KR950008432B1 - Apparatus for testing scr - Google Patents
Apparatus for testing scr Download PDFInfo
- Publication number
- KR950008432B1 KR950008432B1 KR1019900008774A KR900008774A KR950008432B1 KR 950008432 B1 KR950008432 B1 KR 950008432B1 KR 1019900008774 A KR1019900008774 A KR 1019900008774A KR 900008774 A KR900008774 A KR 900008774A KR 950008432 B1 KR950008432 B1 KR 950008432B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- microcomputer
- relay
- terminal
- voltage
- thyristor
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Generation Of Surge Voltage And Current (AREA)
- Direct Current Feeding And Distribution (AREA)
Abstract
Description
제1도는 발명의 회로도.1 is a circuit diagram of the invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
l : 전원부 2 : 전압선택키(KEY)l: Power part 2: Voltage select key
3 : 차동증폭기 4 : 증폭기3: differential amplifier 4: amplifier
5 : A/D(Analog/Digital)변환기 6 : 버퍼5: A / D (Analog / Digital) Converter 6: Buffer
7 : 마이크로컴퓨터 8 : 릴레이7: microcomputer 8: relay
9 : 소켓 10 : 단자표시장치9: socket 10: terminal display device
11 : 양불 표시부 12 : 다이리스터(SCR)11: Yang display unit 12: Thyristor (SCR)
13 : 전류측정회로 LEDl, LED2: 발광다이오드13: current measuring circuit LED l , LED 2 : light emitting diode
R : 저항 Q : 트랜지스터R: Resistor Q: Transistor
SW : 스타트스위치 SWl-SW3: 릴레이스위치SW: Start switch SW l -SW 3 : Relay switch
SW4-SW7: 파워스위치 SW8: 릴레이구동스위치.SW 4 -SW 7 : Power switch SW 8 : Relay drive switch.
본 발명은 다이리스터(SCR)를 대량 생산시 양질의 제품만을 선별할 수 있도록 하기 위한 다이리스터 합부판정기에 관한 것이다.The present invention relates to a thyristors combination determiner to be able to select only good quality products in mass production of thyristors (SCR).
일반적으로 다이리스터를 대량 생산할 때 소자의 양불 상태를 측정하기 위해 멀티테스터기를 사용하여 통전 실험을 하였으나, 다이리스터의 종류에 따라 각핀의 단자 순서(애노드, 캐소드, 게이트)가 다를 뿐만 아니라 구동 전압이 다양하여 측정자가 혼동을 일으킬 수 있어 정확한 측정이 불가능함은 물론 빠른 시간내에 많은 다이리스터를 선별하기에는 많은 문제점이 발생되었던 것이다.In general, when mass production of die thyristors, conducting experiments were conducted using a multitester to measure the state of the device's failure. Because of the variety, the measurement can be confusing, and accurate measurement is not possible, and a lot of problems arise in selecting many thyristors in a short time.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 원칩마이크로컴퓨터를 사용하여 측정에 필요한 프로그램을 부여한 후 측정을 시작하면 다이리스터의 애노드, 캐소드, 게이트단자를 스스로 찾아내어 외부로 표시하고 또한 전압선택키의 조정으로서 종류별로 구동전압을 인가하여 전류의 흐름을 측정한 후 발광다이오드를 점등시켜 양불 판정을 측정자에게 알려 주도록 하는 다이리스터 합부판정기를 제공함으로서 다양한 종류의 다이리스터를 대량 생산시 정밀하고 신속한 측정을 하여 양질의 제품을 선별하고자 하는데 본 발명의 목적이 있는 것이다.The present invention has been made in order to solve the above problems, by using a one-chip microcomputer to give a program for measurement and start the measurement, the anode, cathode, gate terminal of the thyristors to find themselves and display the outside As the voltage selection key is adjusted, the driving voltage is applied for each type to measure the flow of current, and then the light emitting diode is turned on to inform the measuring device of the failure. The purpose of the present invention is to select a good quality product by performing a quick measurement.
이하 첨부된 도면에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, described in detail by the accompanying drawings as follows.
합부판정기를 기동시키는 스타트스위치(SW)와 인가되는 전압을 선택하기 위한 전압선택키(2)가 입력단에 연결되고, 다이리스터(12)의 양불판정시 점등되는 양불표시부(11)와 트랜지스터(Q)가 "턴온"되면 다이리스터(12) 각 단자 명칭을 표시하는 단자표시장치(10)가 출력단자에 연결되어 제어프로그램에 의해 동작되는 마이크로컴퓨터(7)와, 상기 마이크로컴퓨터(7)의 제어에 의해 릴레이(8)에 다이리스터(12) 구동전압을 인가하는 전원부(1)와, 상기 마이크로컴퓨터(7)에 의해 릴레이스위치(SW8)가 "온"되면 구동되어 소켓(9)에 접속된 다이리스터(12) 각 단자에 전원을 공급하기 위해 릴레이스위치(SW1-SW3)를 "온"시키는 릴레이(8)가, 상기 전원부(1)에서 출력되는 전압의 전위차를 증폭 및 A/D 변환하여 마이크로컴퓨터(7)에 인가하는 전류측정부(13)를 구비한다.The start switch SW for starting the sum determination unit and the
상기 전류측정부(l3)는, 저항(R) 양단에서 발생된 전위차를 차동증폭하는 차동증폭기(3)와 상기 차동증폭기(3)의 출력신호를 일정레벨로 증폭하는 증폭기(4)와 상기 증폭기(4)의 아날로그 출력신호를 디지탈신호로 변환하는 A/D변환기(5)와 상기 A/D변환기(5)의 출력신호를 필터링하여 마이크로컴퓨터(7)에 인가하는 버퍼(6)로 구성된다.The current measuring unit l3 includes a differential amplifier 3 for differentially amplifying a potential difference generated across the resistor R, and an amplifier 4 for amplifying the output signal of the differential amplifier 3 to a predetermined level and the amplifier. An A /
상기 양불표시부(11)는, 판정된 다이리스터(12)가 양호할 때 점등되는 발광다이오드(LED1)와 불량일 때 점등되는 발광다이오드(LED2)를 구비한다.The
상기와 같은 구성으로 이루어진 발명의 작용 효과를 설명하면 다음과 같다.Referring to the effect of the invention made of the above configuration as follows.
먼저 마이크로컴퓨터(7)에 다이리스터(12)를 측정할 수 있는 필요한 프로그램을 저장하고, 측정대상의 다이리스터(12)를 소켓(9)에 접속시킨 다음 스타트스위치(SW)를 온(ON) 상태로 연결한 후 전압선택키(2)를 조작하여 다이리스터(12)가 구동할 수 있는 게이트전압을 설정하게 되면 상기 마이크로컴퓨터(7)에서 이를 인식하여 선택된 전압을 인가할 수 있는 전원부(1)의 파워스위치(SW4-SW7)중 하나를 "온"상태로 접속시키게 됨과 동시에 마이크로컴퓨터(7)는 릴레이구동스위치(SW8)를 접속하여 다이리스터 (12)가 연결된 소켓(9)과 접속되도록 한다.First, a necessary program for measuring the
이때 마이크로컴퓨터(7)에서 릴레이(8)에 데이타를 출력시켜 다이리스터(12)의 애노드, 캐소드, 게이트단자를 찾는다.At this time, the microcomputer 7 outputs data to the
즉, 다이리스터(12)는 게이트에 전압을 인가하면 애노드단자와 캐소드단자가 "턴온"되는데 게이트단자에 트리거신호를 한번 인가한 후 연속신호를 보내지 않고 차단하여도 다이리스터(12)의 애노드단자와 캐소드단자 사이는 계속 "턴온"상태를 유지하게 된다.That is, when the voltage is applied to the gate, the
만일 다이리스터(12)를 "오프"시킬 경우 애노드단자에 인가되는 전원을 차단하거나 또는 애노드단자와 캐소드단자 사이에 역전압을 인가시켜야 한다.If the
따라서 이와 같은 성질을 이용하여 마이크로컴퓨터(7)에서 릴레이(8)로 데이타를 연속 전송하여 릴레이스위치(SW1-SW3)를 소켓(9)의 X.Y.Z단에 8가지 형태의 순별로 번갈아 접속시키게 된다.Therefore, using this property, the microcomputer 7 continuously transmits data to the
이때 다이리스터(12) 각 단자가 바르게 연결되면 전원부(1)에서 출력되는 선택된 전압이 저항(R)을 거쳐 릴레이(8)를 통해 다이리스터(12)의 애노드단자에서 캐소드단자로 흐르게 되어 마이크로컴퓨터(7)는 전류측정회로(13)의 출력 데이타를 읽은 후 단자표시장치(10)와 양불표시부(11)를 동작시키게 된다.At this time, if each terminal of the
즉, 다이리스터(12)에 전류가 흐를 경우 전원부(1)로부터 출력되는 전압에 의해 전류측정부(13)의 저항(R) 양단에 전위차가 발생하게 되면, 상기 전압차를 차동증폭기(3)로서 증폭된 후 다시 증폭기(4)에서 일정레벨로 증폭된다.That is, when a current difference flows across the resistor R of the
상기 증폭기(4)에서 증폭된 아날로그신호는 A/D변환기(5)를 경유하여 마이크로컴퓨터(7)가 판독할 수 있는 디지탈 신호로 변환되어 버퍼(6)를 거쳐 필터링되어 마이크로컴퓨터(7)로 전송됨으로서, 상기 마이크로컴퓨터(7)가 입력된 데이타를 읽게된다.The analog signal amplified by the amplifier 4 is converted into a digital signal that can be read by the microcomputer 7 via the A /
그러므로 마이크로컴퓨터(7)는 최초에 전압선택키(2)에서 설정한 전원부(1)의 출력 전압과 버퍼(6)에서 전송된 데이타를 상호 비교연산하여 전위차가 발생하면 다이리스터(12)의 애노드단자에서 캐소드단자로 전류가 흐름을 알 수 있어 정상동작을 하는 다이리스터(12)임을 판정하여 양불표시부(11)의 발광다이오드(LED1)를 점등시켜 정상임을 알림과 동시에 트랜지스터(Q)를 "턴온"시켜 다이리스터(12) 각 단자(X.Y.Z)명칭을 단자표시장치(10)에 디스플레이되도록 한다.Therefore, the microcomputer 7 first compares the output voltage of the
만일 다이리스터(12)가 불량일 경우 게이트전압을 인가하여도 애노드단자와 캐소드단자는 "턴온"상태가 되지 않으므로 저항(R) 양단에 전위차가 발생 않게 되어 전류측정 회로(13)의 데이타와 전원부(1)에서 출력되는 전압이 동일하므로 양불표시부(11)의 발광다이오드(LED2)를 점등시켜 불량임을 알리게 되는 것이다.If the
본 발명에서는 마이크로컴퓨터(7)가 처리할 수 있는 용량만큼 다수의 주변회로를 접속하여 한번에 다량의 제품을 측정할 수 있도록 되어 있다.In the present invention, a large amount of products can be measured at a time by connecting as many peripheral circuits as the capacity that the microcomputer 7 can process.
상술한 바와 같이 작용하는 본 발명은 다이리스터(12)의 대량 생산시 원침마이크로컴퓨터(7)와 주변회로를 상호접속한 합부판정기를 제공함으로서 다이리스터(12) 종류에 관계없이 측정조건을 부여할 수 있을 뿐만 아니라 측정 정밀도를 높일 수 있고 짧은 시간에 다량의 제품을 측정할 수 있어 다이리스터의 생산성을 향상시킬 수 있는 것이다.The present invention, which acts as described above, provides a mating determiner interconnecting the microneedle microcomputer 7 and peripheral circuits during mass production of the
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019900008774A KR950008432B1 (en) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | Apparatus for testing scr |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019900008774A KR950008432B1 (en) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | Apparatus for testing scr |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR920001210A KR920001210A (en) | 1992-01-30 |
KR950008432B1 true KR950008432B1 (en) | 1995-07-31 |
Family
ID=19300114
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900008774A KR950008432B1 (en) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | Apparatus for testing scr |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR950008432B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104777353A (en) * | 2015-03-27 | 2015-07-15 | 桂林理工大学 | Multichannel low-current collection method and system based on single chip microcomputer control |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010037583A (en) * | 1999-10-18 | 2001-05-15 | 박용종 | Device of judging leakage voltage and gate control function of thyrister |
-
1990
- 1990-06-15 KR KR1019900008774A patent/KR950008432B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104777353A (en) * | 2015-03-27 | 2015-07-15 | 桂林理工大学 | Multichannel low-current collection method and system based on single chip microcomputer control |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR920001210A (en) | 1992-01-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6121767A (en) | Digital multimeter with variable color range indication | |
GB1478750A (en) | Liquid level indicators and installations incorporating the same | |
US3854089A (en) | Low voltage monitor circuit | |
KR950008432B1 (en) | Apparatus for testing scr | |
JPH05119110A (en) | Direct current measuring device | |
KR870000690B1 (en) | Infra-red transmitter circuit for a keyboard entry device | |
US3439181A (en) | Dual set point solid state relay | |
US3898559A (en) | Method and apparatus for testing transistors | |
KR920001019Y1 (en) | Display device of control of digital count | |
JPH0421062Y2 (en) | ||
CN210269961U (en) | Dual-mode digital multimeter | |
JPH0210404Y2 (en) | ||
CN216013572U (en) | Assembly line test multi-output power management control panel | |
JPH0439531Y2 (en) | ||
KR0168067B1 (en) | Operation tester for zener diode | |
JPS6483160A (en) | Measuring apparatus of characteristic of power supply device | |
KR960005164Y1 (en) | Air circuit breaker testing apparatus | |
KR830003072Y1 (en) | Automatic switching circuit of output indicator | |
KR890004820Y1 (en) | Lamp display apparatus indicating audio output signal volume | |
KR800000375Y1 (en) | Concentration watch device of a train line signal | |
SU1147992A1 (en) | Device for indicating current type and polarity | |
KR0174502B1 (en) | Analog Switch Test Circuit for Integrated Devices | |
JPH0236454Y2 (en) | ||
SU1173334A1 (en) | Device for indicating current direction in electric circuit elements | |
SU1434375A1 (en) | Device for monitoring contact-making |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 19990629 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |