KR950005570Y1 - Thermal resistance gap treatment circuit in tph - Google Patents

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Abstract

내용 없음.No content.

Description

TPH의 열저항 오차 보상 회로TPH thermal resistance error compensation circuit

제 1 도는 종래 칼라 프린터의 TPH 구동 회로도.1 is a TPH driving circuit diagram of a conventional color printer.

제 2a 도 및 제 2b 도는 열 저항 오차의 특성도.2A and 2B are characteristic diagrams of thermal resistance error.

제 4 도는 본 고안의 TPH의 열저항 오차 보상 회로도.4 is a thermal resistance error compensation circuit diagram of the TPH of the present invention.

제 5 도는 제 4 도의 상세 회로도.5 is a detailed circuit diagram of FIG.

제 6a 도 내지 제 6c 도는 제 5 도에서의 각 부 파형도.Fig. 6A to 6C and Fig. 5 each sub waveform diagram.

제 7 도는 제 5 도에서의 TPH 저항 오차와 통전 보정 시간과의 관계도.7 is a relationship between the TPH resistance error and the energization correction time in FIG.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 데이타 입력부 2 : TPH1: Data input part 2: TPH

3 : TPH 발열부 10 : 기준파 발생부3: TPH heating part 10: reference wave generating part

11 : 비교부 12 : 저항검출부11 comparison unit 12 resistance detection unit

본 고안은 TPH(Thermal Printer Head)의 열 저항 오차 보상에 관한것으로, 특히 TPH를 이용한 서멀 프린터(Thermal Printer), 칼라 프린터(Color Printer)에서 발생하는 불균일한 열저항 값으로 인한 발열량 차를 보상하는데 적당하도록 한 TPH의 열저항 오차 보상 회로에 관한것이다.The present invention relates to the compensation of the thermal resistance error of the TPH (Thermal Printer Head), in particular, to compensate for the difference in calorific value due to the non-uniform thermal resistance value generated in the thermal printer and the color printer using the TPH. It relates to a thermal resistance error compensation circuit of TPH that is suitable.

제 1 도는 일반적으로 사용되고 있는 종래의 칼라 프린터의 TPH 구동부의 구성도로서 이에 도시한 바와같이 프린트할 라인의 화상데이타를 입력하는 데이타 입력부(1)와, 열저항 어레이(R1-Rn)와 각열 저항의 도통회로(Q1-Qn)로 구성되어 화상 데이타에 따라 열로 리본을 녹여서 프린트하는 TPH 발열부(3)와, 상기 데이타 이력부(1)에 래치(Latch)된 화상데이타를 스트로브신호(STB)에 따라 출력하고 상기 TPH발열부(3)의 저항(R1-Rn)를 도통시키는 TPH 구동부(2)로 구성된다.1 is a configuration diagram of a TPH driver of a conventional color printer which is generally used. As shown therein, a data input unit 1 for inputting image data of a line to be printed, thermal resistance arrays R1-Rn, and a thermal resistance A TPH heat generating section (3) for melting and printing ribbons by heat in accordance with the image data, and the image data latched in the data history section (1). And a TPH driver 2 for outputting according to and conducting the resistors R1-Rn of the TPH heat generating unit 3.

상기와 같이 구성되는 종래의 회로에 대하여 그 동작 및 문제점을 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation and problems with respect to the conventional circuit configured as described above in detail as follows.

먼저 프린트할 화상 데이타 즉, 화상이 있는 부분의 데이타 값은 "1" 화상이 없는 부분의 데이타 값은 "0"으로 데이타 입력부(1)에 인가되어 내부의 래지스터에 저장이 되고, 화상 데이타의 입력이 모두 끝나면 TPH구동부(2)의 스트로브 단자에 1계조(1gradation)에 해당하는 발열시간동안 스트로브 인에이블신호(STB)가 인가된다.First, the image data to be printed, that is, the data value of the portion with an image is "1", and the data value of the portion without an image is "0" and is applied to the data input unit 1 and stored in the internal register. After the input is completed, the strobe enable signal STB is applied to the strobe terminal of the TPH driver 2 during the heating time corresponding to one gradation.

그리고, 상기 TPH 구동부(2)의 로직 게이트는 입력신호와 함께 스트로브신호(STB)가 있는 동안 인에이블되어 열저항(R1-Rn)을 도통시킨다.The logic gate of the TPH driver 2 is enabled with the input signal while the strobe signal STB is present to conduct thermal resistances R1-Rn.

이후 발열시간(ton)이 다 된 경우 얼마간의 냉각 시간을 갖고 다음 계조를 찍기 위한 데이타 입력등의 준비에 들어간다.After the heat generation time (ton) is finished, it takes some cooling time and prepares for data input for taking the next gray level.

