KR960000841B1 - Digital level detection circuit - Google Patents

Digital level detection circuit Download PDF

Info

Publication number
KR960000841B1
KR960000841B1 KR1019860010823A KR860010823A KR960000841B1 KR 960000841 B1 KR960000841 B1 KR 960000841B1 KR 1019860010823 A KR1019860010823 A KR 1019860010823A KR 860010823 A KR860010823 A KR 860010823A KR 960000841 B1 KR960000841 B1 KR 960000841B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
response
hold
time
value
Prior art date
Application number
KR1019860010823A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR870006716A (en
Inventor
히데끼 후까사와
Original Assignee
소니 가부시끼가이샤
오오가 노리오
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 소니 가부시끼가이샤, 오오가 노리오 filed Critical 소니 가부시끼가이샤
Publication of KR870006716A publication Critical patent/KR870006716A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR960000841B1 publication Critical patent/KR960000841B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/10009Improvement or modification of read or write signals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

내용 없음.No content.

Description

디지탈 레벨 검출회로Digital level detection circuit

제1도, 제3도는 본 발명의 일예의 계통도.1 and 3 are schematic diagrams of an example of the present invention.

제2도, 제4도 내지 제8도는 그 설명을 하기 위한 도면.2 and 4 to 8 are diagrams for explaining the same.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

12 : 검출회로 15,22 : ROM12: detection circuit 15,22: ROM

본 발명은 디지털 레벨 검출회로에 관한 것이다.The present invention relates to a digital level detection circuit.

본 발명은, 디지털 레벨 검출회로에 있어서, 입력신호의 레벨의 감소하였을때의 홀드 타임의 홀드 계수를 비영으로 하므로서, 홀드 타임의 변동을 적게한 것이다.According to the present invention, in the digital level detection circuit, the hold time of the hold time when the level of the input signal is decreased is made zero, so that the variation in the hold time is reduced.

8밀리 비디오나 전자 스틸 카메라 등의 오디오 신호계에 있어서는, 기록시, 그 오디오 신호의 레벨을 소정의 특성으로 압축 기록하여, 재생시, 재생된 도디오 신호의 레벨을, 기록시와는 상보한 특성으로 신장하여 애초의 오디오 신호를 얻도록 하고 있다.In an audio signal system such as an 8 mm video or an electronic still camera, the audio signal level is recorded with a predetermined characteristic at the time of recording, and the level of the reproduced video signal at the time of reproduction is complementary to that at the time of recording. To get the original audio signal.

또한, 8밀리 비디오에 있어서는, 오디오 신호를 PCM 신호를 변화하여 기록하여, 전자 스틸 카메라에 있어서는, 기록시, 오디오 신호를 아나로그 신호에서 디지털 신호로 변환하여서 시간축 압축을 하고 있다.In 8 millisecond video, an audio signal is recorded by changing a PCM signal, and in an electronic still camera, the audio signal is converted from an analog signal to a digital signal at the time of recording to perform time-base compression.

거기에서, 오디오 신호의 레벨 압축 회로로서 제4도에 도시하는 것과 같은 것이 고려되고 있다.Therein, the same thing as that shown in Fig. 4 is considered as the level compression circuit of the audio signal.

즉, 동일 도면에 있어서, 아나로그의 오디오 신호 Sa가, 입력단자(1)를 통해서 연산증폭기(2)에 공급됨과 함께, 이 연산증폭기(2)의 음 귀환로에는 가변 감쇠기(승산회로)(3)가 접속된다. 따라서, 감쇠기(3)의 감쇠량을 제어하므로서, 증폭기(2)로 부터는 레벨 압축된 오디오 신호 Sc가 인출된다.That is, in the same figure, the analog audio signal Sa is supplied to the operational amplifier 2 through the input terminal 1, and the variable attenuator (multiplication circuit) (in the negative feedback path of the operational amplifier 2) ( 3) is connected. Therefore, by controlling the amount of attenuation of the attenuator 3, the level compressed audio signal Sc is drawn out from the amplifier 2.

그래서, 이 신호 Sc가 A/D 변환기(4)에 공급되어서 소정의 비트수의 디지털 신호 Sd로 변환되고, 이 신호 Sd가 출력단자(5)로 인출된다. 또한, 이때, 신호 Sd가 디지털 레벨 검출회로(6)에 공급되어서 신호 Sd가 도시되는 레벨(신호 Sd를 아나로그 신호로 변환한때의 그 아나로그 신호의 레벨)의 검출신호 V(t)가 디지털 신호의 상태로 인출되어, 이 신호 V(t)가 감쇠기(3)에 제어신호로서 공급된다.Thus, this signal Sc is supplied to the A / D converter 4, converted into a digital signal Sd having a predetermined number of bits, and the signal Sd is drawn out to the output terminal 5. At this time, the signal Sd is supplied to the digital level detection circuit 6 so that the detection signal V (t) of the level at which the signal Sd is shown (the level of the analog signal when the signal Sd is converted into an analog signal) is digital. It is drawn out in the state of a signal, and this signal V (t) is supplied to the attenuator 3 as a control signal.

