JP2954050B2 - Thermal head controller - Google Patents

Thermal head controller

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JP2954050B2
JP2954050B2 JP31201196A JP31201196A JP2954050B2 JP 2954050 B2 JP2954050 B2 JP 2954050B2 JP 31201196 A JP31201196 A JP 31201196A JP 31201196 A JP31201196 A JP 31201196A JP 2954050 B2 JP2954050 B2 JP 2954050B2
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thermal head
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    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2202/00Embodiments of or processes related to ink-jet or thermal heads
    • B41J2202/01Embodiments of or processes related to ink-jet heads
    • B41J2202/17Readable information on the head

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、サーマルヘッドの
制御装置に関し、特に、高精度な印加エネルギーの制御
を要するプリンタに搭載されるサーマルヘッドの制御装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a control apparatus for a thermal head, and more particularly, to a control apparatus for a thermal head mounted on a printer that requires highly accurate control of applied energy.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、サーマルヘッドは、感熱式等の
プリンタに搭載され、内蔵した複数の発熱体を印画(印
字)データに基づいて発熱させながら移動して、記録紙
に所望の文字や図形等を印画する。従来のサーマルヘッ
ドでは、前回の印画ラインや、両隣りに印画ドットが有
るか否かによって、発熱体、発熱体近傍の部材、或い
は、ヒートシンクの蓄熱状態等が変化する。蓄熱状態が
変化すると、記録紙等に伝わる熱エネルギーが変わるた
め、印画濃度が変化する不都合がある。
2. Description of the Related Art In general, a thermal head is mounted on a printer of a thermal type or the like, and moves a plurality of built-in heating elements while generating heat based on printing (printing) data, so that a desired character or graphic is printed on a recording paper. Print etc. In the conventional thermal head, the heat storage state of the heating element, a member in the vicinity of the heating element, the heat sink, or the like changes depending on whether or not there is a previous printing line or printing dots on both sides. When the heat storage state changes, the heat energy transmitted to the recording paper or the like changes, so that there is an inconvenience that the printing density changes.

【0003】上記不都合を防ぐために、種々の蓄熱対策
が採られている。例えば、今回印画すべきドットの前回
の印画ライン、或いは、両隣りの印画ドット等の印画デ
ータに基づいて印加エネルギーを補正する方法がある。
この印加エネルギーの補正方法は、印字率が小さくその
変化が小さいキャラクタ印字においては十分に有効であ
る。また、1ドットを印画するか否かの2値階調式プリ
ンタにおいても、ディザ処理を行うこと等により、印画
品質の劣化を抑制することが可能である。
[0003] In order to prevent the above inconveniences, various measures against heat storage are taken. For example, there is a method of correcting the applied energy based on print data of a previous print line of dots to be printed this time or print dots on both sides.
This method of correcting the applied energy is sufficiently effective for character printing in which the printing ratio is small and the change is small. Also, in a binary gradation printer which determines whether or not to print one dot, it is possible to suppress deterioration of printing quality by performing dither processing or the like.

【0004】しかし、昇華型やサーモオートクローム
(TA)方式のように、1ドットで多階調を表現する型
式のプリンタでは、サーマルヘッド制御に高精度の熱履
歴制御が要求される。このため、多くの履歴データに基
づいて最適な印加エネルギーを短時間で演算する大規模
な演算回路が必要になるので、コスト高を招き、或い
は、印画速度が低下する等の問題が生じる。
However, in a printer of a type that expresses multiple gradations with one dot, such as a sublimation type or a thermo-auto chrome (TA) system, high-precision thermal history control is required for thermal head control. For this reason, a large-scale arithmetic circuit for calculating the optimum applied energy in a short time based on a large amount of history data is required, resulting in a problem such as an increase in cost or a reduction in printing speed.

【0005】特開平7-205469号公報には、上記問題を解
決するためのサーマルヘッドが記載されている。該公報
に記載のサーマルヘッドは、図14に示すように、発熱
体31と、発熱体31に直列に接続された電流検出用抵
抗器32と、電流検出用抵抗器32の両端に発生する電
圧を入力して発熱体31の温度を検出する温度検出回路
33とを備える。温度検出回路33からの温度データと
しての電流Iと、目標電流設定器39からの目標温度デ
ータとしての電流IOとを比較器38によって比較す
る。電流Iが電流IOを越えれば、ストローブ信号発生
器37をリセットし、駆動回路36の動作を停止して、
発熱体31への通電を遮断する。この動作を繰り返すこ
とにより、印加エネルギーを温度データに基づいて制御
することができる。
[0005] Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-205469 describes a thermal head for solving the above problem. As shown in FIG. 14, the thermal head described in the publication has a heating element 31, a current detection resistor 32 connected in series to the heating element 31, and a voltage generated at both ends of the current detection resistor 32. And a temperature detection circuit 33 for detecting the temperature of the heating element 31 by inputting the temperature. The current I as the temperature data from the temperature detection circuit 33 is compared with the current IO as the target temperature data from the target current setter 39 by the comparator 38. If the current I exceeds the current IO, the strobe signal generator 37 is reset, the operation of the drive circuit 36 is stopped, and
The power supply to the heating element 31 is cut off. By repeating this operation, the applied energy can be controlled based on the temperature data.

【0006】図14では発熱体31を1個のみ示した
が、同図のサーマルヘッドは、実際には、発熱体を複数
個備えている。ここで、発熱体を複数個にした、従来の
サーマルヘッドの主要な回路を図15に示す。
Although only one heating element 31 is shown in FIG. 14, the thermal head in FIG. 14 actually has a plurality of heating elements. Here, FIG. 15 shows a main circuit of a conventional thermal head having a plurality of heating elements.

【0007】同図のサーマルヘッド41は、複数の発熱
体r1〜rnと、各発熱体r1〜rnを駆動するドライバ回
路43とを備える。ドライバ回路43は、発熱体r1〜
rnに夫々対応して配設された複数の固定端子を備え
る。また、サーマルヘッド41の制御装置は、各発熱体
r1〜rnとドライバ回路43との各接続ラインに接続さ
れた複数の固定端子と各固定端子に順次に接触する可動
端子とから成る切替えスイッチ50、及び、ドライバ回
路43の複数の固定端子と各固定端子に順次に接触する
可動端子とから成る切替えスイッチ51を備える。制御
装置は、更に、切替えスイッチ51の切替え動作でドラ
イバ回路43の各固定端子に順次に接続される比較回路
48、各発熱体r1〜rnの温度を検出する温度検出回路
45、及び、目標温度設定回路49を備える。切替えス
イッチ50の可動端子は、ライン50aと検出用抵抗4
4とを経由して接地されており、ライン50aの検出用
抵抗44より上流側には温度検出回路45が接続されて
いる。
The thermal head 41 shown in FIG. 1 includes a plurality of heating elements r1 to rn and a driver circuit 43 for driving the heating elements r1 to rn. The driver circuit 43 includes heating elements r1 to r1.
rn is provided with a plurality of fixed terminals. The control device of the thermal head 41 includes a changeover switch 50 including a plurality of fixed terminals connected to each connection line between each of the heating elements r1 to rn and the driver circuit 43, and a movable terminal that sequentially contacts each fixed terminal. And a changeover switch 51 including a plurality of fixed terminals of the driver circuit 43 and a movable terminal that sequentially contacts each fixed terminal. The control device further includes a comparison circuit 48 sequentially connected to each fixed terminal of the driver circuit 43 by a switching operation of the changeover switch 51, a temperature detection circuit 45 for detecting the temperature of each of the heating elements r1 to rn, and a target temperature. A setting circuit 49 is provided. The movable terminal of the changeover switch 50 is connected to the line 50 a and the detection resistor 4.
4, and a temperature detection circuit 45 is connected upstream of the detection resistor 44 of the line 50a.

【0008】ここで、発熱体r1〜rnの平均電気抵抗値
をRaveとした場合に、発熱体r1の電気抵抗値をRave
と等しくし、発熱体r2の電気抵抗値をRaveの+5%と
し、発熱体r3の電気抵抗値をRaveの−5%とする。該
設定のサーマルヘッド41では、発熱体r1〜rnの温度
依存性が大きい場合に、各発熱体r1〜r3の電気抵抗値
が図16に示すように変化し、検出用抵抗44に現れる
電圧が図17に示すように変化する。両図のグラフか
ら、発熱体r1〜r3の電気抵抗値の3種の変化曲線が相
互に接近していること、及び、検出用抵抗44に現れる
電圧の3種の変化曲線が相互に接近していることが理解
できる。つまり、各発熱体r1〜r3の電気抵抗値のばら
つき分は、温度検出に関して無視できることが分かる。
Here, when the average electric resistance value of the heating elements r1 to rn is Rave, the electric resistance value of the heating element r1 is Rave.
The electric resistance value of the heating element r2 is set to + 5% of Rave, and the electric resistance value of the heating element r3 is set to -5% of Rave. In the thermal head 41 of the setting, when the temperature dependency of the heating elements r1 to rn is large, the electric resistance value of each of the heating elements r1 to r3 changes as shown in FIG. It changes as shown in FIG. From the graphs of both figures, it can be seen that the three types of change curves of the electric resistance values of the heating elements r1 to r3 are close to each other, and that the three types of change curves of the voltage appearing at the detection resistor 44 are close to each other. I can understand that That is, it can be seen that the variation in the electric resistance value of each of the heating elements r1 to r3 can be ignored for the temperature detection.

【0009】しかし、発熱体r1〜rnの抵抗温度係数が
大きい場合には、発熱体r1〜rn自身の温度が上昇する
につれて、各発熱体r1〜rnの電気抵抗値が小さくなっ
て電流が多く流れる。このため、発熱体r1〜rnの温度
は、図18のストローブ(STB)信号60に対応する変
化曲線52で示すように、急上昇する。この場合に、発
熱体r1〜rnのピーク温度(T2)が高くなり過ぎ、印
加エネルギー制御におけるオーバーシュート量が増大す
る。従って、例えば、サーマルヘッドを昇華型プリンタ
に搭載する場合には、インクリボンの基材にダメージを
与え、また、サーマルヘッドをサーモオートクローム方
式のプリンタに搭載する場合には、TAペーパの表面を
粗くして印画品質を低下させる問題が生じ易い。
However, when the temperature coefficient of resistance of the heating elements r1 to rn is large, as the temperature of the heating elements r1 to rn rises, the electric resistance value of each of the heating elements r1 to rn decreases and the current increases. Flows. Therefore, the temperature of the heating elements r1 to rn rises sharply as shown by a change curve 52 corresponding to the strobe (STB) signal 60 in FIG. In this case, the peak temperature (T2) of the heating elements r1 to rn becomes too high, and the amount of overshoot in the applied energy control increases. Therefore, for example, when the thermal head is mounted on a sublimation type printer, it damages the base material of the ink ribbon, and when the thermal head is mounted on a thermo auto chrome type printer, the surface of the TA paper is damaged. A problem that the printing quality is reduced and the printing quality is deteriorated is likely to occur.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上記問題の発生を抑え
るために、発熱体r1〜rnの抵抗温度係数を、図18の
変化曲線52における抵抗温度係数より小さくした場合
には、発熱体温度の上昇カーブが、同図のストローブ
(STB)信号61に対応する変化曲線53で示す状態に
なる。これによれば、発熱体r1〜rnのピーク温度の低
減が可能になる。しかし、発熱体r1〜rnの電気抵抗値
のばらつきによる検出温度のばらつきが、温度変化に起
因する電気抵抗値の変化量を越えるため、検出温度が不
正確になって、サーマルヘッドの良好な温度制御状態が
損なわれる。
In order to suppress the above problem, if the resistance temperature coefficients of the heating elements r1 to rn are made smaller than the resistance temperature coefficient in the change curve 52 in FIG. The rising curve becomes a state shown by a change curve 53 corresponding to the strobe (STB) signal 61 in FIG. According to this, the peak temperatures of the heating elements r1 to rn can be reduced. However, since the variation in the detected temperature due to the variation in the electrical resistance value of the heating elements r1 to rn exceeds the variation in the electrical resistance value due to the temperature change, the detected temperature becomes inaccurate and the good temperature of the thermal head The control state is impaired.

【0011】本発明は、上記に鑑み、簡素な構成から成
り、発熱体の電気抵抗値のばらつきに拘わらず、発熱体
の印加エネルギーの制御を適正に実行することができる
サーマルヘッドの制御装置を提供することを目的とす
る。
In view of the above, the present invention provides a thermal head control device having a simple structure and capable of appropriately controlling the applied energy of a heating element regardless of the variation in the electric resistance value of the heating element. The purpose is to provide.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のサーマルヘッドの制御装置は、複数の発熱
体を内蔵したサーマルヘッドと、いずれかの発熱体に選
択的に接続される検出用抵抗と、発熱体への通電時に前
記検出用抵抗に発生する降下電圧に基づいて発熱体の温
度を検出する温度検出手段とを備え、該温度検出手段か
らの検出温度に基づいて発熱体への印加エネルギーを制
御するサーマルヘッドの制御装置において、所定の温度
条件下で各発熱体について前記温度検出手段で検出され
た温度データに基づいた、各発熱体毎の補正データを記
憶する記憶手段と、与えられた印画データに基づいて各
発熱体毎の目標温度を設定する目標温度設定手段と、前
記温度検出手段からの発熱体の検出温度と、前記目標温
度設定手段からの目標温度と、前記記憶手段からの補正
データとに基づいて、発熱体の温度制御を行う温度制御
手段とを備えることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a thermal head control device according to the present invention is provided with a thermal head having a plurality of built-in heating elements and selectively connected to one of the heating elements. A detecting resistor; and a temperature detecting means for detecting a temperature of the heating element based on a voltage drop generated in the detecting resistor when the heating element is energized, and a heating element based on a temperature detected by the temperature detecting means. A storage device for storing correction data for each heating element based on temperature data detected by said temperature detection means for each heating element under a predetermined temperature condition And target temperature setting means for setting a target temperature for each heating element based on the given print data; a temperature detected by the heating element from the temperature detecting means; And target temperature, based on the correction data from the storage means, characterized in that it comprises a temperature control means for controlling the temperature of the heating element.

【0013】本発明のサーマルヘッドの制御装置による
と、簡素な構成から成るものでありながら、発熱体の電
気抵抗値のばらつきに拘わらず、発熱体の印加エネルギ
ーの制御を適正に実行し、高い印画品質を得ることがで
きる。
According to the thermal head control device of the present invention, the control of the energy applied to the heating element is appropriately performed irrespective of the variation in the electric resistance value of the heating element, while having a simple configuration, and the control is performed with a high level. Printing quality can be obtained.

【0014】好ましくは、前記温度制御手段が、前記温
度検出手段からの検出温度と前記記憶手段からの補正デ
ータとに基づいて補正温度を演算する検出温度補正回路
と、該検出温度補正回路からの補正温度と前記目標温度
設定手段からの目標温度とを比較する比較回路と、該比
較回路による比較結果に基づいて発熱体に対する印加状
態を切り替える切替え手段とから成る。
Preferably, the temperature control means calculates a correction temperature based on the detected temperature from the temperature detection means and the correction data from the storage means, The circuit comprises a comparison circuit for comparing the corrected temperature with the target temperature from the target temperature setting means, and switching means for switching the state of application to the heating element based on the result of comparison by the comparison circuit.

【0015】或いは、これに代えて、前記温度制御手段
が、前記目標温度設定手段からの目標温度と前記記憶手
段からの補正データとに基づいて目標温度補正値を演算
する目標温度補正回路と、該目標温度補正回路からの目
標温度補正値と前記温度検出手段からの検出温度とを比
較する比較回路と、該比較回路による比較結果に基づい
て発熱体に対する印加状態を切り替える切替え手段とか
ら成る構成も好ましい。
Alternatively, the temperature control means calculates a target temperature correction value based on the target temperature from the target temperature setting means and the correction data from the storage means, A comparison circuit for comparing a target temperature correction value from the target temperature correction circuit with a temperature detected by the temperature detection means, and a switching means for switching an application state to a heating element based on a comparison result by the comparison circuit. Is also preferred.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】図面を参照して本発明を更に詳細
に説明する。図1は、本発明の一実施形態例のサーマル
ヘッドの制御装置を示す全体ブロック図である。
The present invention will be described in more detail with reference to the drawings. FIG. 1 is an overall block diagram showing a control device for a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【0017】図1に示すように、本サーマルヘッド11
は、複数の発熱体R1〜Rnと、各発熱体R1〜Rnを駆動
するドライバ回路13とを備える。発熱体R1〜Rnは、
電気抵抗値の温度依存性を有し、且つ、負の抵抗温度係
数を有する。サーマルヘッド11の制御装置は、各発熱
体R1〜Rnとドライバ回路13との各接続ラインに接続
された複数の固定端子20b1〜20bnと各固定端子2
0b1〜20bnに順次に接触する接触子20aとから成
る切替えスイッチ20、及び、ドライバ回路13に各発
熱体R1〜Rnに対応して配設された複数の固定端子21
1〜21bnと各固定端子21b1〜21bnに順次に接
触する接触子21aとから成る切替えスイッチ21を備
える。切替えスイッチ20によって、発熱体R1〜Rnと
検出用抵抗14との接続状態が順次に切り替えられる。
As shown in FIG. 1, the thermal head 11
Includes a plurality of heating elements R1 to Rn and a driver circuit 13 for driving the heating elements R1 to Rn. The heating elements R1 to Rn are
It has a temperature dependence of the electric resistance value and a negative temperature coefficient of resistance. Controller of the thermal head 11, the heating elements R1~Rn a plurality of fixed terminals 20b connected to each connection line between the driver circuit 13 1 ~20b n and the fixed terminals 2
0b 1 switch 20 switching comprising a contact 20a for sequentially contacting the ~20B n and a plurality of fixed terminals 21 disposed in correspondence with the heating element R1~Rn the driver circuit 13
b 1 comprises a switch 21 switching comprising a contact 21a for sequentially contacting the ~21B n and the fixed terminals 21b 1 ~21b n. The connection state between the heating elements R1 to Rn and the detection resistor 14 is sequentially switched by the changeover switch 20.

【0018】サーマルヘッド11の制御装置は、更に、
切替えスイッチ21の切替え動作でドライバ回路13の
各固定端子21b1〜21bnに順次に接続される比較回
路18と、各発熱体R1〜Rnの温度を検出する温度検出
回路15と、温度検出回路15からの検出温度を補正し
て比較回路18に与える検出温度補正回路17と、温度
設定データを比較回路18に与える目標温度設定回路1
9とを備える。また、温度検出回路15と検出温度補正
回路17との接続ラインには、書き替え可能な不揮発性
メモリ(S-RAM)16が接続されている。切替えス
イッチ20の接触子20aは、ライン20cと検出用抵
抗14とを経由して接地されており、ライン20cには
温度検出回路15が接続される。
The control device of the thermal head 11 further includes:
A switching comparator circuit 18 are sequentially connected in the switching operation of the switch 21 to the respective fixed terminals 21b 1 ~21b n of driver circuit 13, a temperature detection circuit 15 for detecting the temperature of each heating element R1 to Rn, the temperature detecting circuit And a target temperature setting circuit 1 for correcting the detected temperature from the reference 15 and providing the same to a comparison circuit 18 and a target temperature setting circuit 1 for providing temperature setting data to the comparison circuit 18.
9 is provided. A rewritable nonvolatile memory (S-RAM) 16 is connected to a connection line between the temperature detection circuit 15 and the detected temperature correction circuit 17. The contact 20a of the changeover switch 20 is grounded via the line 20c and the detection resistor 14, and the temperature detection circuit 15 is connected to the line 20c.

【0019】温度検出回路15は、検出用抵抗14が常
温下で各発熱体R1〜Rnに選択的に接続されたときに発
生した電圧から基準値を差し引いた偏差値を、発熱体毎
の補正データとして不揮発性メモリ16に書き込む機能
と、異なる発熱体が順次に接続される際に検出用抵抗1
4に発生する微弱な降下電圧を増幅してデジタル値に変
換しつつ、生データの検出温度として出力する機能とを
備える。
The temperature detecting circuit 15 corrects a deviation value obtained by subtracting a reference value from a voltage generated when the detecting resistor 14 is selectively connected to each of the heating elements R1 to Rn at normal temperature, for each heating element. The function of writing data to the nonvolatile memory 16 as data, and the function of detecting the resistance 1 when different heating elements are sequentially connected.
And a function of amplifying the weak voltage drop generated in 4 and converting it into a digital value, and outputting it as a detected temperature of raw data.

【0020】不揮発性メモリ16は、所定の温度条件下
(常温下)で各発熱体R1〜Rnについて温度検出回路1
5で検出された温度データに基づいた、各発熱体R1〜
Rn毎の補正データを記憶する。検出温度補正回路17
は、温度検出回路15によって検出された発熱体R1〜
Rnの検出温度と不揮発性メモリ16からの補正データ
とに基づいて補正温度を演算する
The non-volatile memory 16 stores the temperature detecting circuit 1 for each of the heating elements R1 to Rn under a predetermined temperature condition (at normal temperature).
5 based on the temperature data detected in each of the heating elements R1 to R1.
The correction data for each Rn is stored. Detection temperature correction circuit 17
Are the heating elements R1 to R1 detected by the temperature detection circuit 15.
The correction temperature is calculated based on the detected temperature of Rn and the correction data from the nonvolatile memory 16.

【0021】目標温度設定回路19は、上位装置(図示
せず)から与えられた印画データの階調値に基づいて各
発熱体毎の目標最高温度(目標温度)を演算して設定す
る。比較回路18は、検出温度補正回路17からの補正
温度と目標温度設定回路19からの目標温度とを比較
し、発熱体R1〜Rnに対して次の印加を行うか否かを決
定する。切替えスイッチ21は、比較回路18の比較結
果に基づいて切替えスイッチ20と共に切替え動作し
て、対応する発熱体R1〜Rnに対する印加状態を切り替
える。検出温度補正回路17と比較回路18と切替えス
イッチ(切替え手段)21とにより温度制御手段が構成
される。
The target temperature setting circuit 19 calculates and sets a target maximum temperature (target temperature) for each heating element based on a gradation value of print data provided from a higher-level device (not shown). The comparison circuit 18 compares the corrected temperature from the detected temperature correction circuit 17 with the target temperature from the target temperature setting circuit 19, and determines whether or not to perform the next application to the heating elements R1 to Rn. The changeover switch 21 performs a switching operation together with the changeover switch 20 based on the comparison result of the comparison circuit 18 to switch the application state to the corresponding heating elements R1 to Rn. The detected temperature correction circuit 17, the comparison circuit 18, and the changeover switch (switching means) 21 constitute a temperature control means.

【0022】次に、図2〜図7を参照して、上記構成の
サーマルヘッド11の制御装置の動作を説明する。
Next, the operation of the control device for the thermal head 11 having the above configuration will be described with reference to FIGS.

【0023】図2は、検出温度の補正データを予め不揮
発性メモリ16に格納する動作を示すフローチャート、
図3は、印画時の動作を示すフローチャート、図4は、
発熱体R1〜R3の電気抵抗値と温度との関係を示す特性
図、図5は、検出用抵抗14に現れる発熱体R1〜R3の
電圧と温度との関係を示す特性図、図6は、補正後の発
熱体R1〜R3の電圧と温度との関係を示す特性図であ
る。また、図7(a)は、第1実施形態例での発熱体R1〜
Rnの温度変化とストローブ信号(STB信号)とを示す
図、図7(b)は、図7(a)の発熱体R1〜Rnの温度変化を
詳細に示す図、図7(c)は、図7(a)のストローブ信号を
詳細に示す図である。
FIG. 2 is a flowchart showing the operation of storing correction data of the detected temperature in the nonvolatile memory 16 in advance.
FIG. 3 is a flowchart showing the operation at the time of printing, and FIG.
FIG. 5 is a characteristic diagram showing the relationship between the electrical resistance value of the heating elements R1 to R3 and the temperature, FIG. 5 is a characteristic diagram showing the relationship between the voltage of the heating elements R1 to R3 appearing in the detection resistor 14 and the temperature, and FIG. It is a characteristic view which shows the relationship between the voltage of the heating elements R1-R3 after correction, and temperature. FIG. 7A shows the heating elements R1 to R1 in the first embodiment.
FIG. 7B is a diagram showing a temperature change of Rn and a strobe signal (STB signal), FIG. 7B is a diagram showing the temperature change of the heating elements R1 to Rn in FIG. 7A in detail, and FIG. FIG. 8 is a diagram showing the strobe signal of FIG. 7A in detail.

【0024】図4及び図5の発熱体R1〜R3の電気抵抗
値のばらつきは、発熱体R1〜Rnの平均電気抵抗値であ
る2000Ωの±5%である。図4では、常温とされる25
℃での各発熱体R1〜R3の電気抵抗値は夫々、R1:200
0Ω、R2:2100Ω、R3:1900Ωである。
The variation in the electric resistance value of the heating elements R1 to R3 in FIGS. 4 and 5 is ± 5% of 2000Ω which is the average electric resistance value of the heating elements R1 to Rn. In FIG. 4, 25
The electrical resistance of each of the heating elements R1 to R3 at ℃ is R1: 200, respectively.
0Ω, R2: 2100Ω, R3: 1900Ω.

【0025】まず、検出温度の補正データを予め不揮発
性メモリ16に格納する作業を次のように実行する。つ
まり、本サーマルヘッド11を搭載したプリンタを、常
温とされる25℃の環境に放置し、サーマルヘッド11
内の発熱体R1〜Rnの温度を25℃に近づける。この状
態で、サーマルヘッド11の制御装置が、切替えスイッ
チ20を発熱体R1からRnへと順次に切り替えるので、
検出用抵抗14に、切り替えられた発熱体に対応する駆
動電圧VHDが与えられる。この際、各発熱体R1〜Rn
に対する通電時間は、発熱体R1〜Rnの温度上昇を抑え
るため、十分に短くする。従って、検出用抵抗14の両
端に、25℃での発熱体R1〜Rnの各抵抗値に対応し
て、次式に示す降下電圧Vsnが発生する。 Vsn =VHD×r14/(r1n+r14) ・・・(1) 但し、r14は検出用抵抗14の抵抗値、r1nは発熱体
R1〜Rn夫々の抵抗値である。
First, the operation of storing the correction data of the detected temperature in the nonvolatile memory 16 in advance is executed as follows. That is, the printer on which the thermal head 11 is mounted is left in an environment of room temperature of 25 ° C.
The temperature of the heating elements R1 to Rn is brought close to 25 ° C. In this state, the control device of the thermal head 11 sequentially switches the changeover switch 20 from the heating elements R1 to Rn.
The drive voltage VHD corresponding to the switched heating element is supplied to the detection resistor 14. At this time, the heating elements R1 to Rn
Is sufficiently short in order to suppress the temperature rise of the heating elements R1 to Rn. Therefore, a drop voltage Vsn expressed by the following equation is generated at both ends of the detection resistor 14 corresponding to the respective resistance values of the heating elements R1 to Rn at 25 ° C. Vsn = VHD × r 14 / ( r 1 ~ n + r 14) ··· (1) where, r 14 is the resistance of the detecting resistor 14, the r 1 ~ n is the resistance value of the heating element R1~Rn respectively .

【0026】次に、温度検出回路15が、各発熱体R1
〜Rn毎に検出用抵抗14の両端に発生した微弱な降下
電圧Vsnを、順次にデジタル値に変換しつつ、今後の検
出温度補正に用いられる常温での補正データとして出力
する。つまり、温度検出回路15は、検出用抵抗14が
常温下(約25゜C)で各発熱体R1〜Rnに選択的に接
続されたときに発生した電圧Vsnから基準値(正規の電
圧値Vsn)を差し引いた偏差値を、発熱体R1〜Rn毎の
補正データとして不揮発性メモリ16に格納する(ステ
ップS1、S2)。
Next, the temperature detecting circuit 15 detects each heating element R1
The weak drop voltage Vsn generated at both ends of the detection resistor 14 for every .about.Rn is sequentially converted into a digital value, and is output as correction data at normal temperature to be used for future detection temperature correction. That is, the temperature detection circuit 15 calculates the reference value (regular voltage value Vsn) from the voltage Vsn generated when the detection resistor 14 is selectively connected to each of the heating elements R1 to Rn at normal temperature (about 25 ° C.). ) Is stored in the nonvolatile memory 16 as correction data for each of the heating elements R1 to Rn (steps S1 and S2).

【0027】本サーマルヘッド11を搭載したプリンタ
による印画作業は、次のように行われる。まず、上位装
置から目標温度設定回路19に印画データが送られると
(ステップS3)、目標温度設定回路19が、1ライン
分の印画データの階調値に対応する各発熱体R1〜Rnの
適正な目標最高温度(図7(a),(b)中のT1)を算出し
て、発熱体R1〜Rnに夫々用意する(ステップS4)。
Printing by a printer equipped with the thermal head 11 is performed as follows. First, when print data is sent from the host device to the target temperature setting circuit 19 (step S3), the target temperature setting circuit 19 determines whether the heating elements R1 to Rn corresponding to the gradation values of the print data for one line are appropriate. a target maximum temperature was calculated (Fig. 7 (a), T 1 in (b)), respectively provided to the heating element R1 to Rn (step S4).

【0028】更に、切替えスイッチ20を順次に切り替
えることにより、発熱体R1〜Rnを順次に検出用抵抗1
4に接続する。これにより、発熱体R1〜Rnに対して所
定時間ずつの印加が実行されて(ステップS5)、検出
用抵抗14に、上記(1)式で示される電圧Vsnが順次に
発生する。温度検出回路15は、電圧Vsnをデジタル値
に順次に変換し、これを検出温度として出力する(ステ
ップS6)。ここで得られた検出温度は、発熱体R1〜
Rnの各電気抵抗のばらつきに起因する検出用抵抗14
の電圧のばらつき(図5)をそのまま反映した生データ
であって、正確な温度データではない。
Further, by sequentially switching the changeover switch 20, the heating elements R1 to Rn are sequentially connected to the detection resistor 1
Connect to 4. As a result, the heating elements R1 to Rn are applied at predetermined time intervals (step S5), and the voltage Vsn expressed by the above equation (1) is sequentially generated in the detection resistor 14. The temperature detection circuit 15 sequentially converts the voltage Vsn into a digital value and outputs this as a detected temperature (step S6). The detected temperatures obtained here are the heating elements R1 to R1.
Detecting resistor 14 due to variation in each electrical resistance of Rn
Is the raw data directly reflecting the voltage variation (FIG. 5), and is not accurate temperature data.

【0029】この後、検出温度補正回路17は、温度検
出回路15から送られた生データから、不揮発性メモリ
16から読み出した対応する補正データを差し引く演算
を行うことによって、各発熱体R1〜Rnの正確な検出温
度を得る(ステップS7)。図6は、図5に示す検出温
度の生データから、対応する補正データを差し引いて補
正した電圧値をプロットしたグラフである。
Thereafter, the detected temperature correction circuit 17 performs an operation of subtracting the corresponding correction data read from the non-volatile memory 16 from the raw data sent from the temperature detection circuit 15, thereby obtaining each of the heating elements R1 to Rn. Is obtained (step S7). FIG. 6 is a graph in which voltage values corrected by subtracting the corresponding correction data from the raw data of the detected temperatures shown in FIG. 5 are plotted.

【0030】ステップS8では、目標温度設定回路19
によって設定された各発熱体R1〜Rnの目標最高温度
と、検出温度補正回路17から送られた発熱体R1〜Rn
の正確な検出温度とを、比較回路18が順次に比較す
る。つまり、制御装置では、各発熱体R1〜Rnが目標最
高温度に到達したか否かを比較回路18がチェックし、
到達しない間は、ステップS5からの行程を繰り返し、
次の印加を行う旨の信号を切替えスイッチ21に送る。
この信号を受けた切替えスイッチ21が切替えスイッチ
20と連動して動作することにより、比較回路18は、
現在接続が必要な発熱体R1〜Rnに対応するドライバ回
路13の固定端子に接続される。
In step S8, the target temperature setting circuit 19
The target maximum temperature of each of the heating elements R1 to Rn set by the above and the heating elements R1 to Rn sent from the detected temperature correction circuit 17
The comparison circuit 18 sequentially compares the detected temperature with the accurate detection temperature. That is, in the control device, the comparison circuit 18 checks whether each of the heating elements R1 to Rn has reached the target maximum temperature,
While not reaching, repeat the process from step S5,
A signal to perform the next application is sent to the changeover switch 21.
When the changeover switch 21 receiving this signal operates in conjunction with the changeover switch 20, the comparison circuit 18
It is connected to the fixed terminal of the driver circuit 13 corresponding to the heating elements R1 to Rn that need to be connected at present.

【0031】ステップS8で、比較回路18は、各発熱
体R1〜Rnが目標最高温度に到達した場合に、次の印加
を行わない旨の信号を切替えスイッチ21に送る。この
信号を受けた切替えスイッチ21は、切替えスイッチ2
0と連動して動作し、接続されている発熱体R1〜Rnに
対応するドライバ回路13の固定端子から比較回路18
を遮断して、対応する発熱体への次の印加を停止する。
In step S8, when each of the heating elements R1 to Rn has reached the target maximum temperature, the comparison circuit 18 sends a signal to the changeover switch 21 not to perform the next application. The changeover switch 21 receiving this signal sets the changeover switch 2
0, and operates from the fixed terminal of the driver circuit 13 corresponding to the connected heating elements R1 to Rn.
To stop the next application to the corresponding heating element.

【0032】本サーマルヘッド11の制御装置では、温
度検出回路15からの発熱体R1〜Rnの検出温度を不揮
発性メモリ16からの補正データに基づいて補正しつ
つ、印加行程と温度検出行程とを繰り返し行うので、印
加エネルギー制御を、常に正確な温度値に基づいて実行
することができる。これにより、発熱体R1〜Rnへの印
加エネルギーの制御を適正に行い、高い印画品質を得る
ことができる。従って、昇華型やサーモオートクローム
方式等のように1ドットで多階調を表現する型式のプリ
ンタにおいても、階調値を正確に再現することができ
る。
In the control device of the thermal head 11, the application process and the temperature detection process are performed while correcting the detection temperatures of the heating elements R1 to Rn from the temperature detection circuit 15 based on the correction data from the nonvolatile memory 16. Since the repetition is performed, the applied energy control can always be performed based on the accurate temperature value. As a result, it is possible to appropriately control the energy applied to the heating elements R1 to Rn, and to obtain high printing quality. Therefore, even in a printer of a type that expresses multiple tones with one dot, such as a sublimation type or a thermo-auto chrome type, the tone values can be accurately reproduced.

【0033】また、本制御装置では、全ての発熱体に対
する、前ライン、前々ライン、両隣りドット、斜め前の
ドット等の多くの履歴情報を短時間に演算して最適な印
加エネルギーを求める、従来装置の大規模な演算回路が
不要になる。従って、高精度の印加エネルギー制御を、
簡素で低コストな本制御装置により、印画速度を落とす
ことなく実現することができる。
Further, in the present control device, a large amount of history information such as the previous line, the line before the previous line, the dots on both sides, and the dot before the diagonal line is calculated in a short time to obtain the optimum applied energy for all the heating elements. This eliminates the need for a large-scale arithmetic circuit of the conventional device. Therefore, high-precision applied energy control
This simple and low-cost control device can be realized without lowering the printing speed.

【0034】次に、本発明による第2実施形態例につい
て説明する。図8は、第2実施形態例のサーマルヘッド
の制御装置を示す全体ブロック図、図9は、印画時の動
作を示すフローチャートである。
Next, a second embodiment according to the present invention will be described. FIG. 8 is an overall block diagram showing a thermal head control device according to the second embodiment, and FIG. 9 is a flowchart showing an operation at the time of printing.

【0035】図1の第1実施形態例では、電気抵抗値に
ばらつきがある各発熱体R1〜Rnの検出温度の生データ
に対して補正を行った。本第2実施形態例では、各発熱
体R1〜Rnの電気抵抗値のばらつきによる検出温度のば
らつきを見越して、与えられる印画データの階調値に基
づく目標最高温度に対して予め補正を行う。更に、補正
済みの目標最高温度と、温度検出装置15からの生デー
タ(検出温度)とを比較する。具体的には、本第2実施
形態例の制御装置では、図1に示した検出温度補正回路
17が無く、目標温度補正回路28が配設されており、
目標温度設定回路19’及び比較回路18’夫々の機能
が、図1の目標温度設定回路19及び比較回路18とや
や異なる。他の構成は、第1実施形態例と略同様であ
る。
In the first embodiment shown in FIG. 1, the correction is performed on the raw data of the detected temperatures of the heating elements R1 to Rn having a variation in the electric resistance value. In the second embodiment, the target maximum temperature based on the gradation value of the given print data is corrected in advance in anticipation of the variation in the detected temperature due to the variation in the electrical resistance value of each of the heating elements R1 to Rn. Further, the corrected target maximum temperature is compared with the raw data (detected temperature) from the temperature detecting device 15. Specifically, in the control device according to the second embodiment, the target temperature correction circuit 28 is provided without the detected temperature correction circuit 17 shown in FIG.
The functions of the target temperature setting circuit 19 'and the comparison circuit 18' are slightly different from those of the target temperature setting circuit 19 and the comparison circuit 18 in FIG. Other configurations are substantially the same as those of the first embodiment.

【0036】すなわち、本第2実施形態例では、温度検
出回路15は、図1の温度検出回路15と同様、検出用
抵抗14が常温下で各発熱体R1〜Rnに選択的に接続さ
れたときに発生した電圧から基準値を差し引いた偏差値
を、発熱体毎の補正データとして不揮発性メモリ16に
書き込む機能を有する。更に、異なる発熱体が順次に接
続される際に検出用抵抗14に発生する微弱な降下電圧
を増幅してデジタル値に変換しつつ、生データの検出温
度として出力する機能を有する。不揮発性メモリ16
は、発熱体R1〜Rn毎の補正データを記憶する。
That is, in the second embodiment, the temperature detecting circuit 15 has the detecting resistor 14 selectively connected to each of the heating elements R1 to Rn at normal temperature, similarly to the temperature detecting circuit 15 of FIG. The nonvolatile memory 16 has a function of writing a deviation value obtained by subtracting the reference value from the generated voltage as correction data for each heating element. Further, it has a function of amplifying a weak voltage drop generated in the detecting resistor 14 when different heating elements are sequentially connected and converting the voltage into a digital value, and outputting the digital value as a detected temperature of raw data. Non-volatile memory 16
Stores correction data for each of the heating elements R1 to Rn.

【0037】目標温度設定回路19’は、上位装置から
与えられる印画データの階調値に基づいて、各発熱体R
1〜Rnの目標最高温度(目標温度)を演算して設定す
る。目標温度補正回路28は、目標温度設定回路19’
からの目標最高温度と不揮発性メモリ16からの補正デ
ータとに基づいて目標温度補正値を演算する。比較回路
18’は、目標温度補正回路28からの目標温度補正値
と温度検出回路15からの生データ(検出温度)とを比
較して、発熱体R1〜Rnに対して次の印加を行うか否か
を決定する。切替えスイッチ21は、比較回路18’の
比較結果に基づいて切替えスイッチ20と共に切替え動
作して、対応する発熱体R1〜Rnに対する印加状態を切
り替える。目標温度補正回路28と比較回路18’と切
替えスイッチ(切替え手段)21とにより温度制御手段
が構成される。
The target temperature setting circuit 19 'controls each heating element R based on the gradation value of print data given from the host device.
The target maximum temperatures (target temperatures) of 1 to Rn are calculated and set. The target temperature correction circuit 28 includes a target temperature setting circuit 19 '.
The target temperature correction value is calculated based on the target maximum temperature from the non-volatile memory 16 and the target maximum temperature. The comparison circuit 18 ′ compares the target temperature correction value from the target temperature correction circuit 28 with the raw data (detected temperature) from the temperature detection circuit 15, and performs the next application to the heating elements R 1 to Rn. Determine whether or not. The changeover switch 21 performs a switching operation together with the changeover switch 20 based on the comparison result of the comparison circuit 18 ', and switches the application state to the corresponding heating elements R1 to Rn. The target temperature correction circuit 28, the comparison circuit 18 ', and the changeover switch (switching means) 21 constitute a temperature control means.

【0038】以上の構成を有する本第2実施形態例の制
御装置は次のように動作する。まず、目標温度設定回路
19’が、上位装置から印画データを入力し、印画デー
タの階調値に基づいて、1ライン分の印画データの階調
値に対応する各発熱体R1〜Rnの目標最高温度を演算す
る。更に、目標温度補正回路28が、目標温度設定回路
19’からの目標最高温度と不揮発性メモリ16からの
補正データとに基づいて目標温度補正値を演算して、発
熱体R1〜Rnに夫々用意する(ステップS10、S1
1、S12)。
The control device of the second embodiment having the above-described configuration operates as follows. First, the target temperature setting circuit 19 'receives the print data from the host device, and sets the target of each of the heating elements R1 to Rn corresponding to the tone value of the print data for one line based on the tone value of the print data. Calculate the maximum temperature. Further, the target temperature correction circuit 28 calculates a target temperature correction value based on the target maximum temperature from the target temperature setting circuit 19 'and the correction data from the non-volatile memory 16, and prepares each of the heating elements R1 to Rn. (Steps S10, S1
1, S12).

【0039】この後、切替えスイッチ20を順次に切り
替えつつ、検出用抵抗14を発熱体R1からRnまで順次
に接続する。これにより、発熱体R1〜Rnに対して所定
時間ずつの印加が実行されて(ステップS13)、検出
用抵抗14に、電圧Vsnが順次に発生する。更に、温度
検出回路15が、電圧Vsnをデジタル値に順次に変換し
つつ、生データの検出温度を出力する(ステップS1
4)。
Thereafter, the detection resistors 14 are sequentially connected to the heating elements R1 to Rn while the changeover switch 20 is sequentially switched. As a result, the heating elements R1 to Rn are applied at predetermined time intervals (step S13), and the voltage Vsn is sequentially generated in the detection resistor 14. Further, the temperature detection circuit 15 outputs the detected temperature of the raw data while sequentially converting the voltage Vsn into a digital value (step S1).
4).

【0040】ステップS15では、比較回路18’が、
目標温度補正回路28からの各発熱体R1〜Rnの補正済
みの目標最高温度と、温度検出回路15からの発熱体R
1〜Rnの誤差を含んだ検出温度とを順次に比較する。つ
まり、比較回路18’が、各発熱体R1〜Rnが補正済み
の目標最高温度に到達したか否かをチェックし、到達し
ない間は、ステップS13からの行程を繰り返し、次の
印加を行う旨の信号を切替えスイッチ21に送る。この
信号を受けた切替えスイッチ21は、切替えスイッチ2
0と連動して動作して、現在接続が必要な発熱体R1〜
Rnに対応するドライバ回路13の固定端子に比較回路
18を接続する。
In step S15, the comparison circuit 18 '
The corrected target maximum temperature of each of the heating elements R1 to Rn from the target temperature correction circuit 28 and the heating element R from the temperature detection circuit 15
The detected temperatures including errors of 1 to Rn are sequentially compared. That is, the comparison circuit 18 'checks whether or not each of the heating elements R1 to Rn has reached the corrected target maximum temperature, and if not, repeats the process from step S13 to perform the next application. Is sent to the changeover switch 21. The changeover switch 21 receiving this signal sets the changeover switch 2
Heating elements R1 to
The comparison circuit 18 is connected to the fixed terminal of the driver circuit 13 corresponding to Rn.

【0041】ステップS15で、比較回路18’は、各
発熱体R1〜Rnが補正済みの目標最高温度に到達した場
合には、次の印加を行わない旨の信号を切替えスイッチ
21に送る。この信号を受けた切替えスイッチ21は、
切替えスイッチ20と連動して動作して、接続されてい
る発熱体R1〜Rnに対応するドライバ回路13の固定端
子から比較回路18を遮断して、対応する発熱体への次
の印加を停止する。
In step S15, when each of the heating elements R1 to Rn reaches the corrected target maximum temperature, the comparison circuit 18 'sends a signal to the changeover switch 21 indicating that the next application is not performed. The changeover switch 21 receiving this signal,
It operates in conjunction with the changeover switch 20 to cut off the comparison circuit 18 from the fixed terminal of the driver circuit 13 corresponding to the connected heating elements R1 to Rn and stop the next application to the corresponding heating elements. .

【0042】以上のように第2実施形態例では、予め判
明している印画データの階調値と補正データとを用い、
目標最高温度を温度測定行程に先だって演算しておく。
これにより、発熱体R1〜Rnへの印加、及び、温度測定
の繰り返し行程の中で、温度測定の度の測定値の補正が
不要になるので、第1実施形態例の制御装置におけると
同様の効果に加えて、印画の速度アップも図ることがで
きる。
As described above, in the second embodiment, the gradation value of the print data and the correction data which are known in advance are used,
The target maximum temperature is calculated before the temperature measurement process.
This eliminates the need to correct the measured value of each temperature measurement during the repetition of the application to the heating elements R1 to Rn and the temperature measurement, and is similar to that in the control device of the first embodiment. In addition to the effects, the speed of printing can be increased.

【0043】次に、図10〜図13を用いて本発明によ
る第3実施形態例を説明する。
Next, a third embodiment according to the present invention will be described with reference to FIGS.

【0044】第1実施形態例ではサーマルヘッド11の
発熱体R1〜Rnの抵抗温度係数が負であったのに対し、
本第3実施形態例では発熱体R1〜Rnの抵抗温度係数が
正である点で異なる。本第3実施形態例の他の構成は、
図1で説明した第1実施形態例の構成と同一であり、発
熱体R1〜Rnの抵抗値のばらつきによる検出温度のばら
つきの補正に用いる補正データを不揮発性メモリ16に
格納する行程を有する。
In the first embodiment, the heating elements R1 to Rn of the thermal head 11 have negative temperature coefficients of resistance.
The third embodiment differs from the third embodiment in that the temperature coefficients of resistance of the heating elements R1 to Rn are positive. Another configuration of the third embodiment is as follows.
This is the same as the configuration of the first embodiment described with reference to FIG. 1, and has a process of storing correction data used for correcting variations in the detected temperature due to variations in the resistance values of the heating elements R1 to Rn in the nonvolatile memory 16.