이때 만일 어떤 화소가 n계조(gradation)이라면 n회 동안 통전되어야 하며 상기의 과정은 최대 계조 수만큼 반복된다.At this time, if a pixel is n gradation, it should be energized n times, and the above process is repeated by the maximum number of gradations.

그러나, 상기와 같은 방법은 제 2 도 및 제 3 도에 도시한 바와같이 TPH의 저항값(열 저상)이 제 2a 도와 같이 불균일하게 분포되고, 여기에 제 1 도의 종래 장치와 같이 1계조 단위의, 통전시간(발열시간)을 ton으로 저항값에 관계없이 일정한 경우 제 2b 도와 같이 열량도 불균일하게 나타나게 됨과 아울러 계조수가 크면 클수록 이 오차는 누적되어 증가하게 된다.However, in the above-described method, as shown in FIGS. 2 and 3, the resistance value (thermal low phase) of the TPH is unevenly distributed as shown in FIG. 2A, and here, as in the conventional apparatus of FIG. In the case of constant current regardless of the resistance value, the calorific value also appears unevenly as shown in FIG. 2b. In addition, as the number of gray scales increases, this error accumulates and increases.

한편, 제 3 도는 상기의 오차를 보전하기 위해 소프트 웨어적으로 처리하는 방법을 나타낸 것으로, 이 경우 TPH의 분포 저항값이 각 세트마다 다르므로 각 세트마다 TPH의 분포 저항값을 측정하고, 저항 오차값(△Ri)에 대승하는 통전보정시간(△ti)의 테이블을 구한 다음 이를 메모리에 저장해야 하는 어려움과 번거로움이 있다.(제 3a 도).On the other hand, Figure 3 shows a method of processing by software in order to compensate for the above error. In this case, since the distribution resistance value of TPH is different for each set, the distribution resistance value of TPH is measured for each set, and the resistance error It is difficult and cumbersome to obtain a table of the energization correction time DELTA ti that corresponds to the value DELTA Ri and store it in the memory (FIG. 3A).

또한, 실제 K번째 화소를 예로 들면 통전보정시간 △tk를 테이블에서 얻은 후 몇 단계의 계산과정을 거쳐 최종적으로 계조수 즉, 통전횟수로 보정을 하게되는데 이 횟수는 정수이므로 정수로 나누어 떨어지지 않는 소수점 이하의 계조수 즉, 0과 ton 사이의 통전시간은 보정을 해도 오차로 남는 단점이 있다.In addition, taking the actual Kth pixel as an example, the current correction time Δtk is obtained from the table, and after several steps of calculation, it is finally corrected by the number of gradations, that is, the number of energizations. The following number of gray scales, i.e., the energization time between 0 and ton has a disadvantage of remaining as an error even when corrected.

이에 따라 본 고안은 상기와 같은 종래 방식의 결함을 감안하여 tph저항 값을 검출하고 이에 따라 통전시간이 자동으로 조정되도록 하여 저항 분포와 상관없이 일정한 열량을 얻을 수 있도록 안출된 것으로 이를 상세히 설명하면 다음과 같다.Accordingly, the present invention is designed to detect the tph resistance value in consideration of the deficiencies of the conventional method as described above and to automatically adjust the energization time accordingly to obtain a constant amount of heat regardless of the resistance distribution. Same as

제 4 도는 본 고안의 TPH 구동부의 블록 구성도로서 이에 도시한 바와같이 출력 명령신호인 스트로브신호(STB)가 입력되는 동안 기준파를 발생시켜 다음 단으로 출력하는 기준파 발생부(10)와, 각 TPH의 저항 오차를 검출하여 이와 비례하는 전압으로 변환, 증폭하여 출력하는 저항 검출부(12)와, 상기 기준파발생부(10) 및 저항검출부(12)의 출력 전압을 비교하여 TPH 구동 게이트를 인에이블시키는 비교부(11)를 포함하여 구성된다.4 is a block diagram of the TPH driving unit according to the present invention, as shown therein, a reference wave generator 10 generating a reference wave while outputting a strobe signal STB, which is an output command signal, and outputting it to the next stage; By comparing the output voltages of the reference wave generator 10 and the resistance detector 12 with the resistance detector 12 that detects, converts, amplifies, and outputs a resistance error of each TPH, the TPH driving gate is checked. The comparator 11 includes a comparator 11 for enabling the signal.

상기와 같이 구성되는 본 고안의 회로에 대하여 그 동작 및 작용효과를 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation and effect of the circuit of the present invention configured as described above in detail as follows.