따라서, 단자(5)의 신호 Sd는 오디오 신호 Sa가, 레벨 압축되어, 또한, A/D 변환된 디지털 신호이다.Therefore, the signal Sd of the terminal 5 is a digital signal in which the audio signal Sa is level compressed and A / D converted.

이 경우, 신호 Sd에 대한 어택 응답 특성, 홀드 응답 특성 및 복원 응답 특성은, 제5도에 도시하는 바와 같다. 단, 같은 도면은, 이들의 응답 특성을 아나로그 신호로 변환하여 도시한다.In this case, the attack response characteristic, the hold response characteristic and the recovery response characteristic with respect to the signal Sd are as shown in FIG. However, the same figure shows and converts these response characteristics into an analog signal.

그래서, 5a도는 어택 응답특성을 도시하고, 신호 Sd의 레벨이 시점 t=0에 값 a에서 값 b에서 단계적으로 상승하였을 때, 신호(전압) V(t)의 어택 응답 특성은,Thus, FIG. 5A shows the attack response characteristic, and when the level of the signal Sd rises stepwise from the value a to the value b at time t = 0, the attack response characteristic of the signal (voltage) V (t) is

V(t)=((bN-aN)(1-exp(t/L))+aN)N/N………………………………(i)V (t) = ((b N -a N ) (1-exp (t / L)) + a N ) N / N ... … … … … … … … … … … … (i)

N,T는 정수로 표시된다. 또한, 5b도는 홀드 응답 특성 및 복원 응답 특성을 도시하고, 신호 Sd의 레벨이 시점 t=0에 값 b까지 단계적으로 하강하였을 때, 신호 V(t)의 홀드 응답 특성은, t≤tH의 기간에 대해서,N and T are represented by integers. 5B shows the hold response characteristic and the responsive response characteristic, and when the level of the signal Sd drops gradually to the value b at the time point t = 0, the hold response characteristic of the signal V (t) is a period of t ≦ tH. about,

V(t)=a ……………………………………………………………………(ⅱ)V (t) = a... … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … … (Ii)

로 표시되고, 복원 응답 특성은, t≥tH에 대해서And the response response characteristic for t≥tH

V(t)=((b-a)exp(-(t-tH/TK)÷a ……………………………………(ⅲ)V (t) = ((ba) exp (-(t-tH / T K ) ÷ a …………………………………… (ⅲ)

TH·TR은 정수로 표시된다.T H · T R is represented by an integer.

또한, 이와같은 홀드 응답 특성 및 복원 응답 특성을 갖게 하는 것은, 신호 Sa의 주파수가 낮을 때, 신호 V(t)의 리플 성분이 증대하여 신호 St가 변조되고, 이 결과, 지역의 비틀어짐이 증대하는 것을 방지하기 위해서이다.In addition, having such a hold response characteristic and a responsive response characteristic means that when the frequency of the signal Sa is low, the ripple component of the signal V (t) increases and the signal St is modulated, and as a result, local distortion increases. To prevent that.

그래서, 제5a도에서도 명백한 바와같이, 어택 응답 특성에 있어서는, 임의의 시점 t=i의 전압 Vi(=V(i))은, 시점 t=i보다도 1개 앞의 샘플링 시점 t=i-1의 전압 Vi-1(=V(i-1))에, 그 차분 ΔV을 가산하면 되고, 이 차분 ΔV는, 전압 Vi-1과 신호 Sd의 절대치 |Sd|와의 비로 결정되는 어택 응답용의 정수를 기초로 하여 구해진다. 따라서, 초기치를 값 a로 샘플링 기간마다의 차분을 차례로 가산하여 가면, 그 시점 t의 전압 V(t)이 구해진다. 또한, 홀드 응답 특성은, (ⅱ) 식에서도 표시하는 바와같이 평탄하며, 복원 응답 특성은 (ⅲ) 식에도 표시하는 바와같이, 콘덴서의 방전 커브(지수관수 특성)와 같으며, 따라서, 시간축을 이산적으로 하여 점화식으로 도시하면, (ⅲ) 식은,Therefore, as is also apparent in FIG. 5A, in the attack response characteristic, the voltage Vi (= V (i)) at any time t = i is one sampling point t = i-1 before the time point t = i. The difference ΔV may be added to the voltage Vi-1 (= V (i-1)), and the difference ΔV is an integer for the attack response determined by the ratio of the voltage Vi-1 and the absolute value | Sd | of the signal Sd. Obtained on the basis of Therefore, when the difference of each sampling period is sequentially added to the value a, the voltage V (t) at that time t is obtained. In addition, the hold response characteristic is flat as indicated by the equation (ii), and the restoration response characteristic is the same as the discharge curve (exponential irrigation characteristic) of the capacitor, as indicated by the expression (iii). Discrete ignition formula, (ⅲ) formula,

V(t)=(|Sd|-V(t-1))K+a) …………………………………………(ⅳ)V (t) = (| Sd | -V (t-1)) K + a)... … … … … … … … … … … … … … … … (Ⅳ)

로 된다. 즉, 전압 V(t)은, 값 a을 초기치로 하여, 현시점 t=i의 전압 |Sd|과 1개 앞의 샘플링 시점 t=i-1의 전압 Vi-1과의 차에 일정치 K를 승산한 것을, 값 a으로 되풀이하여 가산을 하면, 구할 수가 있다.It becomes That is, the voltage V (t) has a constant value K as the difference between the voltage | Sd | at the present time t = i and the voltage Vi-1 at the previous sampling time point t = i-1 with the value a as an initial value. By multiplying the multiplication by the value a, it can be found.

