KR950003401B1 - Device which generates column address latch signal - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 비디오 램의 시리얼 리드동작시 데이타의 흐름을 보여주는 블럭 다이아그램.1 is a block diagram showing the flow of data in the serial read operation of the video RAM.
제2도(a), (b)는 종래기술에 의한 ФYAL 신호 발생장치의 회로도.2 (a) and 2 (b) are circuit diagrams of a ФYAL signal generator according to the prior art.
제3도는 제2도에 따른 동작 타이밍도.3 is an operation timing diagram according to FIG.
제4도는 본 발명에 의한 ФYAL 신호 발생장치의 블럭도.4 is a block diagram of a ФYAL signal generator according to the present invention.
제5도(a), (b)는 제4도의 실시예.5 (a) and 5 (b) show the embodiment of FIG.
제6도는 제5도에 따른 동작 타이밍도.6 is an operation timing diagram according to FIG.
본 발명은 랜덤 억세스 메모리(random access memory)에 관한 것으로, 특히 비디오 램(video RAM)의 컬럼 어드레스 래치신호 발생장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to random access memory, and more particularly to an apparatus for generating a column address latch signal of a video RAM.
비디오 램은 이 분야에 공지된 바와 같이 듀얼 포트(dual port) 메모리로서 랜덤포트(random port)와 시리얼포트(serial port)라는 2계통의 입출력 단자를 가지며 상기 2개의 포트로부터 각각 독립적으로 액세스가 가능한 메모리 소자이다. 상기 비디오 램은 통상적으로 듀얼포트 다이나믹램(dynamic RAM)으로 이루어지는 바, 노멀 다이나믹 램의 기능과 비디오 램 고유의 기능을 모두 갖추어야 한다. 특히 리드 사이클중에서 연속된 어드레스를 반복해서 고속으로 액세스하기 위한 모드인 페이지 모드(page mode)는 노멀 다이나믹 램의 필수적인 동작모드로서, 이는 잘 알려진 바와 같이, 한번의상태에서 수번의토글링(toggling)에 의해 같은 로우(row)의 다른 컬럼(column)의 메모리 쎌을 액세스할 수 있는 모드이다. 리드 전송(read transfer)시 램 데이타 포트로부터의 전송이 노멀 다이나믹 램과 동일한 방식으로 이루어지는데 비해, 샘 데이타 포트로부터의 전송은 샘(SAM : serial access memory)이라는 데이타 레지스터를 경유하게 된다.Video RAM is a dual port memory, as known in the art, and has two input / output terminals, random port and serial port, which are independently accessible from each of the two ports. Memory element. The video RAM is generally composed of dual-port dynamic RAM, and should have both a function of normal dynamic RAM and a function unique to video RAM. In particular, the page mode, which is a mode for repeatedly accessing consecutive addresses at high speed during a read cycle, is an essential operation mode of the normal dynamic RAM. Several times in a state This is a mode that allows you to access memory rows of different columns in the same row by toggling. In read transfer, the transfer from the RAM data port is done in the same way as the normal dynamic RAM, whereas the transfer from the SAM data port is via a data register called SAM (serial access memory).