먼저, 그 기본동작은 상기한 바와같이 저항 오차에 따라 TPH 통전시간을 조절하여 TPH에서 발생하는 열량을 저항 오차 분포와 거의 관계없이 일정하게 하는 것으로, 저항 오차(△R)와 통전 조절시간(△t)와의 관계식을 유도하면 다음과 같다.First, the basic operation is to adjust the TPH conduction time according to the resistance error as described above to make the amount of heat generated from TPH constant regardless of the distribution of the resistance error. The resistance error (ΔR) and the energization adjustment time (△ Derivation of the relationship with t) is as follows.

Q=P×T 즉, 열량=전력×시간이므로 TPH 저항 오차가 O인 평균저항값을 Rav, 이대 1계조 통전시간을 ton, 열량을 Q1, TPH인가 전압을 VH라고 하면,Since Q = P x T, that is, calories = power x time, if the average resistance value of TPH resistance error is O, Rav, this one-gradation energization time ton, the calorie value Q1, and the TPH applied voltage are V H ,

로서 여기서 RTPH=Rav+△R인 경우 Q2가 Q1이 되게 하기 위한 통전시간을 (ton+△t)라고 하면,In this case, when RTPH = Rav + ΔR, the energization time for Q2 to be Q1 is (ton + Δt),

한편, 상기 (1) (2)식으로 부터On the other hand, from the formula (1) (2)

식이 유도된다. The equation is derived.

즉, 보통 통전시간은 저항 오차의 크기에 비례해야 한다.That is, the normal energization time should be proportional to the magnitude of the resistance error.

한편, 제 5 도는 상기 제 4 도에 대한 상세 회로도로서 이에 도시한 바와같이 기준파 발생부(10)의 출력을 비교기(CP10-CP12)에 인가하여 TPH 발열부(3)의 저항(R1∼Rn)에 나타나는 전압과 비교를 하고 상기 비교기(CP10∼CP12)의 출력을 TPH구동부(2)의 게이트(AD10∼AD12)에 입력하여 그 출력신호에 의해 상기 TPH 발열부(3)의 트랜지스터(Q1∼Qn)가 제어되도록 구성한다.FIG. 5 is a detailed circuit diagram of FIG. 4 and shows the resistances R1 to Rn of the TPH heating unit 3 by applying the output of the reference wave generator 10 to the comparators CP10-CP12 as shown therein. And the outputs of the comparators CP10 to CP12 are inputted to the gates AD10 to AD12 of the TPH driver 2, and the output signals of the transistors Q1 to TPH are generated by the output signal. Qn) is configured to be controlled.

상기와 같은 본 고안의 상세 회로에 대하여 그 동작을 제 6 도의 파형도와 함께 상세히 설명하면 다음과 같다.The detailed circuit of the present invention as described above is described in detail with the waveform diagram of FIG. 6 as follows.

먼저, 데이타가 입력된 상태에서 ton신호와 2배정도에 해당하는 스트로브신호(STB)가 입력되면 기준파발생부(10)에서 시간에 비례하는 전압 즉, 삼각파가 발생하는 한편, 상기 스트로브신호(STB)에 의해 저항검출부(12)가 동작하여 초기 전압을 출력하여 상기 비교기(CP10∼CP12)를 동작시키면 데이타가 있는 TPH구동부(2)의 게이트(AD10∼AD12)의 출력을 하이로 만들어 TPH저항(R1∼Rn)을 통전시킨다.First, when the strobe signal STB corresponding to about twice the ton signal is input while data is input, the reference wave generator 10 generates a voltage proportional to time, that is, a triangular wave, while the strobe signal STB is generated. When the resistance detector 12 operates to output an initial voltage to operate the comparators CP10 to CP12, the outputs of the gates AD10 to AD12 of the TPH driver 2 with data are made high to make the TPH resistor R1. -Rn) is energized.

그리고, 상기 TPH저항(R1∼Rn)이 통전되면 저항검출부(12)의 전압이 Vsi=A+B·△Ri―(3)이 되는데, 여기서 △Ri=Ri―Rav 로서 Ri는 1번째 TPH저항을 나타내고 Rav는 평균치 저항을 A는 Ri=Rav일때의 검출전압이고 B는 회로의 이득율로서 비례상수이다.In addition, the TPH resistance (R1~Rn) is energized when the voltage of the resistance detection unit (12) Vsi = A + B · △ R i - there is a (3), where △ R i = R a i -Rav R i is It represents the first TPH resistance Rav is the average resistance R i = a is detected when the voltage of the Rav and B is a proportional constant as a gain factor of the circuit.