따라서, 이상과 같은 응답 특성을 갖는 검출회로(6)는, 제6도와 같이 구성할 수가 있다.Therefore, the detection circuit 6 having the above response characteristics can be configured as shown in FIG.

즉, 제6도에 있어서, 디지털 신호 Sd가, 입력단자(11)를 통해서 절대치의 검출회로(12)에 공급되어서 현시점 t=i에 있어서, 디지털 Sd가, 입력단자(11)를 통해서 절대치의 검출회로(12)에 공급되어서 현시점 t=i에 있어서 신호 Sd의 절대치 |Sd|를 표시하는 신호 |Sd|로 되어, 이 신호 |Sd|가 제산회로(13)에 공급이 됨과 동시에, 후술하는 래치(18)에서 현시점 t=i 보다도 1개 앞의 샘플링 시점 t=i-1에 있어서 신호 Vi-1(=V(i-1))가 제산회로(13)에 공급된다. 이 제산회로(13)는, (Vi-1-|Sd|)의 감산과, 신호 Vi-1의 비트 시프트를 되풀이하므로서 Vi-1/|Sd|의 제산을 실현하는 것이다. 그래서, 그 1회의 제산에 있어서 제1회(Vi-1-|Sd|)의 감산을 하였을 때, 제5도에서 명백한 바와 같이,That is, in FIG. 6, the digital signal Sd is supplied to the absolute value detecting circuit 12 through the input terminal 11, and at this time t = i, the digital Sd is connected to the absolute value through the input terminal 11. The signal | Sd | is supplied to the detection circuit 12 to represent the absolute value | Sd | of the signal Sd at the present time t = i, and this signal | Sd | is supplied to the divider circuit 13 and described later. The signal Vi-1 (= V (i-1)) is supplied to the divider circuit 13 at the sampling time point t = i-1 one earlier than the present time t = i in the latch 18. The division circuit 13 realizes division of Vi-1 / | Sd | by repeating the subtraction of (Vi-1- | Sd |) and the bit shift of the signal Vi-1. Therefore, when the first subtraction (Vi-1- | Sd |) is subtracted in the first division, as is apparent from FIG. 5,

어택응답시…Vi-1-|Sd|<0Upon attack response… Vi-1- | Sd | <0

복원응답시…Vi-1-|Sd|≥0Upon restoration response… Vi-1- | Sd | ≥0

(홀드 응답시)(When hold response)

로 되므로, 그 제1회의 감산후의 (Vi-1-|Sd|)의Of (Vi-1- | Sd |) after the first subtraction

어택 응답시…″1″In response to attack… "One"

복원 응답시…″0″In response to a restore… "0"

(홀드 응답시)(When hold response)

로 된다. 거기에서, 이 MSB가 래치(31)를 통하여 스위치 회로(32)에 제어신호로서 공급된다.It becomes There, this MSB is supplied as a control signal to the switch circuit 32 via the latch 31.

그래서, 어택 응답시에는, 제산회로(13)에서의 제산신호 Vi-1/|Sd|가 어드레스 신호 형성회로(14)에 공급되어서 비율 Vi-1/|Sd|에서 각 시점에 대응하는 어드레스 신호가 형성되고, 이 어드레스 신호가 ROM(15)에 공급되어서 각 시점에 있어서 차분 ΔV(=Vi-Vi-1)을 백분율화 한 값(계수) K0이 인출되어, 이 값 K0이 승산 회로(16)에 공급이 됨과 함께, 검출회로(12)에서 신호 |Sd|가 승산 회로(16)에 공급되어서 신호 |Sd|에 값 K0이 승산되므로서 각 시점에 있어서 차분 ΔV이 스위치 회로(32를 통해서 가산회로(17)에 공급이 됨과 함께, 래치(18)에서 신호 Vi-1가 가산 회로 Vi가 형성된다. 그래서, 이 신호 Vi가 래치(18)를 통해서 출력단자(19)에 인출이 되므로, 이 신호 Vi는, 제5a도에 도시하는 어택 응답 특성을 갖는다.Therefore, in the attack response, the division signal Vi-1 / | Sd | in the division circuit 13 is supplied to the address signal forming circuit 14, and the address signal corresponding to each time point at the ratio Vi-1 / | Sd | Is formed, the address signal is supplied to the ROM 15, and the value (coefficient) K 0 obtained by quantifying the difference ΔV (= Vi-Vi-1) at each time point is extracted, and this value K 0 is a multiplication circuit. While supplying to (16), the signal | Sd | is supplied to the multiplication circuit 16 from the detection circuit 12, and the value K 0 is multiplied by the signal | Sd |, so that the difference? The supply circuit 17 is supplied to the addition circuit 17 via 32, and the signal Vi-1 is formed at the latch 18. The signal Vi-1 is drawn out to the output terminal 19 via the latch 18. This signal Vi has the attack response characteristic shown in FIG. 5A.

