KR950012826A - Abnormality detection device of laser diode and method - Google Patents

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KR950012826A
KR950012826A KR1019930022441A KR930022441A KR950012826A KR 950012826 A KR950012826 A KR 950012826A KR 1019930022441 A KR1019930022441 A KR 1019930022441A KR 930022441 A KR930022441 A KR 930022441A KR 950012826 A KR950012826 A KR 950012826A
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Abstract

본 발명은 레이저 다이오드의 이상 유무를 검지하여 중앙 처리 장치에서 알려주는 레이저 다이오드의 이상 유무를 확인함에 있어서, 레이저 다이오드 제어 신호와 레이저 다이오드 양단의 전압 변화를 검출하여 레이저 다이오드의 이상 검지장치 및 그 방법에 관한 것으로, 종래에는 레이저 다이오드 이상유무를 자동으로 검지할 수 있도록 한 레이저 다이오드의 이상 유무를 검지하기 위하여 레이저 다이오드 주변에 별도의 광 검지 장치를 설치하여, 레이저 다이오드에서 발광되는 광량을 직접 검지하는 방법을 사용함으로써, 장치의 구성이 복잡해지고, 이로인해 제품 구성시 생산원가가 상승되는 문제점이 있었다.The present invention detects the abnormality of the laser diode and detects the abnormality of the laser diode to inform the central processing unit, the laser diode control signal and the voltage detection across the laser diode to detect the abnormality of the laser diode and its method In the related art, in order to detect the abnormality of the laser diode which can automatically detect the abnormality of the laser diode, a separate optical detection device is installed around the laser diode to detect the amount of light emitted from the laser diode. By using the method, the configuration of the device is complicated, which leads to a problem in that the production cost is increased during the product configuration.

본 발명은 이와같은 종래의 문제점을 감안하여, 레이저 다이오드의 이상 유무를 확인함에 있어서 별도의 광검지 장치를 사용하지 않고, 레이저 다이오드가 온 될때 레이저 다이오드 양단에 유기되는 전압을 검출하여, 검출된 신호와 레이저 다이오드를 구동 시키는 레이저 다이오드 제어신호와 비교함으로써, 레이저 다이오드의 이상 유무를 검지할 수 있도록 한 것이다.In view of such a conventional problem, the present invention does not use a separate photodetector in checking whether a laser diode is abnormal, and detects a voltage induced across the laser diode when the laser diode is turned on, thereby detecting the detected signal. By comparing with the laser diode control signal for driving the laser diode, it is possible to detect the abnormality of the laser diode.

Description

레이저 다이오드의 이상 검지 장치 및 그 방법Abnormality detection device of laser diode and method

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음Since this is an open matter, no full text was included.

제1도는 본 발명 레이저 다이오드의 이상 검지 장치 구성도.1 is a block diagram of the abnormality detection device of the laser diode of the present invention.

제2도는 (가) 내지 (라)는 제1도의 레이저 다이오드에 대한 정상 동작시 타이밍도.2 is a timing chart in normal operation of the laser diode of FIG.

Claims (2)

시스템 전체 동작을 제어, 처리하는 중앙 처리 장치(1)와; 전원 인가시 상기 중앙 처리 장치(1)에서 출력된 레이저 다이오드 제어 신호를 받아 레이저 다이오드(2)를 온/오프 제어하는 레이저 다이오드 제어부(3)와; 레이저 다이오드(2)의 턴-온 시 양단에 유기되는 전압 변화를 검출하여 증폭 시키는 전압 검출 및 증폭부(4)와; 이 전압 검출 및 증폭부(4)에서 출력된 아날로그 신호를 디지탈 신호 처리가 가능한 펄스 신호로 변환 시키는 파형 정형부(5)와; 이 파형 정형부(5)에서 출력된 신호 및 상기 중앙 처리 장치(1)에서 출력된 레이저 다이오드 제어 신호를 비교하여 레이저 다이오드의 이상 유무를 파악하는 비교부(6)로 구성함을 특징으로 하는 레이저 다이오드의 이상 검지 장치.A central processing unit (1) for controlling and processing the entire system operation; A laser diode controller (3) for turning on / off the laser diode (2) by receiving a laser diode control signal output from the central processing unit (1) when power is applied; A voltage detecting and amplifying unit 4 for detecting and amplifying a change in voltage induced at both ends of the laser diode 2 when turned on; A waveform shaping section 5 for converting the analog signal output from the voltage detecting and amplifying section 4 into a pulse signal capable of digital signal processing; And a comparator (6) for comparing the signal output from the waveform shaping section (5) and the laser diode control signal output from the central processing unit (1) to determine the abnormality of the laser diode. Abnormality detection device of diode. 레이저 다이오드 제어 신호에 의해 레이저 다이오드를 온 시켜 레이저 광을 발광 시키는 단계(S1)와; 레이저 다이오드 제어 신호 및 레이저 다이오드의 양단에서 검지된 전압 변화의 디지탈 변환된 신호를 비교하여 레이저 다이오드의 이상 유무를 검지하는 비교부의 비교 출력 신호를 읽어 들이는 단계(S2)와; 비교부에서 비교 출력된 신호가 하이 즉 정상 인가를 판단하는 단계(S3)와; 정상적인 경우 시스템을 초기화 시키고, 정상이 아닌 경우 에러 즉 레이저 다이오드의 고장 이므로 작동을 중지한 후 에러 및 경고음을 발생 시키는 단계(S4)로 순차 동작함을 특징으로 하는 레이저 다이오드의 이상 검지 방법.Turning on the laser diode according to the laser diode control signal to emit laser light (S1); Reading the comparison output signal of the comparator for detecting the abnormality of the laser diode by comparing the laser diode control signal and the digitally converted signal of the voltage change detected at both ends of the laser diode (S2); Determining whether the signal output from the comparator is high or normal (S3); Initializing the system in the normal case, if it is not normal error or failure of the laser diode, the error detection method of the laser diode characterized in that the operation in the step (S4) to generate an error and a warning sound after stopping the operation. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100562422B1 (en) * 2004-08-13 2006-03-23 주식회사 이오테크닉스 Laser trouble preventing method and its preventing apparatus
KR20200058831A (en) * 2018-11-20 2020-05-28 현대오트론 주식회사 LIDAR apparatus

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KR100562422B1 (en) * 2004-08-13 2006-03-23 주식회사 이오테크닉스 Laser trouble preventing method and its preventing apparatus
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