이와 관련하여 비디오 램에서 시리얼 리드동작시 데이타의 흐름을 보여주는 블럭 다이아그램을 제1도에 도시하였다. 시리얼 클럭의 인에이블로부터 소정의 데이타가 액세스되는 타임은 tSCA를 만족시키기 위해서 트랜스퍼동작을 하는동안 첫번째 데이타가 램포트(140)를 통해서 출력한다. 그리고 나서 두번째 데이타부터 여분의 데이타가 샘포트(180)로부터 출력한다. 즉, 도시된 바와 같이 첫번째 데이타는 "ФYAL 발생장치(100)→컬럼어드레스버퍼(110)→디코더(120)→컬럼선택게이트(CSL)→I/O-S/A(130)→ФRDL 발생장치(150), 램데이타 포트(140)→샘 출력핀(190)"이라는 순서로 출력된다(상기에서 ФYAL 신호는 컬럼 어드레스 래치(latch)신호이고, ФRDL 신호는 램 데이타 래치신호이다. 또한 ФRDL 발생장치(150)를 인에이블시키는 신호인/신호는 데이타 전송/출력 인에이블신호로서 이는 칩 외부에서 공급되는 제어신호(이에 대하여는 1991년 본 출원인이 발간한 데이타 북 {MOS MEMORY Vol. 1}에 상세하게 개시되어 있다.)이다. 그리고 두번째 이후의 여분의데이타는 "DTP 신호 발생장치(160)→샘 데이타 레지스터(170)→샘 데이타 포트(180)→샘 출력핀(190)"이라는 순서로 출력된다. 상기와 같은 순서하에서 상기 첫번째 데이타는 ФYAL 신호에 의해 래치된 컬럼 어드레스가 디코딩되어 컬럼선택게이트(CSL)가 인에이블된후에 쎌 어레이로부터 출력된다. 그리고 I/O-S/A(130)를 통해 증폭되고 램 데이타 포트(140)로 입력된다. 이때 ФRDL 신호는 특정시간에 입력되는 데이타만을 래치하고 이를 상기 램 데이타 포트(140)에 저장한다. 그리고 두번째 데이타 이후의 데이타는 상술한 바와 같이 샘으로부터 출력된다.In this regard, a block diagram showing the flow of data during the serial read operation in the video RAM is shown in FIG. When the predetermined data is accessed from the serial clock enable, the first data is output through the RAM port 140 during the transfer operation to satisfy the t SCA . Then, the extra data from the second data is output from the sample port 180. That is, as shown, the first data is " ФYAL generator 100 → column address buffer 110 → decoder 120 → column select gate CSL → I / OS / A 130 → ФRDL generator 150 ), The RAM data port 140 → the Sam output pin 190 " are output in this order (In the above, the ФYAL signal is a column address latch signal and the ФRDL signal is a RAM data latch signal. Signal to enable 150) Of The signal is a data transmission / output enable signal, which is a control signal supplied from the outside of the chip (described in detail in the data book {MOS MEMORY Vol. 1} published by the present applicant in 1991). The extra data after the second is output in the order of "DTP signal generator 160-> Sam data register 170-> Sam data port 180-> Sam output pin 190". In this order, the first data is output from the array after the column address latched by the FYAL signal is decoded and the column select gate CSL is enabled. And amplified through I / OS / A 130 and input to RAM data port 140. At this time, the ФRDL signal latches only data input at a specific time and stores it in the RAM data port 140. Data after the second data is output from the sam as described above.
상기 제1도의 구성하에서 첫번째 데이타의 출력은 ФYAL 신호에 의하여 만들어지며, 상기 ФYAL 신호발생장치의 구체회로도로서 이 분야에 공지된 것을 제2도(A)에 도시하였다. 상기 제2도(A)는 노멀 다이나믹 램에도 적용되는 것으로, 그 구성상 특징은 다음과 같다. 상기 제2도(A)에서 ФC, ФRAT, ФR 신호의 발생은 제2도(B)와 같은 로직에 의해 이루어질 수 있다. 로우 어드레스 스트로우브(row address strobe) 신호인신호가 액티브(active)로 되기 전에는 ФR(이는체인 마스터 클럭(master clock)을 의미함.) 및 ФRAT가 각각 "로우(L)"레벨로 유지된다. 상기신호가 액티브로 되면 상기 ФR이 "하이(H)"레벨로 상승하고 상기 ФRAT가 "하이" 레베로 상승하여 제3 및 제4낸드게이트(6)(8)를 인에이블시킨다. 또한 ФRCD가 "하이"레벨로 상승하면 제2낸드게이트(5)의 출력이 "하이"레벨로 된다. 그리고 나서 컬럼 어드레스 스트로우브(column address strobe) 신호인신호가 액티브로 되어 "로우"레벨로 되면 ФC(이는체인 마스터 클럭을 의미함.)가 "하이"레벨로 상승하고, 상기 ФC가 ФYAL 신호로 만들어진다.The output of the first data under the configuration of FIG. 1 is produced by the ФYAL signal, and is shown in FIG. 2A as a specific circuit diagram of the ФYAL signal generator. FIG. 2A is also applied to a normal dynamic RAM, and its configuration is as follows. In FIG. 2A, the generation of the signals PIR, PRAT, and PIR may be performed by the same logic as in FIG. The row address strobe signal Before the signal becomes active, ФR ( Chain master clock) and ФRAT are kept at the "L" level, respectively. remind When the signal becomes active, the ФR rises to the "high" level and the ФRAT rises to the "high" level to enable the third and fourth NAND gates 6 and 8. Further, when ФRCD rises to the "high" level, the output of the second NAND gate 5 becomes the "high" level. Then the column address strobe signal When the signal is active and goes to the "low" level, ФC ( Means the chain master clock) rises to the "high" level, and the ФC is made of a ФYAL signal.