한편, 홀드 응답시 및 복원 응답시에는, 상술하는 바와같이, 제산회로(13)에서 ″0″의 MSB가 출력되나, 이 MSB가 래치(31)를 통해서 타이머용의 리트리거블 카운터)(2)에 카운터의 클리어 및 스타트 신호(카운트 인에이블 신호)로서 공급되어서 카운터(21)는 시점 t=0)에서 클럭(도시하지 않음)의 카운트를 카운트치트 인에이블 신호)로서 공급되어서 카운터(21)의 출력이 ROM(22)에는 어드레스 신호로서 공급이 되고, 카운트치가 t≤tH의 기간에는 ROM(22)에서 값이 0이 인출되어, t>tH의 기간에는 복원 계수로서 일정치 K가 인출되어, t>tH의 기간에는 복원 계수로서 일정치 K가 인출되어, 이 값 0 또는 K가 승산회로에 공급된다.On the other hand, in the hold response and the recovery response, as described above, the division circuit 13 outputs an MSB of &quot; 0 &quot;, but this MSB is a retriggerable counter for a timer via the latch 31) (2 ) Is supplied as a clear and start signal (count enable signal) of the counter so that the counter 21 is supplied with a count of a clock (not shown) as a count value enable signal) at a time point t = 0, so that the counter 21 Output is supplied to the ROM 22 as an address signal, a value of 0 is extracted from the ROM 22 in a count value t &lt; tH, and a constant value K is extracted as a recovery coefficient in a period of t &gt; tH. In the period t, tH, a constant value K is taken out as a recovery coefficient, and this value 0 or K is supplied to the multiplication circuit.

또다시, 검출회로(12)에서의 신호 |Sd|가 감산회로(24)에 공급됨과 동시에, 래치(18)로부터의 신호 Vi-1가 감산회로(24)에 공급되어서 차분 ΔV(=|Sd|-Vi-1)가 인출되어, 이 차분 ΔV이 승산회로(23)에 공급되어서 값 0 또는 K와 승산된다. 이 경우, 차분 ΔV은, 제5b도에도 도시하는 거와같이 일정한 샘플링 기간마다의 것이며, 복원 응답 특성은 (ⅲ) 식에도 도시하는 거와같이 단순한 지수 관수 특성에 값 a을 더한 것이니까, 차분 ΔV과 값 0 또는 K와의 승산 출력은, 홀드 응답시(t≤tH) 또는 복원 응답시(t≤tH)에 있어서 신호 V(t)의 감소분(변화분)을 도시하고 있게 된다.Again, the signal | Sd | in the detection circuit 12 is supplied to the subtraction circuit 24, and at the same time, the signal Vi-1 from the latch 18 is supplied to the subtraction circuit 24, and the difference ΔV (= | Sd | -Vi-1) is taken out, and this difference [Delta] V is supplied to the multiplication circuit 23 and multiplied by the value 0 or K. In this case, the difference ΔV is for every constant sampling period as shown in Fig. 5b, and the reconstruction response characteristic is obtained by adding the value a to a simple exponential irrigation characteristic as shown in the equation (i). The multiplication output of ΔV and a value of 0 or K shows the decrease (change) of the signal V (t) in the hold response (t ≦ tH) or the restore response (t ≦ tH).

그래서, 이때, 스위치 회로(32)는, 도면과는 역의 상태로 전환이 되어 있으므로, 승산회로(23)의 승산 출력이 스위치 회로(32)를 통해서 가산회로(17)에 공급된다. 따라서, 가산회로(17)로부터는, 제5b도에 도시하는 홀드 응답 특성 및 복원 응답 특성을 갖는 신호 Vi가 얻어지고, 이것이 단자(19)에 인출된다.Therefore, at this time, since the switch circuit 32 is switched to the state opposite to the figure, the multiplication output of the multiplication circuit 23 is supplied to the addition circuit 17 via the switch circuit 32. Therefore, from the addition circuit 17, a signal Vi having the hold response characteristic and the recovery response characteristic shown in FIG. 5B is obtained, which is drawn out to the terminal 19. As shown in FIG.

이렇게 하여, 이 검출 회로에 의하면, (i) 내지 (ⅲ) 식에 표시한 어택 응답 특성, 홀드 응답 특성 및 복원 응답 특성을 갖는 검출 신호 V(t)를 얻을 수가 있다(문헌 : 일본국 특허출원 소화 60-57215 호의 명세서 및 도면)In this way, according to this detection circuit, it is possible to obtain the detection signal V (t) having the attack response characteristic, the hold response characteristic and the restoration response characteristic shown in formulas (i) to (iii) (document: Japanese Patent Application Digestion No. 60-57215 specification and drawings)

상기하는 홀드 응답 특성은, (ⅱ)식에도 표시하는 거와 같이, 0≤t≤tH의 기간에,The hold response characteristic described above is expressed in the formula (ii) in the period of 0 ≦ t ≦ tH,

V(t)=aV (t) = a

이며, 시점 t=0의 레벨이 완전히 홀드되어, 이것은 이상적인 홀드 응답 특성이다.And the level at time t = 0 is completely held, which is an ideal hold response characteristic.

그러나 실제로는 신호 Sd가 시간적으로 이산하고 있으므로, 신호 V(t)에 에러를 일으키는 일이 있다.In reality, however, the signal Sd is discrete in time, which may cause an error in the signal V (t).

즉, 제7도는, 신호 Sd, V(t)를 아나로그신호로 변환하여 도시한다. 그래서, 신호 Sd가, 시간적으로 연속한 신호인때에, 파선으로 도시하는 거와 같이 변화하는 것으로 하면, 시간적으로 이산하고 있는 실제의 신호 Sd는, 샘플링 마다 얻어지므로, 같은 도면에 ○표로 도시하도록 분포한다.That is, FIG. 7 shows the signals Sd and V (t) converted to analog signals. Therefore, if the signal Sd is changed as shown by the broken line when the signal is temporally continuous, the actual signal Sd which is discrete in time is obtained for each sampling, so it is distributed so as to be shown in the same figure in the same drawing. do.

그래서, 어떤 시점 t=t1의 신호 Sd가 피크치를 샘플링 한 데이터라고 하면, 신호 Sd와 샘플링 주파수와는 동기 관계에 있지 아니하므로, 이 시점 t1에 있어서 신호 Sd가 최후의 최대치로 되어, 이후의 신호 Sd는 시점 t1의 신호 Sd 보다도 적은 값으로 된다.Therefore, if the signal Sd at a point in time t = t1 is the data sampled at the peak value, the signal Sd is at the last maximum at this point in time t1, since the signal Sd is not in synchronism with the sampling frequency. Sd is smaller than the signal Sd at the time point t1.

따라서, 상기하는 검출 회로(6)에 있어서는, 신호 V(t)는 ×표로 도시하는 거와 같이 변화하여, 즉, 시점 t1에서 Vi-1≥|Sd|로 되므로, 제산 회로(13)로 부터의 MSB는 시점 t1에서 ″0″으로 된다. 따라서, 시점 t=t1에서 신호 V(t)의 홀드가 행해져, 시점 t1에서 기간 tH후의 시점 ts으로 되면, 복원 응답 동작으로 들어가 버린다.Therefore, in the above-described detection circuit 6, the signal V (t) changes as shown by the X table, that is, Vi-1 &gt; | Sd | at the time point t1. The MSB of becomes "0" at time t1. Therefore, when the signal V (t) is held at the time point t = t1 and reaches the time point ts after the period tH at the time point t1, the recovery response operation is entered.

그래서, 이 신호 Sd가 피크치를 샘플링한 데이터로 되는 시점 t1은, 신호 Sd의 샘플링과의 균형으로 변화하므로, 홀드 응답의 기간 tH의 위치도 변화하게 되어, 결과로서, 홀드 응답(예컨대 시점 t=0에서 신호 V(t)의 레벨이 2dB 저하일 때 까지의 기간)이 최소는 거의 0(시점 t=0과 시점 t3가 일치할때)에서 최대는 설정치 tH(시점 t=0과 시점 t1이 거의 일치할때)까지 크게 균형을 잃고 만다.Therefore, since the time point t1 at which the signal Sd becomes the sampled peak value changes in balance with the sampling of the signal Sd, the position of the period tH of the hold response also changes, and as a result, the hold response (for example, the time point t =). The period from 0 to the time when the level of the signal V (t) decreases by 2 dB is the minimum is almost 0 (when the time t = 0 coincides with the time t3) and the maximum is the set value tH (the time t = 0 and the time t1 Largely unbalanced).

또한, 예컨대 8밀리 비디오에서는, 레벨 압축 및 그 제어 신호 V(t)의 형성을 아나로그 처리로 행하는 것을 전제로 하고 있으므로, 제8도에 실선으로 도시하는 거와 같이 신호 V(t)는 변화하나, 상기하는 검출회로(6)에서는 신호 V(t)는 파선으로 도시하는 거와같이 변화하여, 2차(사선 부분)가 청감상 문제로 되어 버린다.In addition, for example, in 8 millisecond video, it is assumed that the level compression and the control signal V (t) are formed by analog processing, so that the signal V (t) changes as shown by the solid line in FIG. However, in the detection circuit 6 described above, the signal V (t) is changed as shown by the broken line, and the secondary (diagonal portion) becomes a hearing problem.

본 발명은, 이상과 같은 문제점을 해결하려는 것이다.The present invention is intended to solve the above problems.

이 때문에, 본 발명에 있어서는, ROM(22)에 기입되어 있는 홀드 응답 특성의 계수 0 및 복원 응답 특성의 계수 K를, 각각 K1 및 K2(K1,K2는 0이 아닌 소정치)로 된다.For this reason, in the present invention, the coefficient 0 of the hold response characteristic and the coefficient K of the responsive response characteristic written in the ROM 22 are set to K1 and K2 (K1 and K2 are predetermined values other than 0, respectively).

신호 V(t)의 레벨은 제2도에 도시하는 거와 같이 변화하여, 홀드 타이므이 불균형이 적어진다.The level of the signal V (t) changes as shown in FIG. 2, so that the hold timing is unbalanced.

제1도에 있어서, ROM(22)에는, 홀드 응답 트겅의 계수로서 값 K1이 기입되어, 복원 응답 특성의 계수로서, 값 K2이 기입된다.The method of claim 1 also, ROM (22), the value K1 is written as a function of the hold teugeong response, as a function of restored response, the value K 2 is written.

단,only,

K1<0, K2<0(K2=K)K 1 <0, K 2 <0 (K 2 = K)

|K1|<|K2|| K 1 | <| K 2 |

로 된다.It becomes

이와 같은 구성에 의하면, 신호 Sd가 제2도에 도시하는 거와 같이 변화하였을때(제2도는, 신호 Sd에 대해서 제7도와 같다), 역시 시점 t1에 홀드 응답 동작이 개시되나, 이때, ROM(22)의 출력은 값 K1(≠0)으로 되므로, 신호 V(t)가 시간적으로 연속하고 있다고 하면, 같은 도면에 세선으로 도시하는 것과 같이, 신호 V(t)는 값 K1에 대응하여 완만하게 하강하여 간다(×표는, 실제의 이산한 신호 V(t)를 표시한다).According to such a configuration, when the signal Sd changes as shown in FIG. 2 (FIG. 2 is the same as FIG. 7 with respect to the signal Sd), the hold response operation is also started at time t 1 . Since the output of the ROM 22 becomes the value K 1 (≠ 0), assuming that the signal V (t) is continuous in time, the signal V (t) is equal to the value K 1 as shown by a thin line in the same figure. Correspondingly, it descends slowly (X mark represents the actual discrete signal V (t)).

그래서, 시점 t1후의 계속되는 샘플링 시점 t2,t3에 있어서는, Vi-1≥Vi 1이 신호 Vi는 시점 t2,t3의 신호 Sd의 절대치이며, 같은 도면에 ○표로 표시한 것과 등가)이므로, 시점 t2,T3에 각각 홀드 응답 동작이 행해진다.Therefore, at the subsequent sampling time points t 2 and t 3 after the time point t 1 , Vi-1 ≧ Vi 1 is the absolute value of the signal Sd at the time points t 2 and t 3 , and is equivalent to that indicated by a table in the same figure. The hold response operation is performed at the time points t 2 and T 3 , respectively.

그러나, 다음의 샘플링 시점 t4에는, Vi-1<|Sd| 이므로, 이 시점 t4에는 어택응답 동작이 행해져, 신호 V(t)는 상승한다(세선 도시).However, at the next sampling time point t 4 , Vi-1 <| Sd | Therefore, the attack response operation is performed at this time t 4 , and the signal V (t) rises (thin line).

그래서, 이후, 이 시점 t2,t3,t4에 있어서와 같은 동작이 샘플링 시점 마다 각각 행해져 지므로, 신호 V(t)는 ×표로 표시하도록 된다.Therefore, since the same operation as that at this time point t 2 , t 3 , t 4 is performed for each sampling time point, the signal V (t) is represented by the x table.

그래서, 시점 ts에는, Vi-≥|Sd|로 되어, 어택 응답 동작이 행하여짐과 동시에, 이후는, Vi-1<|Sd|이므로, 이 시점 t5에서 홀드 응답 동작으로 되어, 시험 t5에서 기간 tH에 걸쳐서 홀드 응답 특성으로 되어, 또 다시, 이후는 복원 응답 특성으로 된다.Thus, at the time ts, Vi-≥ | is in, attack the response operation is performed at the same time the load, after that, Vi-1 <| | Sd Sd | because it becomes a hold-response operation at this time t5, the test at t 5 It is a hold response characteristic over time period tH, and it becomes a restoration response characteristic after that.

