KR940002653Y1

KR940002653Y1 - 포탄 근접 신관용 충격스위치의 접속시간 측정회로

Info

Publication number: KR940002653Y1
Application number: KR2019890007996U
Authority: KR
Inventors: 김범용
Original assignee: 대우전자 주식회사; 김용원
Priority date: 1989-06-09
Filing date: 1989-06-09
Publication date: 1994-04-22
Also published as: KR910001163U

Abstract

내용 없음.

Description

포탄 근접 신관용 충격스위치의 접속시간 측정회로

제 1 도는 본 고안의 회로도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1, 2 : 비교증폭기(OP Amp) 3 : 클럭 발진부

4 : 앤드(AND)회로 5 : 버퍼(Boffer)회로

6 : 카운터(Counter)회로 7 : 접속시간 측정회로

8 : 원칩 컴퓨터(One Chip Computer) 9 : 디스플레이장치

SW : 충격 스위치 VR₁-VR₂: 가변저항

R₁~R₅: 저항 Q : 트랜지스터

본 고안은 포탄 근접신관에 있어서 충격스위치의 접속 시간을 측정하는 회로에 관한 것으로서 특히 비교증폭기를 사용하여 충격스위치가 접속되는 최고 최저 시간을 설정하고 기준범위내에 존재하면 디스플레이장치에 충격스위치가 접속되는 시간이 표시되도록 하여 양질의 충격스위치를 선별하는 포탄근접 신관용 충격스위치의 접속시간 측정회로에 관한 것이다.

포탄 근접신관에 내장된 충격스위치는 포탄 발사후 지면과의 충돌시 순간적으로 접속되어 추진장약을 폭발시킬 수 있는 특정신호를 출력하게 된다. 따라서 추진 장약을 폭발 될수 있도록 하기 위해서는 최소한의 시간동안 뇌관에 점화펄스를 공급하여야 하며 이러한 점화펄스는 충격스위치의 접속시간 동안에만 출력하게 되는 것이다.

만약 충격스위치의 접속시간이 매우 짧을 경우 추진장약을 폭발시킬 수 있는 점화펄스가 제대로 뇌관에 인가되지 않게 되어 결과적으로 포탄으로서의 기능을 수행할 수 없게된다.

본 고안은 전술한 바와같이 포탄이 지면과의 충돌시 충격스위치가 순간적으로 접속되는 시간을 측정하여 양질의 충격스위치만을 선별할 수 있도록 하기위하여 비교증폭기로서 추진장약을 폭발시킬 수 있는 최소, 최대시간을 설정하고 원칩컴퓨터(One Chip Computer)로서 디스플레이장치를 제어하여 충격스위치가 접속되는 시간을 확인함은 물론 여러개의 충격스위치를 동시에 측정할 수 있어 짧은 시간에 다량의 충격스위치를 정밀하게 측정하는 회로를 제공하는데 본 고안의 목적이 있는 것이다.

이하 첨부된 도면에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.

제 1 도에서와 같이 충격스위치(SW)에 각 비교증폭기(1)(2)의 비반전단자(+) 및 반전단자(-)에 연결하고 DC 전압(+15)을 저항(R₁)과 가변저항(VR₂)으로 분활하여 비교증폭기(2)의 비반전단자(+)에 인가하고 또한 DC 전압(+15)을 저항(R₂)과 가변저항(VR₁)으로 분활하여 비교증폭기(1)의 반전단자(-)에 기준전압이 인가되게 하는 한편 비교증폭기(1)(2)의 출력단을 저항(R₄)을 거쳐 트랜지스터(Q) 베이스에 연결하고 콜렉터 측은 AND 회로(4)와 저항(R₅)을 통하여 DC 전압(+15)에 접속되도록 함과 동시에 AND 회로(4)의 타측단자에는 클럭 발진부(3)로부터 출력되는 클럭신호를 인가하고 상기 AND 회로(4)의 출력신호는 버퍼회로(5)를 거쳐 카운터회로(6)에 연결한 접속시간측정회로(7)를 다수개 구성하여 통상의 디스플레이장치(9)와 연결된 원칩컴퓨터(8)에 접속하여서된 포탄 근접신관용 충격스위치의 접속시간측정 회로인 것이다.

상기와 같은 구성으로 이루어진 본 고안의 작용효과를 상세히 설명하면 다음과 같다.

먼저 충격스위치(SW)가 접속되어야 할 최소의 시간을 설정하기 위하여 입력전압(DC+15)을 가변저항(VR₂) 및 저항(R₁)으로 적절히 분활하여 비교증폭기(2)의 비반전단자(+)에 인가함으로서 최소의 시간이 설정된다. 또한 충격스위치(Sw)가 접속되어야할 최대시간을 결정하기 위하여 저항(R₂)과 가변저항(VR₁)으로 입력전압을 알맞게 조절하여 비교증폭기(1)의 반전단자에 인가함으로서 충격스위치(Sw)가 접속될 수 있는 최대의 시간이 결정되어 진다.

그러므로 충격스위치(Sw)가 접속되어 추진장약을 폭발시킬 수 있는 뇌관에 점화 신호를 인가할 수 있는 최대, 최소시간이 정해져 있는 상태에서 포탄이 지면과의 충돌시 동일한 조건을 부여하게 되면 충격에 의해 충격스위치(Sw)가 순간적으로 접속된다. 이때 비교증폭기(1)(2)에 설정된 최고, 최저시간 범위내에 접속되면 충격스위치(Sw)에 인가되는 20V의 전원이 비교증폭기(1)(2)의 비반전단자(+)와 반전단자(-)에 각각 인가되어 설정되어진 기준 전압과 비교하여 "하이(high)"신호를 출력하게 된다. 따라서 이러한 신호는 저항(R₄)을 통하여 트랜지스터(Q) 베이스에 입력되어 바이어스 전압으로 사용됨으로서 상기 트랜지스터(Q)를 도통 상태로 만들게되어 입력전압(DC+15)이 저항(R₅)을 거쳐 트랜지스터(Q)의 콜렉터에서 에미터로 흐름과 동시에 AND 회로(4)에 인가되어진다. 이때 클럭 발진부(3)로부터 출력되는 클럭신호와 트랜지스터(Q)에서 인가되는 신호와 동기되어 AND 회로(4)의 출력신호는 클럭 발진부(3)에 기인하여 "하이" 또는 "로우"(Low)"를 반복하여 출력된다. 따라서 AND 회로(4)의 출력은 버퍼회로(5)를 통하여 카운터회로(6)에 인가되어져 AND 회로(4)의 신호를 계수하고 그 값을 원칩컴퓨터(8)로 전송하게 되며 상기 원칩컴퓨터(8)는 카운터회로(6)에서 인가되는 신호로서 디스플레이장치(9)에 충격스위치(Sw)가 접속되는 시간을 표시하기 위하여 적정한 신호로 변환하여 디스플레이장치(9)에 전달하게 된다. 그러므로 측정자는 디스플레이장치(9)에 표현되는 수치 즉 충격스위치(Sw)가 접속되는 시간을 육안으로 확인하여 알맞는 기준범위 내에 속하게 되면 양질의 충격스위치(Sw)임을 판단함으로서 선별할 수 있는 것이다.

또한 원칩컴퓨터(8)를 사용할 경우 접속시간측정회로(7)를 다수개 구성하여 충격스위치(Sw)를 동시에 여러개 측정할 수 있어 짧은 시간에 다량의 충격스위치(Sw)를 선별할 수 있는 것이다.

이상에서 상술한 바와같이 본 고안은 비교증폭기(1)(2)를 이용하여 충격스위치(Sw)가 접속되는 기순시간 즉 최고, 최저시간을 설정하고 이의 신호를 원칩컴퓨터(8)로 전달하는 접속시간 측정회로(6)를 구성함으로서 충격스위치(Sw)가 접속되는 시간을 디스플레이장치(9)로 확인하고 이의 결과에 따라 양질의 충격스위치(Sw)를 선별할 수 있음은 물론 여러개의 제품을 동시에 시험할 수 있으므로 짧은 시간에 다량의 충격스위치(Sw)를 정밀하게 측정할 수 있는 유용한 고안인 것이다.

Claims

충격스위치(SW)에 각 비교증폭기(1)(2)의 비반전단자(+) 및 반전단자(-)에 연결하고 DC 전압(+15)을 저항(R₁)과 가변저항(VR₂)으로 분활하여 비교증폭기(2)의 비반전단자(+)에 인가하고, 또한 DC 전압(+15)을 저항(R₂)과 가변저항(VR₁)으로 분활하여 비교증폭기(1)의 반전단자(-)에 기준전압이 인가되게 하는 한편 비교증폭기(1)(2)의 출력단을 저항(R₄)을 거쳐 트랜지스터(Q) 베이스에 연결하고 콜렉터 측은 AND 회로(4)와 저항(R₅)을 통하여 DC 전압(+15)에 접속되도록 함과 동시에 AND 회로(4)의 타측단자에는 클럭 발진부(3)로부터 출력되는 클럭신호를 인가하고 상기 AND 회로(4)의 출력신호는 버퍼회로(5)를 거쳐 카운터회로(6)에 연결한 접속시간측정회로(7)를 다수개 구성하여 통상의 디스플레이장치(9)와 연결된 원칩컴퓨터(8)에 접속하여서된 것을 특징으로 하는 포탄 근접신관용 충격스위치의 접속시간 측정회로.