한편 이와 같은 경우는 롱(long) tRCD의 경우이며, 숏(short) tRCD의 경우는 ФRCD가 ФYAL 신호를 생성한다.On the other hand, this case is a case of long t RCD , and in case of a short t RCD , ФRCD generates a ФYAL signal.
상기 ФYAL 신호는 "하이"에서 "로우"로 디세이블되면서 상기 제1도의 컬럼 어드레스버퍼(110)의 유효(valid) 컬럼 어드레스를 래치시킨다. 즉, 상기 øYAL은 로우 어드레스를 래치시켰다는 정보인 ФRAT 신호를 받아서 "로우"레벨에서 "하이"레벨로 되고, 센싱(sensing)이 완료되었다는 정보인 ФRCD 신호와inform인 ФC를 받아 "하이"에서 "로우"레벨로 래치시키는 것이다. 이와 같은 동작하에서서는 한번의사이클동안신호가 여러번 토글링하는 동안 øC도 여러번 토글링을 하게 되고 이어서 연속적으로 ФYAL 신호도 함께 토글링을 하여 컬럼 어드레스를 래치하여 페이지 모드 동작을 구현하게 된다. 이와 같이 통상적으로 øYAL 신호는신호의 변화에 따라 종속적으로 변화하도록 설계된다. 이로부터 상기 제2도(A)와 같은 ФYAL 발생장치(100)는신호가 액티브상태에서 프리차아지(precharge) 상태로 갈때 불필요한 ФYAL 신호의 인에이블구간이 제3도에 나타나는 것과 같이 한번 더 발생하게 된다. 즉, 상기 제3도에 도시된 바와 같이 ФRDL 신호를 발생시키는/신호가, 컬럼 어드레스를 래치시키는 ФYAL 신호를 발생시키는신호보다 나중에 "하이"레벨로 바뀌면 빗금친 부분과 같은 비유효(invalid)한 ФYAL 신호가 발생되고(즉, 비유효한 어드레스가 발생), 그 이후에 ФRDL 신호가 인에이블되어 비유효한 데이타가 출력하게 된다.The ФYAL signal is disabled from "high" to "low" to latch the valid column address of the column address buffer 110 of FIG. That is, the øYAL receives the ФRAT signal, which is information that the row address is latched, and goes from the "low" level to the "high" level. Receive inform ФC and latch it from "high" to "low" level. Under this operation, once During the cycle During the signal toggling several times, øC also toggles several times, followed by the toggle of the ФYAL signal in succession to latch the column address to implement page mode operation. As such, the øYAL signal is typically It is designed to change as the signal changes. From this, the ФYAL generator 100 as shown in FIG. When the signal goes from the active state to the precharge state, the enable period of the unnecessary ФYAL signal is generated once more as shown in FIG. That is, as shown in FIG. 3, the Of Signal generates a ФYAL signal that latches the column address. Changing to the "high" level later than the signal generates an invalid ФYAL signal (ie an invalid address), such as a hatched portion, after which the ФRDL signal is enabled, causing invalid data to be output. do.
따라서, 본 발명의 목적은 페이지 모드시에 데이타 전송/출력 인에이블신호/또는 컬럼 어드레스래치(ФYAL) 신호가 컬럼 어드레스 스트로우브()로부터 독립적으로 인에이블되는 비디오 램을 제공함에 있다.Therefore, an object of the present invention is a data transmission / output enable signal in page mode. Of Or the column address latch (ФYAL) signal is It provides a video RAM that is enabled independently.
본 발명의 다른 목적은 페이지 모드시에 데이타 전송/출력 인에이블신호(/) 또는 컬럼 어드레스 스트로우브() 신호에 관계없이 유효한 데이타를 출력하는 비디오 램을 제공함에 있다.It is another object of the present invention to provide a data transmission / output enable signal in page mode. Of ) Or column address strobe ( ) Provides video RAM that outputs valid data regardless of signal.
본 발명의 또 다른 목적은 페이지 모드시에 데이타 전송/출력 인에이블신호(/) 또는 컬럼 어드레스 스트로우브() 신호에 관계없이 독립적인 신호상태를 유지할 수 있는 컬럼 어드레스 래치(ФYAL) 신호를 발생하는 컬럼 어드레스 래치신호 발생장치를 제공함에 있다.Still another object of the present invention is to provide a data transmission / output enable signal in page mode. Of ) Or column address strobe ( The present invention provides a column address latch signal generator that generates a column address latch (ФYAL) signal capable of maintaining an independent signal state regardless of a signal.
상기 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 컬럼 어드레스 래치신호의 주 경로(main path)인신호를 제어 및 래치함으로써 컬럼 어드레스 래치신호의 발생을 제어함에 그 요지를 가진다. 또한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 어드레스 신호 제어 방법은 트랜스퍼모드(transfer mode)시에 로우 어드레스 스트로우브신호의 액티브구간 동안 컬럼 어드레스 스트로우브신호의 첫번째 폴링 엣지(falling edge)의 신호만을 받아서 컬럼 어드레스가 래치되고 이 래치가 상기 로우 어드레스 스트로우브신호가 프리차아지구간에 갈 때에만 디세이블되는 어드레스 신호 제어방법임을 특징으로 한다. 또한 본 발명에 의한 실시예로서의 회로구성은 로우 어드레스 스트로우브신호()에 의해 인에이블되는 로우 어드레스 스트로우브 체인 마스터 클럭과, 컬럼 어드레스 스트로우브신호()에 의해 인에이블되는 컬럼 어드레스 스트로우브 체인 마스터 클럭의 조합에 의해 컬럼 어드레스 래치신호를 출력하는 컬럼 어드레스 래치신호 발생장치에 있어서, 상기 컬럼 어드레스 스트로우브 체인 마스터 클럭을 입력하고 소정의 제어신호에 의해 동작되는 래치단과, 상기 로우 어드레스 스트로우브 체인 마스터 클럭과 상기 래치단의 출력신호를 각각 입력하는 디코더부를 구비하는 컬럼 어드레스 래치신호 발생장치임을 특징으로 한다. 상기에서 본 발명에 의한 컬럼 어드레스 래치신호 발생장치는 컬럼 어드레스 스트로우브 체인 마스터 클럭을 특정 모드일 때는 그 모드를 받는 신호로 제어하며 래치단 이후의 회로부가 외부신호인에 비동기되어 동작한다.In order to achieve the object of the present invention the present invention is the main path (main path) of the column address latch signal The purpose is to control the generation of the column address latch signal by controlling and latching the signal. In addition, the address signal control method according to the present invention to achieve the object of the present invention is a signal of the first falling edge of the column address strobe signal during the active period of the row address strobe signal in the transfer mode (transfer mode) Column address is latched, and this latch is an address signal control method that is disabled only when the row address strobe signal goes to the precharge period. In addition, the circuit configuration according to the embodiment of the present invention is a row address strobe signal ( Row address strobe chain master clock and column address strobe signal ( A column address latch signal generator for outputting a column address latch signal by a combination of column address strobe chain master clocks enabled by < RTI ID = 0.0 >),< / RTI > And a decoder unit for operating the latch stage and the decoder unit for inputting the row address strobe chain master clock and the output signal of the latch stage, respectively. The column address latch signal generating apparatus according to the present invention controls the column address strobe chain master clock to a signal receiving the mode when the specific mode is selected, and the circuit part after the latch stage is an external signal. It is asynchronous to.
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 발명의 기술적 사상에 입각한 컬럼 어드레스 래치신호 발생장치의 블럭도를 제4도에 도시하였다. 그리고 상기 제4도의 블럭구성에 따른 실시예를 제5도(a), (b)에 도시하였고, 그에 따른 동작 타이밍도를 제6도에 도시하였다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. 4 is a block diagram of a column address latch signal generating apparatus based on the technical idea of the present invention. An embodiment of the block configuration of FIG. 4 is illustrated in FIGS. 5A and 5B, and an operation timing diagram thereof is shown in FIG.