또한, 이 홀드 응답특성의 기간 tH에도, 신호 V(t)는, 값 K1에 응답하여 완만하게 하강하여 간다. 그래서, 제8도에 도시하는 거와 같이 단계 입력이 공급된 때의 홀드 응답 특성은,In addition, even during the period tH of the hold response characteristic, the signal V (t) gradually decreases in response to the value K 1 . Thus, as shown in Fig. 8, the hold response characteristic when the step input is supplied is

V(t)=((b-a)exp(-t)TH)+a ………………………………(Ⅴ)V (t) = ((ba) exp (−t) T H ) + a... … … … … … … … … … … … (Ⅴ)

로 표시되어, 복원 응답 특성은,Indicated by the restore response attribute,

V(t)=(b-v(tH))exp(-(t-tH/TR)+V(tH)………………(Vi)V (t) = (bv (tH)) exp (− (t-tH / T R ) + V (tH) ……………… (Vi)

로 표시되어, 이들 (V), (Vi)식으로 콘덴서의 방전커브(지수관수 특성)와 같다. 또한, (Vi)식에 있어서, V(tH)=a라 하면, 이(Vi)식은 (ⅲ)식에 일치한다.The discharge curve (exponent irrigation characteristic) of the capacitor is expressed by these (V) and (Vi) formulas. In the formula (Vi), if V (tH) = a, the formula (Vi) corresponds to the formula (ⅲ).

이렇게 하여, 본 발명에 있어서는, 홀드 응답 동작에도, 신호 V(t)의 레벨이 하강하도록 하였으므로, 제2도에서도 명백한 바와같이, 본래의 정확한 홀드 응답 동작에 가까운 홀드 응답 동작이 행해진다. 즉, 최후의 Vi-1<|Sd|로 된 시점 t4이, 제2도와 같이, 시점 t=0에 있어서 바로 앞의 반 사이클 기간에 위차하지 않는 일도 있으며, 따라서, 홀드 응답의 동작 기간 tH의 위치도 전후로 벗어나는 일도 있으나, 샘플링 주기는 μ초의 오더인데 대해서, 홀드 응답의 동작 기간 tH은 m초의 오더이므로, 홀드 응답의 동작 기간 tH의 위치의 벗어남은, 충분히 적어진다. 특히, |K1|을 크게 하면, 동작 기간 tH의 위치의 벗어남은, 보다 한층 적어진다. 덧붙여서, 8밀리비디오의 경우에는 일예로서,In this way, in the present invention, since the level of the signal V (t) is also lowered in the hold response operation, as shown in FIG. 2, the hold response operation close to the original correct hold response operation is performed. That is, the point in time t 4 of the last Vi-1 &lt; | Sd | may not deviate from the immediately preceding half cycle period at time point t = 0, as shown in FIG. 2, and thus the operation period tH of the hold response. Although the position of is also shifted back and forth, since the sampling period is an order of mu sec, the operation period tH of the hold response is an order of m seconds, so the deviation of the position of the operation period tH of the hold response is sufficiently small. In particular, when | K 1 | is made larger, the deviation of the position of the operation period tH becomes further smaller. By the way, in the case of 8mm video,

tH=5.4m초tH = 5.4 m sec

샘플링 주기=15.9μ초(4배의 오버 샘플링)Sampling period = 15.9 μs (4x oversampling)

K1=-3.66×10-5 K 1 = -3.66 × 10 -5

K3=-3.66×10-4 K 3 = -3.66 × 10 -4

로 하면 된다.You can do

또한, 홀드 응답의 동작 기간 tH에도 신호 V(t)는 하강하므로, 아나로그 처리의 경우와의 차(제8도의 사선 부분)이 적어져, 청각상의 특성이 개선된다.In addition, since the signal V (t) falls even during the operation period tH of the hold response, the difference (the oblique portion in FIG. 8) from the case of analog processing is reduced, and the auditory characteristic is improved.

제3도의 도시하는 예에 있어서는, 어택 응답의 동작시, 차분 ΔV에 계수 K0를 승산함과 동시에, 차례로 가산하므로서 소정의 어택 특성을 얻도록 한 경우이다.In the example shown in FIG. 3, in the operation of the attack response, a predetermined attack characteristic is obtained by multiplying the difference ΔV by the coefficient K0 and adding them sequentially.

상술한 바에 있어서, 홀드 응답시에 있어서 값 K1을 시간과 함께 변화시켜서 제8도에 도시하는 아나로그 처리시의 특성에 일치 내지 근사시킬 수도 있다. 또한, 레벨 신장 회로의 레벨 검출 회로에도 적용이 된다.As described above, the value K 1 may be changed with time in the hold response to coincide with or approximate the characteristics of the analog processing shown in FIG. The present invention also applies to the level detecting circuit of the level expanding circuit.

본 발명에 의하면, 홀드 응답 동작시에도, 신호 V(t)의 레벨이 하강하도록 하였으므로, 제2도에서도 명백한 바와 같이, 본래의 정확한 홀드 응답 동작에 가까운 홀드 응답 동작이 행해진다. 또한, 홀드 응답의 동작 기간 tH에도 신호 V(t)는 하강하므로, 아나로그 처리의 경우와의 차가 적어져, 청감상의 특성이 개선된다.According to the present invention, even during the hold response operation, the level of the signal V (t) is lowered. Therefore, as is apparent from FIG. 2, the hold response operation close to the original accurate hold response operation is performed. In addition, since the signal V (t) falls even during the operation period tH of the hold response, the difference from the case of the analog processing is small, and the auditory characteristic is improved.

Claims (1)

입력된 디지털 데이터의 절대치의 검출하는 검출 회로와, 상기 절대치와 레벨 검출 출력과의 비를 구하는 제산 회로와, 어택 응답용의 정수가 기억되어 있는 제1의 메모리와, 홀드 응답용 및 복원 응답용의 정수가 기억되어 있는 제2의 메모리와, 연산 회로를 가지며, 상기 어택 응답용의 정수는 어택 응답시의 시간경과에 따라서 변화하는 값으로 되어, 상기 홀드 응답용 및 복원 응답용의 정수는 0이 아닌 값으로 되어, 상기 제산 회로의 출력에 의거하여 어택 응답 동작과 홀드 응답 동작 및 복원 응답 동작이 전환되어, 상기 어택 응답용의 정수와 상기 레벨 검출 출력사이에서 승산 및 가산이 행해져서 상기 입력된 디지털 데이터의 레벨을 도시하는 상기 레벨 검출 출력이 인출되어, 상기 홀드 응답 동작 및 복원 응답 동작시에는, 상기 연산 회로에 있어서 상기 홀드 응답용 및복원 응답용의 정수와 상기 레벨 검출 출력 사이에서 승산 및 가산이 행해져서 상기 입력된 디지털 데이터의 레벨을 도시하는 상기 레벨 검출 출력이 인출되는 디지털 레벨 검출회로.A detection circuit for detecting the absolute value of the input digital data, a division circuit for calculating the ratio between the absolute value and the level detection output, a first memory storing an integer for the attack response, a hold response and a restoration response And a second memory having a constant stored therein, and an arithmetic circuit, wherein the constant for the attack response is a value that changes with time in the attack response, and the constant for the hold response and the restore response is 0. Is a value other than 0, and the attack response operation, the hold response operation, and the restoration response operation are switched based on the output of the division circuit, so that the multiplication and addition are performed between the constant for the attack response and the level detection output to perform the input. The level detection output, which shows the level of the digital data, is drawn out, and in the hold response operation and the recovery response operation, And a multiplication and addition are performed between the constant for the hold response and the restore response and the level detection output so that the level detection output showing the level of the input digital data is extracted.
KR1019860010823A 1985-12-17 1986-12-17 Digital level detection circuit KR960000841B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP283263 1985-12-17
JP60283263A JPH0716162B2 (en) 1985-12-17 1985-12-17 Digital level detection circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR870006716A KR870006716A (en) 1987-07-14
KR960000841B1 true KR960000841B1 (en) 1996-01-13

Family

ID=17663188

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019860010823A KR960000841B1 (en) 1985-12-17 1986-12-17 Digital level detection circuit

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPH0716162B2 (en)
KR (1) KR960000841B1 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2681957B2 (en) * 1988-01-19 1997-11-26 ソニー株式会社 Digital signal processor
JP2681956B2 (en) * 1988-01-19 1997-11-26 ソニー株式会社 Envelope detection method for digital signal processor
EP2009786B1 (en) * 2007-06-25 2015-02-25 Harman Becker Automotive Systems GmbH Feedback limiter with adaptive control of time constants

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5767323A (en) * 1980-10-15 1982-04-23 Fujitsu Ltd Analogue-digital converting circuit provided with agc function
JPS5966222A (en) * 1982-10-08 1984-04-14 Toshiba Corp Compact type analog-digital converter

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62142420A (en) 1987-06-25
KR870006716A (en) 1987-07-14
JPH0716162B2 (en) 1995-02-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0016503B1 (en) Waveform correction circuit
EP0040801B1 (en) Automatic equalizer
KR930018543A (en) Video Signal Automatic Gain Control (AGC) Circuit
US5087973A (en) Clamp signal processing apparatus
US4805192A (en) Method and apparatus for pulse code modulation combination chip having an improved autozero circuit
CA1279909C (en) Apparatus and method for synchronizing a communication system
KR960000841B1 (en) Digital level detection circuit
CA1235801A (en) Time base corrector
EP0228245B1 (en) Digital level detecting circuit
US4933891A (en) Method and circuit configuration for generating filter coefficients
EP0749647A1 (en) Method and apparatus for determining a masked threshold
EP0266159B1 (en) Digital muting circuit
JP4500377B2 (en) Clock recovery method during sampling of digital format signals.
US3936759A (en) Offset reduction apparatus for analog circuits
US5255323A (en) Digital signal processing device and audio apparatus using the same
US4407020A (en) Automatic compensation circuit and method
US5281968A (en) DC offset correction circuit for A/D converter
KR960000840B1 (en) Digital level detection circuit
JPH05235760A (en) Offset correction method and circuit device for digital/ analog converter
US6337887B1 (en) Burst receiving circuit and control method thereof
JPS6218095B2 (en)
US4380777A (en) Keyed AGC circuit for video data transmitting device
US4412189A (en) Switchable signal compressor/signal expander
US4053870A (en) Digital signal level comparison device
JP2508455B2 (en) Waveform data generation circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee