KR930007902Y1 - Pressure sensor - Google Patents

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KR930007902Y1
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가쯔아끼 야스이
고지 기시모또
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미쯔비시 덴끼 가부시끼가이샤
시끼 모리야
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Abstract

내용 없음.No content.

Description

압력 감지기Pressure sensor

제 1 도는 본 고안의 1실시예에 의한 압력 감지기의 구조를 도시하는 단면도.1 is a cross-sectional view showing the structure of a pressure sensor according to an embodiment of the present invention.

제 2 도는 상기 제 1 실시예의 제 1 도의 직각 방향의 단면도.2 is a cross-sectional view in the orthogonal direction of FIG. 1 of the first embodiment.

제 3 도는 상기 제 1 실시예에 있어서의 제어부의 전기회로도.3 is an electric circuit diagram of a control unit in the first embodiment.

제 4 도는 상기 제 1 실시예에 있어서의 접착제 두께와 다이아프램 두께와의 대비 왜곡에 의한 오출력 저감율의 관계를 도시하는 특성도.Fig. 4 is a characteristic diagram showing a relationship between a reduction rate of an error output due to contrast distortion between the adhesive thickness and the diaphragm thickness in the first embodiment.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 압력 감지기 2, 3 : 케이스1: pressure sensor 2, 3: case

4, 5 : 반도체 칩 4a, 5a : 다이아프램4, 5: semiconductor chip 4a, 5a: diaphragm

9 : 접착제 21 : 제 1 의 압력실9: adhesive 21: first pressure chamber

22 : 제 2 의 압력실 23 : 제 3 의 압력실22: second pressure chamber 23: third pressure chamber

24 : 제 4 의 압력실 25, 26 : 도입관부24: 4th pressure chamber 25, 26: Inlet pipe part

101 : 제 1 의 브리지 회로 102 : 제 2 의 브리지 회로101: first bridge circuit 102: second bridge circuit

103 : 제 1 의 차동 증폭 회로 104 : 제 2 의 차동 증폭 회로103: first differential amplifier circuit 104: second differential amplifier circuit

105 : 제 3 의 차동 증폭 회로105: third differential amplifier circuit

[산업상의 이용분야][Industrial use]

본 고안은 고감도이자 외부등의 영향을 받지 않도록한 압력 감지기에 관한 것이다.The present invention relates to a pressure sensor which is highly sensitive and is not affected by external light.

[종래의 기술][Prior art]

종래, 반도체 압력 감지기로선, 예컨대, 특개소 60-100026호 공보나 실개소 61-87338호 공보등에 의해 개시되어 있으며, 이중에서 전자의 특개소 60-10026호 공보의 경우엔, 공통 반도체 기판에 각각 다이아프램부와 4개의 피에조 저항 소자군으로 되는 동일성의 2짝의 압력 검출부를 설치하고, 그 한쪽의 압력 검출부에 피검추 압력을 가하도록 형성함과 더불어 각각의 피에조 저항 소자군으로 형성한 각각의 브리지 회로의 출력의 차를 취하도록 형성해서, 잔류 왜곡 등에 의한 오차를 제거토록 한 것이다.Conventionally, as a semiconductor pressure sensor, it is disclosed by Unexamined-Japanese-Patent No. 60-100026, 61-87338, etc., In particular, in the case of Unexamined-Japanese-Patent No. 60-10026, each is provided in a common semiconductor substrate, respectively. Two pairs of pressure detection units having the same diaphragm portion and four piezoresistive element groups are provided, and each pressure detection unit is formed to apply a pressure to the pressure detection unit, and each piezo resistor element group is formed. It is formed so as to take the difference in output of the bridge circuit so as to eliminate an error due to residual distortion or the like.

또 후자의 실개소 61-87338호 공보의 경우에는, 스템의 중앙부에 개구부를 설치하고 상기 개구부의 아래쪽을 향해서 압력 도입관을 설치함과 더불어 개구부로 부터 떨어진 위치에 대기 개방구를 설치하고, 중앙부에 압력 도입관내의 압력과 대기 압력과의 차압 검출용의 다이아프램을 설치하고, 대기 개방구에 반도체 칩을 고정하고 상기 반도체 칩을 뚜껑으로 덮도록 구성한 것이다.In the case of the latter publication No. 61-87338, an opening is provided at the center of the stem, a pressure inlet pipe is provided downward of the opening, and an atmospheric opening is provided at a position away from the opening. The diaphragm for detecting the differential pressure between the pressure in the pressure introduction pipe and the atmospheric pressure is provided, the semiconductor chip is fixed to the atmospheric opening, and the semiconductor chip is covered with a lid.

상기 반도체 칩의 기판으로의 접합은 와이어의 본딩의 신호성의 향상과, 기판과 반도체 칩의 접합의 신뢰성을 높이히기 위해서 금, 실리콘 접합 또는 예폭시계 접착제로 견고하게 접합하도록 하고 있다.Bonding of the semiconductor chip to the substrate is made to be firmly bonded with gold, silicon bonding, or a preliminary clock adhesive in order to improve the signal property of the bonding of the wire and to increase the reliability of the bonding between the substrate and the semiconductor chip.

[고안이 해결하려고 하는 과제][Problem that plan is trying to solve]

종래의 도체 압력 감지기는 이상과 같이 구성되고 있으므로 반도체 칩이 기판에 견고하게 접합되고 있으며, 미압(微壓)을 검출하려고 하면, 다이아프램을 얇게하고, 압력 응동성 및 제어회로의 감도를 매우 고감도화해야 되는데, 이같이 하면 압력 이외의 다이아프램에 작용하는 힘, 예컨대, 케이스 등에 가해지는 왜곡의 영향을 받아서 응동하고 말며, 출력에 오차가 발생한다는 문제점이 있었다.Since the conventional conductor pressure sensor is constructed as described above, the semiconductor chip is firmly bonded to the substrate, and when attempting to detect the micro pressure, the diaphragm is made thin and the sensitivity of the pressure responsiveness and the control circuit is very high. In this case, there is a problem in that an error occurs in the output due to the influence of a distortion applied to a diaphragm other than pressure, for example, a case applied to a case.

본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것이며, 고감도로 압력을 계측이 가능하며, 또한 대외력성이 우수한 압력 감지기를 얻는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to obtain a pressure sensor capable of measuring pressure with high sensitivity and having excellent external force.

[과제를 해결하기 위한 수단][Means for solving the problem]

본 고안에 관계하는 압력 감지기는 제 1 및 제 2 의 압력실의 격벽과 제 3 및 제 4 의 압력실의 격벽이 되게 동일형상으로 동일 전기적으로 특성을 갖는 제 1, 제 2 의 다이아프램을 설치하여 2개의 반도체 칩을 유연성을 갖는 접착제로 기판에 접합한 것이다.The pressure sensor according to the present invention is provided with the first and second diaphragms having the same electrical characteristics in the same shape to be the partition walls of the first and second pressure chambers and the partition walls of the third and fourth pressure chambers. Thus, two semiconductor chips are bonded to the substrate with a flexible adhesive.

[작용][Action]

본 고안에 있어서, 반도체 칩은 유연성을 갖는 접착제로 접착했으므로 반도체 칩과 기판간이 유연하게 되며, 케이스에 외압이 가해져도 다이아프램에 영향을 부여함이 없고 다이아프램은 고감도로 압력을 검출하도록 작용한다.In the present invention, since the semiconductor chip is bonded with a flexible adhesive, the semiconductor chip and the substrate are flexible, and even if an external pressure is applied to the case, the diaphragm does not affect the diaphragm and the diaphragm functions to detect pressure with high sensitivity. .

[실시예]EXAMPLE

이하, 본 고안의 1실시예를 도면에 대해서 설명한다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

제 1 도는 본 고안의 1실시예의 단면도이며, 제 2 도는 제 1 도에 대해서 직각 방향으로 절단한 단면도이다.1 is a cross-sectional view of an embodiment of the present invention, Figure 2 is a cross-sectional view cut in a direction perpendicular to the first view.

상기 제 1 도, 제 2 도의 양 도면에 있어서 1은 압력 감지기이며, 2, 3은 압력 감지기(1)의 케이스이며, 이 케이스(2, 3)에 의해서 제 1 내지 제 4 의 압력실(21 내지 24)이 형성되어 있다.In the first and second drawings, 1 is a pressure sensor, 2 and 3 are cases of the pressure sensor 1, and the first and fourth pressure chambers 21 are provided by the cases 2 and 3. To 24).

케이스(2)와 케이스(3)와의 맞춤면에 제 1, 제 2 의 입력실(21 및 22)의 격벽이 되게 다이아프램(4a)을 가지는 반도체 칩(4)이 설치되어 있다.The semiconductor chip 4 which has the diaphragm 4a is provided in the fitting surface of the case 2 and the case 3 so that it may become the partition of the 1st, 2nd input chambers 21 and 22. As shown in FIG.

마찬가지로, 제 3, 제 4 의 압력실(23, 24)의 격벽이 되게 다이아프램(5a)을 갖는 반도체 칩(5)이 설치되어 있다.Similarly, the semiconductor chip 5 which has the diaphragm 5a is provided so that it may become the partition of the 3rd, 4th pressure chamber 23, 24. As shown in FIG.

상기 반도체 칩(4, 5)은 기판(6)에 유연성을 갖는 접착제, 예컨대 실리콘계 접착제로 접착되어 있다. 게다가, 상기 접착제의 두께는 다이아프램(4a, 5a)의 두께 이상으로 도포되어 있다.The semiconductor chips 4 and 5 are bonded to the substrate 6 with a flexible adhesive such as a silicone adhesive. In addition, the thickness of the said adhesive is apply | coated more than the thickness of the diaphragms 4a and 5a.

이같이 해서 다이아프램(4a)이 제 1 의 압력실(21)과 제 2 의 압력실(22)에 면하고, 다이아프램(5a)이 제 3, 제 4 의 압력실(23 및 24)과 면하도록 설치되어 있다.In this manner, the diaphragm 4a faces the first pressure chamber 21 and the second pressure chamber 22, and the diaphragm 5a faces the third and fourth pressure chambers 23 and 24. It is installed to

또, 7은 다이아프램(4a)과 다이아프램(5a)상에 설치된 제 1 도, 제 2 도에선 도시되지 않는 왜곡 검출용인 브리지 회로와 와이어(8)을 거쳐서 접속된 터미널이다.7 is a terminal connected via the bridge circuit and the wire 8 for distortion detection which are not shown in FIG. 1, FIG. 2 provided on the diaphragm 4a and the diaphragm 5a.

제 2 도의 25, 26은 도압관부이다. 도압관부(25)와 제 1 의 압력실(21) 및 제 4 의 압력실(24)이 연통하며, 도입관부(26)과 제 2 의 압력실(22) 및 제 3 의 압력실(23)이 연통한다.25 and 26 of FIG. 2 are guide tubes. The pressure guiding pipe part 25, the 1st pressure chamber 21, and the 4th pressure chamber 24 communicate, and the introduction pipe part 26, the 2nd pressure chamber 22, and the 3rd pressure chamber 23 are connected. This communicates.

제 3 도는 압력 감지기(1)의 제어부의 전기 회로도이다. 상기 제 3 도에 있어서 101, 102는 제 1 도의 다이아프램(4a, 5a)의 각각에 설치된 4개의 피에조 저항 소자로 되는 왜곡 검출용의 브리지 회로이며, 103, 104는 제 1 의 브리지회로(101)와 제 2 의 브리지 회로(102)의 출력을 받아서 작동하는 제 1, 제 2 의 차동 증폭 회로이며, 105는 제 1 의 차동 증폭 회로(103)와 제 2 의 차동 증폭 회로(105)의 출력을 받아서 작동하는 제 3의 차동 증폭회로이며, 106은 제 3의 차동 증폭 회로(104)의 출력을 받아서 작동하는 파형 정형 회로이며, 107은 제 1 의 브리지 회로(10)와 제 2 의 브리지 회로(102)의 전원 회로이다.3 is an electrical circuit diagram of the control unit of the pressure sensor 1. In FIG. 3, 101 and 102 are bridge circuits for distortion detection including four piezoresistors provided in each of the diaphragms 4a and 5a of FIG. 1, and 103 and 104 are first bridge circuits 101. In FIG. ) And the first and second differential amplifier circuits that operate by receiving the outputs of the second bridge circuit 102 and 105 are the outputs of the first differential amplifier circuit 103 and the second differential amplifier circuit 105. Is a third differential amplifier circuit for receiving and operating, 106 is a waveform shaping circuit for receiving the output of the third differential amplifier circuit 104, and 107 is a first bridge circuit 10 and a second bridge circuit. 102 is a power supply circuit.

다음에 동작에 대해서 설명한다. 지금, 도압관(25)와 도압관(26)간에 차압이 생기고, 도압관(25)의 쪽이 도압관(26)보다 압력이 커졌다고 하면, 다이아프램(4a)의 제 2 의 압력실(22)측으로 구부러지고 다이아프램(5a)은 제 3 의 압력실(23)측으로 구부러진다.Next, the operation will be described. Now, if a differential pressure is generated between the pressure guiding pipe 25 and the pressure guiding pipe 26, and the pressure of the pressure guiding pipe 25 becomes larger than the pressure guiding pipe 26, the second pressure chamber of the diaphragm 4a ( It is bent to 22) side and the diaphragm 5a is bent to the third pressure chamber 23 side.

여기에서 다이아프램(4a)이 제 2 의 압력실(22)측으로 구부러졌을 때의 브리지 회로(101)의 신호 출력을 +VB로 하고, 다이아프램(5a)이 제 3 의 압력실(23)의 측으로 구부러졌을 때의 브리지 회로(102)의 신호 출력을 -VB로 하면, 동일 증폭율을 갖는 제 1 의 차동 증폭회로(103)과 제 2 의 차동 증폭회로(104)를 거친 각각의 신호 출력을 +VB,-VB로 된다. 단 VB=β.vb이다.Here, the signal output of the bridge circuit 101 when the diaphragm 4a is bent to the second pressure chamber 22 side is + V B , and the diaphragm 5a is the third pressure chamber 23. When the signal output of the bridge circuit 102 when bent toward the side is -V B , the respective signals passing through the first differential amplifier circuit 103 and the second differential amplifier circuit 104 having the same amplification rate are Output becomes + V B , -V B. Provided that V B = β. vb .

여기에서 이번엔 도압관(25)보다 도압관(26)쪽이 압력이 커지면, 상기에 말한 것과는 전혀 역 모드인 제 1, 제 2 의 브리지 회로(101, 102)의 출력이 되는데, 제 3 의 차동 증폭 회로(105)의 출력은 변하지 않으며 2VB이다.In this case, when the pressure in the pressure guiding tube 26 is greater than the pressure guiding tube 25, the output of the first and second bridge circuits 101 and 102 which are completely in reverse mode as described above is obtained. The output of the amplifying circuit 105 is unchanged and is 2V B.

따라서, 도압관(25)과 도압관(26)간의 차압 발생에 의한 압력 감지기(1)의 출력은 항상 하나의 다이아프램일 때의 2배의 값이 된다.Therefore, the output of the pressure sensor 1 due to the differential pressure generation between the pressure guiding tube 25 and the pressure guiding tube 26 is always twice as large as one diaphragm.

다음에 압력 이외의외력이 가해졌을 때에 대해서 말한다. 지금, 압력 감지기(1)에 진동력이 가해지는 경우에서, 다이아프램(4a, 5a)의 비가동 방향으로진동력이 가해지는 경우는 당연히 다이아프램(4a, 5a)는 대응하여 움직이는 일이 없으므로 아무 출력도 되지 않는다.Next, when an external force other than pressure is applied. Now, when the vibration force is applied to the pressure sensor 1, when the vibration force is applied in the non-moving direction of the diaphragms 4a and 5a, the diaphragms 4a and 5a do not move correspondingly. No output

그러나, 압력 감지기(1)의 다이아프램(4a, 5a)의 가동 방향으로 진동력이 가해지면, 다이아프램(4a)과 다이아프램(5a)은 동일 시각에 동일량, 동일 방향으로 왜곡된다. 따라서, 제 1 의 브리지 회로(101)에 출력 VB가 발생하고 있으면 제 2 의 브리지 회로(102)에 출력 VB가 발생한다.However, when a vibration force is applied in the movable directions of the diaphragms 4a and 5a of the pressure sensor 1, the diaphragm 4a and the diaphragm 5a are distorted in the same amount and in the same direction at the same time. Therefore, if the output V B generated in the first bridge circuit 101 occurs, the output V B to the bridge circuit 102 of the second.

상술한 바와같이 제 1, 제 2 의 브리지 회로(101, 102)의 출력은 제 1, 제 2 의 차동 증폭 회로(103, 104)로 소정의 증폭율로 VB로 증폭된 다음, 제 3 의 차동 증폭회로(105)에 입력된다.As described above, the outputs of the first and second bridge circuits 101 and 102 are amplified to V B at a predetermined amplification rate by the first and second differential amplifier circuits 103 and 104, and then the third It is input to the differential amplifier circuit 105.

그런데, 제 3 의 차동 증폭 회로(105)의 (+)단자에도 (-)단자에도 동일값의 VB가 동시에 인가되므로, 제 3 의 차동 증폭회로(105)의 출력은 되지않는다. 그러므로, 압력감지기(1)의 출력도 없다. 여기에서, 제 1 의 브리지회로(101)의 출력과, 제 2 의 브리지회로(102)의 출력이 완전히 동등하면, 상술한 바와같은데, 조금이나마 동등성이 상실되면, 제 3 의 차동 증폭 회로(105)는 진동에 따라서 출력되며, 압력 감지기(1)도 출력하게 된다.By the way, since V B of the same value is simultaneously applied to both the (+) terminal and the (-) terminal of the third differential amplifier circuit 105, the output of the third differential amplifier circuit 105 is not output. Therefore, there is no output of the pressure sensor 1. Here, if the output of the first bridge circuit 101 and the output of the second bridge circuit 102 are completely equal, it is as described above. If the equivalence is lost a little, the third differential amplifier circuit 105 ) Is output in accordance with the vibration, and also outputs the pressure sensor (1).

따라서, 제 1 의 브리지 회로(101)의 출력과 제 2 의 브리지 회로(102)의 출력 동등성의 완전화가 필수로 된다.Therefore, perfection of the output equivalence of the 1st bridge circuit 101 and the 2nd bridge circuit 102 becomes essential.

이때문에, 다이아프램(4a)과 다이아프램(5a)은 동일 형상 및 전기적 특성을 갖는 것이어야 된다.For this reason, the diaphragm 4a and the diaphragm 5a should have the same shape and electrical characteristics.

또한, 유연성의 접착제로 반도체 칩(4, 5)이 기판(6)에 접합되고 있으며, 게다가, 이 접착제의 두께가 다이아프램(4a, 5a)의 두께보다 두껍게 되어 있으므로, 케이스(2, 3)에 외력이나 열왜곡이 가해져도 이 접착제로 흡수되며, 다이아프램(4a, 5a)에는 아무 영향을 주지 않으며, 다이아프램(4a, 5a)의 칩 왜곡이 생기지 않는다.In addition, since the semiconductor chips 4 and 5 are bonded to the board | substrate 6 by the flexible adhesive agent, Moreover, since the thickness of this adhesive agent is thicker than the thickness of the diaphragms 4a and 5a, the case 2 and 3 is carried out. Even if external force or heat distortion is applied to the adhesive, the adhesive is absorbed by the adhesive, which does not affect the diaphragms 4a and 5a, and chip distortion of the diaphragms 4a and 5a does not occur.

따라서, 다이아프램(4a, 5a)는 고감도이고 게다가 정확하게 압력을 검출할 수 있다.Therefore, the diaphragms 4a and 5a are high sensitivity and can detect a pressure accurately.

제 4 도에선 접착제의 두께 d와 다이아프램 두께 D의 비, 즉, d/D대 왜곡에 의한 오출력 저감율의 관계를 도시하는 특성도이며, 왜곡력 일정으로 했을 경우이다.4 is a characteristic diagram showing the relationship between the ratio of the thickness d of the adhesive and the diaphragm thickness D, that is, the error reduction ratio due to the d / D vs. distortion, and the distortion force is constant.

상기 제 4 도로 분명하듯이, 접착제의 두께 d가 다이아프램의 두께 D보다 커질수록, 왜곡에 의한 오출력이 작아진다는 것을 알 수 있다.As is apparent from the fourth road, it can be seen that as the thickness d of the adhesive becomes larger than the thickness D of the diaphragm, the false output by the distortion becomes smaller.

[고안의 효과][Effect of design]

이상과 같이, 본 고안에 의하면 케이스내에 형성된 제 1, 제 2 의 압력실과, 제 3, 제 4 의 압력실의 차압을 검출하는 2개의 다이아프램을 동일 형상, 동일 전기 특성을 갖게함과 더불어 다이아프램을 갖는 접착제로 기판에 접합하도록 구성했으므로, 미차압의 검출 능력을 향상시키며 또한 케이스에 외력이나 열왜곡이 가해져도 다이아프램에 영향을 부여하는 리이 없게 되며, 외력에 대해서 매우 강하다는 효과가 있다.As described above, according to the present invention, the two diaphragms for detecting the differential pressure of the first and second pressure chambers and the third and fourth pressure chambers formed in the case have the same shape and the same electrical characteristics. Since it is configured to bond to the substrate with an adhesive having a pram, the detection ability of the differential pressure is improved, and even if an external force or heat distortion is applied to the case, there is no effect of affecting the diaphragm, and the effect is very strong against the external force. .

Claims (1)

케이스에 형성된 제 1 의 도압관부(25)에 연통하는 제 1 및 제 4 의 압력실(21, 24)과; 상기 케이스에 형성된 제 2 의 도압관부(26)에 연통하는 제 2 및 제 3 의 압력실(22,23)과; 상기 제 1 의 압력실과 상기 제 2 의 압력실의 격벽 및 상기 제 3 과 제 4 의 압력실의 격벽이 되게 각각 반도체 칩에 설치되며 동일 형상 및 동일 전기적 특성을 갖는 제 1, 제 2 의 다이아프램(4a, 5a)과; 상기 반도체 칩을 기판에 접합하는 유연성을 갖는 접착제(9)와; 상기 제 1, 제 2 의 다이아프램상에 형성되고 상기 제 1, 제 2 의 다이아프램이 상기 제 1, 제 2 의 도압관부에 생기는 차압에 의해서 응동할 때, 서로같은 값이고 역위상인 신호를 출력하는 제 1, 제 2 의 브리지 회로(101, 102)와; 상기 제 1, 제 2 의 브리지 회로의 신호 출력을 각각 차동 증폭하는 제 1 및 제 2 의 차동 증폭기(103, 104)를 구비한 압력 감지기.First and fourth pressure chambers 21 and 24 in communication with the first pressure pipe section 25 formed in the case; Second and third pressure chambers 22 and 23 communicating with the second pressure guiding tube part 26 formed in the case; First and second diaphragms having the same shape and the same electrical characteristics and are installed in the semiconductor chip so as to be partition walls of the first pressure chamber and the second pressure chamber and partition walls of the third and fourth pressure chambers, respectively. (4a, 5a); An adhesive (9) having flexibility to bond the semiconductor chip to a substrate; When the first and second diaphragms are formed on the first and second diaphragms and are reacted by the differential pressure generated in the first and second pressure guiding pipe portions, signals having the same value and antiphase are mutually equal. Outputting first and second bridge circuits (101, 102); And a first and second differential amplifiers (103, 104) for differentially amplifying the signal outputs of said first and second bridge circuits, respectively.
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