KR950006921Y1 - 누전 차단기용 테스트 회로 - Google Patents

누전 차단기용 테스트 회로 Download PDF

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김종구
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금성계전 주식회사
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers

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Abstract

내용 없음.

Description

누전 차단기용 테스트 회로
제1도는 종래 누전 차단기 테스트의 일 실시예를 설명하기 위한 회로도.
제2도는 제1도의 테스트 스위치를 설명하기 위한 개략도.
제3도는 본 고안 누전 차단기 테스트의 일 실시예를 설명하기 위한 회로도.
제4도는 제3도 테스트 신호 발생부의 다른 실시예를 설명하기 위한 회로도.
제5도는 제3도 테스트 신호 발생부의 또 다른 실시예를 설명하기 위한 회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 전원부 11 : 검출 신호 발생부
12 : 비교부 13 : 테스트 신호 발생부
IC : 비교기 DSW : 딥 스위치
본 고안은 누전 차단기의 테스트에 관한 것으로 특히, 누전 차단기의 테스트를 안전하게 실시하기에 적당하도록 한 누전 차단기용 테스트 회로에 관한 것이다.
종래 기술은 제1도와 같이 단자(A, B)로부터 교류 전압(88V-560V)을 받아 정류(반파 정류) 및 평활함으로써 일정한 크기를 갖는 직류전압을 발생하는 다이오드(Diode)(D1), 저항(R1-R3), 트랜지스터(Transistor)(TR), 제너 다이오드(ZD), 콘덴서(Condenser)(C1), 바리스터(Varistor)(TNR)로 된 전원부(10)와 테스트 스위치(TSW)를 온함으로써 테스트 저항(RT) 및 테스트 스위치(TSW)를 통해 상기 교류 전압이 영상 변류기(ZCT)에 인가될 경우 영상 변류기(ZCT)의 신호(전류)를 받아 신호(전압)크기를 선택하여 그 선택된 신호를 발생하는 딥(Dip) 스위치(DSW), 저항(R4-R7), 콘덴서(C6, C7), 다이오드(D2, D3)로 된 검출 신호 발생부(11)와, 상기 검출 신호 발생부(11) 및 전원부(10) 사이에 접속되어 누설 전류 또는 테스트 전류 발생시 트립 코일(Trip Coil)(TC)을 구동함으로써 누전 차단기가 오프되도록 하는 비교기(IC), 캐패시터(C2-C5), 사이리스터(Thyristor)(SCR)로 된 비교부(12)로 구성된다.
이와 같이 구성된 종래 기술을 보면, 단자(A, B)에 교류 전압을 인가 할 경우 전원부(10)의 다이오드(D1)는 반파 정류하고, 저항(R1, R2)에 의해 전압 강하가 이루어지며 콘덴서(C1)에 의하여 평활됨으로써 비교부(12)의 비교기(IC)는 8번 전원 단자로 일정한 크기의 직류 전압을 받아 구동한다.
또한, 테스트 스위치(TSW)를 온함으로써 영상변류기(ZCT)에 테스트 전류 또는 누설 전류를 인가함으로써 검출 신호 발생부(11)의 딥 스위치(DSW) 조작에 따라 비교기(IC)에 딸린 1번 비반전 입력 단지 및 2번 반전 입력 단자로 신호가 인가되므로 비교기(IC)는 내부에서 상기 1, 2번 단자로 받은 신호를 증폭하여 사이리스터(SCR)의 게이트(Gate)에 신호를 인가함으로써 결국, 사이리스터(SCR)가 온 되므로 트립 코일(TC)이 구동하게 되어 누전 차단기가 오프된다.
그러나, 이와 같은 종래의 기술에 있어서는 누전 차단기를 테스트 하기 위해 테스트 스위치(TSW)와 "B"입력 사이에 동작 감도 전류 이상의 크기를 갖는 전류를 흘려야 함으로써 테스트 스위치(TSW)를 조작할 경우 제2도와 같이 테스트 스위치(TSW)의 접점 부위 "C"영역에서 아크(Arc)가 발생하여 사용자에게 위험이 초래되는 결점이 있다.
본 고안은 이와 같은 종래의 결점을 감안하여 안출한 것으로, 누전 차단기의 테스트를 실시할 경우 테스트 스위치의 아크 발생을 방지함으로써 누전 차단기의 테스트를 안전하게 실현 할 수 있는 누전 차단기용 테스트 회로를 제공하는데 그 목적이 있다.