【0045】図10は、第3実施形態のサーマルヘッド
11の発熱体R1〜Rnから発熱体R1〜R3を取り出し、
それらの電気抵抗値と温度との関係を示した特性図、図
11は、図10の特性によって検出用抵抗14に現れた
電圧の温度特性を示す図、図12は、補正後の各発熱体
R1〜R3の電圧と温度との関係を示す図である。図13
(a)は、第3実施形態例の発熱体と通常の発熱体との温
度変化を示す図、図13(b)は、図13(a)に示した通常
の発熱体の温度変化時のオーバーシュート量を示すグラ
フ、図13(c)は、図13(a)に示した発熱体の温度変化
時のオーバーシュート量を示すグラフである。発熱体R
1、R2、R3の25℃における抵抗値は夫々、2000Ω、2
100Ω、1900Ωである。
FIG. 10 shows the heating elements R1 to R3 taken out of the heating elements R1 to Rn of the thermal head 11 according to the third embodiment.
FIG. 11 is a characteristic diagram showing a relationship between the electric resistance value and the temperature, FIG. 11 is a diagram showing a temperature characteristic of a voltage appearing on the detection resistor 14 by the characteristic of FIG. 10, and FIG. It is a figure which shows the relationship between the voltage of R1-R3 and temperature. FIG.
13A is a diagram showing a temperature change between the heating element of the third embodiment and a normal heating element, and FIG. 13B is a diagram showing a temperature change of the normal heating element shown in FIG. FIG. 13C is a graph showing the amount of overshoot, and FIG. 13C is a graph showing the amount of overshoot when the temperature of the heating element shown in FIG. 13A changes. Heating element R
The resistance values of 1, R2 and R3 at 25 ° C. are 2000Ω and 2
100Ω, 1900Ω.

【0046】本実施形態例では、正の抵抗温度係数を持
つ発熱体R1〜Rnの検出温度に対して、第1実施形態例
と同様の補正を行うので、補正後のデータは、図12に
示すように、第1実施形態例における図6の変化曲線と
は反対向きの変化曲線になる。
In the present embodiment, the same correction as in the first embodiment is performed on the detected temperatures of the heating elements R1 to Rn having a positive temperature coefficient of resistance. As shown, the change curve is opposite to the change curve of FIG. 6 in the first embodiment.

【0047】また、本実施形態例では、第1実施形態例
と同様、検出温度の補正行程、及び、印加と温度測定と
の行程を繰り返し実行することにより、図13の変化曲
線56で示す温度上昇カーブを得ることができる。同図
中、同図のストローブ(STB)信号63に対応する通常
の発熱体の変化曲線55では、印加が続けられて温度上
昇しても上昇カーブがあまり緩やかにはならない。しか
し、ストローブ(STB)信号62に対応する変化曲線5
6では、温度が上昇するにつれて上昇カーブが緩やかに
なる。従って、目標最高温度を通常の発熱体のT2より
低いT1に設定しつつ、印加パルス時間をt1より長いt
2とすることで、十分な印加エネルギーを得ることがで
きる。
Further, in the present embodiment, similarly to the first embodiment, the process of correcting the detected temperature and the process of applying and measuring the temperature are repeatedly executed, thereby obtaining the temperature indicated by the change curve 56 in FIG. A rising curve can be obtained. In the same figure, in the change curve 55 of the normal heating element corresponding to the strobe (STB) signal 63 in the same figure, the rising curve does not become so gentle even if the temperature is increased by continuing the application. However, the change curve 5 corresponding to the strobe (STB) signal 62
In 6, the rising curve becomes gentler as the temperature rises. Therefore, while the target maximum temperature is set to T1 lower than T2 of the normal heating element, the applied pulse time is set to t1 longer than t1.
By setting 2, it is possible to obtain sufficient applied energy.

【0048】また、図13(b),(c)に示すように、通常
の発熱体では、変化曲線57のように最高温度付近での
オーバーシュート量が大きくなるが、正の抵抗温度係数
を持つ本実施形態例の発熱体R1〜Rnでは、変化曲線5
8のように最高温度付近でのオーバーシュート量が小さ
くなる。
As shown in FIGS. 13 (b) and 13 (c), in the case of a normal heating element, the amount of overshoot near the maximum temperature becomes large as shown by a change curve 57, but the positive resistance temperature coefficient is reduced. With the heating elements R1 to Rn of the present embodiment, the change curve 5
As shown in FIG. 8, the amount of overshoot near the maximum temperature decreases.

【0049】以上のように、本第3実施形態例のサーマ
ルヘッドの制御装置では、発熱体R1〜Rnが正の抵抗温
度係数を持ち、発熱体R1〜Rnの電気抵抗値のばらつき
による検出温度の誤差を繰り返し補正する。これによ
り、単位時間当たりの印加エネルギーを減少させて発熱
体R1〜Rnの温度上昇カーブを緩やかにし、最高温度を
抑えて制御上のオーバーシュート量を低減させ、正確な
印加エネルギー制御を行うことができる。従って、サー
モオートクローム方式等のように、記録媒体に対して、
最高温度を抑えつつ比較的大きな印加エネルギーを与え
る必要がある場合に、記録媒体へのダメージを最小限に
しつつ高い印画品質を得ることが可能になる。
As described above, in the thermal head control device of the third embodiment, the heating elements R1 to Rn have a positive resistance temperature coefficient, and the detected temperature due to the variation in the electric resistance value of the heating elements R1 to Rn. Is repeatedly corrected. As a result, the applied energy per unit time is reduced, the temperature rise curves of the heating elements R1 to Rn are moderated, the maximum temperature is suppressed, the amount of overshoot in control is reduced, and accurate applied energy control can be performed. it can. Therefore, such as the thermo-auto chrome method,
When it is necessary to apply a relatively large applied energy while suppressing the maximum temperature, it is possible to obtain high printing quality while minimizing damage to the recording medium.

【0050】なお、第2実施形態例においても、抵抗温
度係数が正の発熱体R1〜Rnを用いることが可能であ
る。この場合にも、第3実施形態例と同様の効果を奏す
ることができる。
Note that also in the second embodiment, it is possible to use the heating elements R1 to Rn having a positive temperature coefficient of resistance. In this case, the same effects as in the third embodiment can be obtained.

【0051】以上、本発明をその好適な実施形態例に基
づいて説明したが、本発明のサーマルヘッドの制御装置
は、上記実施形態例の構成にのみ限定されるものではな
く、上記実施形態例の構成から種々の修正及び変更を施
したサーマルヘッドの制御装置も、本発明の範囲に含ま
れる。
Although the present invention has been described based on the preferred embodiment, the control device of the thermal head of the present invention is not limited to the configuration of the above-described embodiment. The control device of the thermal head in which various modifications and changes are made from the configuration described above is also included in the scope of the present invention.

【0052】[0052]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のサーマル
ヘッドの制御装置によると、簡素な構成から成るもので
ありながら、発熱体の電気抵抗値のばらつきに拘わら
ず、発熱体の印加エネルギーの制御を精度良く実行し
て、高い印画品質を得ることができる。
As described above, according to the thermal head control apparatus of the present invention, although having a simple configuration, the thermal energy applied to the heating element can be reduced regardless of the variation in the electrical resistance value of the heating element. By performing the control with high accuracy, high printing quality can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態例のサーマルヘッドの制御
装置を示す全体ブロック図である。
FIG. 1 is an overall block diagram showing a thermal head control device according to an embodiment of the present invention.

【図2】補正データを不揮発性メモリに格納する動作を
示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating an operation of storing correction data in a nonvolatile memory.

【図3】印画動作を示すフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart illustrating a printing operation.

【図4】発熱体の電気抵抗値と温度との関係を示すグラ
フである。
FIG. 4 is a graph showing a relationship between an electric resistance value of a heating element and a temperature.

【図5】図4の特性によって検出用抵抗に現れる電圧の
温度特性を示すグラフである。
FIG. 5 is a graph showing a temperature characteristic of a voltage appearing at a detection resistor according to the characteristic of FIG. 4;

【図6】補正後の各発熱体の電圧と温度との関係を示す
グラフである。
FIG. 6 is a graph showing a relationship between voltage and temperature of each heating element after correction.

【図7】図7(a)は第1実施形態例における発熱体の温
度変化及びストローブ信号を示す図、図7(b)は図7(a)
の発熱体の温度変化を部分的に拡大したグラフ、図7
(c)は図7(a)のストローブ信号を部分的に拡大したグラ
フである。
7A is a diagram showing a temperature change of a heating element and a strobe signal in the first embodiment, and FIG. 7B is a diagram showing FIG. 7A.
7 is a partially enlarged graph of the temperature change of the heating element of FIG.
FIG. 7C is a partially enlarged graph of the strobe signal of FIG.

【図8】第2実施形態例のサーマルヘッドの制御装置を
示す全体ブロック図である。
FIG. 8 is an overall block diagram illustrating a control device for a thermal head according to a second embodiment.

【図9】図8の制御装置による動作を示すフローチャー
トである。
FIG. 9 is a flowchart showing an operation by the control device of FIG. 8;

【図10】第3実施形態における発熱体の電気抵抗値と
温度との関係を示すグラフである。
FIG. 10 is a graph showing a relationship between an electric resistance value of a heating element and a temperature in a third embodiment.

【図11】図10の特性によって検出用抵抗に現れる電
圧の温度特性を示すグラフである。
11 is a graph showing a temperature characteristic of a voltage appearing at a detection resistor according to the characteristic of FIG.

【図12】補正後の各発熱体の電圧と温度との関係を示
すグラフである。
FIG. 12 is a graph showing a relationship between voltage and temperature of each heating element after correction.

【図13】図13(a)は第3実施形態例の発熱体と通常
の発熱体との温度変化を示す図、図13(b)は図13(a)
に示した通常の発熱体の温度変化時のオーバーシュート
量を示すグラフ、図13(c)は図13(a)に示した第3実
施形態例の発熱体の温度変化時のオーバーシュート量を
示すグラフである。
13A is a diagram showing a temperature change between the heating element of the third embodiment and a normal heating element, and FIG. 13B is a view showing FIG. 13A.
13C is a graph showing the amount of overshoot of the normal heating element when the temperature changes, and FIG. 13C shows the overshoot amount of the heating element of the third embodiment shown in FIG. 13A when the temperature changes. It is a graph shown.

【図14】従来のサーマルヘッドの制御装置を示すブロ
ック図である。
FIG. 14 is a block diagram showing a conventional thermal head control device.

【図15】図14の発熱体を複数にした従来の制御装置
を示す全体ブロック図である。
15 is an overall block diagram showing a conventional control device having a plurality of heating elements of FIG.

【図16】図15の制御装置の発熱体の温度と電気抵抗
値との関係を示すグラフである。
FIG. 16 is a graph showing a relationship between the temperature of the heating element and the electric resistance value of the control device of FIG.

【図17】図16の発熱体を用いた際に検出用抵抗に現
れる電圧を示すグラフである。
FIG. 17 is a graph showing a voltage appearing at a detection resistor when the heating element of FIG. 16 is used.

【図18】図16の発熱体を用いた際の温度上昇カーブ
を示す図である。
FIG. 18 is a diagram showing a temperature rise curve when the heating element of FIG. 16 is used.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 サーマルヘッド 13 ドライバ回路 14 検出用抵抗 15 温度検出手段(温度検出手段) 16 不揮発性メモリ(記憶手段) 17 検出温度補正回路 18、18’ 比較回路 19、19’ 目標温度設定回路(目標温度設定手段) 20 切替えスイッチ 21 切替えスイッチ(切替え手段) 28 目標温度補正回路 R1〜Rn 発熱体 Reference Signs List 11 thermal head 13 driver circuit 14 detection resistor 15 temperature detection means (temperature detection means) 16 nonvolatile memory (storage means) 17 detected temperature correction circuit 18, 18 'comparison circuit 19, 19' target temperature setting circuit (target temperature setting) Means) 20 changeover switch 21 changeover switch (switching means) 28 target temperature correction circuit R1 to Rn heating element

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数の発熱体を内蔵したサーマルヘッド
と、いずれかの発熱体に選択的に接続される検出用抵抗
と、発熱体への通電時に前記検出用抵抗に発生する降下
電圧に基づいて発熱体の温度を検出する温度検出手段と
を備え、該温度検出手段からの検出温度に基づいて発熱
体への印加エネルギーを制御するサーマルヘッドの制御
装置において、 所定の温度条件下で各発熱体について前記温度検出手段
で検出された温度データに基づいた、各発熱体毎の補正
データを記憶する記憶手段と、 与えられた印画データに基づいて各発熱体毎の目標温度
を設定する目標温度設定手段と、 前記温度検出手段からの発熱体の検出温度と、前記目標
温度設定手段からの目標温度と、前記記憶手段からの補
正データとに基づいて、発熱体の温度制御を行う温度制
御手段とを備えることを特徴とするサーマルヘッドの制
御装置。
1. A thermal head containing a plurality of heating elements, a detection resistor selectively connected to one of the heating elements, and a voltage drop generated in the detection resistor when power is supplied to the heating element. A temperature detecting means for detecting the temperature of the heating element by controlling the energy applied to the heating element based on the temperature detected by the temperature detecting means. Storage means for storing correction data for each heating element based on temperature data detected by the temperature detection means for the body; and a target temperature for setting a target temperature for each heating element based on the provided print data. Setting means; controlling the temperature of the heating element based on the detected temperature of the heating element from the temperature detection means, the target temperature from the target temperature setting means, and the correction data from the storage means. A control device for a thermal head, comprising: a temperature control unit.
【請求項2】 前記温度制御手段は、前記温度検出手段
からの検出温度と前記記憶手段からの補正データとに基
づいて補正温度を演算する検出温度補正回路と、該検出
温度補正回路からの補正温度と前記目標温度設定手段か
らの目標温度とを比較する比較回路と、該比較回路によ
る比較結果に基づいて発熱体に対する印加状態を切り替
える切替え手段とから成る、請求項1に記載のサーマル
ヘッドの制御装置。
2. The temperature control means according to claim 1, wherein said temperature control means calculates a correction temperature based on the detected temperature from said temperature detection means and correction data from said storage means. 2. The thermal head according to claim 1, further comprising: a comparison circuit that compares a temperature with a target temperature from the target temperature setting unit; and a switching unit that switches an application state to the heating element based on a comparison result by the comparison circuit. 3. Control device.
【請求項3】 前記温度制御手段は、前記目標温度設定
手段からの目標温度と前記記憶手段からの補正データと
に基づいて目標温度補正値を演算する目標温度補正回路
と、該目標温度補正回路からの目標温度補正値と前記温
度検出手段からの検出温度とを比較する比較回路と、該
比較回路による比較結果に基づいて発熱体に対する印加
状態を切り替える切替え手段とから成る、請求項1に記
載のサーマルヘッドの制御装置。
3. A target temperature correction circuit for calculating a target temperature correction value based on a target temperature from the target temperature setting means and correction data from the storage means, the target temperature correction circuit comprising: 2. A comparison circuit for comparing a target temperature correction value from a temperature and a temperature detected by the temperature detection means, and switching means for switching an application state to the heating element based on a comparison result by the comparison circuit. Thermal head control device.
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