KR940002626A - 매트릭스 이미징 시스템 - Google Patents

매트릭스 이미징 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR940002626A
KR940002626A KR1019930014862A KR930014862A KR940002626A KR 940002626 A KR940002626 A KR 940002626A KR 1019930014862 A KR1019930014862 A KR 1019930014862A KR 930014862 A KR930014862 A KR 930014862A KR 940002626 A KR940002626 A KR 940002626A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
scene
detector
time period
detector element
illuminance
Prior art date
Application number
KR1019930014862A
Other languages
English (en)
Inventor
도른 이번-스티레스
미차 오론
Original Assignee
바-요셉 라미
스테이트 오브 이스라엘-미니스트리 오브 디펜스, 아머먼트 디벨럽먼트 오쏘러티, 라파엘
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 바-요셉 라미, 스테이트 오브 이스라엘-미니스트리 오브 디펜스, 아머먼트 디벨럽먼트 오쏘러티, 라파엘 filed Critical 바-요셉 라미
Publication of KR940002626A publication Critical patent/KR940002626A/ko

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/10—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
    • H04N3/14—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices
    • H04N3/15—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices for picture signal generation
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • H04N25/673—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction by using reference sources
    • H04N25/674—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction by using reference sources based on the scene itself, e.g. defocusing
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/80—Camera processing pipelines; Components thereof
    • H04N23/81—Camera processing pipelines; Components thereof for suppressing or minimising disturbance in the image signal generation
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00—Details of television systems
    • H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
    • H04N5/33—Transforming infrared radiation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

각 프레임의 일부동안 매트릭스 검출기의 검출기 소자에는 장면의 평균강도가 비춰진다. 장면의 실제 평균강도와 이 평균강도의 검출기 소자에 의한 측정치의 비율은 각 검출기 소자에 대해 상기 프레임의 나머지동안 검출기 소자의 측정치를 교정하는데 사용된다. 다른 실시예에서는 고정함에 있어서 검출기 소자의 교정곡선을 부가적으로 사용함으로써 검출기 소자의 측정치에 대한 교정을 보다 정밀하게 행할 수 있다.

Description

매트릭스 이미징 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 검출기 시스템의 바람직한 실시예를 나타낸 도면,
제3도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전송휠(4)의 정면도,
제4도는 본 발명의 검출기 시스템의 블럭도.
제5도는 검출기 소자의 측정치와 실제값을 나타낸 그래프,
제6도는 본 발명의 다른 바람직한 실시예에 따른 전송휠(4)의 정면도.

Claims (33)

  1. 매트릭스 형태의 검출기 소자와, 제1 및 제2시간주기동안 소자의 매트릭스를 순차적으로 비추는 수단을 구비하여 이루어지고, 상기 각 소자에는 상기 제1시간주기동안 장면의 서로 다른 부분이 비춰지고 상기 제2시간주기동안 장면의 평균 광강도와 실질적으로 동일한 광강도 레벨이 비춰지는 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2시간주기동안 각 검출기 소자에 의해 수광된 각 조도의 제1 및 제2측정치를 제공하는 수단과, 상기 검출기에 대한 제2측정치를 기초로 각각의 검출기 소자에 대한 교정 인수를 발생시키는 수단 및, 검출기 소자의 교정 인수를 이용하여 제1시간주기동안 각 검출기 소자의 측정치를 보정하는 수단을 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  3. 제2항에 있어서, 상기 발생시키는 수단은 상기 제2시간주기동안 상기 검출기 소자의 측정치의 평균치를 계산하는 수단과, 제2시간주기동안 상기 각 검출기 소자외 측정치로부터 상기 평균치를 감산하는 수단을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 보정하는 수단은 상기 검출기 소자에 대한 보정된 측정치를 형성하기 위해 상기 각 검출기 소자에 대한 교정 인수로 상기 제1시간주기에 대한 상기 검출기 소자의 측정치를 가산하는 수단을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  5. 제1항에 있어서, 상기 각 소자가 장면의 평균강도에 관련되지만 같지 않은 광강도 레벨에 의해 동일하게 비춰지도록 제3시간동안 소자의 매트릭스를 순차적으로 비추는 수단을 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제1, 제2 및 제3시간주기동안 각 검출소자에 의해 수신된 조도의 제1, 제2 및 제3측정치를 제공하는 수단과, 상기 제2 및 제3시간주기동안 측정치를 기초로 상기 소자의 교정식을 사용하여 제1시간주기동안 상기 각 검출기 소자의 측정치틀 보정하는 수단을 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  7. 제5항에 있어서, 상기 제1, 제2및 제3시간주기동안 각 검출소자에 의해 수신된 조도의 제1, 제2및 제3측정치를 제공하는 수단과, 상기 제2 및 제3시간주기동안 측정치를 기초로 상기 각 검출기 소자에 대한 교정식을 발생시키는 수단과, 상기 검출기 소자의 교정식을 사용하여 제1시간주기동안 상기 각 검출기 소자의 측정치를 보정하는 수단을 더 구비하여 이루어지고, 상기 교정식은 상기 각 검출기 소자에 대한 측정치 Mu와 보정치 Mc 사이에서 Mc=S＊Mu+K의 선형관계(여기서, K는 상수)를 포함하는 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  8. 제7항에 있어서, 상기 선형관계의 기울기를 계산하는 수단을 포함하는 상기 교정식을 발생시키는 수단은, 상기 제2시간주기동안 측정치의 평균치를 계산하는 수단과, 상기 제3시간주기동안 측정치의 평균치를 계산하는 수단을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  9. 제7항에 있어서, 상기 선형관계의 기울기를 계산하는 수단을 포함하는 상기 교정식을 발생시키는 수단은, 상기 제2시간주기동안 측정치의 평균치를 계산하는 수단과, 상기 제3시간주기동안 측정치의 평균치를 계산하는 수단 및, 상기 각 검출기 소자의 기울기인 S=(M2-M3)/(A2-A3)(여기서, A2와 A3은 각각 제2 및 제3시간 주기동안의 평균치, M2와 M3은 각각 제2 및 제3시간주기동안 검출기 소자의 측정치)를 결정하는 수단율 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  10. 제8항 또는 제9항에 있어서, 상기 상수 K=(A2-M2＊S)를 결정하는 수단을 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  11. 제5항에 있어서, 상기 제3시간주기동안 상기 소자의 매트릭스를 순차적으로 비추는 수단은, 상기 제1시간 주기동안의 광강도레벨에 일정하게 관련된 제3시간주기동안의 광강도레벨을 갖는 조도로 비추는 수단을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  12. 제5항에 있어서, 상기 제3시간주기동안 상기 소자의 매트릭스를 순차적으로 비추는 수단은, 상기 제2시간주기동안의 광강도 레벨에 가산된 상수와 같은 제3시간주기동안의 광강도 레벨을 갖는 조도로 비추는 수단을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  13. 제1항에 있어서, 상기 장면으로부터 수광된 조도를 시프트시켜서 상기 제1시간주기동안 상기 각 검출기 소자에 비춰진 상기 장면의 일부를 순차적으로 변화시키는 수단을 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  14. 제13항에 있어서, 상기 매트릭스에서 인접하는 2개의 검출기 소자의 중심사이의 거리가 d이고, 상기 순차적으로 변화시키는 수단은, 상기 장면으로부터 수광된 조도를 제1방향에서 1/2d의 거리만큼 시프트시키는 수단과, 상기 장면으로부터 수광된 조도를 상기 제1방향에 수직하는 제2방향에서 1/2d의 거리만큼 시프트시키는 수단 및, 상기 장면으로부터 수광된 조도를 상기 제1방향에서 1/2d의 거리만큼 그리고 상기 제2방향에서 1/2d 만큼 시프트시키는 수단을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  15. 제1항 내지 제14항중 어느 한 항에 있어서, 상기 매트릭스가 검출기 소자의 평면 매트릭스이고, 상기 순차적으로 비추는 수단은, 상기 장면에 의해 복사된 조도를 검출기 평면상에 촛점맞추기 위한 광학계와, 상기 각 검출기 소자가 상기 장면의 평균강도와 실질적으로 같은 광강도 레벨에 의해 비춰지도로록 상기 장면에 의해 복사된 조도를 퍼트리는 광학 렌즈를 갖춘 제1부분과 상기 장면에 의해 복사된 조도가 수정되지 않고서 검출기 평면으로 통과하도록 하는 광학계를 갖춘 제2부분으로 이루어지면서 상기 조도의 경로에 위치된 회전가능한 휠 및, 상기 회전가능한 휠을 회전시키는 수단을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  16. 제15항에 있어서, 상기 회전가능한 휠은 상기 장면에 의해 복사된 조도를 제1방향으로 시프트시키는 광학계를 갖춘 제3부분과, 상기 장면에 의해 복사된 조도를 상기 제1방향에 수직하는 제2방향으로 시프트시키는 광학계를 갖춘 제4부분 및 상기 장면에 의해 복사된 조도를 상기 제1방향 및 제3방향으로 시프트시키는 광학계를 갖춘 제5부분을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  17. 제15항 또는 제16항에 있어서, 상기 회전가능한 휠은 상기 제1부분의 광학계 렌즈와 같은 광학 렌즈를 갖춘 추가적인 부분을 더 구비하여 이루어지고, 상기 검출기는 상기 장면으로부터의 광이 상기 필터의 추가적인 부분을 통해 전송될 때에만 추가적인 광을 상기 매트릭스 검출기에 공급하도록 동작하는 추가적인 광원을 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  18. 제1항 내지 제14항중 어느 한 항에 있어서, 상기 순차적으로 비추는 수단은, 상기 각 검출기 소자가 상기 장면의 평균강도와 실질적으로 같은 광강도 레벨에 의해 비춰지도록 상기 장면에 의해 복사된 조도를 전송하는 광학렌즈틀 갖춘 제1부분과 상기 장면에 의해 복사된 조도가 수정되지 않고서 검출기 평면으로 통과하도록 하는 광학계를 갖춘 제2부분으로 이루어진 부분중 한번에 한쪽 부분만을 상기 장면에 의해 복사된 광이 통과하도록 배열된 복수의 광학 부분 및, 상기 장면으로부터의 광을 상기 복수의 광학 부분의 각각을 통해서 상기 평면 매트릭스로 순차적으로 공급하는 수단을 구비하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 장면검출용 검출기.
  19. 제1 및 제2시간주기동안 소자의 매트릭스를 순차적으로 비추는 단계를 구비하여 이루어지고, 상기 각 소자에는 상기 제1시간주기동안 장면의 서로 다른 부분이 비춰지고 상기 제2시간주기동안 장면의 평균 광강도와 실질적으로 동일한 광강도 레벨이 비춰지는 것을 특징으로 하는 검출기 소자의 매트릭로 이루어진 검출기의 장면검출방법.
  20. 제19항에 있어서, 상기 제1 및 제2시간주기동안 각 검출기 소자에 의해 수광된 각 조도의 제1 및 제2측정치를 제공하는 단계와, 상기 검출기에 대한 제2측정 치를 기초로 각각의 검출기 소자에 대한 교정 인수를 발생시키는 단계 및, 검출기 소자의 교정 인수를 이용하여 제1시간주기동안 각 검출기 소자의 측정치를 보정하는 단계를 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  21. 제20항에 있어서, 상기 발생시키는 단계는 상기 제2시간주기동안 상기 검출기 소자의 측정치의 평균치를 계산하는 단계와, 제시간주기동안 상기 각 검출기 소자의 측정치로부터 상기 평균치를 감산하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  22. 제20항 또는 제21항에 있어서, 상기 보정하는 단계는 상기 검출기 소자에 대한 보정된 측정치를 형성하기 위해 상기 각 검출기 소자에 대한 교정인수로 상기 제1시간주기에 대한 상기 검출기 소자의 측정치를 가산하는 단계를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  23. 제20항에 있어서, 상기 각 소자가 장면의 평강도에 관련되지만 같지 않은 광강도 레벨에 의해 동일하게 비춰지도록 제3시간동안 소자의 매트릭스를 순차적으로 비추는 단계를 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  24. 제23항에 있어서, 상기 제1, 제2및 제3시간주기동안 각 검출소자에 의해 수신된 조도의 제1, 제2및 제3측정치를 제공하는 단계와, 상기 제2및 제3시간주기동안 측정치를 기초로 상기 각 검출기 소자에 대한 교정식을 발생시키는 단계 및, 상기 검출기 소자의 교정식을 사용하여 제1시간주기동안 상기 각 검출기 소자의 측정치를 보정하는 단계를 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  25. 제23항에 있어서, 상기 제1, 제2 및 제3시간주기동안 검출소자에 의해 수신된 조도의 제1, 제2및 제3측정치를 제공하는 단계와, 상기 제2및 제3시간주기동안 측정치를 기초로 상기 각 검출기 소자에 대한 교정식을 발생시키는 단계 및, 상기 검출기 소자의 교정식을 사용하여 제1시간주기동안 상기 각 검출기 소자의 측정치를 보정하는 단계를 더 구비하여 이루어지고, 상기 교정식은 상기 각 검출기 소자에 대한 측정치 Mu와 보정치 Mc 사이에서 Mc=S＊Mu+K의 선형관계(여기서, K는 상수)를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  26. 제25항에 있어서, 상 선형관계의 기울기를 계산하는 단계를 포함는 상기 교정식을 발생시키는 단계는, 상기 제2시간주기동안 측정치의 평균치를 계산하는 단계와, 상기 제3시간주기동안 측정치의 평균치를 계산하는 단계를 구비하쳐 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  27. 제25항에 있어서, 상기 선형관계의 기울기를 계산하는 단계를 포함하는 상기 교정식을 발생시키는 단계는, 상기 제2시간주기동안 측정치의 평균치를 계산하는 단계와, 상기 제3시간주기동안 측정치의 평균치를 계산하는 단계 및, 상기 각 검출기 소자의 기울기인 S=(M2-M3)/(A2-A3)(여기서, A2와 A3은 각각 제2및 제3시간주기동안의 평균치, M2와 M3은 각각 제2 및 제3시간주기동안의 검출기 소자의 측정치)를 결정하는 단계를 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  28. 제26항 또는 제27항에 있어서, 상기 상수 K=(A2-M2＊S)를 결정하는 단계를 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  29. 제24항에 있어서, 상기 제3시간주기동안 상기 소자의 매트릭스를 순차적으로 비추는 단계는, 상기 제1시간주기동안의 광강도 레벨에 관련된 제3시간 주기동안의 광강도 레벨을 갖는 조도로 비추는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  30. 제24항에 있어서, 상기 제3시간주기동안 상기 소자의 매트릭스를 순차적으로 비추는 단계는, 상기 제2시간주기동안의 광강도 레벨에 가산된 상수와 같은 제3시간주기동안의 광강도 레벨을 갖는 조도로 비추는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  31. 제19항에 있어서, 상기 장면으로부터 수광된 조도를 시프트시켜서 상기 제1시간주기동안 상기 각 검출기 소자어 비춰진 상기 장면의 일부를 순차적으로 변화시키는 단계를 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  32. 제31항에 있어서, 상기 매트릭스에서 인접하는 2개의 검출기 소자의 중심사이의 거리가 d이고, 상기 순차적으로 변화시키는 단계는, 상기 장면으로부터 수광된 조도를 제1방향에서 1/2d의 거리만큼 시프트시키는 단계와, 상기 장면으로부터 수광된 조도를 상기 제1방향에 수직하는 제2방향에서 1/2d의 거리만큼 시프트시키는 단계 및, 상기 장면으로부터 수광된 조도를 상기 제1방향에서 1/2d의 거리만큼 그리고 상기 제2방향에서 1/2d만큼 시프트시키는 단계를 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 검출기의 장면검출방법.
  33. 매트릭스형태에서 인접하는 2개의 검출기 소자의 중심사이의 거리가 d인 검출기 소자의 평면 매트릭스와, 검출기 평면상에 조도를 촛점맞추는 광학계, 장면으로부터 수신된 조도를 제1방향에서 1/2d만큼 시프트시키는 수단, 상기 장면으로부터 수신된 조도를 상기 제1방향에 수직한 제2방향에서 1/2d만큼 시프트시키는 수단 및, 상기 장면으로부터 수신된 조도를 상기 제1방향에서 1/2d만큼 그리고 상기 제2방향에서 1/2d만큼 시프트시키는 수단으로 이루어진 것을 특징으로 하는 장면에 의해 복사된 조도를 검출하는 검출기.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930014862A 1992-07-31 1993-07-31 매트릭스 이미징 시스템 KR940002626A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IL102,696 1992-07-31
IL10269692A IL102696A (en) 1992-07-31 1992-07-31 Meter imaging system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR940002626A true KR940002626A (ko) 1994-02-17

Family

ID=11063882

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930014862A KR940002626A (ko) 1992-07-31 1993-07-31 매트릭스 이미징 시스템

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5471047A (ko)
KR (1) KR940002626A (ko)
DE (1) DE4325530A1 (ko)
FR (1) FR2694429B1 (ko)
GB (1) GB2270813B (ko)
IL (1) IL102696A (ko)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2740929B1 (fr) * 1995-11-08 1997-12-12 Telecommunications Sa Procede d'acquisition, selon une resolution amelioree, d'une image fournie par une pluralite d'elements photosensibles
FR2740930B1 (fr) * 1995-11-08 1997-12-12 Telecommunications Sa Procede d'acquisition des images electroniques d'au moins deux scenes fournies par une pluralite d'elements photosensibles
FR2776458B1 (fr) * 1998-03-18 2001-11-16 Sagem Dispositif d'imagerie a compensation de biais
JP4268774B2 (ja) * 2001-08-31 2009-05-27 富士通株式会社 赤外線撮影装置
US6875979B2 (en) * 2002-10-03 2005-04-05 Indigo Systems Corporation Thermal imaging calibration systems and methods
EP2029983A1 (en) * 2006-05-30 2009-03-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. Lens system
EP1959674A1 (de) * 2007-02-08 2008-08-20 Texmag GmbH Vertriebsgesellschaft Kamera und Verfahren zu deren Betrieb
US8416125B1 (en) * 2009-11-03 2013-04-09 Hrl Laboratories, Llc Radiative noise adding compensation for MMW sensor arrays

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6153868A (ja) * 1984-08-24 1986-03-17 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像走査信号処理におけるキャリブレーション装置
US4963963A (en) * 1985-02-26 1990-10-16 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Infrared scanner using dynamic range conserving video processing
US4821337A (en) * 1985-10-30 1989-04-11 Alm Ake W Radiation scanner uniformity system
US4712010A (en) * 1986-01-30 1987-12-08 Hughes Aircraft Company Radiator scanning with image enhancement and noise reduction
JPH01188176A (ja) * 1988-01-22 1989-07-27 Mitsubishi Electric Corp 赤外ビデオカメラ用シェーディング補正装置
US4965447A (en) * 1988-07-28 1990-10-23 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Chopper for staring infrared systems
EP0410745B1 (en) * 1989-07-28 1995-03-22 Texas Instruments Incorporated Reflective chopper for infrared imaging systems
US4972085A (en) * 1989-09-14 1990-11-20 General Electric Company Cold shielding of infrared detectors
US5075553A (en) * 1989-10-23 1991-12-24 General Electric Company IR sensor for a scanned staggered element linear array having improved cold shielding
US5136421A (en) * 1990-06-29 1992-08-04 Texas Instruments Incorporated Thermal imaging system and method using scene-average radiation as a thermal reference
JPH0481178A (ja) * 1990-07-24 1992-03-13 Fujitsu Ltd Ｉｒｃｃｄ検知器の直流オフセット補正方法
GB2248153A (en) * 1990-07-27 1992-03-25 Marconi Gec Ltd Thermal imaging apparatus
GB2250155A (en) * 1990-09-05 1992-05-27 Marconi Gec Ltd An imager with image microscanned over sensor array
GB2250884B (en) * 1990-12-07 1995-05-10 Philips Electronic Associated Optical image sensing systems

Also Published As

Publication number Publication date
US5471047A (en) 1995-11-28
GB9315618D0 (en) 1993-09-08
FR2694429A1 (fr) 1994-02-04
GB2270813A (en) 1994-03-23
FR2694429B1 (fr) 1996-04-12
IL102696A (en) 1996-06-18
DE4325530A1 (de) 1994-02-03
GB2270813B (en) 1996-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5135309A (en) Method and apparatus for non-contact measuring of object surfaces
US6707553B1 (en) Color measuring apparatus
KR960042049A (ko) 광학적 측정방법 및 광학적 측정장치
US4381152A (en) Dimension measuring apparatus
US20150233707A1 (en) Method and apparatus of measuring the shape of an object
US5056913A (en) Optical gauging apparatus
GB1516536A (en) Measuring apparatus
JPS57104815A (en) Angle measuring apparatus employing line sensor
EP1215480A4 (en) ON-LINE TESTING DEVICE FOR AN INTERNAL PART WITH SEVERAL LAMPS ON TWO SIDES
KR970707424A (ko) 교정가능한 광학거리감지시스템 및 방법(Calibratable Optical Disatance Sensing System and Method)
KR940002626A (ko) 매트릭스 이미징 시스템
Williams Establishment of absolute diffuse reflectance scales using the NPL Reference Reflectometer
JPS6244201B2 (ko)
US6442344B1 (en) Focusing apparatus
JPS55154402A (en) Shape measuring apparatus
JP2003156436A (ja) 赤外線燃焼エネルギー測定装置
JPS649304A (en) Height measuring apparatus
JPH032402B2 (ko)
KR100499864B1 (ko) 광도 측정 장치
SU732783A1 (ru) Устройство дл измерени освещенности в телекинопроекторе
US20090161001A1 (en) Camera and method for operating same
JPH0433381B2 (ko)
JP2557005Y2 (ja) 光学測定器
JPS6333642B2 (ko)
JPH0450703A (ja) スペックル測長計のモニタ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
NORF Unpaid initial registration fee