이하에서 이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안의 실시예를 첨부된 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
제3도는 본 고안의 회로도로, 단자로부터 교류 전압을 받아 정류 및 평활함으로써 일정한 크기를 갖는 직류전압을 발생하는 다이오드(D1), 저항(R1-R3), 트랜지스터(TR), 제너 다이오드(ZD), 콘덴서(C1), 바리스터(TNR)로 된 전원부(10)는 종래와 같으며 테스트 신호 발생부를 구동함으로써 테스트 저항(RT) 및 테스트 신호 발생부를 통해 상기 교류 전압이 영상 변류기(ZCT)에 인가될 경우 영상 변류기(ZCT)의 신호(전류)를 받아 신호(전압)크기를 선택하여 그 선택된 신호를 발생하는 딥 스위치(DSW), 저항(R4-R7), 콘덴서(C6, C7), 다이오드(D2, D3)로 된 검출 신호 발생부(11)와 상기 검출 신호 발생부(11) 및 전원부(10) 사이에 접속되어 누설 전류 또는 테스트 전류 발생시 트립 코일(TC)을 구동함으로써 누전 차단기가 오프되도록 하는 비교기(IC), 캐패시터(C2-C5), 사이리스터(SCR)로 된 비교부(12)와, 상기 영상 변류기(ZCT) 및 전원부(10) 사이에 접속되어 영상 변류기(ZCT)의 일측 단에 입력 단자(B)의 신호를 인가함으로써 아크 발생 없이 누전 차단기의 테스트가 이루어 지도록 하는 사이리스터(SCR2), 테스트 스위치(TSW), 콘덴서(C8), 저항(R8, R9)으로 된 테스트 신호 발생부(13)로 이루어진다.
이와 같이 구성된 종래 기술을 보면, 단자(A, B)에 교류 전압을 인가할 경우 전원부(10)의 다이오드(D1)는 반파 정류하고, 저항(R1, R2)에 의해 전압 강하가 이루어지며 콘덴서(C1)에 의하여 평활됨으로써 비교부(12)의 비교기(IC)는 8번 전원 단자로 일정한 크기의 직류 전압을 받아 구동하는 것은 종래와 같다.
또한, 테스트 신호 발생부(13)의 테스트 스위치(TSW)를 온함으로써 저항(R8, R9)에 의해 분압된 그 저항(R8, R9) 사이의 전압이 사이리스터(SCR2) 게이트에 인가되므로 영상 변류기(ZCT)에 테스트 전류 또는 누설 전류를 인가함으로써 검출 신호 발생부(11)의 딥 스위치(DSW) 조작에 따라 비교기(IC)에 딸린 1번 비반전 입력 단자 및 2번 반전 입력 단자로 신호가 인가된다.
따라서, 비교기(IC)는 내부에서 상기 1, 2번 단자로 받은 신호를 증폭하여 사이리스터(SCR)의 게이트에 신호를 인가함으로써 결국, 사이리스터(SCR)가 온되므로 트립 코일(TC)이 구동하게 되어 누전 차단기가 오프된다.
또한, 제4도와 같이 상기 테스트 신호 발생부(13)의 사이리스터(SCR2) 대신 트랜지스터(NPN형 트랜지스터)(TR1)를 사용할 수 있으며 제5도와 같이 테스트 신호 발생부(13)를 릴레이(RL) 및 테스트 스위치(TSW)만으로 구성해도 된다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 고안은 누전 차단기의 테스트를 위해 테스트 신호 발생부(13)를 이용하여 간접적으로 스위칭함으로써 영상 변류기(ZCT)에 전압을 인가함으로 아크 발생이 없기 때문에 누전 차단기의 테스트가 안전하게 이루어지는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 교류 전압을 받아 직류 전압을 발생하는 전원부(10)와, 테스트 신호 발생부에 의해 상기 교류 전압이 영상 변류기(ZCT)에 인가 될 경우 영상 변류가(ZCT)의 신호를 받아 해당하는 크기의 신호를 발생하는 검출 신호 발생부(11)와, 상기 검출 신호 발생부(11) 및 전원부(10) 사이에 접속되어 누설 전류 또는 테스트 전류 발생시 누전 차단기가 오프되도록 하는 비교부(12)와, 상기 영상 변류기(ZCT) 및 전원부(10) 사이에 접속되어 영상 변류기(ZCT)의 일측 단에 신호를 인가함으로써 아크 발생없이 누전 차단기의 테스트가 이루어지도록 하는 테스트 신호 발생부(13)를 포함하여 이루어지는 누전 차단기용 테스트 회로.
KR2019930001456U 1993-02-05 1993-02-05 누전 차단기용 테스트 회로 KR950006921Y1 (ko)

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