한편, 비교부(CP10∼CP12)에서는 삼각파 전압과 저항 검출부(21)의 출력전압을 비교하는데(제 6b 도), 만일 0VtVsi이면 상기 비교기(CP10∼CP12)의 출력이 하이가 되어 앤드게이트(AD10∼AD12)에 인가되고 상기 앤드게이트(AD10∼AD12)의 출력도 하이가 되어 앤-모스 트랜지스터(Q10∼Qn)를 계속 온 상태로 유지하여 TPH저항(R1∼Rn)을 계속 통전시킨다.On the other hand, the comparator CP10 to CP12 compares the triangular wave voltage with the output voltage of the resistance detector 21 (FIG. 6B). Vt If V si , the outputs of the comparators CP10 to CP12 become high and are applied to the AND gates AD10 to AD12, and the outputs of the AND gates AD10 to AD12 also become high to turn off the N-MOS transistors Q10 to Qn. It keeps on and keeps TPH resistance (R1-Rn) energized.

그러나, 만일 VtVsi이면 상기 비교기(CP10∼CP12)의 출력이 로우가 되고 이에 따라 상기 앤드게이트(AD10∼AD12)의 출력도 로우로 떨어짐에 따라 TPH 저항(R1∼Rn)을 오프시켜서 1계조의 통전을 마치게 되며(제 6c 도) 상기 동작은 tPH 저항(R1∼Rn)오차에 따라 TPH통전 보정시간이 그에 비례하는 특성을 보이고 있다.However, if Vt If V si , the output of the comparators CP10 to CP12 goes low, and accordingly, the output of the AND gates AD10 to AD12 falls low, thereby turning off the TPH resistors R1 to Rn to complete the current of one gradation. (Fig. 6C) The operation shows a characteristic in which the TPH energization correction time is proportional to the tPH resistance (R1-Rn) error.

한편, 이 관계를 구체적으로 설명하면 다음과 같다.On the other hand, this relationship will be described in detail.

즉, 제 7 도에서 t=t1일때 삼각판 전압 vt와 저항검출부(12)의 전압 Vsi가 일치하므로That is, in FIG. 7, when t = t1, the voltage of the triangular plate vt and the voltage V si of the resistance detector 12 coincide.

Vt(ti)=C. ti=C. (ton+△t)――(4)Vt (ti) = C. ti = C. (ton + △ t) ―― (4)

Vsi=B+A. △Ri――(5)가 된다.V si = B + A. ΔRi — (5).

그런데 Ri=Rav 일때 t=ton이므로 vt(ton)=C. ton=B가 되고 따라 B/C=ton ―――(6)이 된다.But when Ri = Rav, t = ton, so vt (ton) = C. ton = B and accordingly B / C = ton- (6).

이때 상기 식(4), 식(5), 식(6)을 연립하면 △t=△R/C―(7)를 구할수 있으며 이 식(7)을 상기 식(3)과 비교하면 A/C=ton/Rav, B/C=ton이 되어 이로부터 원하는 기능의 회로를 실현할 수 있게 된다.Δt = ΔR / C- (7) can be obtained by combining equations (4), (5) and (6), and comparing this equation (7) with equation (3) A / C = ton / Rav and B / C = ton can be used to realize a circuit having a desired function.

이상에서와 같이 본 고안은 TPH 저항의 오차를 검출하여 TPH 통전시간 즉, 발열시간의 보정시간을 이에 비례하여 가변적으로 수행함으로써 TPH 저항의 오차와는 무관하게 거의 일정한 발열량을 얻을 수 있게 해준다.As described above, the present invention detects an error of the TPH resistance and variably performs the TPH energization time, that is, the time of correction of the heating time, in proportion to this, thereby making it possible to obtain a substantially constant heating value irrespective of the error of the TPH resistance.

Claims (1)

출력명령 신호인 스트로브신호(STB)가 입력되는 동안 기준파를 발생시켜 다음 단으로 출력하는 기준파 발생부(10)와, 각 TPH의 저항 오차를 검출하여 이와 비례하는 전압으로 변환, 증폭하여 출력하는 저항검출부(12)와, 상기 기준파발생부(10) 및 저항검출부(12)의 출력전압을 비교하여 TPH 구동게이트를 인에이블시키는 비교부(11)를 포함하여 구성한 것을 특징으로 하는 TPH의 열저항 오차 보상회로.The reference wave generator 10 generates a reference wave while outputting the strobe signal STB, which is an output command signal, and outputs the signal to the next stage. And a comparison unit (11) for enabling the TPH driving gate by comparing the output voltages of the reference wave generation unit (10) and the resistance detection unit (12). Resistance error compensation circuit.
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