본 발명에 의한 컬럼 어드레스 래치신호 발생장치의 블럭도인 제4도의 구성은 컬럼 어드레스 스트로우브 체인 마스터 클럭인 ФC를 입력하고 칩의 각 동작모드별 제어신호를 입력하는 래치단(100A)과 디코더부(100)로 이루어진다. 상기 디코더부(100)의 구성은 상술한 제2도(a)와 같은 종래의 ФYAL 발생장치로 쉽게 실현할 수 있게 된다. 그리고 동작모드별 제어신호라 함은 칩(chip)이 가지고 있는 다수의 동작무도에서 각각 인에이블되는 신호를 의미하는 것으로, 예를들어 페이지 모드시에는 페이지 모드를 수행하기 위한 신호가 인에이블되며 이때 인에이블된 신호를 말한다.The block diagram of FIG. 4 is a block diagram of the column address latch signal generator according to the present invention. It consists of 100. The configuration of the decoder unit 100 can be easily realized by the conventional ФYAL generator as shown in FIG. In addition, the control signal for each operation mode means a signal that is enabled in each of a plurality of operation dances of the chip. For example, in page mode, a signal for performing the page mode is enabled. Refers to the enabled signal.
본 발명에 의한 상기 제4도의 구체 실시예인 제5도(a)의 구성상 특징은 다음과 같다. 제5도(a)에서 점선블럭 100A'로 도시된 블럭이 본 발명에 의한 래치단이다. 그리고 점선블럭 100'는 상기의 제2도(a)와 동일한 회로구성을 가지며, 입력신호에 따른 동작특성도 상기의 제2도(a)와 동일한 특성을 갖는다. 상기 래치단(100A')의 구성상 특징은 다음과 같다. 컬럼 어드레스 스트로우브 체인 마스터 클럭인 ФC의 주 경로에 트랜스미션 게이트(transmission gate)(12)와 래치회로(13, 14)를 구비하고, 상기 트랜스미션 게이트(12)의 제어신호로이 입력된다. 상기신호는 제5도(b)에 도시된 바와 같이, 트랜스퍼 모드에서 발생되는 컬럼 인에이블신호로부터 발생되는 신호인 Φ신호가 소정시간 지연되어 발생되는 신호로서 Φ신호가 탭-로드(tap0load)동작(이는 어드레스 입력시 첫번째 다음으로 입력되는 2번째 이후의 어드레스를 지정하는 동작임)으로 진행되기 전에 유효 어드레스를 래치시키는 신호이다. 이와 같은 구성하에서의 동작특성은 다음과 같다. 전송모드(transfer mode)라는 정보인 Φ신호가 인에이블될 때에는 ФYAL 발생장치의 주 경로가 완전히 차단됨으로 해서 비유효 어드레스의 발생을 방지한다. 즉, 전송동작시 Φ신호가 인에이블되면(즉, "로우"로 발생하면)신호가 "로우"로 되어 트랜스미션 게이트(12)를 "턴-오프(turn-off)"시키고, 이로부터 래치회로(13, 14)에서 래치동작이 이루어진다. 그래서 이전의 ФC 신호는 래치회로(13, 14)에 의해서 계속 공급이 되고, 이후의 ФC 신호는 차단된다.The structural features of FIG. 5 (a) which is a specific embodiment of FIG. 4 according to the present invention are as follows. In FIG. 5A, the block shown by the dotted line block 100A 'is a latch stage according to the present invention. The dotted line block 100 'has the same circuit configuration as that of FIG. 2A, and the operation characteristic according to the input signal also has the same characteristics as that of FIG. The structural features of the latch stage 100A 'are as follows. The transmission gate 12 and the latch circuits 13 and 14 are provided in the main path of ФC, which is a column address strobe chain master clock, and used as a control signal of the transmission gate 12. Is input. remind As shown in (b) of FIG. 5, the signal is a signal generated from the column enable signal generated in the transfer mode. Φ is a signal generated by delaying a predetermined time It is a signal that latches a valid address before the signal proceeds to a tap-load operation, which is an operation of specifying a second or later address which is input first after the address input. The operating characteristics under such a configuration are as follows. Φ, information called transfer mode When the signal is enabled, the main path of the ФYAL generator is completely blocked to prevent the generation of invalid addresses. That is, Φ during transmission If the signal is enabled (that is, occurs "low") The signal goes " low " to " turn-off " the transmission gate 12, from which latching operations are performed in the latch circuits 13 and 14. As shown in FIG. Thus, the previous ФC signal continues to be supplied by the latch circuits 13 and 14, and the subsequent ФC signal is interrupted.
이와 같은 동작은 동작타이밍도인 제6도를 참조하면 쉽게 이해할 수 있을 것이다. 즉, 도시된 바와 같이신호와/신호에 관계없이 유효한 ФYAL 신호는 한번만 발생되고 그 이후는 계속 "로우"레벨을 유지하므로서, ФRDL 신호가 인에이블되어 상기 제1도의 램 데이타 포트(140)를 래치시킬 때에는 유효 어드레스 정보를 받은 컬럼선택게이트(CSL)의 데이타를 래치하게 된다. 따라서, 컬럼 어드레스를 인에이블시키는 외부신호로서의신호의 변화에 무관한 동작을 하므로서 비유효 어드레스의 발생가능성을 근복적으로 제거하게 된다.This operation can be easily understood with reference to FIG. 6, which is an operation timing. That is, as shown Signal and Of Regardless of the signal, a valid ФYAL signal is generated only once and subsequently maintained at a "low" level, so that when the ФRDL signal is enabled to latch the RAM data port 140 of FIG. 1, column selection with valid address information is selected. The data of the gate CSL is latched. Therefore, as an external signal for enabling the column address By operating independently of the change of the signal, the possibility of generating an invalid address is almost eliminated.
상기 제5도(a), (b)는 본 발명의 사상에 입각한 제4도의 블럭구성에 따라 실현한 최적의 실시예이지만, 예를들어 트랜스미션 게이트는 모드별 제어신호를 받는 다른 스위칭 회로로 구성되어질 수 있음을 유의하여야 할 것이다. 또한 본 발명을 비디오 램에 적용하여 기술하였지만, 이는 노멀 다이나믹 램에도 동일한 방법으로 적용할 수 있음은 이 분야의 당 업자에게는 명백한 사항이다.5 (a) and 5 (b) are the best embodiment realized according to the block structure of FIG. 4 based on the idea of the present invention, but for example, the transmission gate is another switching circuit that receives a control signal for each mode. It should be noted that it may be constructed. In addition, although the present invention has been described by applying the video RAM, it is obvious to those skilled in the art that the same method can be applied to the normal dynamic RAM.
상술한 바와 같이, 본 발명은 컬럼 어드레스 래치회로의 입력단에 모드별 제어신호를 입력하는 래치단을 구비하므로서, 트랜스퍼 동작시 컬럼 어드레스가와/신호의 동기에 무관하게 유효한 어드레스를 래치시키고 램 데이타 포트에서 출력되는 첫번째 데이타가 유효하게 출력되어 비디오 램의 신뢰성을 향상시키는 효과가 있다.As described above, the present invention includes a latch stage for inputting a mode-specific control signal to the input terminal of the column address latch circuit, so that the column address is changed during the transfer operation. Wow Of Regardless of signal synchronization, the effective address is latched and the first data output from the RAM data port is effectively output, thereby improving the reliability of the video RAM.
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920014961A KR950003401B1 (en) | 1992-08-20 | 1992-08-20 | Device which generates column address latch signal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920014961A KR950003401B1 (en) | 1992-08-20 | 1992-08-20 | Device which generates column address latch signal |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR940004642A KR940004642A (en) | 1994-03-15 |
KR950003401B1 true KR950003401B1 (en) | 1995-04-12 |
Family
ID=19338214
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019920014961A KR950003401B1 (en) | 1992-08-20 | 1992-08-20 | Device which generates column address latch signal |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR950003401B1 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100956777B1 (en) | 2008-08-08 | 2010-05-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | Address Latch Circuit and Semiconductor Memory Apparatus Using The Same |
KR101248463B1 (en) * | 2012-09-06 | 2013-04-02 | 국방과학연구소 | Mock bullet lounching apparatus |
KR102583209B1 (en) * | 2023-08-02 | 2023-09-26 | 국방과학연구소 | Pop-up apparatus |
-
1992
- 1992-08-20 KR KR1019920014961A patent/KR950003401B1/en not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
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KR940004642A (en) | 1994-03-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20060307 Year of fee payment: 12 |
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LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |