for electrophotography
JPH04196455A (en) Tester of lead bend in electronic component
JPH0416957A (en) Abnormal rotation detecting device for image forming device
JPH09185191A (en) Toner concentration detector and image forming device provided with the same
JPH0792024A (en) Light quantity measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030304

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee